JP4614856B2 - 磁気検出装置及びそれを用いた電子方位計 - Google Patents
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(実施の形態1)
実施の形態1,2においては、磁気抵抗素子が磁界に対して対象性のある抵抗変化を示す磁気抵抗素子である場合について説明する。また、本実施の形態においては、磁気センサに極性を反転させて電圧を印加する構成について説明する。すなわち、本実施の形態においては、第1の電圧として一方の極性(例えば正)の電圧を用い、第2の電圧として他方の極性(例えば負)の電圧を用いる。図1は、本発明の実施の形態1に係る磁気検出装置を備えた電子方位計の概略構成を示すブロック図である。
Rcは磁気により抵抗が変化するので、その磁気に対応して電圧が出力される。
本実施の形態に係る電子方位計のセンサ部12における駆動モードは以下の4つのステージで構成される。各ステージにおける制御信号の状態を図5に示す。
S1:電圧が正、バイアス磁界が正
S2:電圧が正、バイアス磁界が負
S3:電圧が負、バイアス磁界が正
S4:電圧が負、バイアス磁界が負
VaS1=Vacen−ΔV …式(1)
VbS1=Vbcen+ΔV …式(2)
Vs1=VaS1−VbS1
=(Vacen−ΔV)−(Vbcen+ΔV)
=−2ΔV+Vacen−Vbcen …式(3)
このVs1は、制御信号φ3がH信号であるため、電圧値Vs1は検出部13内のコンデンサ133に保持される。
VaS2=Vacen+ΔV …式(4)
VbS2=Vbcen−ΔV …式(5)
Vs2=VaS2−VbS2
=(Vacen+ΔV)−(Vbcen−ΔV)
=2ΔV+Vacen−Vbcen …式(6)
Vamp2=Vs1−Vs2−Vofs
=−2ΔV+Vacen−Vbcen−(2ΔV+Vacen−Vbcen)−Vofs
=−4ΔV−Vofs …式(7)
VaS3=Vacen+ΔV …式(8)
VbS3=Vbcen−ΔV …式(9)
Vs3=VaS3−VbS3
=(Vacen+ΔV)−(Vbcen−ΔV)
=2ΔV+Vacen−Vbcen …式(10)
このVs3は、制御信号φ3がH信号であるため、電圧値Vs3は検出部13内のコンデンサ133に保持される。
VaS4=Vacen−ΔV …式(11)
VbS4=Vbcen+ΔV …式(12)
Vs4=VaS4−VbS4
=(Vacen−ΔV)−(Vbcen+ΔV)
=−2ΔV+Vacen−Vbcen …式(13)
Vamp4=Vs3−Vs4−Vofs
=2ΔV+Vacen−Vbcen−(−2ΔV+Vacen−Vbcen)−Vofs
=4ΔV−Vofs …式(14)
DDout=DD1−DD2=(−4ΔV−Vofs)−(4ΔV−Vofs)
=−8ΔV …式(15)
本実施の形態においては、検出部において、一方の極性のバイアス磁界を用いて得られた第1電圧値から他方の極性のバイアス磁界を用いて得られた第2電圧値を減算するか、他方の極性のバイアス磁界を用いて得られた第2電圧値から一方の極性のバイアス磁界を用いて得られた第1電圧値を減算するかを切り替える構成について説明する。この構成は、図1に示す電子方位計の電圧発生部11がない構成であり、電圧の極性を反転させていない。
本実施の形態に係る電子方位計のセンサ部12における駆動モードは以下の4つのステージで構成される。各ステージにおける制御信号の状態を図10に示す。
T1:スイッチSW6,SW7がHigh(ストレート接続)、バイアス磁界が正
T2:スイッチSW6,SW7がLow (ストレート接続)、バイアス磁界が負
T3:スイッチSW6,SW7がHigh(クロス接続)、 バイアス磁界が正
T4:スイッチSW6,SW7がLow (クロス接続)、 バイアス磁界が負
VaT1=Vacen−ΔV …式(16)
VbT1=Vbcen+ΔV …式(17)
Vt1=VaT1−VbT1
=(Vacen−ΔV)−(Vbcen+ΔV)
=−2ΔV+Vacen−Vbcen …式(18)
このVt1は、制御信号φ3がH信号であるため、電圧値Vt1は検出部13内のコンデンサ133に保持される。
VaT2=Vacen+ΔV …式(19)
VbT2=Vbcen−ΔV …式(20)
Vt2=VaT2−VbT2
=(Vacen+ΔV)−(Vbcen−ΔV)
=2ΔV+Vacen−Vbcen …式(21)
Vamp2=Vt1−Vt2−Vofs
=−2ΔV+Vacen−Vbcen−(2ΔV+Vacen−Vbcen)−Vofs
=−4ΔV−Vofs …式(22)
VaT3=Vacen−ΔV …式(23)
VbT3=Vbcen+ΔV …式(24)
Vt3=VaS3−VbS3
=(Vacen−ΔV)−(Vbcen+ΔV)
=−2ΔV+Vacen−Vbcen …式(25)
このVt3は、制御信号φ3がH信号であるため、電圧値Vt3は検出部13内のコンデンサ133に保持される。
VaT4=Vacen+ΔV …式(26)
VbT4=Vbcen−ΔV …式(27)
Vt4=VaT4−VbT4
=(Vacen+ΔV)−(Vbcen−ΔV)
=2ΔV+Vacen−Vbcen …式(28)
Vamp4=Vt4−Vt3−Vofs
=2ΔV+Vacen−Vbcen−(−2ΔV+Vacen−Vbcen)−Vofs
=4ΔV−Vofs …式(29)
