JP4558669B2 - ディスペンサへッド及びディスペンサヘッドの着地検出方法 - Google Patents

ディスペンサへッド及びディスペンサヘッドの着地検出方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4558669B2
JP4558669B2 JP2006074563A JP2006074563A JP4558669B2 JP 4558669 B2 JP4558669 B2 JP 4558669B2 JP 2006074563 A JP2006074563 A JP 2006074563A JP 2006074563 A JP2006074563 A JP 2006074563A JP 4558669 B2 JP4558669 B2 JP 4558669B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flange
detection
slider
dispenser
fixing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006074563A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007250980A (ja
Inventor
前田  徹
修 角谷
泰人 小林
豊 小高
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinkawa Ltd
Original Assignee
Shinkawa Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinkawa Ltd filed Critical Shinkawa Ltd
Priority to JP2006074563A priority Critical patent/JP4558669B2/ja
Priority to TW095149129A priority patent/TW200805585A/zh
Priority to KR1020070005946A priority patent/KR100808834B1/ko
Publication of JP2007250980A publication Critical patent/JP2007250980A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4558669B2 publication Critical patent/JP4558669B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/741Apparatus for manufacturing means for bonding, e.g. connectors
    • H01L24/743Apparatus for manufacturing layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83192Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83194Lateral distribution of the layer connectors

