JP4614892B2 - Plate temperature control environment test equipment - Google Patents

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JP4614892B2 JP2006019371A JP2006019371A JP4614892B2 JP 4614892 B2 JP4614892 B2 JP 4614892B2 JP 2006019371 A JP2006019371 A JP 2006019371A JP 2006019371 A JP2006019371 A JP 2006019371A JP 4614892 B2 JP4614892 B2 JP 4614892B2
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Description

本発明は、半導体素子などの電気、電子部品に対して様々な温度環境の下で通電などの環境試験を行うために用いる環境試験装置に関するものである。   The present invention relates to an environmental test apparatus used for conducting an environmental test such as energization of various electrical and electronic components such as semiconductor elements under various temperature environments.

電気、電子部品などのワークを所望の温度に保持した状態で各種の環境試験を行うために用いる環境試験装置としては、独立した恒温槽にワークを入れて環境試験を行うものや、複数の検査部を経由する搬送ラインに沿ってワークを搬送して、各検査部において異なる温度状態で各種の環境試験を行う、所謂ライン型環境試験装置と呼ばれるものが知られている。これらの環境試験装置においては、被試験品を所定の試験温度に到達させるために、空気温調方式、あるいは、プレート温調方式が一般的に採用されている。   The environmental test equipment used to perform various environmental tests while keeping workpieces such as electrical and electronic parts at a desired temperature can be used to perform environmental tests by placing the workpiece in an independent thermostatic chamber, or multiple inspections. A so-called line-type environmental test apparatus is known in which a workpiece is conveyed along a conveyance line passing through a section, and various environmental tests are performed at different temperatures in each inspection section. In these environmental test apparatuses, an air temperature control method or a plate temperature control method is generally employed in order to make the device under test reach a predetermined test temperature.

前者の空気温調方式は、試験槽内に温度制御された空気を循環させることにより、試験槽に入れたワークを所定の試験温度に加熱あるいは冷却して、その温度状態に保持する方式である。例えば、特許文献1(特公平8−1419号公報)にこのような空気温調方式のライン型環境試験装置が開示されており、特許文献2(特開平7−209373号公報)にはドライエアを供給してワークであるICを所定の試験温度まで冷却する冷却試験装置が開示されている。   The former air temperature control method is a method of heating or cooling a workpiece placed in a test tank to a predetermined test temperature by circulating temperature-controlled air in the test tank, and maintaining that temperature state. . For example, Patent Document 1 (Japanese Patent Publication No. 8-1419) discloses such an air temperature control line type environmental test apparatus, and Patent Document 2 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-209373) discloses dry air. A cooling test apparatus that supplies and cools an IC, which is a workpiece, to a predetermined test temperature is disclosed.

空気温調方式の環境試験装置では、被試験品を加熱、冷却するための媒体である空気の熱容量が小さいので、被試験品を所定の試験温度に到達させるまでに時間が掛かる。このため、環境試験にかかる時間が長くなってしまうという問題点がある。   In the air temperature control type environmental test apparatus, since the heat capacity of air, which is a medium for heating and cooling the product under test, is small, it takes time to reach the test product to a predetermined test temperature. For this reason, there exists a problem that the time concerning an environmental test will become long.

特に、熱容量の大きな被試験品の場合には、被試験品を所定の試験温度状態に到達させるための時間が長く掛かってしまう。また、熱容量の大きな被試験品を載せてあるワーク載置台の側が被試験品との間の熱交換によって冷却あるいは加熱されて所定温度から外れた温度状態に遷移する可能性が高く、このような状態になると、被試験品を所定の試験温度状態に保持することが困難になってしまう。   In particular, in the case of a product under test having a large heat capacity, it takes a long time for the product under test to reach a predetermined test temperature state. In addition, there is a high possibility that the workpiece mounting table side on which the product under test having a large heat capacity is placed is cooled or heated by heat exchange with the product under test and transitions to a temperature state deviating from a predetermined temperature. When this happens, it becomes difficult to maintain the product under test at a predetermined test temperature.

後者のプレート温調方式は、試験槽内に配置されているワークを載せるためのプレートを直接に冷却機構あるいは加熱機構によって冷却あるいは加熱して所定の温度状態に保持し、このプレートによって、そこに載せたワークを冷却あるいは加熱して所定の試験温度状態に保持する方式である。特許文献3(特公平6−27698号公報)、特許文献4(特開平11−284037号公報)にプレート温調方式の環境試験装置が開示されている。   In the latter plate temperature control method, a plate for placing a work placed in a test tank is directly cooled or heated by a cooling mechanism or a heating mechanism and held at a predetermined temperature state. In this method, the mounted work is cooled or heated to maintain a predetermined test temperature state. Patent Document 3 (Japanese Patent Publication No. 6-27698) and Patent Document 4 (Japanese Patent Laid-Open No. 11-284037) disclose a plate temperature control type environmental test apparatus.

プレート温調方式の環境試験装置では、被試験品を載せた冷却あるいは加熱プレートにより直接に被試験品を冷却あるいは加熱するので、空気温調方式に比べ、被試験品を冷却あるいは加熱して所定の試験温度状態にするための所要時間が短くて済む。
特公平8−1419号公報 特開平7−209373号公報 特公平6−27698号公報 特開平11−284037号公報
In the plate temperature control system environment test equipment, the product under test is directly cooled or heated by the cooling or heating plate on which the product under test is placed. The time required to achieve the test temperature state is short.
Japanese Patent Publication No. 8-1419 JP-A-7-209373 Japanese Patent Publication No. 6-27698 JP-A-11-284037

本発明の課題は、簡単な機構によって、プレートにワークを引き渡す作業およびプレートからワークを引き取る作業を効率良く行うことのできるプレート調温型の環境試験装置を提案することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to propose a plate temperature control type environmental test apparatus capable of efficiently performing a work of handing a work to a plate and a work of picking up a work from the plate by a simple mechanism.

