JP4649914B2 - 微小電気機械素子、光学微小電気機械素子、光変調素子及びそれらの製造方法、並びにレーザディスプレイ - Google Patents
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一方、後述の課題で説明する微小電気機械素子のビームに生じるたわみを低減させる手法として、アニールにより膜応力を低減させる手法が、特許文献2に開示されている。
また、本発明は、この光変調素子を有して、より高輝度の投影画像が得られるレーザディスプレイを提供するものである。
上記極大値に対応する段差部の幅は、振動部の幅の4分の1±0.1μmまたは4分の3±0.1μmとすることができる。
上記極大値に対応する段差部の幅は、振動部の幅の4分の1±0.1μmまたは4分の3±0.1μmとすることができる。
上記極大値に対応する段差部の幅は、振動部の幅の4分の1±0.1μmまたは4分の3±0.1μmとすることができる。
振動部の傾き量の制御としては、段差の振動部幅方向の幅及び段差の深さの少なくとも一方を制御して、段差形状のエッチング深さのバラツキによる振動部の傾き量のバラツキを最小化するように制御することができる。
振動部の傾き量の制御としては、段差の振動部幅方向の幅及び段差の深さの少なくとも一方を制御して、段差形状のエッチング幅のバラツキによる振動部の傾き量のバラツキを最小化するように制御することができる。
この光学微小電気機械素子の製造方法において、振動部の傾き量の制御としては、段差の振動部幅方向の幅及び段差の深さの少なくとも一方を制御して、段差形状のエッチング幅のバラツキによる振動部の傾き量のバラツキを最小化するように制御することができる。
この光変調素子の製造方法において、振動部の傾き量の制御としては、段差の振動部幅方向の幅及び段差の深さの少なくとも一方を制御して、段差形状のエッチング幅のバラツキによる振動部の傾き量のバラツキを最小化するように制御することができる。
上記極大値に対応する段差部の幅は、振動部の幅の4分の1±0.1μmまたは4分の3±0.1μmとすることができる。
段差の振動部幅方向の幅及び段差の深さの少なくとも一方を制御することにより、振動部の傾き量を極大化することできる。
段差の振動部幅方向の幅及び段差の深さの少なくとも一方を制御することにより、段差形状のエッチング深さのバラツキによる振動部の傾き量のバラツキを最小化することができる。
段差の振動部幅方向の幅及び段差の深さの少なくとも一方を制御することにより、段差形状のエッチング幅のバラツキによる振動部の傾き量のバラツキを最小化することができる。
段差深さH1 を深くするにつれて傾き量は増加して行くが、ある段差深さでピーク値となり、以後傾き量は減少する。ピーク値以上の傾き量を得るには、ビームの膜を引張り応力の大きい膜にしなければならいが、ビームのたわみも大きくなる。
図1は、本発明に係る微小電気機械素子及びその製造方法の第1実施の形態を示す。本実施の形態に係る微小電気機械素子41は、基板42上に形成した下部電極43と、この下部電極43をブリッジ状に跨ぐように配置し両端に段差51を設けたビーム45とを有して成る。ビーム45と下部電極43とは、その間の空間44によって電気的に絶縁されている。ビーム45は、例えば、絶縁膜47と、その上面の金属膜による上部電極48との2層膜で形成され、その両端がこれと一体の支持部46〔46A,46B〕を介して基板42に支持された両持ち梁式構造に形成される。
前述と同様に、基板42は、例えばシリコン(Si)やガリウム砒素(GaAs)などの半導体基板上に絶縁膜を形成した基板、石英基板やガラス基板のような絶縁性基板等が用いられる。下部電極43は、不純物をドーピングした多結晶シリコン膜、金属膜(多結晶W,Cr蒸着膜)などで形成される。ビーム45は、シリコン窒化膜(SiN膜)、シリコン酸化膜(SiO2 膜)、その他の絶縁膜、本例では強度、弾性定数などの物性値がビーム45の機械的駆動に対して適切なシリコン地下膜が用いられる。上部電極48は、多結晶Al単体膜、Al合金膜(これらを総称してAl膜という)、その他の光反射効率のよい金属膜で形成することができる。