Description

本発明は、基板上の電子部品装着部に接着剤を塗布するディスペンサを駆動するディスペンサへッドに関する。
電子回路が実際に実装されているシリコン半導体ダイのような電子部品をリードフレームなどの基板上に実装するために、電子部品を基板に押付けて接着するダイボンダが用いられる。このダイボンダで電子部品を実装する場合には、電子部品が取り付けられる前に、基板上の電子部品が取り付けられる位置に半田や銀ペーストあるいは樹脂等の接着剤をディスペンサから吐出させて塗布することが行われている。このディスペンサを所定の位置に所定の形状に駆動するために用いられるのがディスペンサへッドであり、ダイボンダの中に組み込まれたり、ダイボンダに連続するように設置されたりすることが多い。
図8はダイボンダに取り付けられた従来技術によるディスペンサへッドを示す斜視図である(例えば、特許文献1参照)。図8において、ダイボンダ200にアングル型のディスペンサへッド100のフレーム110の一方のフランジが固定され、このフレーム110の他方のフランジにはリニアガイド113が固定されている。リニアガイド113にはこのリニアガイド113に沿って上下方向に移動するスライダ115が滑動自在に取り付けられている。リニアガイド113にはアングル型のディスペンサ取り付け部114の一方のフランジが固定されている。ディスペンサ取り付け部114の他方のフランジには、内部に接着剤6を貯留したシリンジ8とシリンジ8の先端に取り付けられた接着剤6を吐出するニードル9によって構成されるディスペンサ7が取り付けられている。また、フレーム110にはディスペンサ取り付け部114を駆動する駆動モータ111とボールねじ112が取り付けられ、このボールねじ112はディスペンサ取付け部114に固定されたボールナット116に螺入されディスペンサ取り付け部114を上下方向に駆動する。一方、ディスペンサ7から接着剤6が塗布される基板であるリードフレーム3はダイボンダ200に取り付けられたレール2上を図8の矢印の方向に搬送される。リードフレーム3には半導体ダイと接続されるリードが形成され、リードの中央に半導体ダイが接着されるランド部4を有している。
レール2によって搬送されたリードフレーム3のランド部4がディスペンサ7の中心に来ると、ディスペンサ7は駆動モータ111によってランド部4に下降近接する。そしてシリンジ8に所定圧力の高圧空気が所定時間印加されることによって、先端のニードル9から一定量の接着剤6が吐出される。接着剤6の吐出が終わると高圧空気は遮断され、ディスペンサ7は駆動モータ111によって上昇し、接着剤6の塗布が終了する。接着剤6の塗布が終了すると、リードフレーム3は再びレール2の上を図8の矢印の方向に移動し、次のランド部4への接着剤6の塗布が開始される。一方、接着剤6が塗布されたリードフレームはレール2上でダイボンダ200に搬送され、接着剤6の塗布された電子部品装着部であるランド部4に半導体ダイが実装される。ランド部4に半導体ダイが適切に実装されるためには、ランド部4に塗布された接着剤6の量がダイボンダによる実装の時に半導体ダイのリードフレーム3への接合面全体に薄く回っており、かつ半導体ダイの周辺から僅かにはみ出した状態となっていることが必要である。このためには接着剤6を吐出する時のニードル9とリードフレーム3との間隔を常に一定に保つことが必要となる(例えば、特許文献2参照)。
一方、上記の接着剤6の塗布によってシリンジ8に貯留されている接着剤6は次第に減少してくるので、一定以上貯留量が減少した場合にはシリンジ8を接着剤6が充填されたものに交換する。この時、シリンジ8のみを交換する場合とシリンジ8に取り付けられたニードル9と共に交換する場合がある。また、ニードル9も使用する接着剤6の種類や塗布範囲を変更する場合や詰まり等によって交換が必要になる場合もある。このような各部の交換によってニードル9とリードフレーム3の間のクリアランスが変動すると、その変動によって接着剤6の塗布品質、ひいては半導体ダイの実装品質に影響が生じてしまう。そこで、このような部品を交換した場合にはニードル9の先端とリードフレーム3とのクリアランスを再調整している。この再調整には手動で標準ニードルを取り付けてその先端をリードフレーム3の上に合わせて位置決めをして、その後標準ニードルと実装ニードルの長さの差を補正して行う方法などがある(例えば、特許文献3参照)。しかし、このような部品の交換、再調整作業は一日に3〜4回程度行われ、また、多数のダイボンダを並べて同時にボンディング作業が行われていることから、この手動によるクリアランスの再調整は全体の生産効率向上のネックとなっていた。