上記の課題を解決するために、本発明は、所定の温度状態に保持されたプレートに試験対象のワークを直接接触させて、当該ワークを所定の試験温度状態となるように加熱あるいは冷却するプレート調温型の環境試験装置において、
前記プレートが上下方向に通過可能な開口部、および、当該開口部を跨ぐ状態にワークを載せるワーク載置面を備えているワーク搬送用のパレットと、
前記開口部から前記プレートが上方に突出した状態で前記パレットが載るパレット載置面と、
前記パレット載置面に載っている前記パレットに下側から係合して、当該パレットを前記プレートより高い位置まで持ち上げ可能なパレット昇降部材とを有し、
前記プレートより高い位置に持ち上げた前記パレットにワークを載せ、当該パレットを前記パレット載置面まで下げることにより、前記ワークが前記プレートの表面に接触した状態が形成されることを特徴としている。
In order to solve the above-described problems, the present invention provides a plate that directly contacts a workpiece to be tested with a plate held at a predetermined temperature state, and heats or cools the workpiece to a predetermined test temperature state. In temperature-controlled environmental test equipment,
An opening through which the plate can pass in the vertical direction, and a pallet for workpiece conveyance provided with a workpiece placement surface for placing the workpiece in a state straddling the opening,
A pallet mounting surface on which the pallet is mounted in a state where the plate protrudes upward from the opening;
A pallet elevating member that engages with the pallet placed on the pallet placement surface from below and can lift the pallet to a position higher than the plate;
The workpiece is placed on the pallet lifted to a position higher than the plate, and the pallet is lowered to the pallet placement surface, thereby forming a state where the workpiece is in contact with the surface of the plate.

本発明の環境試験装置では、ワーク搬送用のパレットに、プレートが上下方向に通過可能な開口部を形成すると共に、当該パレットをプレートよりも下側のパレット載置面に置くようにしている。   In the environmental test apparatus of the present invention, an opening through which a plate can pass in the vertical direction is formed on a pallet for conveying a workpiece, and the pallet is placed on a pallet placement surface below the plate.

パレット昇降部材によってパレットをプレートよりも高い位置に持ち上げて、当該パレットに試験対象のワークを載せ、しかる後に、パレットを下降させると、そこに載っているワークがプレートの表面に載り、パレットだけが更に低い位置にあるパレット載置面まで下降してそこに載る。したがって、ワークのみがプレートに接触して所定の温度状態となるように効率良く加熱あるいは冷却される。   Lift the pallet to a position higher than the plate by the pallet lifting member, place the workpiece to be tested on the pallet, and then lower the pallet, the workpiece placed on the plate will be placed on the surface of the plate, only the pallet Further, the pallet is placed on a lower pallet placement surface. Therefore, the workpiece is efficiently heated or cooled so that only the workpiece comes into contact with the plate and reaches a predetermined temperature state.

ワークが所定の温度状態に到達した後に、パレット載置面に載っているパレットを持ち上げると、その上昇途中においてプレート表面に載っているワークがパレットのワーク載置面に載り、ワークがパレットに引き渡される。   When the pallet placed on the pallet placement surface is lifted after the workpiece reaches a predetermined temperature state, the workpiece placed on the plate surface is placed on the pallet workpiece placement surface in the middle of its rise, and the workpiece is delivered to the pallet. It is.

このように、パレットを持ち上げてワークを載せた後に、パレットをパレット載置面に下降させることにより、ワークがプレートに引き渡され、パレットをパレット載置面から持ち上げることによりワークがプレートからパレットに引き渡される。よって、パレットを昇降するという簡単な機構を用いて、ワークをプレートに載せる作業、およびワークをプレートから引き取る作業を効率良く行うことができる。   Thus, after lifting the pallet and placing the workpiece, the workpiece is delivered to the plate by lowering the pallet to the pallet placement surface, and the workpiece is delivered from the plate to the pallet by lifting the pallet from the pallet placement surface. It is. Therefore, using a simple mechanism for raising and lowering the pallet, the work of placing the work on the plate and the work of taking the work off the plate can be efficiently performed.

ここで、本発明をライン型の環境試験装置に適用する場合には、複数枚の前記プレートを予め定めた送り方向に沿って一定のピッチで配列し、前記パレット昇降部材を、前記プレートの配列ピッチと同一の送りピッチで前記送り方向に前進および後退できるようにすればよい。   Here, when the present invention is applied to a line-type environmental test apparatus, a plurality of the plates are arranged at a constant pitch along a predetermined feeding direction, and the pallet elevating members are arranged in the arrangement of the plates. What is necessary is just to enable it to advance and retreat to the said feed direction with the same feed pitch as a pitch.

この構成においては、パレット昇降部材によって持ち上げられているパレットに試験対象のワークを載せ、パレットを下降させてワークをプレートに載せる。ワークが所定温度に加熱あるいは冷却された後は、パレットを持ち上げてワークをプレートよりも上に持ち上げ、この状態でパレット昇降部材を1ピッチ分だけ送り出す。この結果、パレットは次のプレートの真上に位置するので、パレットを下降させると、そこに載っているワークを当該プレートに載せることができる。このようにして、ワークを順次に各プレートに移送して加熱あるいは冷却することができる。   In this configuration, the workpiece to be tested is placed on the pallet lifted by the pallet lifting member, the pallet is lowered, and the workpiece is placed on the plate. After the workpiece is heated or cooled to a predetermined temperature, the pallet is lifted to lift the workpiece above the plate, and in this state, the pallet lifting member is fed by one pitch. As a result, since the pallet is positioned immediately above the next plate, when the pallet is lowered, the workpiece placed thereon can be placed on the plate. In this way, the workpiece can be sequentially transferred to each plate and heated or cooled.

この場合、前記送り方向に沿って送りシャフトを配置し、当該送りシャフトに、前記プレートの配列ピッチと同一のピッチで、前記パレット昇降部材として機能する送り爪を取り付け、前記送りシャフトをその中心軸線回りに回転可能とし、且つ、当該送りシャフトを前記中心軸線の方向に沿って前記プレートの配列ピッチと同一の送りピッチで前進および後退可能とすればよい。この代わりに、前記送りシャフトを昇降可能とし、且つ、前記中心軸線の方向に沿って前進および後退可能としてもよい。   In this case, a feed shaft is arranged along the feed direction, a feed claw that functions as the pallet lifting member is attached to the feed shaft at the same pitch as the arrangement pitch of the plates, and the feed shaft is centered on its axis. It is only necessary that the feed shaft can be rotated around and the feed shaft can be moved forward and backward along the direction of the central axis at the same feed pitch as the arrangement pitch of the plates. Instead, the feed shaft may be movable up and down and forward and backward along the direction of the central axis.

