JP3316689B2 - 電子式方位計 - Google Patents

電子式方位計

Info

Publication number
JP3316689B2
JP3316689B2 JP8284692A JP8284692A JP3316689B2 JP 3316689 B2 JP3316689 B2 JP 3316689B2 JP 8284692 A JP8284692 A JP 8284692A JP 8284692 A JP8284692 A JP 8284692A JP 3316689 B2 JP3316689 B2 JP 3316689B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
bias
bias magnetic
coil
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP8284692A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05248868A (ja
Inventor
浩幸 中鉢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Casio Computer Co Ltd filed Critical Casio Computer Co Ltd
Priority to JP8284692A priority Critical patent/JP3316689B2/ja
Publication of JPH05248868A publication Critical patent/JPH05248868A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3316689B2 publication Critical patent/JP3316689B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子式方位計に関し、詳
細には、磁気抵抗素子を利用した磁気センサ及びこの磁
気センサを利用して地磁気の方位を算出する電子式方位
計に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子式方位計としては、種々のも
のが提案されているが、従来の電子式方位計において
は、その磁気検出素子としてホール素子や強磁性体等が
利用されている。このようなホール素子や強磁性体等を
磁気検出素子として利用すると、地磁気の検出感度方向
成分の大きにより、地磁気の方向をも検出することがで
きる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、ホール素子
は、磁気検出感度が低い。そこで、従来、磁束収束器を
設けることにより、ホール素子の磁気検出感度の低さを
補うことにより、地磁気の検出を行なって、方位を測定
している。そのため、電子式方位計が大型化するという
問題があった。また、ホール素子や強磁性体は、いずれ
も消費電力が大きいという問題があった。そこで、本発
明は、磁気検出素子として、安価で、小型の磁気抵抗素
子をブリッジ状に接続し、また、この磁気抵抗素子に交
互に向きの反転するバイアス磁界を印加することによ
り、磁気抵抗素子のヒステリシスによる誤差を是正しつ
つ、安価で、小型、かつ安価な磁気センサー及び電子式
方位計を提供することを目的としている。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の発明は、電子式方位計が、隣接する
磁気抵抗素子の磁気検出方向が互いに直交する状態でブ
リッジ状に結合された少なくとも4個の磁気抵抗素子
と、互いに直交する状態で前記磁気抵抗素子に卷回され
た少なくとも2個のバイアス磁界用コイルと、を有した
磁気センサと、前記磁気センサの磁気抵抗素子の結合部
のうち相対向する2つの結合部間に定電圧を印加する磁
気センサ駆動手段と、前記磁気センサの各バイアス磁界
用コイルそれぞれに対して、互いに逆向きの電流を順次
導通させバイアス磁界を発生させるバイアス磁界用コイ
ル駆動手段と、前記磁気センサ駆動手段により定電圧の
印加されている結合部間以外の相対向する結合部間の電
位差を検出する検出手段と、前記バイアス磁界用コイル
駆動手段が電流を順次導通させることにより発生させた
各バイアス磁界それぞれの際に、前記検出手段が検出し
た各電位差に基づいて方位を算出する演算手段と、前記
バイアス磁界用コイル駆動手段と前記検出手段と前記演
算手段とに対して動作タイミングを指示する制御信号
と、を備えたことを特徴としている。更に、請求項2に
記載するように、前記2個のバイアス磁界用コイルは、
前記磁気抵抗素子の磁気検出方向に対して45度の方向
の磁界を発生する状態で前記磁気抵抗素子に卷回されて
いることを特徴としている。
【0005】
【作用】請求項1記載の発明によれば、電子式方位計
は、磁気センサが、隣接する磁気抵抗素子の磁気検出方
向が互いに直交する状態でブリッジ状に結合された少な
くとも4個の磁気抵抗素子と、互いに直交する状態で前
記磁気抵抗素子に卷回された少なくとも2個のバイアス
磁界用コイルと、を有しており、この磁気センサの磁気
抵抗素子の結合部のうち相対向する2つの結合部間に磁
気センサ駆動手段により定電圧を印加する。そして、磁
気センサの各バイアス磁界用コイルそれぞれに対して、
バイアス磁界用コイル駆動手段により互いに逆向きの電
流を順次導通させてバイアス磁界を発生させ、前記磁気
センサ駆動手段により定電圧の印加されている結合部間