そこで、上記の問題を解決するために、図6、7に示すようなディスペンサの着地検出装置を備えたディスペンサへッド50が用いられている。図6は従来技術によるディスペンサへッド50の側面図であり図7は従来技術のディスペンサへッド50の着地検出時を示す図である。図6aに示すように、従来技術のディスペンサへッド50では、固定された主リニアガイド10に主スライダ12が上下方向に滑動自在に取り付けられている。この主スライダ12には溝型の副リニアガイド16が固定され、副リニアガイド16にはディスペンサ7が取り付けられた副スライダ18が滑動自在に取り付けられ、副リニアガイド16の上部のフランジと副スライダ18の間には副スライダ18を副リニアガイド16の下部フランジに押付けているバネ20が取り付けられている。また、副リニアガイド16の上部にはフォトインタラプタ22が取り付けられ、副スライダ18の上部にはフォトインタラプタ22の検出部に入り込むバー24が取り付けられている。一方、主スライダ12の一端には主スライダ12を上下方向に駆動させる駆動アーム14が取り付けられている。通常動作では、副スライダ18はバネ20によって副リニアガイド16の下部フランジに押付けられた状態に保持され、副リニアガイド16と副スライダ18とは一体となって主スライダ12によって上下方向に駆動されている。この時、図6bに示すようにバー24はフォトインタラプタ22の検出部の外に位置しておりフォトインタラプタ22からの信号は出力されない。このディスペンサへッド50によってディスペンサ7に貯留されている接着剤6をリードフレーム3のランド部4に塗布する方法は先に述べたのと同様である。
シリンジ8やニードル9を交換した後、この着地検出装置を備えたディスペンサへッド50は図7に示す様な動作をする。部品交換の終了後、駆動アーム14を下げることによって主スライダ12を下降させる。そしてニードル9の先端がリードフレーム3のランド部4に着地した後も駆動アームは更に主スライダ12を押し続ける。するとディスペンサ7はニードル9によって上方に押し上げられてバネ20が縮み、副スライダ18が副リニアガイド16に対して上方に移動する。この時バー24は図7bに示すようにフォトインタラプタ22の検出部に入り込んでくる。そしてバー24がフォトインタラプタ22から検出信号が出力される位置まで0.5mm程度上昇するとフォトインタラプタ22から信号が発信され、この信号によってディスペンサ7の着地が検出され、駆動アーム14が停止する。この時、副リニアガイド16の下部フランジと副スライダ18の下面との間には、ディスペンサ7の着地からフォトインタラプタ22の検出信号発信までにディスペンサを押し込んだ押し込み距離d(0.5mm程度)の隙間ができる。つまり、実際にディスペンサ7が着地してから押し込み距離dだけ副スライダ18が上昇した位置でディスペンサ7の着地検出が行われる。一方、通常状態では、副スライダ18はバネ20によって副リニアガイド16の下部フランジに押付けられた状態に保持され、副リニアガイド16と副スライダ18とは一体となって主スライダ12によって上下方向に駆動されている。このため、着地検出信号が発信された位置からこの押し込み距離dを補正してディスペンサ7の着地位置としてニードル9とリードフレーム3のクリアランスデータの再調整が行われる。
特開2002-110709号公報 特開平6-106111号公報 特開平6-106112号公報
着地検出装置を備えた従来型のディスペンサへッド50は、自動的にディスペンサの着地検出、クリアランスデータの再調整を行うことによって作業効率は向上したが、上記の着地検出装置は押し込み距離dはばらつきが大きく、このdの補正を行う時に誤差が発生するため、精密なクリアランスの再調整ができないという問題があった。
一方、面積の広い半導体ダイは、従来のようにランド部4の中央の1点に接着剤6を吐出したのでは、ダイボンダ200によって半導体ダイを実装するときに、半導体ダイの接合面全体に薄く均一に接着剤6が回らない。そこでこのような面積の広い半導体ダイを実装する場合には、図5aに示すようにX字状に接着剤6を塗布したり、更に細い接着剤幅でより細かいパターンに接着剤6を塗布したりすることが必要になってきた。このためには、ニードル9の先端とリードフレーム3との間のクリアランスを0.1mm程度と非常に小さく保ちつつ、図5bに示すように接着剤6を吐出しながら塗布形状を一筆書きのように移動していくことが必要で、ディスペンサの移動距離が長くなることからディスペンサへッド50を高速で上下左右に移動させることが必要となる。ところが、従来型の着地検出装置を備えたディスペンサへッド50は着地検出の誤差があることから上記のような微小クリアランスを保持することが困難であると共に、ディスペンサ7が主スライダ12に対して押し込み距離dだけ縮むことができるような比較的やわらかいバネ20を介して取り付けられているため、主スライダ12を高速で移動させるとディスペンサ7が振動してしまうという問題があった。また、従来の着地検出装置を備えたディスペンサへッド50では、主リニアガイド10、主スライダ12と副リニアガイド16、副スライダ18が二重に備えられているためこの間の微小なクリアランスのために高速移動において振動が発生するという問題もあった。
そこで、本発明の目的は、ディスペンサへッドの着地検出の精度を向上させると共に、周辺機構の剛性を上げることにより、ニードルとリードフレームとの間のクリアランスの精度を高め、接着剤の塗布品質の向上を図ること及びディスペンサへッドの高速化をはかることにある。