この構成においては、送りシャフトを回転することにより、そこに形成されている各送り爪が回転して、パレット載置面に載っているパレットに下側から係合して当該パレットをプレートよりも上方の位置まで持ち上げることができ、送りシャフトを逆回転させると、持ち上げたパレットを再びパレット載置面まで下ろすことができる。送りシャフトを回転させる代わりに昇降させる場合においても、送りシャフトの昇降により、そこに形成されている各送り爪が昇降して、パレットを昇降させることができる。   In this configuration, by rotating the feed shaft, each feed claw formed there rotates and engages with the pallet placed on the pallet placement surface from the lower side so that the pallet is more than the plate. The pallet can be lifted up to an upper position, and when the feed shaft is rotated in the reverse direction, the lifted pallet can be lowered again to the pallet placement surface. Even when the feed shaft is raised and lowered instead of rotating, the feed pawls formed on the feed shaft can be raised and lowered to raise and lower the pallet.

また、送り爪によってパレットを持ち上げた状態で送りシャフトを送り出すと、各送り爪によって持ち上げられているパレットを前側のプレートの真上に移動させることができる。パレットをパレット載置面に載せた後に、送りシャフトを後退させると、各送り爪が元のプレートの位置に戻る。   Further, when the feed shaft is fed out while the pallet is lifted by the feed claws, the pallet lifted by the feed claws can be moved directly above the front plate. When the feed shaft is retracted after placing the pallet on the pallet placement surface, each feed claw returns to the original plate position.

よって、送りシャフトの回転、前進、逆回転、および後退を行うことにより、あるいは、送りシャフトの上昇、前進、下降、および後退を行うことにより、各パレットを順次に次のプレートに移送することができる。   Therefore, each pallet can be sequentially transferred to the next plate by rotating, moving forward, rotating backward, and moving backward on the feed shaft, or by raising, moving forward, lowered, and retracted on the feed shaft. it can.

ここで、ライン型の環境試験装置においては、一般に、異なる試験温度状態となるようにワークを加熱あるいは冷却するための複数の検査部を備えた検査部が配置されており、ワークに対して恒温試験、低温試験、高温試験などが順次に行われる。この場合には、各検査部を経由する直線状の経路に沿って、前記プレート、前記パレット載置面、および、前記送り爪が形成されている前記送りシャフトを配置し、ワークを載せた各パレットを、前記送り方向の上流端に位置する前記プレートから下流端に位置する前記プレートに向けて間欠的に順次に搬送すればよい。   Here, in the line-type environmental test apparatus, in general, an inspection unit having a plurality of inspection units for heating or cooling the workpiece so as to be in different test temperature states is arranged, and the constant temperature is maintained with respect to the workpiece. A test, a low temperature test, a high temperature test, and the like are sequentially performed. In this case, the plate, the pallet placement surface, and the feed shaft on which the feed claw is formed are arranged along a linear path passing through each inspection unit, and each workpiece placed thereon The pallet may be intermittently and sequentially conveyed from the plate located at the upstream end in the feeding direction toward the plate located at the downstream end.

本発明をパッケージ封入ICなどの矩形のワークを試験するための環境試験装置に適用する場合には、前記パレットとして、矩形のワークを載せるワーク載置面を備えた矩形枠状のものを採用し、各プレートの左右に、前記パレット載置面および前記送りシャフトを配置し、左右の前記送りシャフトに形成されている左右の前記送り爪によって各プレートの持ち上げ、および送りを行うようにすればよい。   When the present invention is applied to an environmental test apparatus for testing a rectangular workpiece such as a packaged IC, a rectangular frame having a workpiece placement surface on which the rectangular workpiece is placed is adopted as the pallet. The pallet placement surface and the feed shaft are arranged on the left and right of each plate, and the plates are lifted and fed by the left and right feed claws formed on the left and right feed shafts. .

本発明の環境試験装置では、試験対象のワークを搬送するためのパレットを、プレートより上に持ち上げ、ワークを載せた状態でプレートより下側のパレット載置面まで下ろすことにより、ワークをプレートに引き渡すことができる。また、パレット載置面に載っているパレットをプレートより上に持ち上げると、プレート上のワークをパレットに引き取ることができる。パレットを昇降させるという簡単な機構により、ワークをプレートに載せる作業および、そこから引き取る作業を効率良く行うことができる。   In the environmental test apparatus of the present invention, the pallet for transporting the workpiece to be tested is lifted above the plate, and the workpiece is placed on the plate by lowering it to the pallet placement surface below the plate with the workpiece placed. Can be handed over. Further, when the pallet placed on the pallet placement surface is lifted above the plate, the workpiece on the plate can be taken up by the pallet. With a simple mechanism for raising and lowering the pallet, the work of placing the workpiece on the plate and the work of taking it out can be efficiently performed.

以下に、図面を参照して、本発明を適用した環境試験装置の実施の形態を説明する。   Embodiments of an environmental test apparatus to which the present invention is applied will be described below with reference to the drawings.

図1は本発明を適用したプレート温調方式によるライン型の環境試験装置を示す図であり、(a)はその概略側面図、(b)は概略平面図、および(c)はワーク搬送ライン上の各位置を示す説明図である。   FIG. 1 is a diagram showing a line-type environmental test apparatus using a plate temperature control system to which the present invention is applied, wherein (a) is a schematic side view thereof, (b) is a schematic plan view, and (c) is a workpiece transfer line. It is explanatory drawing which shows each upper position.