以外の相対向する結合部間の電位差を検出手段により検
出する。続いて、前記バイアス磁界用コイル駆動手段が
電流を順次導通させることにより発生させた各バイアス
磁界それぞれの際に、前記検出手段が検出した各電位差
に基づいて演算手段により方位を算出し、前記バイアス
磁界用コイル駆動手段と前記検出手段と前記演算手段と
に対して制御手段により動作タイミングを指示する。し
たがって、ブリッジ状に接続された磁気抵抗素子に、制
御手段により動作タイミングをとって、バイアス磁界を
印加し、このバイアス磁界の印加された磁気抵抗素子の
結合部間の電位差を検出して、方位を算出しているの
で、磁気抵抗素子の特性曲線の変化量の大きい領域で検
出することができるので、磁気センサを小型・安価で、
かつ精度の高いものとすることができる。請求項2記載
の発明によれば、 前記2個のバイアス磁界用コイルは、
前記磁気抵抗素子の磁気検出方向に対して45度の方向
の磁界を発生する状態で前記磁気抵抗素子に卷回されて
いる。したがって、磁気抵抗素子に作用する磁界の強さ
に対応して、バイアス磁界の印加された磁気抵抗素子の
結合部間に電位差が発生するため、該電位差を検出する
ことによって方位を算出することができる。
【0006】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて具体的に説
明する。図1〜図15は、本発明に係る磁気センサ及び
電子式方位計の一実施例を示す図である。図1は、磁気
センサ1の平面図であり、磁気センサ1は、ガラスある
いはアルミナで形成された基板2上に4個の磁気抵抗素
子MR1、MR2、MR3、MR4及び4個のパッドP
1、P2、P3、P4が形成されている。
【0007】この磁気抵抗素子MR1、MR2、MR
3、MR4は、基板2上にパーマロイ等の強磁性体を真
空蒸着することにより形成されており、パッドP1、P
2、P3、P4は、基板2上に通常の配線用材料を真空
蒸着することにより形成されている。この磁気抵抗素子
MR1、MR2、MR3、MR4は、それぞれ相隣接す
る他の磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4と
磁気検出方向が90度異なるように結合されており、ま
た、矢印Nは測定方向を示すが、この矢印Nに対して、
各磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4の検出
方向が45度の傾きをもつように形成されている。
【0008】これら各磁気抵抗素子MR1、MR2、M
R3、MR4は、図2に示すように、パッドP1、P
2、P3、P4により結合部K1、K2、K3、K4を
介してブリッジ状に接続されており、相対向する結合部
K1、K3間には、所定の電圧Vが印加されている。各
磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4は、一般
に知られているように、磁界が作用することによりその
抵抗値が変化し、いま、結合部K1、K3間に所定電圧
Vが印加されていることにより、磁界が作用してその抵
抗値が変化すると、結合部K2と結合部K4には、所定
の電位が発生する。すなわち、結合部K2の電位をV
1、結合部K4の電位をV2とすると、結合部K2と結
合部K4との間には、V1−V2の電位差VSが発生す
る。
【0009】また、磁気センサ1には、2つのバイアス
コイルC1、C2(図3参照)が相互に直交するように
磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4に卷回さ
れている。まず、バイアスコイルC1は、流される電流
の向きにより図1に矢印B1及び逆方向の矢印B3で示
す方向のバイアス磁界を磁気抵抗素子MR1、MR2、
MR3、MR4に印加する。次に、バイアスコイルC2
は、流される電流の向きにより図1に矢印B2及び逆方
向の矢印B4で示す方向のバイアス磁界を磁気抵抗素子
MR1、MR2、MR3、MR4に印加する。すなわ
ち、バイアスコイルC1、C2により印加されるバイア
ス磁界の方向B1、B2、B3、B4と各磁気抵抗素子
MR1、MR2、MR3、MR4の検出方向とは、それ
ぞれ45度ずれている。
【0010】図3は、上記図1及び図2の磁気センサ1
を利用した電子式方位計10のブロック構成図であり、
電子式方位計10は、素子駆動回路11、磁気抵抗素子
部12、作動増幅回路13、A/D変換回路14、レジ
スタ15、バイアスコイルC1、C2、コイル駆動回路
16、波形合成回路17、レジスタ18、CPU19、
表示部20、ROM21及びRAM22等を備えてい
る。
【0011】磁気抵抗素子部12は、上記ブリッジ状に
接続された磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR
4を総称したものであり、素子駆動回路(磁気センサ駆
動手段)11は、この磁気抵抗素子MR1、MR2、M
R3、MR4の形成された磁気センサ1の結合部K1、
K3間に印加する所定電圧Vを供給する。磁気抵抗素子
部12は、その結合部K2及び結合部K4から検出電圧
V1、V2を作動増幅回路13に出力する。
【0012】作動増幅回路13は、通常の作動増幅回路
であり、磁気抵抗素子部12から入力される検出電圧V
1、V2の電位差VS(V1−V2)を増幅してA/D
変換回路14に出力する。
【0013】A/D変換回路14は、電位差VSをディ
ジタル変換し、レジスタ15に出力する。上記作動増幅
回路13及びA/D変換回路14は、全体として素子駆
動回路11により定電圧の印加されている結合部間(K