本発明のディスペンサへッドは、シリンジ内に貯留した接着剤をシリンジ先端のニードルより吐出させて基板上の電子部品装着部に接着剤を塗布するディスペンサと、前記ディスペンサが固定され、垂直方向ガイドに滑動自在に取り付けられて前記基板に対して垂直方向に移動するスライダと、前記スライダを垂直方向に駆動する駆動アームと、を備えるディスペンサへッドにおいて、前記スライダから水平方向に伸びる固定フランジと、アングル型で、スライダの垂直面にボルトで取り付けられる固定部と、前記固定部から前記固定フランジと対向して水平方向に伸びる検出フランジと、を含み、前記固定フランジと前記検出フランジとの間に前記駆動アームを垂直方向に挟持するブラケットと、前記ブラケットの固定フランジと前記駆動アームとの間にあって前記駆動アームを前記ブラケットの検出フランジに付勢するバネと前記検出フランジの固定部取り付けられ、前記ブラケットの検出フランジに加わる力を電気的に検出するピエゾ素子と、を含み、前記検出フランジの固定部は、角部近傍を前記スライダの垂直面に固定する第1のボルトと、前記第1のボルトから垂直方向に所定の距離を開けて配置され、前記検出ブラケットの固定部との間に前記ピエゾ素子を挟み込んで前記検出ブラケットの固定部を前記ピエゾ素子と共に前記スライダの垂直面に固定する第2のボルトと、によって前記スライダに取り付けられ、前記角部の前記固定フランジと反対側の外表面から前記第1のボルトの長手方向の中心線まで垂直方向に伸び、前記検出フランジに加わる力を前記ピエゾ素子に加わる力に変換する割合を大きくする切り欠きを有すること、を特徴とする
発明のディスペンサへッドの着地検出方法は、シリンジ内に貯留した接着剤をシリンジ先端のニードルより吐出させて基板上の電子部品装着部に接着剤を塗布するディスペンサと、前記ディスペンサが固定され、垂直方向ガイドに滑動自在に取り付けられて前記基板に対して垂直方向に移動するスライダと、前記スライダから水平方向に伸びる固定フランジと、アングル型で、スライダの垂直面にボルトで取り付けられる固定部と、前記固定部から前記固定フランジと対向して水平方向に伸びる検出フランジと、を含み、前記固定フランジと前記検出フランジとの間に前記スライダを垂直方向に駆動する駆動アームと、を含み、駆動アームを垂直方向に挟持するブラケットと、前記ブラケットの固定フランジと前記駆動アームとの間にあって前記駆動アームを前記ブラケットの検出フランジに付勢するバネと前記検出フランジの固定部取り付けられ、前記ブラケットの検出フランジに加わる力を電気的に検出するピエゾ素子と、を含み、前記検出フランジの固定部は、角部近傍を前記スライダの垂直面に固定する第1のボルトと、前記第1のボルトから垂直方向に所定の距離を開けて配置され、前記検出ブラケットの固定部との間に前記ピエゾ素子を挟み込んで前記検出ブラケットの固定部を前記ピエゾ素子と共に前記スライダの垂直面に固定する第2のボルトと、によって前記スライダに取り付けられ、前記角部の前記固定フランジと反対側の外表面から前記第1のボルトの長手方向の中心線まで垂直方向に伸び、前記検出フランジに加わる力を前記ピエゾ素子に加わる力に変換する割合を大きくする切り欠きを有するディスペンサへッドの着地検出方法であって、前記ピエゾ素子からの電気信号をアコースティクエミッション処理することによって着地検出をすることを特徴とする。
本発明は、ディスペンサへッドの着地検出の精度を向上させて、ニードルとリードフレームとの間のクリアランスの精度を高め、接着剤の塗布品質の向上を図ることができるという効果を奏する。また本発明は、ディスペンサへッドの剛性を上げることによって高速化をはかることができるという効果を奏する。
以下、本発明の実施形態を図面参照しながら説明する。
図1は本発明の第1の実施形態のディスペンサへッド1の側面図である。このディスペンサへッド1は、ダイボンダ200などに固定されたリニアガイド11に、シリンジ8の先端にニードル9が取り付けられたディスペンサ7が固定されたスライダ13を上下方向に滑動自在に取り付けられたものである。スライダ13は、スライダ13を上下方向に駆動する駆動アーム14を上下から挟持する溝型のブラケット28を備えている。この溝型のブラケット28はスライダ13に固定された下部の固定フランジ30とブラケット上部の検出フランジ32を有している。検出フランジ32はアングル形状をしており、2本の固定ボルト36,38によってスライダ13に取り付けられている。一方の固定ボルト38はボルト頭部と検出フランジ32の取り付け部34との間にピエゾ素子40を挟みこんで固定している。また、検出フランジ32はアングル形状の外側の角部にスライダ13の移動方向に沿って切り欠き部33が設けられている。切り欠き部33は検出フランジ32の外面から固定ボルト36の中心線付近のD点まで及んでいる。一方、固定フランジ30の上面にはバネ42を介して駆動アーム挟持部材35が取り付けられている。駆動アーム挟持部材35の上面と検出フランジ32の下面との間には駆動アーム14が挟持され、駆動アーム14はバネ42によって検出フランジ32に押し付けられている。
ブラケット28の詳細を図2aに示す。通常状態では、図2aに示すように、駆動アーム14は、2本のバネ42からのそれぞれの付勢力F/2によって駆動アーム挟持部材35を介して検出フランジ32に力F(F=F/2×2)で押し付けられている。この力Fは切り欠き部33の端部のD点の回りに力のモーメントを発生させる。このとき、検出フランジ32に設けた切り欠き部33は、駆動アーム14を経由して検出フランジ32に加わる力をピエゾ素子40にスムーズに伝達する働きをする。