本例の環境試験装置1は、パッケージ封入ICなどの矩形のワークの環境試験を行うためのものであり、装置架台2と、この装置架台2の上面に配置された試験槽3とを有している。試験槽3は、常温検査部4、低温検査部5、高温検査部6および常温戻し部7がこの順序に配列された構成となっている。常温検査部4の手前には、試験対象のワークを供給するためのワーク供給部8が配置され、常温戻し部7の後側には試験後のワークを排出するためのワーク排出部9が配置されている。ワーク供給部8には吸着パッドを備えた不図示のロボットハンドなどを用いて試験対象のワークが外部から供給される。ワーク排出部9からは、同じく吸着パッドを備えた不図示のロボットハンドなどを用いて、試験に合格したワークおよび不合格のワークが外部に選別回収される。   The environmental test apparatus 1 of this example is for carrying out an environmental test on a rectangular workpiece such as a packaged IC, and has an apparatus base 2 and a test tank 3 arranged on the upper surface of the apparatus base 2. ing. The test tank 3 has a configuration in which a normal temperature inspection unit 4, a low temperature inspection unit 5, a high temperature inspection unit 6, and a normal temperature return unit 7 are arranged in this order. A workpiece supply unit 8 for supplying a workpiece to be tested is arranged in front of the room temperature inspection unit 4, and a workpiece discharge unit 9 for discharging the workpiece after the test is arranged behind the room temperature return unit 7. Has been. A workpiece to be tested is supplied from the outside to the workpiece supply unit 8 using a robot hand (not shown) provided with a suction pad. From the workpiece discharge unit 9, a workpiece that has passed the test and a workpiece that has failed are selected and collected to the outside using a robot hand (not shown) that is also provided with a suction pad.

試験槽3は断熱パネルによって囲まれており、その前後のワーク供給部8およびワーク排出部9も、上面側を除き、断熱パネルによって囲まれている。ワーク供給部8から試験槽3の各検査部4〜6および常温戻し部7を貫通してワーク排出部9に到る直線状の水平なワーク搬送ラインが形成されている。   The test tank 3 is surrounded by a heat insulating panel, and the workpiece supply unit 8 and the workpiece discharge unit 9 before and after the test chamber 3 are also surrounded by the heat insulating panel except for the upper surface side. A straight horizontal work transfer line is formed from the work supply unit 8 through the inspection units 4 to 6 and the room temperature return unit 7 of the test tank 3 to reach the work discharge unit 9.

ワーク搬送ラインは、一定のピッチpで直線状に配列した複数枚の長方形のプレート11(11(1)〜11(24))によって規定されている。各プレート11にはワーク搬送用のパレット12がそれぞれ配置されている。後述の図2〜4に示すように、パレット12は矩形枠状のものであり、その矩形開口部12aは、プレート11が上下方向に通過可能な大きさとされている。各プレート11の両側にはそれぞれパレット載置面13が配置されており、矩形開口部12aからプレート11が上方に突出した状態で、各パレット12の両側の部位がパレット載置面13に載っている。これらパレット載置面13の両側には送りシャフト14が平行に配置されており、これらの送りシャフト14の中心軸線回りの回転および中心軸線方向への前進および後退によって、ワークを載せたパレット12が隣接するプレート11に順次に移送されるようになっている。図においては、送りシャフト14の回転機構および送り機構を省略してある。   The workpiece conveyance line is defined by a plurality of rectangular plates 11 (11 (1) to 11 (24)) arranged linearly at a constant pitch p. Each plate 11 is provided with a pallet 12 for conveying a workpiece. As will be described later with reference to FIGS. 2 to 4, the pallet 12 has a rectangular frame shape, and the rectangular opening 12 a has a size that allows the plate 11 to pass in the vertical direction. Pallet placement surfaces 13 are arranged on both sides of each plate 11, and the portions on both sides of each pallet 12 are placed on the pallet placement surface 13 with the plate 11 protruding upward from the rectangular opening 12 a. Yes. The feed shafts 14 are arranged in parallel on both sides of the pallet placement surfaces 13, and the pallet 12 on which the workpiece is placed is rotated by rotating around the central axis of the feed shafts 14 and moving forward and backward in the direction of the central axis. The plates are sequentially transferred to the adjacent plates 11. In the figure, the rotation mechanism and feed mechanism of the feed shaft 14 are omitted.

図1(c)に示すように、プレート11として、24枚のプレート11(1)〜11(24)が配列されている。勿論、プレート枚数は24枚に制限されるものではない。ワークを載せたパレット12はプレート11(1)の側からプレート11(24)に向けて間欠的に順次に移送される。ワーク送り方向の上流端に位置するプレート11(1)に試験対象のワークが投入される。また、3番目のプレート11(3)の上方にはQRコードリーダ(図示せず)が配置されており、このプレート11(3)においてワークに貼付されているQRコード(ワーク識別番号)が読み込まれる。これらの3枚のプレート11(1)〜11(3)がワーク供給部8に位置している。   As shown in FIG. 1C, as the plate 11, 24 plates 11 (1) to 11 (24) are arranged. Of course, the number of plates is not limited to 24. The pallet 12 on which the workpiece is placed is intermittently and sequentially transferred from the plate 11 (1) side toward the plate 11 (24). The workpiece to be tested is put into the plate 11 (1) located at the upstream end in the workpiece feeding direction. A QR code reader (not shown) is disposed above the third plate 11 (3), and the QR code (work identification number) attached to the work is read on the plate 11 (3). It is. These three plates 11 (1) to 11 (3) are located in the workpiece supply unit 8.

4番目のプレート11(4)は常温検査部4内に位置し、当該プレート11(4)の真上には常温検査用のプローブ15が配置されている。5番目のプレート11(5)は常温検査部4と低温検査部5の境界に位置し、6番目から11番目までのプレート11(6)〜11(11)は低温検査部5内に位置し、プレート11(11)が低温検査位置であり、この真上には低温検査用のプローブ16が配置されている。プレート11(6)〜11(10)の温度は、プレート11(11)に向けて段階的に低くなるように設定されており、プレート11(11)の温度は低温検査用の温度に設定されている。これらの冷却用のプレート11(6)〜11(11)はペルチエ素子などの冷却機構17によって所定の冷却温度状態に保持されるようになっている。   The fourth plate 11 (4) is located in the room temperature inspection section 4, and a probe 15 for room temperature inspection is disposed directly above the plate 11 (4). The fifth plate 11 (5) is located at the boundary between the normal temperature inspection unit 4 and the low temperature inspection unit 5, and the sixth to eleventh plates 11 (6) to 11 (11) are located in the low temperature inspection unit 5. The plate 11 (11) is at a low temperature inspection position, and a probe 16 for low temperature inspection is disposed directly above the plate 11 (11). The temperature of the plates 11 (6) to 11 (10) is set so as to decrease stepwise toward the plate 11 (11), and the temperature of the plate 11 (11) is set to a temperature for low temperature inspection. ing. These cooling plates 11 (6) to 11 (11) are held at a predetermined cooling temperature state by a cooling mechanism 17 such as a Peltier element.

