JP4642798B2 - 露光装置およびこれを用いてマスクと基板間の間隙を設定する方法 - Google Patents
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Description
また、本発明は、前記露光装置を利用して、マスクと基板間の間隙を設定する方法を提供することに他の目的がある。
また、本発明による露光装置においては、チャックシリンダー部が一つのユニットシステムから構成されるので、交換が容易であり、熟練していない使用者であっても容易に露光間隙を調節することができる。
図1は本発明の実施例による露光装置の構成を概略的に示す。
図1に示すように、本発明の実施例による露光装置は、光照射部(図示せず)、マスクホルダー部100、基板ステージ部200、チャックシリンダー部300、チャックシリンダー駆動部400、および間隙設定維持部500を含む。
図1は、マスクホルダー部100により、マスク110が基板ステージ部200上の基板210から所定の間隙だけ離れて固定されたままで、光照射部から平行光が照射されている状態を示す。
チャックシリンダー部300は基板ステージ部200を支持し、マスク110と基板210間の間隙を精密に調節する。
このような間隙調節機構は、下側に凹部が設けられた上部ハウジング、前記上部ハウジングの凹部とともに空間を形成するために、上側に凹部が設けられた下部ハウジング、および前記上部ハウジングと下部ハウジングを貫通し、前記上部ハウジングと下部ハウジングとの間の空間に位置する拡径部を備える間隙調節シャフトを含む。
前記上部ハウジングと下部ハウジングは互いにネジ部で連結され、このようなネジ部を相対的に回転させることにより、上部ハウジングと下部ハウジングとの間の空間が上下方向に拡張または縮小する。
図2aは本発明の実施例による露光装置の分解斜視図、図2bは露光装置の正断面図、図2cは図1の露光装置の基板ステージ部200とチャックシリンダー部300の結合状態を示す断面図である。図2aおよび図2bには、説明の便宜上、本発明の実施例による露光装置を構成する光照射部(図示せず)、マスクホルダー部100、およびチャックシリンダー駆動部400は図示されていない。
ユニボール220は基板ステージ部200の下部に備えられ、前記チャック座230とともに基板ステージ部200を平行に維持する。チャック座230は前記ユニボール220のための収容部を備え、前記ユニボール220が回転することにより、前記基板ステージ部200が平行状態になる。具体的に、マスク110と基板210が接触するとき、基板ステージ部200が平行でない場合、チャックシリンダー部300は、平行でない状態の基板ステージ部200を押し上げる。前記基板210が前記マスク110に接触すれば、前記ユニボール220は前記チャック座230に対して回転することで、前記基板ステージ部200を前記マスク110に対して平行に位置させる。その後、ユニボール220が真空で固定されて、前記基板ステージ部200を平行に維持させる。
本実施例において、間隙調節上部ハウジング310、間隙調節下部ハウジング320、および間隙調節シャフト330は前述した間隙調節機構に対応する。
前記間隙調節上部ハウジング310のスパーギア313はダイヤルゲージ(図示せず)によって回転できる。具体的な例として、ダイヤルゲージの1回転を150μmにし、1度盛りを2μmにすることができる。ダイヤルゲージは、回転の時にかみ合う間隙調節上部ハウジング310のスパーギア313を回転させることで、間隙を設定することができる。この場合、マスク110と基板210間の間隙は1度盛り単位に調節することができる。
このような間隙調節上部ハウジング310をスパーギア313によって回転させれば、間隙調節上部ハウジング310は、間隙調節下部ハウジング310と対応して形成されたネジ部312に沿って回転しながら、ネジ部312によって計算されたピッチだけ上部に移動する。よって、間隙調節上部ハウジング310の底面は、間隙調節シャフト330の拡径部331との接触面から一定距離だけ移動することになる。
ピストン370は、シリンダー空気通路390から入力される空気圧を利用してシリンダーロッド340を上昇または下降させる。
間隙設定維持部500は、本発明の間隙調節機構を固定させることにより、空気圧が排気されたとき、チャックシリンダー部300が設定間隙以上に下降することを防止する。
図3aおよび図3bは本発明の一実施例による露光装置の間隙設定維持部500の斜視図および側断面図である。図3cは間隙設定維持部500がチャックシリンダー部300に接合された状態を示す断面図である。
板スプリング530は、チューブ550が膨張すれば、凹凸型支持部540を押すことになるが、チューブ550が空気を排出して収縮する場合、凹凸型支持部540を元の状態に戻す。
チューブ550は空気圧を受けて膨張し、前記凹凸型支持部540が前記間隙調節下部ハウジング320を密着して固定する。
間隙設定維持部500は間隙調節下部ハウジング320を固定することにより、間隙調節シャフト330の下降の際、間隙調節シャフト330の下降距離が既設定間隙を超過しないようにする。具体的に、間隙設定維持部500は、間隙調節下部ハウジング320を固定させることになり、この際、間隙調節シャフト330の拡径部331は間隙調節下部ハウジング320の上部凹部に接触して、それ以上下降しなくなる。この際、間隙調節シャフト330の拡径部331と間隙調節上部ハウジング310の底面間の距離はマスク110と基板210間の間隙に対応する。