以下、図2b、図2cを参照しながら切り欠き部33の深さと上記の力の伝達について説明する。図2b、図2cは、検出フランジ32の切り欠き部33の周りにおける力とモーメントの関係を表した模式図である。この図では、固定ボルト36は図示せず、その中心cを1点鎖線で示した。図2bは、D点が、固定ボルト36の中心線cと同一線上にある場合を示し、図2cは、D点が固定ボルト36の中心線cから外側に距離eだけ離れている場合を示す。このように模式化すると、固定ボルト36が検出フランジ32をスライダ13に締め付けている締め付け力Nは、固定ボルト36の中心線c上の集中力として表される。また、図2b、図2cにおいて、Fは駆動アーム14から検出フランジ32に加わる力を示し、Lは力Fのかかる位置とD点との中心線cに沿った距離を示している。
図2bに示す構成においては、駆動アーム14からの力Fは、D点の回りにモーメントM=L×Fを発生させるが、D点は固定ボルト36の締め付け力Nの力の方向と同一線上にあるので、固定ボルト36の締め付け力NはD点の回りにモーメントを発生させない。このことから、固定ボルト36の締め付け力Nに関係なく駆動アーム14からの力Fによって発生するモーメントMに基づいてピエゾ素子40に電気信号が発生する。図2cの構成においては、D点が固定ボルト36の中心線cから外側に距離eだけ離れていることから、前記のMの他に、固定ボルト36の締め付け力NによってD点の回りに前記Mと反対方向のモーメントM=e×Nが発生する。このため、駆動アーム14によって力Fが検出フランジ32に加わっても、ピエゾ素子40にはモーメントM=M−Mに基づいた電気信号しか発生しない。このため、D点が固定ボルト中心軸cから外側にずれていると検出感度が鈍くなる。一方、固定ボルト36によって検出フランジ32をスライダ13に十分に締結するには、D点のある切り欠き部33の端部は固定ボルト36の中心線cと同一又は固定ボルト36の中心線cよりも外側になっていることが必要である。すると、切り欠き部33は固定ボルト36の中心線c上に端部があり、固定ボルト36の中心線cとD点が同一線上にあるときに締結力、感度の双方の要求を最も良く満たすことができる場合が多い。このことから、本実施形態では、切り欠き部33は、固定ボルト36の中心線cとD点が同一線上に来るような形状としている。このように切り欠き部33が適切な形状でかつ固定ボルトとの位置関係が適切であればピエゾ素子40までのスムーズな力の伝達が可能となる。なお、固定ボルト36の締結力、必要感度に応じて切り欠き部33の形状を変更することも好適である。
以上述べたような力の伝達によって、ピエゾ素子40にて力Fの変動を検出して一定の電気信号を出力する。そして、駆動アーム14が上下に動くとそれにつれてスライダ13も上下方向に駆動され、スライダ13に固定されているディスペンサ7も上下方向に駆動されて、ダイボンダ200のレール2の上を搬送されるリードフレーム3のランド部4に接着剤6を塗布する。接着剤6の塗布が中央の1点のみでなく複雑なパターンになる時にはリニアガイド11が図示しない別の駆動機構によって接着剤6の塗布パターンに合わせて前後左右方向に駆動される。
図2dを参照しながら、シリンジ8又はニードル9を交換した後の着地検出について説明する。部品交換の後、駆動アーム14を下降させて、ディスペンサ7の固定されているスライダ13を下降させる。ディスペンサ7の先端のニードル9がリードフレーム3に着地するとディスペンサ7にはニードル9からの着地反力Fが上向きにかかる。この着地反力Fはディスペンサ7を固定しているスライダ13の固定フランジ30に上向きの力として伝達される。一方、駆動アーム14は図示しない駆動機構によって下方向に駆動されていることから、駆動アーム14と駆動アーム挟持部材35との間にかかる圧縮力は、FからF+Fに増え、逆に検出フランジ32と駆動アーム14との間の圧縮力は、FからF−Fに減少する。これによって切り欠き部33の端部のD点の回りの力のモーメントも減少し、ピエゾ素子40に加わる圧縮力も当初のNからN−Nに減少する。この圧縮力の減少によってピエゾ素子の応力状態が変化してピエゾ素子40から電気信号が出力される。
この電気信号がある所定の値を超えた場合に着地を検出する。本実施形態では、上記のように適切な切り欠き部33の形状として駆動アーム14の力をスムーズにピエゾ素子40に伝達できることから、小さな着地反力Fでも良好に着地検出をすることができる。着地が検出されると、直ちに駆動アーム14は停止し、その位置をゼロ点(着地位置)として制御データを書き換えるなどの再調整を行う。そして、再調整が終了したら、再度接着剤6の塗布工程を開始する。
上記の検出系統では、着地反力Fをピエゾ素子40の応力状態の変化として捉えていることから、瞬間的に着地検出をすることができる。このため、従来技術のようにばらつきが多く誤差発生の原因になる押し込み距離dの補正が不必要になる分だけ正確に着地位置を検出することができる。これによって、ニードル9とリードフレーム3との間のクリアランスの精度を高め、接着剤の塗布品質の向上を図ることができる。そして、微小なクリアランスが要求される面積の広い半導体ダイ接合用の複雑な接着剤塗布パターンに対応することが可能となる。更に、瞬間的に着地検出、駆動アーム14の停止ができることから、バネ42を固くしても着地の衝撃でシリンジ8やニードル9の損傷を防止することができる。このことから固いバネ42を使って全体駆動系の剛性を高めることができ、高速化による振動発生を抑えることができるという効果を奏する。