プレート11(12)は低温検査部5と高温検査部6の境界に位置し、13番目から19番目までのプレート11(13)〜11(19)は高温検査部6内に位置し、プレート11(13)は常温戻し用のプレートであり、プレート11(19)が高温検査位置であり、この真上には高温検査用のプローブ18が配置されている。プレート11(14)〜11(18)の温度は、プレート11(19)に向けて段階的に高くなるように設定され、プレート11(19)の温度は高温検査用の温度に設定されている。これらの加熱用のプレート11(14)〜11(19)は加熱機構19によって所定の加熱温度状態に保持されるようになっている。   The plate 11 (12) is located at the boundary between the low temperature inspection part 5 and the high temperature inspection part 6, and the 13th to 19th plates 11 (13) to 11 (19) are located in the high temperature inspection part 6 and the plate 11 (13) is a plate for returning to normal temperature, and the plate 11 (19) is a high temperature inspection position, and a probe 18 for high temperature inspection is disposed directly above this plate. The temperature of the plates 11 (14) to 11 (18) is set so as to increase stepwise toward the plate 11 (19), and the temperature of the plate 11 (19) is set to a temperature for high temperature inspection. . These heating plates 11 (14) to 11 (19) are held at a predetermined heating temperature state by a heating mechanism 19.

20番目および21番目のプレート11(20)、11(21)は常温戻し部7内に位置し、試験後のワークを常温に戻すためのプレートである。22〜24番目のプレート11(22)〜11(24)は常温に戻した後のワークを排出するための排出用のプレートであり、下流端のプレート11(24)からワークが外部に取り出される。   The twentieth and twenty-first plates 11 (20) and 11 (21) are located in the room temperature return unit 7 and are plates for returning the tested workpiece to room temperature. The 22nd to 24th plates 11 (22) to 11 (24) are discharge plates for discharging the work after returning to normal temperature, and the work is taken out from the plate 11 (24) at the downstream end. .

ここで、ワーク供給部8から各検査部4〜6、常温戻し部7を介してワーク排出部9に到る部位の下側には、水平にリターンコンベア21が配置されている。リターンコンベア21の両端には、入口側リフタ22および出口側リフタ23が配置されている。ワーク排出部9のプレート11(24)の位置から送り出されたパレット12は、図1(b)に示す上昇位置に待機している出口側リフタ23に引き渡される。出口側リフタ23はパレット12を受け取ると、下降して、リターンコンベア21にパレット12を引き渡す。リターンコンベア21によってパレット12はワーク供給部8の側の端まで戻され、ここに待機している入口側リフタ22に引き渡される。パレット12を受け取った入口側リフタ22は図1(b)に示す上昇位置まで上昇する。この位置の入口側リフタ22に載っているワークは、送りシャフト14によって、上流端のプレート11(1)の真上の位置まで送り出されるようになっている。   Here, a return conveyor 21 is disposed horizontally below a part from the work supply unit 8 to the work discharge unit 9 via the inspection units 4 to 6 and the room temperature return unit 7. An inlet side lifter 22 and an outlet side lifter 23 are disposed at both ends of the return conveyor 21. The pallet 12 sent out from the position of the plate 11 (24) of the workpiece discharge unit 9 is delivered to the outlet side lifter 23 waiting at the raised position shown in FIG. Upon receiving the pallet 12, the outlet side lifter 23 descends and delivers the pallet 12 to the return conveyor 21. The pallet 12 is returned to the end on the workpiece supply unit 8 side by the return conveyor 21 and delivered to the entrance-side lifter 22 waiting here. The inlet lifter 22 that has received the pallet 12 is raised to the raised position shown in FIG. The work placed on the inlet side lifter 22 at this position is sent out to a position just above the upstream end plate 11 (1) by the feed shaft 14.

図2(a)および(b)はワークを示す平面図および側面図であり、図3(a)および(b)はワーク搬送用のパレットを示す平面図および側面図である。本例の試験対象のワーク30はパッケージ封入ICであり、長方形のパッケージ本体31と、その長辺側の両端面から突出している複数本のリード端子群32、33とを備え、パッケージ本体31の内部にICが内蔵されている。   FIGS. 2A and 2B are a plan view and a side view showing the workpiece, and FIGS. 3A and 3B are a plan view and a side view showing the pallet for transferring the workpiece. The workpiece 30 to be tested in this example is a packaged IC, and includes a rectangular package body 31 and a plurality of lead terminal groups 32 and 33 projecting from both end faces on the long side. IC is built in.

この形状のワーク30を搬送するためのパレット12は、長方形の枠板12bと、この枠板12bの左右に取り付けた長方形の端板12c、12dとを備えている。枠板12bには、ワーク30が上下方向に通過可能な矩形開口部12aが形成されている。ここで、左右の端板12c、12dの内側端部分12e、12fは矩形開口部12a内に突出しており、これらの上に、ワーク30の左右の短辺側の端部34、35が載るようになっている。   The pallet 12 for transporting the workpiece 30 having this shape includes a rectangular frame plate 12b and rectangular end plates 12c and 12d attached to the left and right of the frame plate 12b. The frame plate 12b is formed with a rectangular opening 12a through which the work 30 can pass in the vertical direction. Here, the inner end portions 12e and 12f of the left and right end plates 12c and 12d protrude into the rectangular opening 12a, and the left and right short side ends 34 and 35 of the workpiece 30 are placed thereon. It has become.

次に、図4および図5はワーク搬送ラインの一部を示す図であり、それぞれ、(a)はその部分横断面図、(b)はその部分平面図、および(c)はその部分側面図である。図4はワークがプレート11に載っている状態(接触している状態)を示し、図5はワークがプレート11から浮き上がった状態を示している。   Next, FIGS. 4 and 5 are views showing a part of the work transfer line, in which (a) is a partial cross-sectional view thereof, (b) is a partial plan view thereof, and (c) is a partial side view thereof. FIG. 4 shows a state where the workpiece is placed on (contacted with) the plate 11, and FIG. 5 shows a state where the workpiece is lifted from the plate 11.

