JP4563346B2 - プラズマを分離加速させる中性ビームエッチング装置 - Google Patents
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Description
(実施形態)
図2は本発明の一実施の形態に係る中性ビームエッチング装置の構成を示す模式図である。同図によると、本中性ビームエッチング装置は、第1チャンバー110、第2チャンバー120、第1チャネル130、第2チャネル140、コイル160、および加速部170を含む。
120 第2チャンバー
130 第1チャネル
140 第2チャネル
150 プラズマ生成領域
160 コイル
170 加速部
171 第1グリッド
172 第2グリッド
Claims (10)
- 一方に第1開口を有し、内部にプラズマ生成領域が形成される第1チャンバーと、
一方に第2開口を有し、他方に前記プラズマ生成領域に開口を有する前記第1チャンバーの内部に配置される第2チャンバーと、
前記第1開口および前記プラズマ生成領域を連結して前記第1チャンバーの内側のサイド面と前記第2チャンバーの外側のサイド面との間に形成される第1チャネルと、
前記第2チャンバー内に形成され、前記第2開口および前記プラズマ生成領域を連結する第2チャネルと、
前記第1チャンバーの外部表面上に配置し、磁場を形成して前記プラズマ生成領域でプラズマを生成するコイルと、
第1極性が帯電される第1グリッドと、前記第1極性と異なる第2極性が帯電される第2グリッドとを含む加速部とを含み、
前記第1グリッドは、前記第1チャネルに配置され、前記プラズマを形成する陽イオンおよび電子のいずれか1つを加速させて前記第1チャネルを介して放出し、前記第2グリッドは、前記第2チャネルに配置され、前記陽イオンおよび電子のうち他方を加速させて前記第2チャネルを介して放出することを特徴とする分離加速された陽イオンと電子とによりエッチングを行うエッチング装置。 - 前記第1チャンバーおよび前記第2チャンバーを連結するために形成される連結部をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のエッチング装置。
- 前記連結部が、前記第1および第2チャンバー間の空間に整列されることを特徴とする請求項2に記載のエッチング装置。
- 前記第1チャンバーが、前記第1開口面積より大きい面積を有し、前記第1開口の反対側に形成された閉鎖面、および前記第1開口と前記閉鎖面を連結するサイド面を有する角錐状で形成されたことを特徴とする請求項1に記載のエッチング装置。
- 前記第2チャンバーが、前記第2開口の反対側に形成され、前記第2開口の面積より大きい面積を有する上部面、および前記第2開口と前記上部面を連結するサイド面を有する角錐状で形成されたことを特徴とする請求項4に記載のエッチング装置。
- 前記第1チャネルが、前記第1チャンバーのサイド面と前記第2チャンバーのサイド面との間に形成されたことを特徴とする請求項5に記載のエッチング装置。
- 前記第1グリッドが、第1極性に帯電されると、前記プラズマ生成領域に存在する前記陽イオンおよび電子のうち前記第1極性の反対極性を有する物質を加速させることを特徴とする請求項6に記載のエッチング装置。
- 前記第2グリッドが、前記第1極性の反対極性に帯電され、前記プラズマ生成領域に存在する前記陽イオンおよび電子のうち前記第1極性を有する物質を加速させることを特徴とする請求項7に記載のエッチング装置。
- 前記コイルが、前記第1チャンバーの閉鎖面上に製造されたことを特徴とする請求項4に記載のエッチング装置。
- 前記第1チャンバーの外部表面に配置し、前記プラズマ生成領域内にガスを注入するガス注入部を更に含むことを特徴とする請求項1に記載のエッチング装置。
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KR20210012178A (ko) * | 2019-07-24 | 2021-02-03 | 삼성전자주식회사 | 기판 처리장치 및 이를 구비하는 기판 처리 시스템 |
Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4881094A (ja) * | 1972-01-31 | 1973-10-30 | ||
JPS5144566A (ja) * | 1974-08-02 | 1976-04-16 | Lfe Corp | |
JPS59151428A (ja) * | 1983-02-18 | 1984-08-29 | Agency Of Ind Science & Technol | 反応性イオンビ−ムエツチング装置 |
JPS63107118A (ja) * | 1986-10-24 | 1988-05-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | イオンビ−ム装置 |
JPH04351838A (ja) * | 1991-05-28 | 1992-12-07 | Hitachi Ltd | イオンビーム装置の中性化器 |
JPH08181125A (ja) * | 1994-10-27 | 1996-07-12 | Nec Corp | プラズマ処理方法及びその装置 |
JPH09139364A (ja) * | 1995-11-14 | 1997-05-27 | Nec Corp | 中性粒子ビーム処理装置 |
JPH1022265A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Nec Corp | プラズマ発生装置 |
JPH10508985A (ja) * | 1994-11-15 | 1998-09-02 | マットソン テクノロジー インコーポレーテッド | 誘導性プラズマリアクター |
JP2002177814A (ja) * | 2000-08-21 | 2002-06-25 | Archimedes Technology Group Inc | 多種質量フィルタ |