DDout=DD1−DD2=(−4ΔV−Vofs)−(4ΔV−Vofs)
=−8ΔV …式(30)
実施の形態3においては、磁気抵抗素子が磁界に対して単調に変化する抵抗変化を示す磁気抵抗素子である場合について説明する。本実施の形態に係る電子方位計は、図1に示す構成と同じ構成で実現することができる。
図4(a)に示すセンサ部12のブリッジ構成において、磁気抵抗素子Raと固定抵抗Rbとの間の中点電位をV1とし、磁気抵抗素子Rcと固定抵抗Rdとの間の中点電位をV2とすると、式(31)、式(32)の通りとなる。
V1={Rb/(Ra+Rb)}×Vdd …式(31)
V2={Rc/(Rd+Rc)}×Vdd …式(32)
V1=[Rb/{(Ra+ΔR)+Rb}]×Vdd …式(33)
V2=[(Rc+ΔR)/{Rd+(Rc+ΔR)}]×Vdd …式(34)
V1−V2=[[Rb/{(Ra+ΔR)+Rb}]
−[(Rc+ΔR)/{Rd+(Rc+ΔR)}]]×Vdd+Vofs
…式(35)
U1:電圧が正、バイアス磁界が正
U2:電圧が負、バイアス磁界が正
U3:電圧が正、バイアス磁界が負
U4:電圧が負、バイアス磁界が負
(V1−V2)U1=[[Rb/{(Ra+ΔRcoil+)+Rb}]
−[(Rc+ΔRcoil+)/{Rd+(Rc+ΔRcoil+)}]]×Vdd+Vofs
…式(36)
(V1−V2)U2=[[Rb/{(Ra+ΔRcoil+)+Rb}]
−[(Rc+ΔRcoil+)/{Rd+(Rc+ΔRcoil+)}]]×(−Vdd)+Vofs
…式(37)
(V1−V2)U3=[[Rb/{(Ra+ΔRcoil-)+Rb}]
−[(Rc+ΔRcoil-)/{Rd+(Rc+ΔRcoil-)}]]×Vdd+Vofs
…式(38)
(V1−V2)U4=[[Rb/{(Ra+ΔRcoil-)+Rb}]
−[(Rc+ΔRcoil-)/{Rd+(Rc+ΔRcoil-)}]]×(−Vdd)+Vofs
…式(39)
DDout=[[Rb/{(Ra+ΔRcoil+)+Rb}]
+[Rb/{(Ra+ΔRcoil-)+Rb}]
−[(Rc+ΔRcoil+)/{Rd+(Rc+ΔRcoil+)}]
−[(Rc+ΔRcoil-)/{Rd+(Rc+ΔRcoil-)}]]×Vdd
…式(40)
12 センサ部
13 検出部
14 AD変換部
15 演算部
16 バイアス磁界発生部
17 制御部
121 コイル
131,132 アンプ
133 コンデンサ
151,154〜156 データ保存部
152 差分演算部
153 選択部
157 方位算出部
SW1〜SW7 スイッチ
Claims (8)
- 磁気を検出する磁気センサと、前記磁気センサに極性を反転させてバイアス磁界を印加するバイアス磁界発生手段と、前記磁気センサに極性の反転した大きさの等しい第1,第2の電圧を印加する電圧印加手段と、それぞれの極性のバイアス磁界に対して得られた電圧値を検出する検出手段と、前記電圧値を用いて方位を求める演算手段と、を具備し、前記検出手段は、前記第1の電圧に対してそれぞれの極性のバイアス磁界を印加して得られた電圧値の差である第1出力電圧と、前記第2の電圧に対してそれぞれの極性のバイアス磁界を印加して得られた電圧値の差である第2出力電圧とを求め、両者の差分から磁界を検出する際に、前記第1及び第2出力電圧に含まれる、前記磁界についてのオフセット電圧を消去することを特徴とする磁気検出装置。
- 磁気を検出する磁気センサと、前記磁気センサに極性を反転させてバイアス磁界を印加するバイアス磁界発生手段と、前記磁気センサに電圧を印加する電圧印加手段と、それぞれの極性のバイアス磁界に対して得られた電圧値を検出する検出手段と、前記電圧値を用いて方位を求める演算手段と、を具備し、前記検出手段は、それぞれの極性のバイアス磁界を印加して得られた第1,第2電圧値を各々入力させ、前記第1電圧値から前記第2電圧値を減算するか、前記第2電圧値から前記第1電圧値を減算するかを切り替える手段を有し、切り替え前後の値の差分をとって磁界を検出する際に、前記磁界についてのオフセット電圧を消去することを特徴とする磁気検出装置。
- 前記磁気センサは、磁界に対して対象性のある抵抗変化を示す磁気抵抗素子を含むことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の磁気検出装置。
- 前記磁気抵抗素子は、GIG素子又はMR素子であることを特徴とする請求項3記載の磁気検出装置。
- 前記磁気センサは、磁界に対して単調に変化する抵抗変化を示す磁気抵抗素子を含むことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の磁気検出装置。
- 前記磁気抵抗素子は、GMR素子であることを特徴とする請求項5記載の磁気検出装置。
- 前記磁気センサは、ブリッジ回路で構成されていることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の磁気検出装置。
- 請求項1から請求項7のいずれかに記載の複数の磁気検出装置と、前記複数の磁気検出装置により求められたそれぞれの差分電圧を用いて方位を求める方位算出手段と、を具備することを特徴とする電子方位計。
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