図4に示すように、装置架台2の側に配置されているプレート11は、ワーク30のパッケージ本体31に対応した矩形の表面11aを備えた熱伝導率の高いアルミニウムなどの金属からなるブロックである。このプレート11を取り囲む状態に断熱ブロック13aが配置されており、当該断熱ブロック13aの左右の上面部分がパレット載置面13とされている。これら左右のパレット載置面13に、パレット12の左右の端板12c、12dが載るようになっている。プレート11は冷却機構17あるいは加熱機構19によって所定の温度状態に冷却あるいは加熱される。   As shown in FIG. 4, the plate 11 disposed on the apparatus mount 2 side is a block made of a metal such as aluminum having a high thermal conductivity and having a rectangular surface 11 a corresponding to the package body 31 of the work 30. is there. A heat insulating block 13 a is arranged in a state surrounding the plate 11, and left and right upper surface portions of the heat insulating block 13 a serve as a pallet placement surface 13. The left and right end plates 12 c and 12 d of the pallet 12 are placed on the left and right pallet placement surfaces 13. The plate 11 is cooled or heated to a predetermined temperature state by the cooling mechanism 17 or the heating mechanism 19.

次に、左右のパレット載置面13の外側には、それぞれ、送りシャフト14が平行に配置されている。送りシャフト14は、中心軸線14aを中心として回転可能な状態で、且つ、中心軸線14aの方向に移動可能な状態で、装置架台2によって支持されている。また、モータ、シリンダなどの不図示の回転駆動機構によって回転され、不図示の送り機構によって前進および後退するようになっている。   Next, feed shafts 14 are arranged in parallel on the outer sides of the left and right pallet placement surfaces 13, respectively. The feed shaft 14 is supported by the apparatus base 2 so as to be rotatable about the central axis 14a and movable in the direction of the central axis 14a. Further, it is rotated by a rotation drive mechanism (not shown) such as a motor and a cylinder, and is moved forward and backward by a feed mechanism (not shown).

各送りシャフト14には、プレート11の配列ピッチと同一のピッチで、一定幅の送り爪41が取り付けられている。各送り爪41は、送りシャフト14の外周面からその接線方向に延びる状態に取り付けられた部分と、当該部分の先端から直角に上方に折れ曲がって延びている部分を備えたL形の金属板から形成されており、その先端がパレット載置面13に載っているパレット12の左右の端板12c、12dの下側に位置している。   A feed claw 41 having a constant width is attached to each feed shaft 14 at the same pitch as the arrangement pitch of the plates 11. Each feed claw 41 is formed from an L-shaped metal plate having a portion attached in a state extending in the tangential direction from the outer peripheral surface of the feed shaft 14 and a portion bent upward and extending perpendicularly from the tip of the portion. It is formed and the front-end | tip is located in the lower side of the right-and-left end plates 12c and 12d of the pallet 12 mounted on the pallet mounting surface 13.

各送り爪41が下側から上方に旋回するように、送りシャフト14を回転すると、図5に示すように、各送り爪41がパレット12をパレット載置面13から上方に持ち上げる。この結果、パレット12に載っているワーク30もプレート11の表面11aから浮き上がる。   When the feed shaft 14 is rotated so that each feed claw 41 turns upward from the lower side, each feed claw 41 lifts the pallet 12 upward from the pallet placement surface 13 as shown in FIG. As a result, the work 30 placed on the pallet 12 also floats from the surface 11 a of the plate 11.

このように構成した本例の環境試験装置1においては、次のようにして、プレート11に載っているワーク30が下流側のプレート11に移送される。例えば、ワーク30が低温検査部における低温検査用のプレート11(11)の手前のプレート11(10)に載っているものとする。この状態では、図4に示すように、プレート11(10)の表面11aにワーク30が載っており、パレット12はパレット載置台13に載っている。この状態では、ワーク30の左右の端部34、35の裏面部分がパレット12から離れている。また、送りシャフト14の送り爪41はパレット12から離れてその下側に位置している。   In the environmental testing apparatus 1 of this example configured as described above, the workpiece 30 placed on the plate 11 is transferred to the downstream plate 11 as follows. For example, it is assumed that the workpiece 30 is placed on the plate 11 (10) in front of the low temperature inspection plate 11 (11) in the low temperature inspection section. In this state, as shown in FIG. 4, the workpiece 30 is placed on the surface 11 a of the plate 11 (10), and the pallet 12 is placed on the pallet placing table 13. In this state, the back surface portions of the left and right end portions 34, 35 of the work 30 are separated from the pallet 12. Further, the feed claw 41 of the feed shaft 14 is located away from the pallet 12 and below it.

この状態でプレート11(10)によってワーク30は所定の冷却温度状態に冷却される。冷却後には、左右の送りシャフト14が中心軸線14aを中心として図5(a)の実線矢印で示すように、相互に逆向きに所定の角度だけ回転させられる。この結果、左右の送り爪41によって、パレット12がパレット載置面13から持ち上げられる。パレット12が持ち上げられると、その左右の端板12c、12dの内側端部分12e、12fが下側からプレート11の表面11aに載っているワーク30の左右の端部34、35に当り、ワーク30を持ち上げる。換言すると、ワーク30がプレート11(10)からパレット12に引き渡され、プレート11(10)の表面から浮き上がる。   In this state, the workpiece 30 is cooled to a predetermined cooling temperature state by the plate 11 (10). After cooling, the left and right feed shafts 14 are rotated by a predetermined angle in opposite directions to each other as indicated by the solid arrow in FIG. As a result, the pallet 12 is lifted from the pallet placement surface 13 by the left and right feed claws 41. When the pallet 12 is lifted, the inner end portions 12e and 12f of the left and right end plates 12c and 12d hit the left and right end portions 34 and 35 of the workpiece 30 placed on the surface 11a of the plate 11 from below, and the workpiece 30 Lift up. In other words, the workpiece 30 is transferred from the plate 11 (10) to the pallet 12, and is lifted from the surface of the plate 11 (10).

図5に示すようにワーク30がプレート11から浮き上がった状態で、左右の送りシャフト14がプレートの配列ピットと同一の送りピッチで送り出される。この結果、左右の送り爪41によって持ち上げられているパレット12が前側のプレート11(11)の真上に位置決めされる。   As shown in FIG. 5, with the workpiece 30 lifted from the plate 11, the left and right feed shafts 14 are fed out at the same feed pitch as the arrangement pits of the plate. As a result, the pallet 12 lifted by the left and right feed claws 41 is positioned directly above the front plate 11 (11).