JP2002289583A (ja) * | 2001-03-26 | 2002-10-04 | Ebara Corp | ビーム処理装置 |
JP2004158272A (ja) * | 2002-11-06 | 2004-06-03 | Shimadzu Corp | 高周波誘導結合プラズマ源および高周波誘導結合プラズマ装置 |
JP2004200169A (ja) * | 2002-12-14 | 2004-07-15 | Samsung Electronics Co Ltd | 電磁気誘導加速器 |
US20040163766A1 (en) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Veeco Instruments Inc. | Charged particle source and operation thereof |
JP2004327405A (ja) * | 2003-03-04 | 2004-11-18 | Shimadzu Corp | イオン源およびイオンビーム装置 |
JP2005116865A (ja) * | 2003-10-09 | 2005-04-28 | Canon Inc | イオンミリング装置およびイオンミリング方法 |
JP2006148139A (ja) * | 2004-11-24 | 2006-06-08 | Samsung Electronics Co Ltd | 電磁誘導加速装置 |
Family Cites Families (4)
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---|---|---|---|---|
JP2002289585A (ja) | 2001-03-26 | 2002-10-04 | Ebara Corp | 中性粒子ビーム処理装置 |
KR100433006B1 (ko) * | 2001-10-08 | 2004-05-28 | 주식회사 플라즈마트 | 다기능 플라즈마 발생장치 |
KR100408137B1 (ko) | 2001-11-26 | 2003-12-06 | 학교법인 성균관대학 | 중성빔을 이용한 층대층 식각장치 및 식각방법 |
KR100500360B1 (ko) * | 2002-01-26 | 2005-07-12 | 고등기술연구원연구조합 | 고효율 상압 마이크로웨이브 플라즈마시스템 |
-
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Patent Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4881094A (ja) * | 1972-01-31 | 1973-10-30 | ||
JPS5144566A (ja) * | 1974-08-02 | 1976-04-16 | Lfe Corp | |
JPS59151428A (ja) * | 1983-02-18 | 1984-08-29 | Agency Of Ind Science & Technol | 反応性イオンビ−ムエツチング装置 |
JPS63107118A (ja) * | 1986-10-24 | 1988-05-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | イオンビ−ム装置 |
JPH04351838A (ja) * | 1991-05-28 | 1992-12-07 | Hitachi Ltd | イオンビーム装置の中性化器 |
JPH08181125A (ja) * | 1994-10-27 | 1996-07-12 | Nec Corp | プラズマ処理方法及びその装置 |
JPH10508985A (ja) * | 1994-11-15 | 1998-09-02 | マットソン テクノロジー インコーポレーテッド | 誘導性プラズマリアクター |
JPH09139364A (ja) * | 1995-11-14 | 1997-05-27 | Nec Corp | 中性粒子ビーム処理装置 |
JPH1022265A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Nec Corp | プラズマ発生装置 |
JP2002177814A (ja) * | 2000-08-21 | 2002-06-25 | Archimedes Technology Group Inc | 多種質量フィルタ |
JP2002289583A (ja) * | 2001-03-26 | 2002-10-04 | Ebara Corp | ビーム処理装置 |
JP2004158272A (ja) * | 2002-11-06 | 2004-06-03 | Shimadzu Corp | 高周波誘導結合プラズマ源および高周波誘導結合プラズマ装置 |
JP2004200169A (ja) * | 2002-12-14 | 2004-07-15 | Samsung Electronics Co Ltd | 電磁気誘導加速器 |
US20040163766A1 (en) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Veeco Instruments Inc. | Charged particle source and operation thereof |
JP2004327405A (ja) * | 2003-03-04 | 2004-11-18 | Shimadzu Corp | イオン源およびイオンビーム装置 |
JP2005116865A (ja) * | 2003-10-09 | 2005-04-28 | Canon Inc | イオンミリング装置およびイオンミリング方法 |
JP2006148139A (ja) * | 2004-11-24 | 2006-06-08 | Samsung Electronics Co Ltd | 電磁誘導加速装置 |
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