また、本発明のディスペンサへッド1ではスライダ13に直接ディスペンサ7が固定されていることからスライダ13の動作によってディスペンサ7が振動することもなくなるのでディスペンサへッド1の高速化が図れるという効果を奏する。更に、接着剤6の塗布パターンが複雑になりリニアガイド11が図示しない別の駆動機構によって接着剤6の塗布パターンに合わせて前後左右方向に駆動され、これに従ってディスペンサへッド1も前後左右に駆動される場合にもスライダ13にディスペンサ7が固定されていることからディスペンサ7の振動が減少するという効果を奏する。特に従来の着地検出装置を備えたディスペンサへッド50の様に、主リニアガイド10、主スライダ12と副リニアガイド16、副スライダ18とが二重に備えられている構造となっていないため、高速駆動においてもリニアガイドとスライダとのクリアランスによる振動の発生が低減され、ディスペンサへッド1の高速化を図ることが出来るという効果を奏する。
本実施形態では、ピエゾ素子40からの電気信号が所定の値を超えた場合に着地検出することとしたが、ピエゾ素子からの電気信号に雑音が多く入ってくる場合などには信号をアコースティクエミッション処理方法によって処理し、雑音を除去して正確な着地検出をすることが好適である。これには、着地したときの着地衝撃を衝撃波の振動と捉え、一定時間内のピエゾ素子40からの電気信号のうち、ある閾値を超えた回数と最大振幅から包絡線検波してできる波形の一塊を1個の信号として定義するヒット処理法などのアコースティクエミッション処理方法を適用することができる。このようなアコースティクエミッション処理方法を用いることによって、ピエゾ素子40からの電気信号に雑音が多い場合であっても正確に着地検出を行うことができ、更にニードル9とリードフレーム3との間のクリアランスの精度を向上させることができる。
本発明の第2の実施形態について図3,4a,4bを参照しながら説明する。第2の実施形態は第1の実施形態と異なり、スライダ13のブラケット28の固定フランジ30と検出フランジ32を上下逆にしたもので、その他の構造は第1の実施形態と同様である。第2の実施形態では、通常状態においては図4aに示すように駆動アーム14は上から2つのバネ42によって力Fで検出フランジ32に押し付けられており、検出フランジ32には力Fが下向きにかかる。これによってピエゾ素子40には圧縮力Nが掛かっている。図4bに示すように、ディスペンサ7が着地して着地反力Fが上向きにかかると、このFによってブラケットの下側にある検出フランジ32に係る力は第1の実施形態とは逆にFからF+Fに増加する。これによって切り欠き部33の端部のD点回りの力のモーメントが増加し、ピエゾ素子40に掛かる圧縮力もNからN+Nに変化してピエゾ素子40から電気信号が出力される。この電気信号の変化が所定の値を超えた時に着地を検出する。これによって、第1の実施形態と同様に、着地検出精度の向上とディスペンサへッドの高速化を図ることが出来るという効果を奏する。また、着地検出において、アコースティクエミッション処理方法を用い、雑音の多い状況においても確実に検出することができるようにして検出精度を上げることができるのは第1の実施形態と同様である。
本発明の第1の実施形態のディスペンサへッドの側面図である。 本発明の第1の実施形態のディスペンサへッドのブラケット部分の部分断面図である。 本発明の第1の実施形態のディスペンサへッドの検出フランジの切り欠き部の周りにおける力とモーメントの関係を表した模式図である。 本発明の第1の実施形態のディスペンサへッドの検出フランジの切り欠き部の周りにおける力とモーメントの関係を表した模式図である。 本発明の第1の実施形態のディスペンサへッドのブラケット部分の着地検出動作を示す説明図である。 本発明の第2の実施形態のディスペンサへッドの側面図である。 本発明の第2の実施形態のディスペンサへッドのブラケット部分の部分断面図である。 本発明の第2の実施形態のディスペンサへッドのブラケット部分の着地検出動作を示す説明図である。 接着剤の塗布パターンの平面図である。 接着剤の塗布手順を示す説明図である。 従来技術による着地検出装置を備えたディスペンサへッドの側面図である。 従来技術による着地検出装置を備えたディスペンサへッドの着地検出部の拡大図である。 従来技術による着地検出装置を備えたディスペンサへッドの着地検出動作を示す側面図である。 従来技術による着地検出装置を備えたディスペンサへッドの着地検出部での着地検出を示す拡大図である。 従来技術によるディスペンサへッドを用いた接着剤塗布の工程を示す説明図である。
符号の説明
1 ディスペンサへッド、2 レール、3 リードフレーム(基板)、4 ランド部(電子部品装着部)、6 接着剤、7 ディスペンサ、8 シリンジ、9 ニードル、10 主リニアガイド、11 リニアガイド、12 主スライダ、13 スライダ、14 駆動アーム、16 副リニアガイド、18 副スライダ、20 バネ、22 フォトインタラプタ、24 バー、28 ブラケット、30 固定フランジ、32 検出フランジ、33 切り欠き部、34 取り付け部、35 駆動アーム挟持部材、36,38 固定ボルト、40 ピエゾ素子、42 バネ、50,100 ディスペンサへッド、110 フレーム、111 駆動モータ、112 ボールねじ、113 リニアガイド、114 ディスペンサ取り付け部、115 スライダ、116 ボールナット、200 ダイボンダ、c 固定ボルト中心線、D 回転中心点、d 押し込み距離、e 距離、F,F/2 付勢力、F 着地反力、M,M,M モーメント、N,N 圧縮力、N 固定ボルト締結力。