この後は、左右の送りシャフト14が図5(a)の破線矢印で示すように、逆向きに所定角度だけ回転させられる。この結果、ワーク30が載っているパレット12が下降して、パレット載置面13に載る。ここで、パレット12がパレット載置面13に載る前の時点で、パレット12に載っているワーク30が低温検査用のプレート11(11)の表面11aに載り、ワーク30をそこに引き渡して、パレット12のみが下降してパレット載置面13に載る。これより、再び、図4に示す状態になり、ワーク30がプレート11(11)の表面11aに載り、低温試験用の温度まで冷却される。   After this, the left and right feed shafts 14 are rotated by a predetermined angle in the reverse direction as indicated by broken line arrows in FIG. As a result, the pallet 12 on which the workpiece 30 is placed descends and is placed on the pallet placement surface 13. Here, before the pallet 12 is placed on the pallet placement surface 13, the work 30 placed on the pallet 12 is placed on the surface 11a of the plate 11 (11) for low-temperature inspection, and the work 30 is handed over there. Only the pallet 12 is lowered and placed on the pallet placing surface 13. 4, the workpiece 30 is placed on the surface 11a of the plate 11 (11) and cooled to the temperature for the low temperature test.

なお、低温試験用のプローブ17を降下させて、ワーク30のリード端子群32、33に押し付けて導通試験を行う際に、ワーク30をシリンダなどの押圧機構を用いてプレート11(11)の表面に押さえ付けることが望ましい。同様に、常温検査部および高温検査部における試験においても同様にして、ワーク30をプレート表面11aに押さえ付けた状態で行うことが望ましい。   When conducting the continuity test by lowering the low-temperature test probe 17 and pressing it against the lead terminal groups 32 and 33 of the workpiece 30, the surface of the plate 11 (11) is pressed using a pressing mechanism such as a cylinder. It is desirable to hold it down. Similarly, in the tests in the normal temperature inspection section and the high temperature inspection section, it is desirable to perform the test in a state where the workpiece 30 is pressed against the plate surface 11a.

以上説明したように、本例の環境試験装置1では、ワーク搬送用のパレット12に、プレート11が上下に通過可能な開口部12aを形成しておき、ワーク30の左右の端部34、35をパレット12に載せた状態で、ワーク30を搬送するようにしている。また、パレット12を載せるパレット載置面13をプレート11よりも低い位置に形成してある。   As described above, in the environmental test apparatus 1 of this example, the opening 12a through which the plate 11 can pass up and down is formed in the pallet 12 for transporting the workpiece, and the left and right end portions 34 and 35 of the workpiece 30 are formed. Is carried on the pallet 12, and the work 30 is conveyed. Further, a pallet placing surface 13 on which the pallet 12 is placed is formed at a position lower than the plate 11.

したがって、ワーク30を載せたパレット12を、プレート11の真上から下降させると、ワーク30のみをプレート11の表面11aに載せることができ、また、ワーク30から離れた状態でパレット12をパレット載置面13に載せることができる。この状態でワーク30がプレート11によって効率良く所定の温度状態となるように加熱あるいは冷却される。   Therefore, when the pallet 12 on which the work 30 is placed is lowered from directly above the plate 11, only the work 30 can be placed on the surface 11 a of the plate 11, and the pallet 12 is placed on the pallet in a state of being separated from the work 30. It can be placed on the mounting surface 13. In this state, the workpiece 30 is heated or cooled by the plate 11 so as to efficiently reach a predetermined temperature state.

また、パレット12を持ち上げると、ワーク30がプレート11の表面11aからパレット12に引き渡されて、表面11aから浮き上がる。したがって、パレット12を持ち上げて送り出せば、前側のプレートの真上にワーク30が位置決めされる。よって、ワーク30の移送も簡単に行うことができる。   When the pallet 12 is lifted, the workpiece 30 is transferred from the surface 11a of the plate 11 to the pallet 12, and is lifted from the surface 11a. Therefore, if the pallet 12 is lifted and sent out, the workpiece 30 is positioned directly above the front plate. Therefore, the work 30 can be easily transferred.

なお、本例では、送りシャフト14の回転動作および軸線方向への送り動作によって、1ピッチずつパレット12を移送している。この代わりに、送りシャフト14を、上昇、前進、下降および後退の順序で動作させることにより、パレット12を1ピッチずつ送り出すようにしてもよい。   In this example, the pallet 12 is transferred one pitch at a time by the rotation operation of the feed shaft 14 and the feed operation in the axial direction. Instead of this, the pallet 12 may be fed one pitch at a time by operating the feed shaft 14 in the order of ascending, advancing, descending and retreating.

本発明を適用したプレート温調方式によるライン型の環境試験装置を示す図であり、(a)はその概略側面図、(b)は概略平面図、および(c)は各試験位置等を示す説明図である。It is a figure which shows the line type environmental test apparatus by the plate temperature control system to which this invention is applied, (a) is the schematic side view, (b) is a schematic plan view, (c) shows each test position etc. It is explanatory drawing. (a)はワークを示す平面図であり、(b)はその側面図である。(a) is a top view which shows a workpiece | work, (b) is the side view. (a)はワーク搬送用のパレットを示す平面図であり、(b)はその側面図である。(a) is a top view which shows the pallet for workpiece conveyance, (b) is the side view. (a)は図1の環境試験装置のワーク搬送経路の部分を示す部分横断面図、(b)はその部分平面図、および(c)はその部分側面図であり、ワークがプレートに載っている状態を示すものである。(a) is a partial cross-sectional view showing a part of a work conveyance path of the environmental test apparatus of FIG. 1, (b) is a partial plan view thereof, and (c) is a partial side view thereof, and the work is placed on a plate. It shows the state of being. (a)は図1の環境試験装置のワーク搬送経路の部分を示す部分横断面図、(b)はその部分平面図、および(c)はその部分側面図であり、ワークがプレートから浮き上がった状態を示すものである。(a) is a partial cross-sectional view showing a part of a work conveyance path of the environmental test apparatus of FIG. 1, (b) is a partial plan view thereof, and (c) is a partial side view thereof, and the work is lifted off the plate. It shows the state.