1−K3間)以外の相対向する結合部間(K2−K4
間)の電位差VSを検出する検出手段として機能する。
【0014】一方、バイアスコイル(バイアス磁界用コ
イル)C1、C2は、上述のように、磁気抵抗素子MR
1、MR2、MR3、MR4にバイアスコイルC1とバ
イアスコイルC2が互いに直交するように卷回されてお
り、各バイアスコイルC1、C2には、それぞれコイル
駆動回路16からバイアス電流I1、I2が供給され
る。このバイアス電流I1、I2は、各々電流の向きが
反転し、バイアス電流I1、I2の向きが反転すること
より、バイアスコイルC1、C2は、それぞれ図1に示
したように、逆方向のバイアス磁界B1、B3及びバイ
アス磁界B2、B4を磁気抵抗素子MR1、MR2、M
R3、MR4に印加する。また、バイアス電流I1、I
2は、交互に流されるとともに、その向きが反転する。
したがって、図1に示すように、バイアス磁界B1、B
2、B3、B4が、B1→B2→B3→B4の順に発生
する。
【0015】コイル駆動回路16には、波形合成回路1
7からバイアス電流の向きと導通タイミング、すなわち
バイアス磁界B1、B2、B3、B4の向きを指示する
信号S1、S2、S3、S4が入力され、コイル駆動回
路16は、この信号S1、S2、S3、S4に基づいて
バイアス電流I1、I2のバイアスコイルC1、C2へ
の供給・停止を行ない、また、バイアス電流I1、I2
の向きの切り換えを行なう。したがって、コイル駆動回
路16は、磁気センサ1の各バイアスコイルC1、C2
に電流を導通させバイアス磁界を発生させるバイアス磁
界用コイル駆動手段として機能する。
【0016】波形合成回路17は、前記コイル駆動回路
16へ信号S1、S2、S3、S4を出力するととも
に、バイアス磁界B1、B2、B3、B4に対応するR
AM22の検出データX1、X2、Y1、Y2の格納領
域を示す領域信号A1、A0をレジスタ18に出力し、
またA/D変換回路14に信号S1、S2、S3、S4
に基づいてA/D変換のタイミングを指示する変換タイ
ミング信号Saを出力する。これに対して、A/D変換
回路14は、A/D変換中であることを示す変換中信号
Sbを波形合成回路17に出力する。さらに、波形合成
回路17は、CPU19に対してデータ書換処理の開始
を指示する割込み信号INTを出力し、CPU19は、
この割込み信号INTに基づいてRAM22のデータの
書換処理を開始する。したがって、波形合成回路17
は、バイアス磁界用コイル駆動手段としてのコイル駆動
回路16、検出手段としてのA/D変換回路14及び演
算手段としてのCPU19に動作タイミングを指示する
制御手段として機能する。
【0017】前記レジスタ15は、A/D変換回路14
からの電位差VSの検出データX1、X2、Y1、Y2
を一時記憶し、CPU19の要求に応じてCPU19に
電位差VSの検出データX1、X2、Y1、Y2を出力
する。
【0018】前記レジスタ18は、波形合成回路17か
らの領域信号A1、A0を一時記憶し、CPU19の要
求に応じてCPU19に領域信号A1、A0のデータを
出力する。
【0019】表示部20は、例えば、液晶表示装置等を
有し、CPU19から出力される種々のデータ、例え
ば、方位データD等を表示出力する。
【0020】ROM21は、電子式方位計としてのプロ
グラム、例えば、方位演算処理プログラムや磁気センサ
1の検出した電位差VSの検出データX1、X2、Y
1、Y2の書換処理プログラム等を格納している。
【0021】RAM22は、図3に示すように領域区分
されており、領域X1、X2は、バイアスコイルC1に
よりバイアス磁界B1、B3を印加したときの電位差V
Sの検出データX1、X2を格納する領域、領域Y1、
Y2は、バイアスコイルC2によりバイアス磁界B2、
B4を印加したときの電位差VSの検出データY1、Y
2を格納する領域、領域Xは、バイアスコイルC1によ
りバイアス磁界B1、B3を印加したときの測定値の差
X(X1−X2)を格納する領域、領域Yは、バイアス
コイルC2によりバイアス磁界B2、B4を印加したと
きの測定値の差Y(Y1−Y2)を格納する領域、領域
Dは、CPU19が算出した方位データDを格納する領
域である。
【0022】CPU19は、ROM21内のプログラム
に従って電子式方位計10の各部を制御し、電位差VS
の検出を行なわせるとともに、検出した電位差VSの検
出データX1、X2、Y1、Y2から方位Dを算出す
る。また、CPU19は、この検出した電位差VSの検
出データX1、X2、Y1、Y2や算出した方位DをR
AM22に格納するとともに、表示部10に算出した方
位Dを表示出力させる。
【0023】次に、作用を説明する。電子式方位計10
は、その磁気センサ1に磁気抵抗素子MR1、MR2、
MR3、MR4が使用されており、その磁気抵抗素子M
R1、MR2、MR3、MR4がブリッジ状に結合され
ている。このブリッジ状に結合された磁気抵抗素子MR
1、MR2、MR3、MR4の相対向する結合部K1と
結合部K3との間に素子駆動回路11から駆動電圧Vを
印加し、磁気センサ1は、磁気抵抗素子MR1、MR
2、MR3、MR4の他の相対向する結合部K2と結合
部K4との電位を検出電位V1、V2として作動増幅回
路13に出力する。
【0024】一方、磁気センサ1には、バイアスコイル
C1、C2が相直交する方向に卷回されており、バイア
スコイルC1、C2には、コイル駆動回路16からそれ
ぞれバイアス電流I1、I2が供給される。このバイア
ス電流I1、I2は、各々電流の向きが反転し、バイア
ス電流I1、I2の向きが反転することにより、バイア
スコイルC1、C2は、それぞれ図1に示したように、
