JP4640834B2 - 信頼性試験装置 - Google Patents
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Description
2 直流電源
10 試験槽
20 抵抗(電流検出手段)
30 半導体デバイス(遮断手段)
40 ダイオード群(電圧クランプ手段)
41 ツェナーダイオード(電圧クランプ手段)
51 シャントレギュレータ
52,53,57,58,59,61,63,64 抵抗
54 スイッチ素子
55 サイリスタ
56 駆動電源
60,62 ダイオード
Claims (6)
- 複数の被試験部材に流れるリーク電流を電流検出手段により検出して前記被試験部材の信頼性を評価する信頼性試験装置であって、
前記被試験部材からリーク電流が基準値を超えて流れた場合に、前記被試験部材と前記電流検出手段とを遮断する遮断手段を設け、この遮断手段は半導体デバイスによって構成し、前記電流検出手段の電位差を前記半導体デバイスの制御端子許容電圧より小さく設定するとともに、駆動電源を設け、この駆動電源を用いて前記遮断手段の制御端子の電位を下げて、前記被試験部材と前記電流検出手段とを遮断するように構成してあることを特徴とする信頼性試験装置。 - 前記遮断手段は電圧駆動型の半導体デバイスで構成してあることを特徴とする請求項1記載の信頼性試験装置。
- 前記遮断手段はMOSFET又はIGBTで構成してあることを特徴とする請求項2記載の信頼性試験装置。
- 前記電流検出手段と並列に電圧クランプ手段を接続してあることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の信頼性試験装置。
- 前記電圧クランプ手段は複数のダイオードを順方向に直列に接続して構成してあることを特徴とする請求項4記載の信頼性試験装置。
- 前記電圧クランプ手段はツェナーダイオードで構成してあることを特徴とする請求項4記載の信頼性試験装置。
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JP2006122895A JP4640834B2 (ja) | 2006-04-27 | 2006-04-27 | 信頼性試験装置 |
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- 2006-04-27 JP JP2006122895A patent/JP4640834B2/ja active Active
Patent Citations (5)
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