まず、マスクパターンが形成されたマスク110をマスクホルダー部100に真空で吸着して固定する。そして、基板210を基板ステージ部200に真空で吸着して固定した後、チャックシリンダー駆動部400により、基板210をX軸、Y軸、およびθ軸の方向に移動してマスク110に対応するように配置させる。この際、CCDカメラなどによってマスク110と基板210の中心の一致を確認しながら基板210を移動させることができる。
まず、スパーギア313を利用して、間隙調節上部ハウジング310をネジ部312に沿って、間隙調節下部ハウジング320のネジ部322に対応するように回転させることで、目的とする距離(ギャップ)だけ上昇させる。この際、間隙調節上部ハウジング310の上昇距離はマスク110と基板210間の間隙に対応する。図4bは所定の設定ギャップだけ間隙調節上部ハウジング310が間隙調節下部ハウジング320に対して上昇した状態を示す。ここで、間隙調節シャフト330の拡径部331と間隙調節上部ハウジング310間の間隔が設定ギャップに対応する。
この際、間隙調節シャフト330が上昇し、間隙調節シャフト330の拡径部331が間隙調節上部ハウジング310と接触することになり、それにより間隙調節上部ハウジング310と間隙調節下部ハウジング320を一緒に上昇させる。この際、チャックシリンダー部300は、基板210がマスク110に接触するまで上昇する。図5aはチャックシリンダー部300が上昇したときの状態を示す。
チャックシリンダー部300が上昇すれば、間隙設定維持部500は間隙調節下部ハウジング320を、シリンダーボディ345を介して支持して固定する。この際、間隙設定維持部500のチューブ550は、圧縮空気を受けて膨張して凹凸型支持部540を押すことで、間隙調節下部ハウジング320を支持するシリンダーボディ345を堅く固定する。
その後、シリンダー空気通路を通じて空気が排出されれば、シリンダーロッド340および間隙調節シャフト330が下降することになる。間隙調節シャフト330が一定距離下降し、拡径部331が間隙調節下部ハウジング320に接触すれば、間隙調節下部ハウジング320は、シリンダーボディ345が間隙設定維持部500によって固定されているので、それ以上に下降することができなくなる。
一方、本発明の実施例による露光装置は、マスク110と基板210間の間隙を設定して維持するだけでなく、平行補正を実施する。
図6aに示すように、マスク110に対して基板ステージ部200が平行でない場合、チャックシリンダー部300は、平行でない状態の基板ステージ部200を押し上げ、前記基板210が前記マスク110に接触すれば、前記ユニボール220は前記チャック座230に対して回転して、前記基板ステージ部200を前記マスク110に対して平行になるように位置させる。その後、ユニボール220が真空で固定されて前記基板ステージ部200を平行に維持させる。図6bはマスク110に対して基板ステージ部200が平行に維持された状態を示す。
110 マスク
200 基板ステージ部
210 基板
220 ユニボール
230 チャック座
300 チャックシリンダー部
400 チャックシリンダー駆動部
500 間隙設定維持部
310 間隙設定上部ハウジング
313 スパーギア
320 間隙設定下部ハウジング
330 間隙調節シャフト
331 拡径部
340 シリンダーロッド
345 シリンダーボディー
350 エンドリング
360 リング
370 ピストン
380 シリンダーハウジング
510a 第1プレート型支持部
510b 第2プレート型支持部
520 3点基準ピン
530 板スプリング
540 凹凸型支持部
550 チューブ
Claims (8)
- マスクを支持するマスクホルダー部、基板を支持する基板ステージ部、前記基板ステージ部を支持するチャックシリンダー部、および前記チャックシリンダー部をX軸、Y軸、およびθ軸の方向に移動させるチャックシリンダー駆動部を含む露光装置において、
前記チャックシリンダー部は、
上端外周面にスパーギア、下端外周面にネジ部、かつ下端内側に凹部が設けられ、前記凹部の中心に貫通孔が形成されている間隙調節上部ハウジング;
前記間隙調節上部ハウジングの下側に位置し、上端内周面に前記間隙調節上部ハウジングのネジ部に螺合するネジ部、かつ上部内側に凹部が設けられ、前記凹部の中心に貫通孔が形成されている間隙調節下部ハウジング;
前記間隙調節上部ハウジングの貫通孔と前記間隙調節下部ハウジングの貫通孔を通じて上下運動し、前記間隙調節上部ハウジングの凹部の下端と前記間隙調節下部ハウジングの凹部の上端との間に備えられる空間部に位置する拡径部を有する間隙調節シャフト;
間隙調節下部ハウジングの上下動を許容および禁止する間隙設定維持部;および
供給される空気量によって上昇または下降し、上昇の際、前記間隙調節シャフトを上昇させるシリンダーロッド;
を含み、
前記間隙調節上部ハウジングは、前記スパーギアによって前記間隙調節下部ハウジングのネジ部に沿って回転しながら上部に移動し、前記マスクと前記基板間の間隙を設定することを特徴とする、露光装置。
- 前記空間部の高さと前記拡径部の厚さとの間の差が前記マスクと前記基板間の間隙に対応することを特徴とする、請求項1に記載の露光装置。
- 前記間隙調節下部ハウジングを固定することにより、前記チャックシリンダー部が下降するとき、前記間隙以上に下降することを防止する間隙設定維持部をさらに含むことを特徴とする、請求項1に記載の露光装置。
- 前記間隙設定維持部が、
前記間隙調節下部ハウジングの外側と接触して固定する凹凸型支持部、
前記凹凸型支持部背面に位置し、空気を受けて膨張する場合に、前記凹凸型支持部に圧力を加えるチューブ、
前記チューブの収縮の際、前記凹凸型支持部を元の位置に戻す板スプリング、および
前記凹凸型支持部が、凹凸型支持部を支持する第1及び第2プレート型支持部から分離することを防止する3点基準ピン、
を含むことを特徴とする、請求項3に記載の露光装置。
- 前記基板ステージ部の下部に位置し、回転して前記基板ステージ部を平行に調節するユニボール;および
前記ユニボールを収容するための収容部;
を前記基板ステージ部と前記チャックシリンダー部との間にさらに含むことを特徴とする、請求項1に記載の露光装置。 - マスクを支持するマスクホルダー部、および基板を支持する基板ステージ部とともに露光装置を構成するチャックシリンダー部において、
前記チャックシリンダー部は前記基板ステージ部を支持し、
下側に凹部を有し、その中心部に貫通孔が設けられた間隙調節上部ハウジング;
前記間隙調節上部ハウジングの下側に位置し、上側凹部を有し、その中心部に貫通孔が設けられ、前記間隙調節上部ハウジングとネジ部で連結されている間隙調節下部ハウジング;
間隙調節下部ハウジングの上下動を許容および禁止する間隙設定維持部;および
前記間隙調節上部ハウジングの貫通孔と前記間隙調節下部ハウジングの貫通孔を通じて上下運動し、前記間隙調節上部ハウジングの下側凹部と前記間隙調節下部ハウジングの上側凹部間の空間部に位置する拡径部を含む間隙調節シャフト;
を含み、
前記間隙調節上部ハウジングと前記間隙調節下部ハウジングのネジ部を相対回転させることにより、前記マスクと前記基板間の間隙を設定することを特徴とする、チャックシリンダー部。
- 前記空間部の高さと前記拡径部の厚さとの間の差が前記マスクと前記基板間の間隙に対応することを特徴とする、請求項6に記載のチャックシリンダー部。
- 請求項第1ないし5のいずれか1項による露光装置を利用してマスクと基板間の間隙を設定する方法において、
前記間隙調節上部ハウジングを前記ネジ部に沿って回転させて、所定距離だけ上昇させ、
所定の空気圧を供給して、前記間隙調節シャフトを前記間隙調節上部ハウジングとともに上昇させ、
前記基板が前記マスクに接触したとき、前記間隙調節下部ハウジングを固定し、
前記空気圧を排出して、前記間隙調節シャフトを前記所定距離だけ下降させることで、前記基板と前記マスク間の前記間隙を設定することを特徴とする、マスクと基板間の間隙設定方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060033220A KR100793260B1 (ko) | 2006-04-12 | 2006-04-12 | 노광 장치 및 이를 이용하여 마스크와 기판 사이의 간극을설정하는 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007288183A JP2007288183A (ja) | 2007-11-01 |
JP4642798B2 true JP4642798B2 (ja) | 2011-03-02 |
Family
ID=38759608
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007090405A Expired - Fee Related JP4642798B2 (ja) | 2006-04-12 | 2007-03-30 | 露光装置およびこれを用いてマスクと基板間の間隙を設定する方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4642798B2 (ja) |
KR (1) | KR100793260B1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101635377B1 (ko) | 2012-05-31 | 2016-07-01 | 김창우 | 지열을 제상 및 보상열원으로 이용하는 공기열 히트펌프시스템 |
KR101379379B1 (ko) * | 2012-11-09 | 2014-03-28 | 나노전광 주식회사 | 노광 시스템용 웨이퍼 척 수평 유지 장치 |
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-
2006
- 2006-04-12 KR KR1020060033220A patent/KR100793260B1/ko active IP Right Grant
-
2007
- 2007-03-30 JP JP2007090405A patent/JP4642798B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100793260B1 (ko) | 2008-01-10 |
JP2007288183A (ja) | 2007-11-01 |
KR20070101715A (ko) | 2007-10-17 |
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Date | Code | Title | Description |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100112 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100412 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101109 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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