段差幅W3 に対するビーム45の傾き量の変化は、図2のグラフに示すように、ビーム幅W4 の1/4付近、及び3/4付近でピークを持つ。このため、段差幅W3 をこのピークに近づけることで、比較例に比べて傾き量を増大させることができる。
一方、前述の図3のグラフで明らかなように、段差幅W3 を一定にして、段差深さH3 を変化させると傾き量にピークを持つ特性がある。従って、段差幅W3 を図2のピークに近いところに設定して、さらに段差深さH3 を大きくすることで、傾き量をさらに増大させることができる。
この微小電気機械素子41において、段差の幅W3をビーム45の幅W4の略4分の1または略4分の3に設定することにより、ビーム傾き量を大きくし、かつビーム傾き量の変化を小さくすることができる。ここで、略4分の1、略4分の3とは、それぞれ4分の1,4分の3を中心に使用する装置の精度を考慮して特性的に十分なマージンが得られる程度、極大値に近い傾き量が得られる範囲の段差幅を指す。例えば±0.1μmの誤差範囲を許容することができる。
段差51の深さH3 (製造時のエッチング深さに相当するので、ここではエッチング深さという)に対するビーム傾き量の値は、前述の図3に示す通り、ある一定のエッチング深さH3 において飽和する。この飽和付近(ピーク付近)においては、段差51のエッチング深さH3 に対するビーム傾き量の変化が小さい。
本実施の形態に係る微小電気機械素子及びその製造方法は、所要の傾きを有するビームを形成するに当たり、段差幅W3 をある一定の値に設定して、段差深さH3 を上記の飽和領域の条件で制御して段差51を形成するようになす。
図4を参照してさらに説明する。図4は、段差幅をパラメータとしたときのビーム傾き量とエッチング深さの関係を示す。曲線aは段差幅=ビーム幅×1/4のとき、曲線bは段差幅=ビーム幅×1/2のときである。例えば傾き量が80(相対値)のビームを、出来るだけエッチング深さバラツキの影響が小さくなるように形成したい場合は、段差幅をビーム幅の1/2にして、エッチング深さを160(相対値)とすることが好適である(曲線a参照)。曲線aではエッチング深さ160のところが飽和付近(ピーク付近)であるため、ビーム傾き量に対してエッチング深さのバラツキの影響は小さい。これに対して、曲線bを用い、弾性付与部材差幅をビーム幅の1/4として、エッチング深さを120とした場合にも、ビーム傾き量の80は達成される。しかし、エッチング深さ120の部分は曲線bの飽和付近でないため、ビーム傾き量はエッチング深さのバラツキの影響を大きく受ける。
従って、ある狙いのビーム傾き量を、エッチング深さバラツキの影響を極力小さくするように設計するためには、段差深さ(エッチング深さ)と段差幅(エッチング幅)の両方を制御すればよい。あるいは段差幅をある一定の値に設定して段差深さのみを制御する、あるいは段差深さをある一定の値に設定して段差幅のみを制御するようになす。
ビーム傾き量のバラツキ要因として、製造時のエッチング幅(段差幅に相当する)よりエッチング深さによる影響が大きい場合には、第2実施の形態を用いることで、ビーム傾き量のバラツキを低減させることが可能となる。
段差51の幅W3 (製造時のエッチング幅に相当するので、ここではエッチング幅という)に対するビーム傾き量の値は、図2に示す通り、エッチング幅W3 がビーム幅W4 のおよそ1/4、3/4のとき極大値をとり、ビーム幅W4 のおよそ1/2のとき最小値をとる。この極大値付近、極小値付近においては、段差51のエッチング幅W3 に対するビーム傾き量の変化が小さい。
本実施の形態に係る微小電気機械素子及びその製造方法は、所要の傾きを有するビームを形成するに当たり、段差深さH3 をある一定の値に設定して、エッチング幅W3 を上記の極大値付近、もしくは極小値付近の条件で制御して段差51を形成するようになす。
即ち、この場合も、ある狙いのビーム傾き量を、エッチング幅バラツキの影響を極力小さくするように設計するためには、段差深さ(エッチング深さ)と段差幅(エチング幅)の両方を制御すればよい。あるいは段差幅をある一定の値に設定して段差深さのみを制御する、あるいは段差深さをある一定の値に設定して段差幅のみを制御するようになす。
ビーム傾き量のバラツキ要因として、製造時のエッチング深さ(段差深さに相当する)よりエッチング幅による影響が大きい場合には、第3実施の形態を用いることで、ビーム傾き量のバラツキを低減させることが可能となる。特に、ビーム45が幅の細いリボン構造である場合には、エッチング幅のプロセス誤差によるビーム傾きのバラツキが大きくなるため、第3実施の形態の手法が有効である。
本実施の形態に係るGLV素子61は、図5に示すように、基板62上に共通の下部電極63が形成され、この下部電極63に交叉してブリッジ状に跨ぐ複数、本例では5つのビーム65〔651、652、653、654、655〕が並列配置されて成る。このビーム65のうち、一方の一つ置きのビーム、多結晶ビーム651、653、655が固定ビームとして作用し、他方の一つ置きのビーム652、654が可動ビームとして作用する。前述と同様に、基板62は、半導体基板上に絶縁膜を形成した基板や絶縁性基板などで形成される。また、下部電極63も多結晶シリコン膜、金属膜などで形成される。ビーム65は、例えばシリコン窒化膜(SiN膜)などの絶縁膜によるブリジ部材67の下部電極53と平行する面上に所要の膜厚、例えば70nm程度のAl膜による反射膜を兼ねる上部電極(以下、反射膜兼上部電極という)68が形成された構造である。ビーム65はリボンと称されている部分である。
このようにして、図9Hに示すように、基板62に下部電極63が形成され、この下部電極63に対して空間64を挟んで、それぞれ両端に段差71が形成され表面に反射膜兼上部電極68が形成された複数、本例では5つのビーム65〔651〜655〕を有して成る的のGLV素子61を得る。
レーザ光源82R,82G,82Bは、それぞれ例えば、R(波長642nm、光出力約3W)、G(波長532nm、光出力約2W)、B(波長457nm、光出力約1.5W)のレーザを射出する。
更に、各レーザ光は、GLV素子88R,88G,88Bによって回折されることにより空間変調され、これら3色の回折光が色合成フィルタ90によって合成され、続いて空間フィルタ92によって信号成分のみが取り出される。
次いで、このRGBの画像信号は、ディフューザ94によってレーザスペックルが低減され、ミラー96を経て、画像信号と同期するガルバノスキャナ98によって空間に展開され、投影光学系100によってスクリーン102上にフルカラー画像として投影される。
本実施の形態のレーザディスプレイ81によれば、GLV素子88R,88G,88Bのビーム傾き量を十分確保できるので、回折効率が向上し、より高輝度の投影画像が得られる。
これによって、従来十分なビーム傾き量が確保できなかった微小電気機械素子の性能を向上することができる。この微小電気機械素子を適用した光変調素子によれば、光の反射方向の変換が効率よく行える。この微小電気機械素子を適用した光変調素子によれば、回折効率を向上することができる。この光変調器としてのGLV素子を備えたプロジェクタであれば、回折効率が向上することにより、より高輝度の投影が可能になる。
Claims (18)
- 下部電極に空間を挟んで対向し両端部で支持された振動部を有し、
前記振動部に段差を付けて該振動部に幅方向の傾きを生じさせる微小電気機械素子であって、
前記段差の幅が、前記振動部の傾き量の極大値に対応する幅に設定されて成る
ことを特徴とする微小電気機械素子。 - 前記段差の幅が、前記振動部の幅の4分の1±0.1μmまたは4分の3±0.1μmである
ことを特徴とする請求項1記載の微小電気機械素子。 - 下電極に空間を挟んで対向し両端部で支持された振動部を有し、
前記振動部に段差を付けて該振動部に幅方向に傾きを生じさせ、
前記振動部の駆動により、該振動部で反射する光の反射方向を変換し、または回折光を生じさせるようにした光学微小電気機械素子であって、
前記段差の幅が、前記振動部の傾き量の極大値に対応する幅に設定されて成る
ことを特徴とする光学微小電気機械素子。 - 前記段差の幅が、前記振動部の幅の4分の1±0.1μmまたは4分の3±0.1μmである
ことを特徴とする請求項3記載の光学微小電気機械素子。 - 下電極に空間を挟んで対向し両端部で支持された複数の振動部を並列配置し、