逆方向のバイアス磁界B1、B3及びバイアス磁界B
2、B4を磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR
4に印加する。
【0025】ところで、磁気センサ1に使用されている
磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4は、その
基本特性が、図4のように示され、磁界の強さが、正側
及び負側に大きくなるに従って抵抗値が対象的に減少す
る。したがって、図4に示すように、地磁気による磁界
HEが磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4に
作用したとき、抵抗値の変化だけでは、磁気抵抗素子M
R1、MR2、MR3、MR4の検出方向に対して地磁
気による磁界HEの方向が正側であるのか、負側である
のかを判別することができない。また、この地磁気によ
る磁界HEによる磁気抵抗素子MR1、MR2、MR
3、MR4の抵抗値の変化量が小さいため、正確な地磁
気HEの変化量を検出することができず、方位の算出が
不正確となる。
【0026】そこで、本実施例では、磁気センサ1にバ
イアス磁界を印加し、磁気抵抗素子MR1、MR2、M
R3、MR4に対する地磁気による磁界HEの方向の判
別を可能とするとともに、磁界HEによる磁気抵抗素子
MR1、MR2、MR3、MR4の抵抗値の変化量を大
きくして、検出精度を向上させている。
【0027】すなわち、相直交する方向に配置されたバ
イアスコイルC1、C2に、反転するバイアス電流I
1、I2を供給し、各磁気抵抗素子MR1、MR2、M
R3、MR4にバイアス磁界B1、B2、B3、B4を
印加している。このバイアス磁界B1、B2、B3、B
4を磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4に印
加すると、図5に示すように、磁気抵抗素子MR1、M
R2、MR3、MR4の特性曲線の変化の大きい位置に
検出位置を設定することができるとともに、該特性曲線
上での地磁気による磁界HEの検出方向に対して、負側
のバイアス磁界−HBが印加されたときと、正側のバイ
アス磁界HBが印加されたときとでは、磁気抵抗素子M
R1、MR2、MR3、MR4の抵抗値の変化方向を逆
転させることができ、地磁気による磁界HEの変化を精
度よく検出することができるとともに、地磁気の磁界H
Eの方向を容易に検出することができる。
【0028】また、磁気抵抗素子MR1、MR2、MR
3、MR4は、無限に大きな正側から無限に大きな負側
の磁界が印加された場合、図6に示すように、ヒステリ
シス(なお、図6では、ヒステリシスを分りやすく表示
するため、実際のヒステリシスよりも極端に表示してい
る。)を有しているため、地磁気による磁界HEを検出
しているときには、磁界HEの増加するときと、減少す
るときとでは、磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、
MR4の異なる特性曲線上を変化することとなり、同じ
磁界HEの値であっても異なった抵抗値を示す。その結
果、方位の検出を正確に行なうことができなくなる。
【0029】そこで、本発明では、上述のように、磁気
センサ1にバイアス磁界を印加し、ヒステリシスによる
検出誤差を是正している。すなわち、相直交する方向に
配置されたバイアスコイルC1、C2に、反転するバイ
アス電流I1、I2を供給し、各磁気抵抗素子MR1、
MR2、MR3、MR4にバイアス磁界B1、B2、B
3、B4を印加している。このバイアス磁界B1、B
2、B3、B4が印加されると、ヒステリシスを有した
磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4の特性
は、バイアス磁界の方向に対応した特性曲線上を変化す
ることとなり、バイアス磁界B1、B2、B3、B4の
方向に応じて磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、M
R4の同一方向の特性曲線に対応した検出結果を得るこ
とができる。その結果、ヒステリシスの影響を受けるこ
となく、地磁気による磁界HEの変化を正確に検出する
ことができる。
【0030】このようにして磁気センサ1で検出した結
合部K1の電位V1と結合部K2の電位V2は、上述の
ように、作動増幅回路13に出力され、作動増幅回路1
3はこの両電位V1、V1の電位差VSを増幅してA/
D変換回路14に出力する。A/D変換回路14は、作
動増幅回路13から入力される電位差VSをディジタル
変換して、検出データX1、X2、Y1、Y2としてレ
ジスタ15に出力するが、この電位差VSのディジタル
変換を、波形合成回路17から入力される変換タイミン
グ信号Saに基づいて行っている。
【0031】すなわち、波形合成回路17は、図7に示
すように、変換タイミング信号SaをA/D変換回路1
4に出力し、A/D変換回路14は、変換タイミング信
号Saが入力されると、電位差VSのディジタル変換を
開始するとともに、変換中であることを示す変換中信号
Sbを波形合成回路17に出力する。A/D変換回路1
4は、ディジタル変換した検出データX1、X2、Y
1、Y2をレジスタ15に出力し、レジスタ15は、入
力される検出データX1、X2、Y1、Y2を一時格納
する。波形合成回路17は、A/D変換回路14から変
換中信号Sbの入力が無くなると、図7に示すように、
CPU19にデータ書換処理の開始を指示する割込み信
号INTを出力し、CPU19は、割込み信号INTが