Claims (2)

  1. シリンジ内に貯留した接着剤をシリンジ先端のニードルより吐出させて基板上の電子部品装着部に接着剤を塗布するディスペンサと、
    前記ディスペンサが固定され、垂直方向ガイドに滑動自在に取り付けられて前記基板に対して垂直方向に移動するスライダと、
    前記スライダを垂直方向に駆動する駆動アームと、を備えるディスペンサへッドにおいて、
    前記スライダから水平方向に伸びる固定フランジと、アングル型で、スライダの垂直面にボルトで取り付けられる固定部と、前記固定部から前記固定フランジと対向して水平方向に伸びる検出フランジと、を含み、前記固定フランジと前記検出フランジとの間に前記駆動アームを垂直方向に挟持するブラケットと、
    前記ブラケットの固定フランジと前記駆動アームとの間にあって前記駆動アームを前記ブラケットの検出フランジに付勢するバネと
    前記検出フランジの固定部取り付けられ、前記ブラケットの検出フランジに加わる力を電気的に検出するピエゾ素子と、を含み、
    前記検出フランジの固定部は、角部近傍を前記スライダの垂直面に固定する第1のボルトと、前記第1のボルトから垂直方向に所定の距離を開けて配置され、前記検出ブラケットの固定部との間に前記ピエゾ素子を挟み込んで前記検出ブラケットの固定部を前記ピエゾ素子と共に前記スライダの垂直面に固定する第2のボルトと、によって前記スライダに取り付けられ、前記角部の前記固定フランジと反対側の外表面から前記第1のボルトの長手方向の中心線まで垂直方向に伸び、前記検出フランジに加わる力を前記ピエゾ素子に加わる力に変換する割合を大きくする切り欠きを有すること、
    特徴とするディスペンサへッド。
  2. シリンジ内に貯留した接着剤をシリンジ先端のニードルより吐出させて基板上の電子部品装着部に接着剤を塗布するディスペンサと、
    前記ディスペンサが固定され、垂直方向ガイドに滑動自在に取り付けられて前記基板に対して垂直方向に移動するスライダと、
    前記スライダから水平方向に伸びる固定フランジと、アングル型で、スライダの垂直面にボルトで取り付けられる固定部と、前記固定部から前記固定フランジと対向して水平方向に伸びる検出フランジと、を含み、前記固定フランジと前記検出フランジとの間に前記スライダを垂直方向に駆動する駆動アームと、を含み、
    駆動アームを垂直方向に挟持するブラケットと、
    前記ブラケットの固定フランジと前記駆動アームとの間にあって前記駆動アームを前記ブラケットの検出フランジに付勢するバネと
    前記検出フランジの固定部取り付けられ、前記ブラケットの検出フランジに加わる力を電気的に検出するピエゾ素子と、を含み、
    前記検出フランジの固定部は、角部近傍を前記スライダの垂直面に固定する第1のボルトと、前記第1のボルトから垂直方向に所定の距離を開けて配置され、前記検出ブラケットの固定部との間に前記ピエゾ素子を挟み込んで前記検出ブラケットの固定部を前記ピエゾ素子と共に前記スライダの垂直面に固定する第2のボルトと、によって前記スライダに取り付けられ、前記角部の前記固定フランジと反対側の外表面から前記第1のボルトの長手方向の中心線まで垂直方向に伸び、前記検出フランジに加わる力を前記ピエゾ素子に加わる力に変換する割合を大きくする切り欠きを有するディスペンサへッドの着地検出方法であって、
    前記ピエゾ素子からの電気信号をアコースティクエミッション処理することによって着地検出をすることを特徴とするディスペンサへッドの着地検出方法。
JP2006074563A 2006-03-17 2006-03-17 ディスペンサへッド及びディスペンサヘッドの着地検出方法 Expired - Fee Related JP4558669B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006074563A JP4558669B2 (ja) 2006-03-17 2006-03-17 ディスペンサへッド及びディスペンサヘッドの着地検出方法
TW095149129A TW200805585A (en) 2006-03-17 2006-12-27 Dispenser head
KR1020070005946A KR100808834B1 (ko) 2006-03-17 2007-01-19 디스펜서 헤드