符号の説明Explanation of symbols

1 環境試験装置
2 装置架台
3 試験槽
4 常温検査部
5 低温検査部
6 高温検査部
7 常温戻し部
8 ワーク供給部
9 ワーク排出部
11、11(1)〜11(24) プレート
11a 表面
12 パレット
12a 開口部
12b 枠板
12c、12d 端板
12e、12f 内側端部分
13 パレット載置面
14 送りシャフト
14a 中心軸線
15、16、18 プローブ
17 冷却機構
19 加熱機構
30 ワーク
31 パッケージ本体部分
32、33 リード端子群
34、35 ワークの端部
41 送り爪
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Environmental test apparatus 2 Apparatus mount 3 Test tank 4 Normal temperature inspection part 5 Low temperature inspection part 6 High temperature inspection part 7 Normal temperature return part 8 Work supply part 9 Work discharge part 11, 11 (1) -11 (24) Plate 11a Surface 12 Pallet 12a Opening portion 12b Frame plates 12c, 12d End plates 12e, 12f Inner end portion 13 Pallet mounting surface 14 Feed shaft 14a Center axes 15, 16, 18 Probe 17 Cooling mechanism 19 Heating mechanism 30 Work piece 31 Package body portion 32, 33 Lead Terminal group 34, 35 Work edge 41 Feeding claw

Claims (5)

所定の温度状態に保持されたプレートに試験対象のワークを直接接触させて、当該ワークを所定の試験温度状態となるように加熱あるいは冷却するプレート温調型の環境試験装置において、
前記プレートが上下方向に通過可能な開口部、および、当該開口部を跨ぐ状態にワークを載せるワーク載置面を備えているワーク搬送用のパレットと、
前記開口部から前記プレートが上方に突出した状態で前記パレットが載るパレット載置面と、
前記パレット載置面に載っている前記パレットに下側から係合して、当該パレットを前記プレートより高い位置まで持ち上げ可能なパレット昇降部材とを有し、
前記プレートより高い位置に持ち上げた前記パレットにワークを載せ、当該パレットを前記パレット載置面まで下げることにより、前記ワークが前記プレートの表面に接触した状態が形成されることを特徴とする環境試験装置。
In a plate temperature control type environmental test apparatus in which a workpiece to be tested is brought into direct contact with a plate held at a predetermined temperature state, and the workpiece is heated or cooled to be in a predetermined test temperature state.
An opening through which the plate can pass in the vertical direction, and a pallet for workpiece conveyance provided with a workpiece placement surface for placing the workpiece in a state straddling the opening,
A pallet mounting surface on which the pallet is mounted in a state where the plate protrudes upward from the opening;
A pallet elevating member that engages with the pallet placed on the pallet placement surface from below and can lift the pallet to a position higher than the plate;
An environmental test characterized in that a state where the workpiece is in contact with the surface of the plate is formed by placing the workpiece on the pallet lifted to a position higher than the plate and lowering the pallet to the pallet placement surface. apparatus.
請求項1に記載の環境試験装置において、
複数枚の前記プレートが、予め定めた送り方向に沿って一定のピッチで配列されており、
前記パレット昇降部材は、前記プレートの配列ピッチと同一の送りピッチで前記送り方向に前進および後退が可能であることを特徴とする環境試験装置。
The environmental test apparatus according to claim 1,
A plurality of the plates are arranged at a constant pitch along a predetermined feeding direction,
The environmental test apparatus characterized in that the pallet elevating member can move forward and backward in the feed direction at the same feed pitch as the arrangement pitch of the plates.
請求項2に記載の環境試験装置において、
前記送り方向に沿って配列された送りシャフトを有し、
当該送りシャフトには、前記プレートの配列ピッチと同一のピッチで、前記パレット昇降部材として機能する送り爪が取り付けられており、
前記送りシャフトは、その中心軸線回りに回転可能、または、昇降可能であり、
前記送りシャフトは前記中心軸線の方向に沿って前記プレートの配列ピッチと同一の送りピッチで前進および後退が可能であることを特徴とする環境試験装置。
The environmental test apparatus according to claim 2,
Having a feed shaft arranged along the feed direction;
A feed claw that functions as the pallet lifting member is attached to the feed shaft at the same pitch as the arrangement pitch of the plates,
The feed shaft can be rotated around its central axis, or can be raised and lowered,
The environmental test apparatus according to claim 1, wherein the feed shaft is capable of moving forward and backward along the direction of the central axis at the same feed pitch as the arrangement pitch of the plates.
請求項3に記載の環境試験装置において、
異なる試験温度状態となるようにワークを加熱あるいは冷却するための複数の検査部を備えた試験槽を有し、
各検査部を経由する直線状の経路に沿って、前記プレート、前記パレット載置面、および、前記送り爪を備えた前記送りシャフトが配置されており、
ワークを載せた各パレットが、前記送り方向の上流端に位置する前記プレートから下流端に位置する前記プレートまで間欠的に順次に移送されることを特徴とする環境試験装置。
The environmental test apparatus according to claim 3,
It has a test tank with a plurality of inspection parts for heating or cooling the workpiece so as to be in different test temperature states,
Along the linear path passing through each inspection part, the plate, the pallet placement surface, and the feed shaft provided with the feed claw are arranged,
The environmental test apparatus, wherein each pallet on which a workpiece is placed is intermittently and sequentially transferred from the plate located at the upstream end in the feeding direction to the plate located at the downstream end.
請求項3または4に記載の環境試験装置において、
前記パレットは、矩形のワークを載せるワーク載置面を備えた矩形枠状のものであり、
各プレートの左右に、前記パレット載置面および前記送りシャフトが配置されており、
左右の前記送りシャフトに形成されている左右の前記送り爪によって各プレートの持ち上げ、および送りが行われることを特徴とする環境試験装置。
The environmental test apparatus according to claim 3 or 4,
The pallet is a rectangular frame having a workpiece placement surface on which a rectangular workpiece is placed,
The pallet placement surface and the feed shaft are arranged on the left and right of each plate,
An environmental testing apparatus, wherein each plate is lifted and fed by the left and right feed claws formed on the left and right feed shafts.
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