入力されると、レジスタ15から検出データX1、X
2、Y1、Y2を読み取り、データ書換処理や方位の演
算処理を開始する。
【0032】また、波形合成回路17は、図7に示すよ
うに、コイル駆動回路16にバイアス磁界B1、B2、
B3、B4を発生させるための信号S1、S2、S3、
S4を出力し、コイル駆動回路16は、信号S1、S
2、S3、S4に基づいてバイアスコイルC1、C2へ
のバイアス電流I1、I2の供給・停止及びバイアス電
流I1、I2の向きの切り換えを行なう。そして、上記
変換タイミング信号Saをこの各信号S1、S2、S
3、S4の出力期間の中間あたりの安定したときに出力
する。したがって、上述のように、磁気抵抗素子MR
1、MR2、MR3、MR4にバイアス磁界B1、B
2、B3、B4が印加される。
【0033】さらに、波形合成回路17は、バイアス磁
界B1、B2、B3、B4への信号S1、S2、S3、
S4の出力タイミング、すなわちバイアス磁界B1、B
2、B3、B4の印加タイミングに応じて、RAM22
への検出データX1、X2、Y1、Y2の格納領域を示
す領域信号A1、A0をレジスタ18に出力し、レジス
タ18は、この領域信号A1、A0を一時格納する。レ
ジスタ18に格納された領域信号A1、A0は、CPU
19により読み取られる。この領域信号A1、A0は、
図7に示すように、領域信号A1と領域信号A0との組
合わせにより4つの領域X1、X2、Y1、Y2を指定
している。
【0034】上述のように、CPU19は、波形合成回
路17から割込み信号INTが入力されて、割込みがか
かると、図8に示すデータ書換処理を行なう。すなわ
ち、CPU19は、割込み信号INTにより割込みがか
かると、レジスタ18から領域信号A1、A0を読み出
し、領域信号A0が「0」かどうかチェックする(ステ
ップS1)。領域信号A0が「0」のときには、領域信
号A1が「0」かどうかチェックし(ステップS2)、
領域信号A1も「0」のときには、レジスタ15から読
み出した検出データを領域X1に書き込む(ステップS
3)。領域X1に書き込んだ検出データと領域X2に書
き込まれている検出データとの差を演算し、領域Xに書
き込む(ステップS4)。
【0035】また、ステップS2で領域信号A1が
「0」でないときには、レジスタ15の検出データを領
域X2に書き込み(ステップS5)、この領域X2に書
き込んだ検出データを領域X1に書き込まれている検出
データから減算して、その減算結果を領域Xに書き込む
(ステップS4)。
【0036】さらに、ステップS1で、領域信号A0が
「0」でないときには、領域信号A1が「0」かどうか
チェックし(ステップS6)、領域信号A1が「0」の
ときには、レジスタ15の検出データを領域Y1に書き
込む(ステップS7)。領域Y1に書き込んだ検出デー
タと領域Y2に書き込まれている検出データとの差を演
算し、領域Yに書き込む(ステップS8)。
【0037】また、ステップS6で、領域信号A1が
「0」でないときには、レジスタ15の検出データを領
域Y2に書き込み(ステップS9)、この領域Y2に書
き込んだ検出データを領域Y1に書き込まれている検出
データから減算して、その減算結果を領域Yに書き込む
(ステップS8)。
【0038】CPU19は、1回割込み信号INTが入
力される毎にレジスタ15から1つの検出データを読み
込み、上記RAM22への書換処理を行なう。
【0039】上記ステップS4及びステップS8で、検
出データX1、X2及び検出データY1、Y2の差を演
算しているのは、以下の理由による。すなわち、図9に
示すように、バイアスコイルC1によりバイアス磁界B
1を印加したときには、磁気抵抗素子MR1、MR3の
抵抗値は、方位θに対して、実線r11に示すように変化
し、磁気抵抗素子MR2、MR4の抵抗値は、実線r12
に示すように変化する。また、バイアスコイルC1によ
りバイアス磁界B3を印加したときには、磁気抵抗素子
MR1、MR3の抵抗値は、破線r31で示すように変化
し、磁気抵抗素子MR2、MR4の抵抗値は、破線r32
で示すように変化する。さらに、バイアスコイルC2に
よりバイアス磁界B2を印加したときは、図10に示す
ように、磁気抵抗素子MR1、MR3の抵抗値は、実線
r21で示すように変化し、磁気抵抗素子MR2、MR4
の抵抗値は、実線r42で示すように変化する。また、バ
イアスコイルC2によりバイアス磁界B4を印加したと
きには、磁気抵抗素子MR1、MR3の抵抗値は、破線
r41で示すように変化し、磁気抵抗素子MR2、MR4
の抵抗値は、破線r32で示すように変化する。これら各
磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4の抵抗値
の変化によって結合部K2と結合部K4とに電位V1、
V2が発生して、電位差VSが生じる。したがって、バ
イアスコイルC1によるバイアス磁界B1、B3を印加
したときの電位差VSの検出データX1、X2は、図1
1に示すように変化し、バイアスコイルC2によるバイ
アス磁界B2、B4を印加したときの電位差VSの検出
データY1、Y2は、図12に示すように変化する。
【0040】さらに、CPU19は、図8のステップS
4及びステップS8においてバイアスコイルC1による
バイアス磁界B1、B3を印加したときの電位差VSの
検出データX1、X2の差X(X1−X2)及びバイア
スコイルC2によるバイアス磁界B2、B4を印加した
ときの電位差VSの検出データY1、Y2の差Y(Y1
−Y2)を演算しているが、これは、図11及び図12
に示すように、逆方向にバイアス磁界B1、B2、B
3、B4を印加したときの各電位差VSの検出データX
1、X2、Y1、Y2自体の値よりも、差X、Yの方が
地磁気の変化に対して出力を大きくすることができ、検
出感度を向上させることができるからである。さらに、
各磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4の抵抗
値に誤差があるときには、各バイアスコイルC1による
バイアス磁界B1、B3を印加したときの電位差VSの
検出データGX1、GX2は、図13に示すように、磁
気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4の抵抗値に
誤差がないときの検出データX1、X2に対して、ずれ
るが、抵抗値に誤差があるときの検出データGX1、G
X2の差GX(GX1−GX2)は、抵抗値に誤差がな
いときの検出データX1、X2の差X(X1−X2)と
同じ値となる。これは、バイアスコイルC2によるバイ
アス磁界B2、B4を印加したときの電位差VSの検出
データY1、Y2の差Y(Y1−Y2)についても同様
である。したがって、検出データX1、X2の差X及び
検出データY1、Y2の差Yを演算することにより、磁
気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4の抵抗値の
誤差が打ち消され、検出精度を向上させることができ
る。
【0041】上記書換処理が完了すると、CPUは割込
み処理から抜け、方位の算出処理や表示部20への表示
出力処理等を行なう。この方位の算出処理は、図14の
フローチャートに従って行なわれる。すなわち、CPU
19は、電位差VSの検出データX1、X2、Y1、Y
2をRAM22の各領域X1、X2、Y1、Y2に格納
し、検出データX1、X2及び検出データY1、Y2の
差を演算すると、割込み処理から抜け出し、図14に示
す方位の算出処理及び表示処理を行なう。
【0042】CPU19は、まず、RAM22から差X
及び差Yを読み出し、次式により方位Dを算出する(ス
テップP1)。 D=tan-1(Y/X)………(1) ところが、tan-1(Y/X)の値は、図15(横軸θ
は、実際に電子式方位計10が向けられている方位)に
示すように、その値だけでは、0度から360度のどの
値であるかが判別しない。そこで、本実施例では、表1
に示すように、X、Yの値の大きさに基づいて方位を判
別している。
【0043】すなわち、図14に示すように、まず、差
Xが負かどうかチェックし(ステップP2)、差Xが負
のときには、表1からも分るように、ステップP1で算
出した方位に180度を加算した値を方位として採用し
て、RAM22のD領域に格納する(ステップP3)。
このRAM22に格納した方位を表示部20を駆動し
て、表示部20に表示出力させる(ステップP4)。ま
た、ステップP2で差Xが負でないときには、差Yが負
かどうかチェックし(ステップP5)、差Yが負のとき
には、表1からも分るように、ステップP1で算出した
方位に360度を加算した値を方位として算出して、R
AM22のD領域に格納する(ステップP6)。この算
出した方位を表示部20に表示出力させる(ステップP
4)。さらに、ステップP5で、差Yの値が負でないと
きには、表1からも分るように、ステップP1で算出し
た方位をそのまま方位として採用し、RAM22の領域
Dに格納して、その方位Dを表示部20に表示出力させ
る(ステップP4)。
【表1】
【0044】このように、磁気センサ1が、少なくとも
4個の磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4
と、少なくとも2個のバイアスコイルC1、C2で形成
されるとともに、4個の磁気抵抗素子MR1、MR2、
MR3、MR4が、隣接する磁気抵抗素子MR1、MR
2、MR3、MR4の磁気検出方向が互いに直交する状
態でブリッジ状に結合されており、2個のバイアスコイ
ルC1、C2が、互いに直交する状態で前記磁気抵抗素
子に卷回されているので、バイアス磁界B1、B2、B
3、B4により磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、
MR4の特性曲線の変化量の大きい領域で検出すること
ができ、磁気センサ1を小型・安価で、かつ精度の高い
ものとすることができる。
【0045】また、電子式方位計を、この磁気センサ1
を利用し、この磁気センサ1の磁気抵抗素子MR1、M
R2、MR3、MR4の結合部K1、K2、K3、K4
のうち相対向する2つの結合部K1、K3間に定電圧V
を印加する。そして、磁気センサ1の各バイアスコイル
C1、C2に電流I1、I2を導通させてバイアス磁界
B1、B2、B3、B4を発生させ、前記定電圧Vの印
加されている結合部K1、K3間以外の相対向する結合
部K2、K4間の電位差VSを検出する。この検出した
電位差VSから方位を算出し、これらバイアスコイルC
1、C2への電流導通タイミングや検出タイミング及び
方位の算出タイミングを調整しているので、ブリッジ状
に接続された磁気抵抗素子に、制御手段により動作タイ
ミングをとって、バイアス磁界を印加し、このバイアス
磁界B1、B2、B3、B4の印加された磁気抵抗素子
MR1、MR2、MR3、MR4の結合部K2、K4間
の電位差VSを検出して、方位を算出することができ、
磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4の特性曲
線の変化量の大きい領域で検出することができる。その
結果、磁気センサ1を小型・安価で、かつ精度の高いも
のとすることができる。
【0046】さらに、1個のバイアスコイルC1、C2
に互いに逆向きの2種類のバイアス電流I1、I2を導
通させ、該1個のバイアスコイルC1、C2により互い
に逆向きの2種類のバイアス磁界B1、B2、B3、B
4を発生させているので、磁気抵抗素子MR1、MR
2、MR3、MR4のヒステリシスによる誤差を適切に
是正することができ、検出精度をより一層向上させるこ
とができる。
【0047】なお、上記実施例においては、磁気センサ
1を4つの磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR
4で構成しているが、これに限るものではなく、4つ以
上の磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR4を直
列あるいは並列にブリッジを形成するように接続して、
構成してもよい。また、本発明の磁気センサや電子式方
位計は、方位計専用装置に限るものではなく、電子腕時
計や高度計等に組み込むこともでき、また、自動車や航
空機のナビゲーション装置に適用することもできる。
【0048】
【0049】
【発明の効果】 請求項記載の発明によれば、電子式方
位計が、隣接する磁気抵抗素子の磁気検出方向が互いに
直交する状態でブリッジ状に結合された少なくとも4個
の磁気抵抗素子と、互いに直交する状態で前記磁気抵抗
素子に卷回された少なくとも2個のバイアス磁界用コイ
ルと、を有した磁気センサで構成され、この磁気センサ
の磁気抵抗素子の結合部のうち相対向する2つの結合部
間に磁気センサ駆動手段により定電圧を印加する。そし
て、磁気センサの各バイアス磁界用コイルそれぞれに対
して、バイアス磁界用コイル駆動手段により互いに逆向
きの電流を順次導通させてバイアス磁界を発生させ、前
記磁気センサ駆動手段により定電圧の印加されている結
合部間以外の相対向する結合部間の電位差を検出手段に
より検出する。このとき、前記バイアス磁界用コイル駆
動手段が電流を順次導通させることにより発生させた各
バイアス磁界それぞれの際に、前記検出手段が検出した
各電位差に基づいて演算手段により方位を算出し、前記
バイアス磁界用コイル駆動手段と前記検出手段と前記演
算手段とに対して制御手段により動作タイミングを指示
する。したがって、ブリッジ状に接続された磁気抵抗素
子に、制御手段により動作タイミングをとって、バイア
ス磁界を印加し、このバイアス磁界の印加された磁気抵
抗素子の結合部間の電位差を検出して、方位を算出する
ことができ、磁気抵抗素子のヒステリシスによる誤差を
適切に是正することができるとともに、磁気抵抗素子の
特性曲線の変化量の大きい領域で検出することができ
る。その結果、電子式方位計を小型・軽量で、かつ精度
の高いものとすることができる。
【0050】請求項記載の発明によれば、前記2個の
バイアス磁界用コイルは、前記磁気抵抗素子の磁気検出
方向に対して45度の方向の磁界を発生する状態で前記
磁気抵抗素子に卷回されている。したがって、磁気抵抗
素子に作用する磁界の強さに対応して、バイアス磁界の
印加された磁気抵抗素子の結合部間に電位差が発生する
ため、該電位差を検出することによって方位を算出する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る磁気センサの構成図。
【図2】図2の磁気センサの回路構成図。
【図3】本発明の一実施例に係る電子式方位計の回路ブ
ロック図。
【図4】バイアス磁界を印加しないときの磁気抵抗素子
の出力特性図。
【図5】バイアス磁界を印加したときの磁気抵抗素子の
出力特性図。
【図6】磁気抵抗素子のヒステリシスの様子を示す図。
【図7】図3の各部の出力信号のタイミング図。
【図8】図3のCPUによる検出データ書込処理を示す
フローチャート。
【図9】バイアスコイルC1によりバイアス磁界B1、
B3を印加したときの各磁気抵抗素子MR1、MR2、
MR3、MR4の抵抗値と方位との関係を示す図。
【図10】バイアスコイルC2によりバイアス磁界B
2、B4を印加したときの各磁気抵抗素子MR1、MR
2、MR3、MR4の抵抗値と方位との関係を示す図。
【図11】バイアスコイルC1によりバイアス磁界B
1、B3を印加したときの検出データX1、X2と方位
との関係を示す図。
【図12】バイアスコイルC2によりバイアス磁界B
2、B4を印加したときの検出データY1、Y2と方位
との関係を示す図。
【図13】磁気抵抗素子MR1、MR2、MR3、MR
4に抵抗値のずれがあるときの誤差を補正する処理の説
明図。
【図14】CPUによる方位算出処理を示すフローチャ
ート。
【図15】arctan-1Y/Xと方位との関係を示す
図。
【符号の説明】
1 磁気センサ MR1、MR2、MR3、MR4 磁気抵抗素子 P1、P2、P3、P4 パッド B1、B2、B3、B4 バイアス磁界 K1、K2、K3、K4 結合部 10 電子式方位計 11 素子駆動回路 12 磁気抵抗素子部 13 差動増幅回路 14 A/D変換回路 15、18 レジスタ 16 コイル駆動回路 17 波形合成回路 19 CPU 20 表示部 21 ROM 22 RAM

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 隣接する磁気抵抗素子の磁気検出方向が
    互いに直交する状態でブリッジ状に結合された少なくと
    も4個の磁気抵抗素子と、互いに直交する状態で前記磁
    気抵抗素子に卷回された少なくとも2個のバイアス磁界
    用コイルと、を有した磁気センサと、 前記磁気センサの磁気抵抗素子の結合部のうち相対向す
    る2つの結合部間に定電圧を印加する磁気センサ駆動手
    段と、 前記磁気センサの各バイアス磁界用コイルそれぞれに対
    して、互いに逆向きの電流を順次導通させバイアス磁界
    を発生させるバイアス磁界用コイル駆動手段と、 前記磁気センサ駆動手段により定電圧の印加されている
    結合部間以外の相対向する結合部間の電位差を検出する
    検出手段と、 前記バイアス磁界用コイル駆動手段が電流を順次導通さ
    せることにより発生させた各バイアス磁界それぞれの際
    に、前記検出手段が検出した各電位差に基づいて方位を
    算出する演算手段と、 前記バイアス磁界用コイル駆動手段と前記検出手段と前
    記演算手段とに対して動作タイミングを指示する制御信
    号と、 を備えたことを特徴とする電子式方位計。
  2. 【請求項2】 前記2個のバイアス磁界用コイルは、前
    記磁気抵抗素子の磁気検出方向に対して45度の方向の
    磁界を発生する状態で前記磁気抵抗素子に卷回されてい
    ることを特徴とする請求項1記載の電子式方位計。
JP8284692A 1992-03-03 1992-03-03 電子式方位計 Expired - Fee Related JP3316689B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8284692A JP3316689B2 (ja) 1992-03-03 1992-03-03 電子式方位計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8284692A JP3316689B2 (ja) 1992-03-03 1992-03-03 電子式方位計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05248868A JPH05248868A (ja) 1993-09-28
JP3316689B2 true JP3316689B2 (ja) 2002-08-19

Family

ID=13785752

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8284692A Expired - Fee Related JP3316689B2 (ja) 1992-03-03 1992-03-03 電子式方位計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3316689B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4006674B2 (ja) * 2001-05-22 2007-11-14 日立金属株式会社 方位計

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05248868A (ja) 1993-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4785743B2 (ja) ホールセンサーを使用することによって磁場を測定するための方法および装置
EP1394508B1 (en) Azimuth meter
CN101680740A (zh) 外部磁场角度确定
JPH09152473A (ja) 磁気探知装置
US20090012733A1 (en) Offset correction program and electronic compass
CN102620724B (zh) 地磁传感器装置以及数字罗盘
JP3316689B2 (ja) 電子式方位計
JP2548740Y2 (ja) 磁気センサ及び電子式方位計
JP3318762B2 (ja) 電子方位計
JP3316690B2 (ja) 電子式方位計
JPS5856408B2 (ja) 磁気センサ
JP2006126183A (ja) 磁気検出装置及びそれを用いた電子方位計
JPH06174471A (ja) 電子式方位計
JP3794122B2 (ja) 磁気探知装置
US6141881A (en) Electronic analogue compass
JP3316691B2 (ja) 電子式方位計
JP3318761B2 (ja) 電子方位計
JP3318763B2 (ja) 電子方位計
JP4075402B2 (ja) 電子式方位計
JPH05322576A (ja) 電子式方位計
JP3278905B2 (ja) 電子式方位計
JPH06307872A (ja) 地磁気方位センサー
JP2002006016A (ja) 磁気センサ
JPH05312573A (ja) 電子方位計
WO2007135787A1 (ja) 地磁気検出プログラム及び電子コンパス

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080614

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090614

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090614

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100614

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110614

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees