JP2012190908A - Substrate processing device, substrate processing method, and manufacturing method of display panel substrate - Google Patents
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Description
本発明は、現像液、エッチング液、剥離液、洗浄液等の処理液を用いて、基板の現像、エッチング、剥離、洗浄等の処理を行う基板処理装置、基板処理方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に係り、特に、処理室内で基板を移動しながら、処理液をノズルから基板へ吐出し、基板へ吐出した処理液を回収して再利用する基板処理装置、基板処理方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に関する。 The present invention relates to a substrate processing apparatus, a substrate processing method, and a display using the same, which perform processing such as development, etching, peeling, and cleaning of a substrate using a processing solution such as a developing solution, an etching solution, a peeling solution, and a cleaning solution. In particular, a substrate processing apparatus and a substrate processing method are disclosed in which a processing liquid is discharged from a nozzle to a substrate while the substrate is moved in a processing chamber, and the processing liquid discharged to the substrate is recovered and reused. And a method of manufacturing a display panel substrate using them.
表示用パネルとして用いられる液晶ディスプレイ装置のTFT(Thin Film Transistor)基板やカラーフィルタ基板、プラズマディスプレイパネル用基板、有機EL(Electroluminescence)表示パネル用基板等の製造工程では、基板上に回路パターンやカラーフィルタ等を形成するため、基板の露光、現像、エッチング、剥離、洗浄等の処理が行われる。これらのうち、現像、エッチング、剥離、洗浄の各処理は、処理室内で、ローラコンベア等の移動装置を用いて基板を移動しながら行われることが多く、現像液、エッチング液、剥離液、洗浄液等の処理液は、スプレーノズル、シャワーノズル、またはスリットノズルから基板の表面へ吐出される。ノズルから基板へ吐出された処理液は、基板の処理後、処理室から回収されて処理液タンクへ戻される。この様に処理液を処理室と処理液タンクとの間で循環させて再使用することにより、高価な処理液の消費量が低減され、基板の製造コストが削減される。 In the manufacturing process of a TFT (Thin Film Transistor) substrate, a color filter substrate, a plasma display panel substrate, an organic EL (Electroluminescence) display panel substrate, etc. of a liquid crystal display device used as a display panel, circuit patterns and colors are formed on the substrate. In order to form a filter or the like, processing such as exposure, development, etching, peeling, and washing of the substrate is performed. Of these, development, etching, stripping, and cleaning are often performed in a processing chamber while moving the substrate using a moving device such as a roller conveyor, and the developer, etching solution, stripping solution, and cleaning solution are used. A treatment liquid such as a liquid is discharged from the spray nozzle, shower nozzle, or slit nozzle onto the surface of the substrate. The processing liquid discharged from the nozzle to the substrate is collected from the processing chamber and returned to the processing liquid tank after the processing of the substrate. In this way, by circulating the processing liquid between the processing chamber and the processing liquid tank and reusing it, the consumption of expensive processing liquid is reduced and the manufacturing cost of the substrate is reduced.
処理室内で、ノズルから吐出された処理液が基板の表面に衝突する際に、処理液の泡が発生する。また、処理室内で、処理液が基板の表面から落下して処理室の床又は処理液回収チャンバに衝突する際にも、処理液の泡が発生する。処理液中の泡は、ノズルの吐出不良、処理液タンク又は処理室からの泡漏れ、処理室内での泡による基板の搬送不良等の問題を引き起こす。そのため、従来は、処理液に消泡剤を添加する、泡が消えるまで装置を停止する、あるいは処理液を交換するという対策が採られていた。しかしながら、消泡剤の添加は処理液の劣化を、装置の停止は稼働率の低下を、処理液の交換はランニングコストの増大を招くという問題があった。 When the processing liquid discharged from the nozzle collides with the surface of the substrate in the processing chamber, bubbles of the processing liquid are generated. Further, when the processing liquid falls from the surface of the substrate and collides with the floor of the processing chamber or the processing liquid recovery chamber in the processing chamber, bubbles of the processing liquid are generated. Bubbles in the processing liquid cause problems such as defective ejection of the nozzle, bubble leakage from the processing liquid tank or the processing chamber, and poor substrate transfer due to bubbles in the processing chamber. Therefore, conventionally, measures have been taken to add an antifoaming agent to the processing liquid, stop the apparatus until the bubbles disappear, or replace the processing liquid. However, there has been a problem that the addition of an antifoaming agent causes deterioration of the processing liquid, the stoppage of the apparatus causes a reduction in operating rate, and the replacement of the processing liquid causes an increase in running cost.
これに対し、特許文献1には、手動バルブやエア抜き配管を用いて、処理液タンク内へ泡が流入するのを防止する技術が記載されている。また、特許文献2には、処理液を処理室から処理液タンクへ回収する回収用配管の途中にバイパス配管を設け、バイパス配管に流れる処理液中の泡を液化する技術が開示されている。
On the other hand, Patent Document 1 describes a technique for preventing bubbles from flowing into a processing liquid tank using a manual valve or an air vent pipe.
特許文献1に記載の技術は、手動バルブやエア抜き配管といった簡単な設備で済む反面、泡を積極的に除去することができないため、依然として泡が処理室内に残り、処理室からの泡漏れ、及び処理室内での泡による基板の搬送不良の問題があった。また、特許文献2に記載の技術も、回収用配管内へ流れ込まないで処理室内に残った泡を消すことができなかった。
Although the technology described in Patent Document 1 requires simple equipment such as a manual valve and air vent piping, since bubbles cannot be positively removed, bubbles still remain in the processing chamber, foam leakage from the processing chamber, In addition, there is a problem of poor substrate transport due to bubbles in the processing chamber. In addition, the technique described in
本発明の課題は、処理室内に溜まった処理液の泡を、簡単な設備を用いて効果的に除去することである。また、本発明の課題は、処理むらが少なく品質の高い基板を、効率良く安価に製造することである。 An object of the present invention is to effectively remove bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber using simple equipment. Another object of the present invention is to efficiently and inexpensively manufacture a high-quality substrate with little processing unevenness.
本発明の基板処理装置は、処理液を用いて基板の処理を行う処理室と、処理室内で基板を移動する基板移動手段と、処理室内に設けられ、基板移動手段により移動される基板へ処理液を吐出するノズルと、ノズルへ供給する処理液を貯留する処理液タンクと、ノズルから基板へ吐出された処理液を回収して処理液タンクへ戻す処理液回収手段と、吸引口及び排出口と圧縮空気導入口とを有し、圧縮空気を圧縮空気導入口から排出口へ流し、吸引口と排出口との間に生じた圧力差により吸引口から吸引した物を、圧縮空気と共に排出口から排出するエジェクタと、エジェクタの吸引口に接続された第1の配管と、エジェクタの排出口に接続された第2の配管と、エジェクタの圧縮空気導入口へ圧縮空気を供給する空気圧回路とを備え、エジェクタが、処理室内に溜まった処理液の泡を、第1の配管を介して吸引口から吸引し、吸引した処理液の泡を圧縮空気の圧力でつぶして液化し、液化した処理液を圧縮空気と共に排出口から第2の配管を介して処理室内へ吐出するものである。 The substrate processing apparatus according to the present invention includes a processing chamber for processing a substrate using a processing liquid, a substrate moving means for moving the substrate in the processing chamber, and a substrate provided in the processing chamber and moved by the substrate moving means. A nozzle for discharging the liquid, a processing liquid tank for storing the processing liquid supplied to the nozzle, a processing liquid recovery means for recovering the processing liquid discharged from the nozzle to the substrate and returning it to the processing liquid tank, and a suction port and a discharge port And a compressed air introduction port, the compressed air flows from the compressed air introduction port to the discharge port, and the material sucked from the suction port due to the pressure difference generated between the suction port and the discharge port is discharged together with the compressed air. An ejector for discharging from the ejector, a first pipe connected to the suction port of the ejector, a second pipe connected to the discharge port of the ejector, and a pneumatic circuit for supplying compressed air to the compressed air inlet of the ejector Prepare, eject However, the bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber are sucked from the suction port via the first pipe, and the sucked processing liquid bubbles are crushed and liquefied by the pressure of the compressed air, and the liquefied processing liquid is compressed air. At the same time, it is discharged from the discharge port into the processing chamber via the second pipe.
また、本発明の基板処理方法は、処理室内で基板を移動しながら、処理液を貯留した処理液タンクから処理室内に設けたノズルへ処理液を供給して、ノズルから基板へ処理液を吐出し、ノズルから基板へ吐出した処理液を回収して処理液タンクへ戻し、吸引口及び排出口と圧縮空気導入口とを有し、圧縮空気を圧縮空気導入口から排出口へ流し、吸引口と排出口との間に生じた圧力差により吸引口から吸引した物を、圧縮空気と共に排出口から排出するエジェクタを用い、エジェクタの吸引口に第1の配管を接続し、エジェクタの排出口に第2の配管を接続し、エジェクタの圧縮空気導入口へ圧縮空気を供給し、処理室内に溜まった処理液の泡を、第1の配管を介してエジェクタの吸引口から吸引し、吸引した処理液の泡を圧縮空気の圧力でつぶして液化し、液化した処理液を圧縮空気と共にエジェクタの排出口から第2の配管を介して処理室内へ吐出するものである。 The substrate processing method of the present invention supplies a processing liquid from a processing liquid tank storing a processing liquid to a nozzle provided in the processing chamber while moving the substrate in the processing chamber, and discharges the processing liquid from the nozzle to the substrate. Then, the processing liquid discharged from the nozzle to the substrate is collected and returned to the processing liquid tank, and has a suction port, a discharge port, and a compressed air introduction port, and the compressed air flows from the compressed air introduction port to the discharge port. Connect the first pipe to the ejector's suction port and connect the first pipe to the ejector's discharge port. Connect the second piping, supply compressed air to the compressed air inlet of the ejector, and suck the bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber from the suction port of the ejector via the first piping. Liquid bubbles with compressed air pressure Rude liquefied is for discharging the liquefied treatment liquid from the discharge port of the ejector along with the compressed air into the processing chamber through the second pipe.
本発明で用いるエジェクタは、吸引口及び排出口と圧縮空気導入口とを有し、圧縮空気を圧縮空気導入口から排出口へ流し、吸引口と排出口との間に生じた圧力差により吸引口から吸引した物を、圧縮空気と共に排出口から排出する、流体駆動装置の一種である。このエジェクタを用い、処理室内に溜まった処理液の泡を、第1の配管を介してエジェクタの吸引口から吸引し、吸引した処理液の泡を圧縮空気の圧力でつぶして液化し、液化した処理液を圧縮空気と共にエジェクタの排出口から第2の配管を介して処理室内へ吐出するので、処理室内に溜まった処理液の泡が、簡単な設備を用いて効果的に除去される。従って、処理室からの泡漏れ、及び処理室内での泡による基板の搬送不良が防止される。処理室内に溜まった処理液の泡を、圧縮空気の圧力でつぶすので、処理液を希釈又は汚染することがなく、処理液の再利用が可能となる。エジェクタ、及びエジェクタの圧縮空気導入口へ圧縮空気を供給する空気圧回路は、小型に構成できるので、設置場所を選ばず、自由な配置が可能である。 The ejector used in the present invention has a suction port, a discharge port, and a compressed air introduction port, flows compressed air from the compressed air introduction port to the discharge port, and sucks due to a pressure difference generated between the suction port and the discharge port. This is a kind of fluid drive device that discharges an object sucked from a mouth from a discharge port together with compressed air. Using this ejector, the bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber are sucked from the suction port of the ejector via the first pipe, and the sucked processing liquid bubbles are crushed with the pressure of compressed air to be liquefied and liquefied. Since the processing liquid is discharged together with the compressed air from the discharge port of the ejector into the processing chamber via the second pipe, the bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber can be effectively removed using simple equipment. Therefore, bubble leakage from the processing chamber and substrate conveyance failure due to bubbles in the processing chamber are prevented. Since bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber are crushed by the pressure of the compressed air, the processing liquid can be reused without being diluted or contaminated. Since the ejector and the pneumatic circuit for supplying the compressed air to the compressed air introduction port of the ejector can be configured in a small size, they can be freely arranged regardless of the installation location.
さらに、本発明の基板処理装置は、第1の配管の内径よりも広い開口を有し、処理室内で処理室内に溜まった処理液の液面よりも高い位置に設置され、第1の配管に接続された吸引フードを備えたものである。また、本発明の基板処理方法は、第1の配管の内径よりも広い開口を有する吸引フードを、処理室内で処理室内に溜まった処理液の液面よりも高い位置に設置して、第1の配管に接続するものである。処理液の泡は、空気を内包して処理液自体よりも軽く、処理液の表面に浮いている。第1の配管の内径よりも広い開口を有する吸引フードを、処理室内で処理室内に溜まった処理液の液面よりも高い位置に設置して、第1の配管に接続するので、処理液の表面に浮いた泡が、吸引フードの開口から効率良く吸引される。 Furthermore, the substrate processing apparatus of the present invention has an opening wider than the inner diameter of the first pipe, and is installed at a position higher than the liquid level of the processing liquid collected in the processing chamber in the processing chamber. It is equipped with a connected suction hood. In the substrate processing method of the present invention, the suction hood having an opening wider than the inner diameter of the first pipe is installed at a position higher than the liquid level of the processing liquid collected in the processing chamber. To be connected to the pipe. The bubbles of the processing liquid contain air and are lighter than the processing liquid itself, and float on the surface of the processing liquid. Since the suction hood having an opening wider than the inner diameter of the first pipe is installed at a position higher than the liquid level of the processing liquid collected in the processing chamber in the processing chamber and connected to the first pipe, Bubbles floating on the surface are efficiently sucked from the opening of the suction hood.
さらに、本発明の基板処理装置は、処理室内で第2の配管の先端付近に設置され、第2の配管から吐出された圧縮空気が衝突するカバーを備えたものである。また、本発明の基板処理方法は、第2の配管から吐出された圧縮空気が衝突するカバーを、処理室内で第2の配管の先端付近に設置するものである。第2の配管から吐出された圧縮空気がカバーに衝突してその勢いが弱まり、第2の配管から吐出された圧縮空気による処理室内の気流の乱れが防止される。また、第2の配管から吐出された圧縮空気が処理室内に溜まった処理液に直接衝突して泡が発生するのが防止される。 Furthermore, the substrate processing apparatus of the present invention is provided with a cover that is installed near the tip of the second pipe in the processing chamber and that collides with the compressed air discharged from the second pipe. Moreover, the substrate processing method of this invention installs the cover which the compressed air discharged from 2nd piping collides near the front-end | tip of 2nd piping in a processing chamber. The compressed air discharged from the second pipe collides with the cover and the momentum is weakened, and the turbulence of the air flow in the processing chamber due to the compressed air discharged from the second pipe is prevented. Moreover, it is prevented that the compressed air discharged from the second pipe directly collides with the processing liquid accumulated in the processing chamber to generate bubbles.
本発明の表示用パネル基板の製造方法は、上記のいずれかの基板処理装置又は基板処理方法を用いて基板の処理を行うものである。処理室内に溜まった処理液の泡が、簡単な設備を用いて効果的に除去されるので、消泡剤の添加による処理液の劣化、装置の停止による稼働率の低下、及び処理液の交換によるランニングコストの増大が抑制され、処理むらが少なく品質の高い表示用パネル基板が、効率良く安価に製造される。 The method for producing a display panel substrate according to the present invention is to perform substrate processing using any one of the above-described substrate processing apparatuses or substrate processing methods. Since the bubbles of the processing liquid collected in the processing chamber are effectively removed using simple equipment, the processing liquid deteriorates due to the addition of an antifoaming agent, the operating rate decreases due to the shutdown of the apparatus, and the processing liquid is replaced. Thus, an increase in running cost due to the above is suppressed, and a display panel substrate with high quality with little processing unevenness is efficiently and inexpensively manufactured.
本発明の基板処理装置及び基板処理方法によれば、吸引口及び排出口と圧縮空気導入口とを有し、圧縮空気を圧縮空気導入口から排出口へ流し、吸引口と排出口との間に生じた圧力差により吸引口から吸引した物を、圧縮空気と共に排出口から排出するエジェクタを用い、処理室内に溜まった処理液の泡を、第1の配管を介してエジェクタの吸引口から吸引し、吸引した処理液の泡を圧縮空気の圧力でつぶして液化し、液化した処理液を圧縮空気と共にエジェクタの排出口から第2の配管を介して処理室内へ吐出することにより、処理室内に溜まった処理液の泡を、簡単な設備を用いて効果的に除去することができる。従って、処理室からの泡漏れ、及び処理室内での泡による基板の搬送不良を防止することができる。処理室内に溜まった処理液の泡を、圧縮空気の圧力でつぶすので、処理液を希釈又は汚染することがなく、処理液の再利用が可能となる。エジェクタ、及びエジェクタの圧縮空気導入口へ圧縮空気を供給する空気圧回路は、小型に構成できるので、設置場所を選ばず、自由な配置が可能である。 According to the substrate processing apparatus and the substrate processing method of the present invention, a suction port, a discharge port, and a compressed air introduction port are provided, compressed air is allowed to flow from the compressed air introduction port to the discharge port, and between the suction port and the discharge port. Using an ejector that discharges the material sucked from the suction port due to the pressure difference generated from the discharge port together with the compressed air, the bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber are sucked from the suction port of the ejector through the first pipe. Then, the bubble of the sucked processing liquid is liquefied by compressing the compressed air, and the liquefied processing liquid is discharged into the processing chamber through the second pipe from the discharge port of the ejector together with the compressed air. The bubbles of the accumulated processing liquid can be effectively removed using simple equipment. Accordingly, it is possible to prevent bubble leakage from the processing chamber and substrate conveyance failure due to bubbles in the processing chamber. Since bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber are crushed by the pressure of the compressed air, the processing liquid can be reused without being diluted or contaminated. Since the ejector and the pneumatic circuit for supplying the compressed air to the compressed air introduction port of the ejector can be configured in a small size, they can be freely arranged regardless of the installation location.
さらに、本発明の基板処理装置及び基板処理方法によれば、第1の配管の内径よりも広い開口を有する吸引フードを、処理室内で処理室内に溜まった処理液の液面よりも高い位置に設置して、第1の配管に接続することにより、処理液の表面に浮いた泡を、吸引フードの開口から効率良く吸引することができる。 Furthermore, according to the substrate processing apparatus and the substrate processing method of the present invention, the suction hood having an opening wider than the inner diameter of the first pipe is positioned higher than the liquid level of the processing liquid accumulated in the processing chamber. By installing and connecting to the first pipe, the bubbles floating on the surface of the treatment liquid can be efficiently sucked from the opening of the suction hood.
さらに、本発明の基板処理装置及び基板処理方法によれば、第2の配管から吐出された圧縮空気が衝突するカバーを、処理室内で第2の配管の先端付近に設置することにより、第2の配管から吐出された圧縮空気による処理室内の気流の乱れを防止することができる。また、第2の配管から吐出された圧縮空気が処理室内に溜まった処理液に直接衝突して泡が発生するのを防止することができる。 Furthermore, according to the substrate processing apparatus and the substrate processing method of the present invention, the cover on which the compressed air discharged from the second pipe collides is installed in the vicinity of the tip of the second pipe in the processing chamber. Disturbance of the air flow in the processing chamber due to the compressed air discharged from the pipe can be prevented. Further, it is possible to prevent the compressed air discharged from the second pipe from directly colliding with the processing liquid accumulated in the processing chamber and generating bubbles.
本発明の表示用パネル基板の製造方法によれば、処理室内に溜まった処理液の泡を、簡単な設備を用いて効果的に除去することができるので、消泡剤の添加による処理液の劣化、装置の停止による稼働率の低下、及び処理液の交換によるランニングコストの増大を抑制して、処理むらが少なく品質の高い表示用パネル基板を、効率良く安価に製造することができる。 According to the method for manufacturing a display panel substrate of the present invention, the bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber can be effectively removed using simple equipment. It is possible to efficiently and inexpensively manufacture a display panel substrate with low processing unevenness and high quality while suppressing deterioration, a reduction in operating rate due to the stop of the apparatus, and an increase in running cost due to replacement of the processing liquid.
図1は、本発明の一実施の形態による基板処理装置の概略構成を示す図である。基板処理装置は、ローラ10、処理室20、ノズル21、処理液回収配管22、処理液タンク23、処理液供給配管24、ポンプ25、フィルタ26、エジェクタ30、吸引配管31、吐出配管32、圧縮空気供給源33、空気圧回路、吸引フード40a、及びカバー50を含んで構成されている。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. The substrate processing apparatus includes a
基板1は、複数のローラ10上に搭載され、ローラ10の回転により、矢印で示す基板移動方向へ移動される。なお、本実施の形態では基板1を水平な状態で移動しているが、本発明はこれに限らず、基板1を水平に対して基板移動方向と直交する方向又は基板移動方向に所定の角度傾斜した状態で移動してもよい。
The substrate 1 is mounted on a plurality of
基板1は、ローラ10により、処理室20へ搬入される。処理室20内には、ローラ10に搭載された基板1の上方に、複数のノズル21が設置されている。ノズル21は、スプレーノズル、シャワーノズル、又はスリットノズルから成り、現像液、エッチング液、剥離液、洗浄液等の処理液を、ローラ10により移動される基板1の表面へ吐出する。基板1の移動に伴い、ノズル21から吐出された処理液が基板1の表面全体へ供給され、基板1の現像、エッチング、剥離、洗浄等の処理が行われる。
The substrate 1 is carried into the
なお、本実施の形態では、ノズル21が基板移動方向に3段設けられているが、ノズル21の段数はこれに限らない。
In the present embodiment, three stages of
処理室20の床は緩やかに傾斜しており、床の最も低い位置に処理液回収配管22が設けられている。処理液回収配管22の下端は、処理液2を貯留する処理液タンク23内へ伸びている。ノズル21から基板1の表面へ吐出された処理液は、基板1の表面から処理室20の床へ流れ落ち、処理液回収配管22から処理液タンク23へ流れ込む。処理液タンク23内に貯留された処理液2は、処理液供給配管24を通ってノズル21へ供給される。処理液供給配管24には、処理液タンク23内の処理液2を処理液供給配管24内へ流すためのポンプ25と、処理液2に混入した異物や不純物を取り除くフィルタ26とが設けられている。
The floor of the
なお、本実施の形態では、ノズル21から基板1へ吐出された処理液を、処理室20の床から回収しているが、処理室20内に処理液回収チャンバを設け、処理液回収チャンバ内に溜まった処理液を、処理液タンク23へ流してもよい。
In the present embodiment, the processing liquid discharged from the
以下、本発明の一実施の形態による基板処理方法を説明する。処理室20内で、ノズル21から吐出された処理液が基板1の表面に衝突する際に、処理液の泡が発生する。また、処理室20内で、処理液が基板1の表面から落下して処理室20の床又は処理液回収チャンバに衝突する際にも、処理液の泡が発生する。本発明では、エジェクタ30を用いて、処理室20内に溜まった処理液の泡を除去する。本発明で用いるエジェクタ30は、吸引口及び排出口と圧縮空気導入口とを有し、圧縮空気を圧縮空気導入口から排出口へ流し、吸引口と排出口との間に生じた圧力差により吸引口から吸引した物を、圧縮空気と共に排出口から排出する、流体駆動装置の一種である。
Hereinafter, a substrate processing method according to an embodiment of the present invention will be described. When the processing liquid discharged from the
図2(a)はエジェクタの側面図、図2(b)はエジェクタの内部の断面図である。図2(a)において、エジェクタ30は、本体30a、吸引部30b、排出部30c、及び圧縮空気導入部30dから構成されている。図2(b)に示す様に、吸引部30b、本体30a及び排出部30cの内部には、図面横方向につながった流体通路30eが形成されており、流体通路30eの一端は吸引部30bにおいて吸引口30fと成り、流体通路30eの他端は排出部30cにおいて排出口30gと成っている。一方、圧縮空気導入部30dには、圧縮空気導入口30hが設けられており、本体30aの内部には、圧縮空気導入口30hから排出口30gの方向へ向かって斜めに伸び、流体通路30eと合流する圧縮空気通路30iが形成されている。
2A is a side view of the ejector, and FIG. 2B is a sectional view of the inside of the ejector. 2A, the
圧縮空気を、圧縮空気導入口30hから、圧縮空気通路30i及び流体通路30eを通して、排出口30gへ流すと、吸引口30fと排出口30gとの間に圧力差が生じ、この圧力差により吸引口30fから流体が吸引される。吸引口30fから吸引された流体は、流体通路30eを通り、圧縮空気と共に排出口30gから排出される。
When compressed air flows from the compressed
図1において、エジェクタ30の吸引口には、吸引配管31が接続されており、吸引配管31の先端は、処理室20内に設置された吸引フード40aに接続されている。一方、エジェクタ30の排出口には、吐出配管32が接続されており、吐出配管32の先端は、処理室20内に設置されている。処理室20内で吐出配管32の先端付近には、カバー50が設けられている。
In FIG. 1, a
エジェクタ30の圧縮空気導入口には、空気圧回路が接続されている。空気圧回路は、圧力調整弁34、圧力計35、流量計36、流量制御弁37、自動弁38、及びフィルタ39を含んで構成されている。圧力調整弁34は、圧縮空気供給源33からエジェクタ30の圧縮空気導入口へ供給される圧縮空気の圧力を調整する。流量制御弁37は、圧縮空気供給源33からエジェクタ30の圧縮空気導入口へ供給される圧縮空気の流量を制御する。
A pneumatic circuit is connected to the compressed air introduction port of the
圧縮空気供給源33から、空気圧回路を介して、エジェクタ30の圧縮空気導入口へ圧縮空気を供給すると、エジェクタ30は、処理室20内に溜まった処理液の泡を、吸引フード40a及び吸引配管31を介して吸引口から吸引し、吸引した処理液の泡を圧縮空気の圧力でつぶして液化し、液化した処理液を圧縮空気と共に排出口から吐出配管32を介して処理室20内へ吐出する。処理室20内に溜まった処理液の泡が、簡単な設備を用いて効果的に除去される。従って、処理室20からの泡漏れ、及び処理室20内での泡による基板1の搬送不良が防止される。処理室20内に溜まった処理液の泡を、圧縮空気の圧力でつぶすので、処理液を希釈又は汚染することがなく、処理液の再利用が可能となる。エジェクタ30、及びエジェクタ30の圧縮空気導入口へ圧縮空気を供給する空気圧回路は、小型に構成できるので、設置場所を選ばず、自由な配置が可能である。また、空気圧回路により、処理室20内で発生する処理液の泡の量に応じて、エジェクタ30の圧縮空気導入口へ供給する圧縮空気の圧力を調整し、また圧縮空気の流量を制御することができる。
When compressed air is supplied from the compressed air supply source 33 to the compressed air introduction port of the
図3は、吸引フードの外観図である。吸引フード40aは、図3(a)に示す様に、吸引配管31の内径よりも広い開口を有し、処理室20内で処理室20内に溜まった処理液の液面よりも高い位置に設置されている。処理液の泡は、空気を内包して処理液自体よりも軽く、処理液の表面に浮いている。吸引配管31の内径よりも広い開口を有する吸引フード40aを、処理室20内で処理室20内に溜まった処理液の液面よりも高い位置に設置して、吸引配管31に接続するので、処理液の表面に浮いた泡が、吸引フード40aの開口から効率良く吸引される。
FIG. 3 is an external view of the suction hood. As shown in FIG. 3A, the
図3(b),(c),(d)は、吸引フードの他の例の外観図である。図3(a)に示す吸引フード40a及び図3(b)に示す吸引フード40bは、いずれも開口が丸い形であるが、吸引フード40aは外形が円錐の一部を切り取った形であるのに対し、吸引フード40bは外形が円筒形である。また、図3(c)に示す吸引フード40c及び図3(d)に示す吸引フード40dは、いずれも開口が四角形であり、吸引フード40cは外形が四角錐の一部を切り取った形であり、吸引フード40dは外形が上方からみて扇形である。吸引フードの開口は、圧力損失が少なく、広範囲に処理液の泡を吸引できる形状であれば、設置場所及びスペースに応じて適宜選択することができる。また、吸引フードの配置として、処理液の泡に流れがある場合は、開口が流れの下流側から上流側へ向く様に配置する。処理液の泡に流れがない場合は、処理液の泡が発生する場所の近く、または処理液の泡が集まっている場所に配置する。なお、吸引フードは、現像液、エッチング液、剥離液、洗浄液等の処理液によって変質しない材料で構成されている。
FIGS. 3B, 3C, and 3D are external views of other examples of the suction hood. The
図4は、カバーの動作を説明する図である。処理室20内で吐出配管32から吐出された圧縮空気は、その勢いにより処理室20内の気流を乱し、また処理室20内に溜まった処理液に衝突して泡を発生させる恐れがある。本実施の形態では、処理室20内で吐出配管32から吐出された圧縮空気は、吐出配管32の先端付近に設置されたカバー50に衝突してその勢いが弱まり、吐出配管32から吐出された圧縮空気による処理室20内の気流の乱れが防止される。また、吐出配管32から吐出された圧縮空気が処理室20内に溜まった処理液に直接衝突して泡が発生するのが防止される。カバー50の形状は、圧縮空気の勢いを逃がす方向に応じて適宜選択でき、図4に示す様に、処理室20の床方向に傾斜した形状のカバー50を、吐出配管32の正面に設けると、カバー50に衝突した空気が、矢印で示す様に処理室20の床方向へ流れる。処理室20内で圧縮空気と共に吐出配管32から吐出された液化された処理液は、カバー50に衝突して処理室20の床へ落下し、処理液回収配管22から処理液タンク23へ回収される。
FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the cover. The compressed air discharged from the
以上説明した実施の形態によれば、吸引口30f及び排出口30gと圧縮空気導入口30hとを有し、圧縮空気を圧縮空気導入口30hから排出口30gへ流し、吸引口30fと排出口30gとの間に生じた圧力差により吸引口30fから吸引した物を、圧縮空気と共に排出口30gから排出するエジェクタ30を用い、処理室20内に溜まった処理液の泡を、吸引配管31を介してエジェクタ30の吸引口30fから吸引し、吸引した処理液の泡を圧縮空気の圧力でつぶして液化し、液化した処理液を圧縮空気と共にエジェクタ30の排出口30gから吐出配管32を介して処理室20内へ吐出することにより、処理室20内に溜まった処理液の泡を、簡単な設備を用いて効果的に除去することができる。従って、処理室20からの泡漏れ、及び処理室20内での泡による基板の搬送不良を防止することができる。処理室20内に溜まった処理液の泡を、圧縮空気の圧力でつぶすので、処理液を希釈又は汚染することがなく、処理液の再利用が可能となる。エジェクタ30、及びエジェクタ30の圧縮空気導入口30hへ圧縮空気を供給する空気圧回路は、小型に構成できるので、設置場所を選ばず、自由な配置が可能である。また、空気圧回路により、処理室20内で発生する処理液の泡の量に応じて、エジェクタ30の圧縮空気導入口30hへ供給する圧縮空気の圧力を調整し、また圧縮空気の流量を制御することができる。
According to the embodiment described above, the
さらに、吸引配管31の内径よりも広い開口を有する吸引フード40a,40b,40c,40dを、処理室20内で処理室20内に溜まった処理液の液面よりも高い位置に設置して、吸引配管31に接続することにより、処理液の表面に浮いた泡を、吸引フード40a,40b,40c,40dの開口から効率良く吸引することができる。
Furthermore, the
さらに、吐出配管32から吐出された圧縮空気が衝突するカバー50を、処理室20内で吐出配管32の先端付近に設置することにより、吐出配管32から吐出された圧縮空気による処理室20内の気流の乱れを防止することができる。また、吐出配管32から吐出された圧縮空気が処理室20内に溜まった処理液に直接衝突して泡が発生するのを防止することができる。
Furthermore, the
本発明の基板処理装置又は基板処理方法を用いて基板の処理を行うことにより、処理室内に溜まった処理液の泡を、簡単な設備を用いて効果的に除去することができるので、消泡剤の添加による処理液の劣化、装置の停止による稼働率の低下、及び処理液の交換によるランニングコストの増大を抑制して、処理むらが少なく品質の高い表示用パネル基板を、効率良く安価に製造することができる。 By processing the substrate using the substrate processing apparatus or the substrate processing method of the present invention, the bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber can be effectively removed using simple equipment. Suppressing the deterioration of the processing liquid due to the addition of the agent, the reduction in the operating rate due to the shutdown of the equipment, and the increase in the running cost due to the replacement of the processing liquid, making the display panel substrate of high quality with little processing unevenness efficient and inexpensive. Can be manufactured.
例えば、図5は、液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。薄膜形成工程(ステップ101)では、スパッタ法やプラズマ化学気相成長(CVD)法等により、基板上に液晶駆動用の透明電極となる導電体膜や絶縁体膜等の薄膜を形成する。レジスト塗布工程(ステップ102)では、ロール塗布法等により感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布して、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜上にフォトレジスト膜を形成する。露光工程(ステップ103)では、プロキシミティ露光装置や投影露光装置等を用いて、マスクのパターンをフォトレジスト膜に転写する。現像工程(ステップ104)では、シャワー現像法等により現像液をフォトレジスト膜上に供給して、フォトレジスト膜の不要部分を除去する。エッチング工程(ステップ105)では、ウエットエッチングにより、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜の内、フォトレジスト膜でマスクされていない部分を除去する。剥離工程(ステップ106)では、エッチング工程(ステップ105)でのマスクの役目を終えたフォトレジスト膜を、剥離液によって剥離する。これらの各工程の前又は後には、必要に応じて、基板の洗浄工程及び乾燥工程が実施される。これらの工程を数回繰り返して、基板上にTFTアレイが形成される。 For example, FIG. 5 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the TFT substrate of the liquid crystal display device. In the thin film formation step (step 101), a thin film such as a conductor film or an insulator film, which becomes a transparent electrode for driving liquid crystal, is formed on the substrate by sputtering, plasma chemical vapor deposition (CVD), or the like. In the resist coating process (step 102), a photosensitive resin material (photoresist) is applied by a roll coating method or the like to form a photoresist film on the thin film formed in the thin film forming process (step 101). In the exposure step (step 103), the mask pattern is transferred to the photoresist film using a proximity exposure apparatus, a projection exposure apparatus, or the like. In the development step (step 104), a developer is supplied onto the photoresist film by a shower development method or the like to remove unnecessary portions of the photoresist film. In the etching process (step 105), a portion of the thin film formed in the thin film formation process (step 101) that is not masked by the photoresist film is removed by wet etching. In the stripping step (step 106), the photoresist film that has finished the role of the mask in the etching step (step 105) is stripped with a stripping solution. Before or after each of these steps, a substrate cleaning step and a drying step are performed as necessary. These steps are repeated several times to form a TFT array on the substrate.
また、図6は、液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)では、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、剥離等の処理により、基板上にブラックマトリクスを形成する。着色パターン形成工程(ステップ202)では、染色法、顔料分散法、印刷法、電着法等により、基板上に着色パターンを形成する。この工程を、R、G、Bの着色パターンについて繰り返す。保護膜形成工程(ステップ203)では、着色パターンの上に保護膜を形成し、透明電極膜形成工程(ステップ204)では、保護膜の上に透明電極膜を形成する。これらの各工程の前、途中又は後には、必要に応じて、基板の洗浄工程及び乾燥工程が実施される。 FIG. 6 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the color filter substrate of the liquid crystal display device. In the black matrix forming step (step 201), a black matrix is formed on the substrate by processing such as resist coating, exposure, development, etching, and peeling. In the colored pattern forming step (step 202), a colored pattern is formed on the substrate by a dyeing method, a pigment dispersion method, a printing method, an electrodeposition method, or the like. This process is repeated for the R, G, and B coloring patterns. In the protective film forming step (step 203), a protective film is formed on the colored pattern, and in the transparent electrode film forming step (step 204), a transparent electrode film is formed on the protective film. Before, during or after each of these steps, a substrate cleaning step and a drying step are performed as necessary.
図5に示したTFT基板の製造工程では、現像工程(ステップ104)、エッチング工程(ステップ105)、剥離工程(ステップ106)、及び洗浄工程において、図6に示したカラーフィルタ基板の製造工程では、ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)及び着色パターン形成工程(ステップ202)の現像処理、エッチング処理、剥離処理、及び洗浄処理において、本発明の基板処理装置又は基板処理方法を適用することができる。 In the manufacturing process of the TFT substrate shown in FIG. 5, in the development process (step 104), the etching process (step 105), the peeling process (step 106), and the cleaning process, in the manufacturing process of the color filter substrate shown in FIG. The substrate processing apparatus or the substrate processing method of the present invention can be applied in the development process, etching process, peeling process, and cleaning process in the black matrix forming process (step 201) and the colored pattern forming process (step 202).
1 基板
2 処理液
10 ローラ
20 処理室
21 ノズル
22 処理液回収配管
23 処理液タンク
24 処理液供給配管
25 ポンプ
26 フィルタ
30 エジェクタ
30a 本体
30b 吸引部
30c 排出部
30d 圧縮空気導入部
30e 流体通路
30f 吸引口
30g 排出口
30h 圧縮空気導入口
30i 圧縮空気通路
31 吸引配管
32 吐出配管
33 圧縮空気供給源
34 圧力調整弁
35 圧力計
36 流量計
37 流量制御弁
38 自動弁
39 フィルタ
40a,40b,40c,40d 吸引フード
50 カバー
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (8)
前記処理室内で基板を移動する基板移動手段と、
前記処理室内に設けられ、前記基板移動手段により移動される基板へ処理液を吐出するノズルと、
前記ノズルへ供給する処理液を貯留する処理液タンクと、
前記ノズルから基板へ吐出された処理液を回収して前記処理液タンクへ戻す処理液回収手段と、
吸引口及び排出口と圧縮空気導入口とを有し、圧縮空気を圧縮空気導入口から排出口へ流し、吸引口と排出口との間に生じた圧力差により吸引口から吸引した物を、圧縮空気と共に排出口から排出するエジェクタと、
前記エジェクタの吸引口に接続された第1の配管と、
前記エジェクタの排出口に接続された第2の配管と、
前記エジェクタの圧縮空気導入口へ圧縮空気を供給する空気圧回路とを備え、
前記エジェクタは、前記処理室内に溜まった処理液の泡を、前記第1の配管を介して吸引口から吸引し、吸引した処理液の泡を圧縮空気の圧力でつぶして液化し、液化した処理液を圧縮空気と共に排出口から前記第2の配管を介して前記処理室内へ吐出することを特徴とする基板処理装置。 A processing chamber for processing a substrate using a processing liquid;
Substrate moving means for moving the substrate in the processing chamber;
A nozzle that is provided in the processing chamber and that discharges the processing liquid to the substrate moved by the substrate moving means;
A processing liquid tank for storing a processing liquid to be supplied to the nozzle;
Processing liquid recovery means for recovering the processing liquid discharged from the nozzle to the substrate and returning it to the processing liquid tank;
It has a suction port, a discharge port, and a compressed air introduction port, flows compressed air from the compressed air introduction port to the discharge port, and sucks from the suction port due to a pressure difference generated between the suction port and the discharge port. An ejector that discharges with compressed air from the outlet;
A first pipe connected to the suction port of the ejector;
A second pipe connected to the discharge port of the ejector;
A pneumatic circuit for supplying compressed air to the compressed air inlet of the ejector,
The ejector sucks the bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber from the suction port via the first pipe, and the sucked processing liquid bubbles are crushed with the pressure of compressed air to be liquefied and liquefied. A substrate processing apparatus, wherein a liquid is discharged together with compressed air from a discharge port into the processing chamber through the second pipe.
処理液を貯留した処理液タンクから処理室内に設けたノズルへ処理液を供給して、ノズルから基板へ処理液を吐出し、
ノズルから基板へ吐出した処理液を回収して処理液タンクへ戻し、
吸引口及び排出口と圧縮空気導入口とを有し、圧縮空気を圧縮空気導入口から排出口へ流し、吸引口と排出口との間に生じた圧力差により吸引口から吸引した物を、圧縮空気と共に排出口から排出するエジェクタを用い、
エジェクタの吸引口に第1の配管を接続し、
エジェクタの排出口に第2の配管を接続し、
エジェクタの圧縮空気導入口へ圧縮空気を供給し、
処理室内に溜まった処理液の泡を、第1の配管を介してエジェクタの吸引口から吸引し、吸引した処理液の泡を圧縮空気の圧力でつぶして液化し、液化した処理液を圧縮空気と共にエジェクタの排出口から第2の配管を介して処理室内へ吐出することを特徴とする基板処理方法。 While moving the substrate in the processing chamber,
The processing liquid is supplied from the processing liquid tank storing the processing liquid to the nozzle provided in the processing chamber, and the processing liquid is discharged from the nozzle to the substrate.
Collect the processing liquid discharged from the nozzle to the substrate and return it to the processing liquid tank.
It has a suction port, a discharge port, and a compressed air introduction port, flows compressed air from the compressed air introduction port to the discharge port, and sucks from the suction port due to a pressure difference generated between the suction port and the discharge port. Using an ejector that discharges from the discharge port with compressed air,
Connect the first pipe to the suction port of the ejector,
Connect the second pipe to the ejector outlet,
Supply compressed air to the compressed air inlet of the ejector,
The bubbles of the processing liquid accumulated in the processing chamber are sucked from the suction port of the ejector through the first pipe, and the sucked processing liquid bubbles are crushed and liquefied by the pressure of the compressed air, and the liquefied processing liquid is compressed air. In addition, a substrate processing method characterized by discharging from the discharge port of the ejector into the processing chamber through the second pipe.
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---|---|---|---|---|
JP2015211952A (en) * | 2014-05-07 | 2015-11-26 | 合同会社U.Eng | Collection device for floating foreign material |
CN105785605A (en) * | 2015-01-13 | 2016-07-20 | 芝浦机械电子株式会社 | Substrate processing device |
JP2016129881A (en) * | 2015-01-13 | 2016-07-21 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | Substrate processing apparatus |
CN105785605B (en) * | 2015-01-13 | 2019-05-03 | 芝浦机械电子株式会社 | Substrate board treatment |
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