前記振動部に段差を付けて該振動部に幅方向に傾きを生じさせ、
前記振動部の駆動により回折光を生じさせるようにした光変調素子であって、
前記段差の幅が、前記振動部の傾き量の極大値に対応する幅に設定されて成る
ことを特徴とする光変調素子。 - 前記段差の幅が、前記振動部の幅の4分の1±0.1μmまたは4分の3±0.1μmである
ことを特徴とする請求項3記載の光変調素子。 - 下部電極に空間を挟んで対向し両端部で支持された振動部を有し、
前記振動部に段差を付けて該振動部に幅方向の傾きを生じさせる微小電気機械素子の製造方法であって、
前記段差の振動部幅方向の幅及び前記段差の深さの少なくとも一方の選択により前記振動部の傾き量を制御する
ことを特徴とする微小電気機械素子の製造方法。 - 前記段差の振動部幅方向の幅及び前記段差の深さの少なくとも一方を制御して、
前記振動部の傾き量を極大化する
ことを特徴とする請求項7記載の微小電気機械素子の製造方法。 - 前記段差の振動部幅方向の幅及び前記段差の深さの少なくとも一方を制御して、
段差形状のエッチング深さのバラツキによる前記振動部の傾き量のバラツキを最小化する
ことを特徴とする請求項7記載の微小電気機械素子の製造方法。 - 前記段差の振動部幅方向の幅及び前記段差の深さの少なくとも一方を制御して、
段差形状のエッチング幅のバラツキによる前記振動部の傾き量のバラツキを最小化する
ことを特徴とする請求項7記載の微小電気機械素子の製造方法。 - 下電極に空間を挟んで対向し両端部で支持された振動部を有し、
前記振動部に段差を付けて該振動部に幅方向に傾きを生じさせ、
前記振動部の駆動により、該振動部で反射する光の反射方向を変換し、または回折光を生じさせるようにした光学微小電気機械素子の製造方法であって、
前記段差の振動部幅方向の幅及び前記段差の深さの少なくとも一方を制御して、前記振動部の傾き量を極大化する
ことを特徴とする光学微小電気機械素子の製造方法。 - 前記段差の振動部幅方向の幅及び前記段差の深さの少なくとも一方を制御して、
段差形状のエッチング深さのバラツキによる前記振動部の傾き量のバラツキを最小化する
ことを特徴とする請求項11記載の光学微小電気機械素子の製造方法。 - 前記段差の振動部幅方向の幅及び前記段差の深さの少なくとも一方を制御して、
段差形状のエッチング幅のバラツキによる前記振動部の傾き量のバラツキを最小化する
ことを特徴とする請求項11記載の光学微小電気機械素子の製造方法。 - 下部電極に空間を挟んで対向し両端部で支持された複数の振動部を並列配列し、
前記振動部に段差を付けて該振動部に幅方向の傾きを生じさせ、
前記振動部の駆動により回折光を生じさせるようにした光変調素子の製造方法であって、
前記段差の振動部幅方向の幅及び前記段差の深さの少なくとも一方を制御して、前記振動部の傾き量を極大化する
ことを特徴とする光変調素子の製造方法。 - 前記段差の振動部幅方向の幅及び前記段差の深さの少なくとも一方を制御して、
段差形状のエッチング深さのバラツキによる前記振動部の傾き量のバラツキを最小化する
ことを特徴とする請求項14記載の光変調素子の製造方法。 - 前記段差の振動部幅方向の幅及び前記段差の深さの少なくとも一方を制御して、
段差形状のエッチング幅のバラツキによる前記振動部の傾き量のバラツキを最小化する
ことを特徴とする請求項14記載の光変調素子の製造方法。 - レーザ光源と、該レーザ光源から出射されたレーザ光の光軸上に配置され、レーザ光の光強度を変調する光変調素子とを有するレーザディスプレイであって、
前記光変調素子は、
下部電極と複数の振動部からなり、各振動部が段差を有して振動部幅方向に傾き、振動部の駆動により回折光の強度変調を生じさせる光変調素子であって、
前記段差の幅が、前記振動部の傾き量の極大値に対応する幅に設定されて成る
ことを特徴とするレーザディスプレイ。 - 前記光変調素子における振動部の段差の幅が、前記振動部の幅の4分の1±0.1μmまたは4分の3±0.1μmである
ことを特徴とする請求項17記載のレーザディスプレイ。
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