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006074563A JP4558669B2 (ja) 2006-03-17 2006-03-17 ディスペンサへッド及びディスペンサヘッドの着地検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007250980A JP2007250980A (ja) 2007-09-27
JP4558669B2 true JP4558669B2 (ja) 2010-10-06

Family

ID=38594931

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006074563A Expired - Fee Related JP4558669B2 (ja) 2006-03-17 2006-03-17 ディスペンサへッド及びディスペンサヘッドの着地検出方法

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP4558669B2 (ja)
KR (1) KR100808834B1 (ja)
TW (1) TW200805585A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101082999B1 (ko) 2010-01-05 2011-11-11 주식회사 두오텍 수지도포장치
KR101388123B1 (ko) * 2011-12-06 2014-04-24 신한다이아몬드공업 주식회사 디스펜서 구조

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01122127A (ja) * 1987-11-05 1989-05-15 Toshiba Seiki Kk ペレットボンディング用ペースト塗布装置
JPH01166531A (ja) * 1987-12-23 1989-06-30 Shinkawa Ltd デイスペンサー装置
JPH01261835A (ja) * 1988-04-13 1989-10-18 Shinkawa Ltd ディスペンサー装置
JP2005236103A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Shinkawa Ltd ワイヤボンディング装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3801674B2 (ja) * 1995-12-15 2006-07-26 松下電器産業株式会社 電子部品の実装方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01122127A (ja) * 1987-11-05 1989-05-15 Toshiba Seiki Kk ペレットボンディング用ペースト塗布装置
JPH01166531A (ja) * 1987-12-23 1989-06-30 Shinkawa Ltd デイスペンサー装置
JPH01261835A (ja) * 1988-04-13 1989-10-18 Shinkawa Ltd ディスペンサー装置
JP2005236103A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Shinkawa Ltd ワイヤボンディング装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007250980A (ja) 2007-09-27
KR20070094455A (ko) 2007-09-20
TWI323500B (ja) 2010-04-11
TW200805585A (en) 2008-01-16
KR100808834B1 (ko) 2008-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7514788B2 (en) Structure of mounting electronic component
JP3817207B2 (ja) 実装処理装置及び該実装処理装置の制御装置
US7741720B2 (en) Electronic device with wire bonds adhered between integrated circuits dies and printed circuit boards
US7875504B2 (en) Method of adhering wire bond loops to reduce loop height
CN108140584B (zh) 超声波振动接合装置
JP4558669B2 (ja) ディスペンサへッド及びディスペンサヘッドの着地検出方法
US6706130B1 (en) Method and device for frictional connection and holding tool used for the frictional connection device
US7946465B2 (en) Wirebonder forming low profile wire bonds between integrated circuits dies and printed circuit boards
JP5275917B2 (ja) 加圧式超音波振動接合方法および加圧式超音波振動接合装置
US7669751B2 (en) Method of forming low profile wire bonds between integrated circuits dies and printed circuit boards
WO2015122449A1 (ja) 部品実装装置、及び検知装置
JP2016092192A (ja) 電子装置の製造方法
JP3374856B2 (ja) 電子部品のボンディング装置
JP2005332836A (ja) 電子部品実装機
JP3491634B2 (ja) 電子部品のボンディングツール
JP4764189B2 (ja) 超音波接合装置及び半導体装置の製造方法
JPH11265913A (ja) バンプ付電子部品のボンディング方法
JP3912356B2 (ja) 電子部品のボンディング装置
JP3912172B2 (ja) 電子部品のボンディング装置
JP3912357B2 (ja) 電子部品のボンディング装置
JP2003152035A (ja) 電子部品のボンディングツール
CN112951732A (zh) 引线接合装置以及引线接合方法
JP2002334908A (ja) 超音波ボンディング装置
JP2004146544A (ja) バンプを備えた部品の超音波ボンディング方法
JPH05206690A (ja) 電子部品装着装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080414

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100407

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100413

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100602

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100706

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100721

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130730

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees