JP4556758B2 - メダル検知装置、投入メダル選別装置及び遊技機 - Google Patents

Description

この発明は、例えばスロットマシンなどの遊技機に使用されるようなメダルを検知するメダル検知装置に関し、さらに詳しくはメダル通路内での不正防止対策を高めたメダル検知装置、投入メダル選別装置及び遊技機に関する。

従来、スロットマシンの投入口の内方にはメダルの真偽選別と投入枚数を計数するためのメダル選別装置(メダルセレクタ)が内蔵されている。このメダル選別装置に対しては、一般に「糸つり」と呼ばれる、糸をつけたメダルをメダル検知センサ上で往復運動させることによりメダル計数値(メダルカウント)を増加させるという不正行為が知られている。その不正対策として、通常、図１６に示すように、第１センサ１６１と第２センサ１６２の光軸をメダル通路１６３に沿って２個並べ、メダル１６４が各光軸を遮光することによってメダル１６４の進行方向を検知すると共に、図１７のタイムチャートに示すように、両センサ１６１，１６２の出力時間、位相差（検知時間Ｔ１７１〜Ｔ１７４及び、その加減算により求められる時間）を検知して、メダルの真偽判定・通過メダルの枚数を計数する方法が用いられている。

しかし、一般に「セル」と呼ばれる図１８に示すような特殊な先端形状を有する樹脂製の細長いセル板１６５を投入口から挿入し、そのセル板１６５をメダルが上流側から下流側へと通過されたかの如く動かしてメダル通路１６３に並列配置された両センサ１６１，１６２の光軸を遮光させ、続いて光軸から外れた遮光しない位置に移動させてからセル板１６５を引き戻す回転運動を行わせることにより、図１７のタイムチャートに表されるセンサ出力を模倣し、メダルの投入を行わずにメダルカウントを増加させる不正行為が問題になっている。

又、近年セルの先端部に赤外線ＬＥＤを設置し、そのＬＥＤの点灯・消灯を周期的に繰り返すことにより、センサを誤検知させるという不正機能を持たせた不正装置も登場している。この不正装置は、不正の実施に熟練を必要とせず、短時間にメダルカウントが増加するため大きな問題となっている。

このような不正装置を用いた不正を防止するために、第１メダルセンサ，第２メダルセンサに加え、第３のメダルセンサを追加する技術が開示されている(例えば特許文献１参照)。この場合は、第１〜第３のメダルセンサの各出力を検知するまでの時間を監視することで不正の防止を狙っている。

しかしながら、遊技機に搭載される制御部にあっては、そのメモリ容量が増大することの抑制や低コスト化を図る等の理由により追加された第３メダルセンサの制御を行うためには、遊技機の制御プログラムに大幅な変更が必要になる問題を有していた。

特開２００１−１７５９２６号

そこでこの発明は、メダル通過時の検知性能を高めて不正対策を万全にし、さらに遊技機の制御プログラムに与える影響を小さくすることができるメダル検知装置、投入メダル選別装置及び遊技機を提供することを目的とする。

この発明は、メダルを自重により１枚ずつ転動させて通過させるメダル通路を設け、このメダル通路を通過するメダルの通過枚数を計数する検知センサを備えたメダル検知装置であって、前記検知センサは、第１センサと第２センサからなる光学式検知センサと、該光学式検知センサの前記第１センサと第２センサのうち、少なくとも一方のセンサ検知領域を包含する検知領域でメダルが通過したことを検知する領域検知センサとを備えたことを特徴とする。

この発明によると、特定位置でのメダルの通過を検知する１つ以上の光学式検知センサによってメダルが通過したことを検知すると同時に、領域検知センサによってメダルを広い領域で検知する。従って、メダルの検知時には複数の異種検知センサが同一のメダルを略同時に検知するため、複数の検知センサによりメダルの通過状態を正確に検知し、真偽判定及びメダルの通過枚数を正確に計数することができる。

さらに、領域検知センサが検知する広い検知領域において、前段又は後段の光学式検知センサの検知時間差や全ての検知センサが検知しているか否かを監視すれば、メダルの通過方向を明瞭に確認できるほか、メダルの通過か、部分的に検知領域を通過する不正装置の挿入かを区別することができる。

このように、メダル通路の特定位置でのメダルの通過を検知する光学式検知センサの検知情報に加えて、メダル直径方向の全検知領域を検知する領域検知センサの検知情報を加味することによってメダルの通過と、セルや糸つりなどの不正装置の挿入あるいは検知センサに直接アクセスする赤外線ＬＥＤのような不正装置とを的確に区別できる。さらに、様々な不正行為が試みられてもメダルカウント数を誤検知しないため信頼性の高い安定した不正防止機能を維持することができる。

この発明の別の構成では、メダルを自重により１枚ずつ転動させて通過させるメダル通路を設け、このメダル通路を通過するメダルの通過枚数を計数する検知センサを備えたメダル検知装置であって、前記検知センサは、前記メダル通路を通過するメダルの通過枚数を計数する第１センサと第２センサからなる光学式検知センサと、該光学式検知センサの前記第１センサと第２センサのうち、少なくとも一方のセンサ検知領域を包含する検知領域でメダルが通過したことを検知する領域検知センサと、前記光学式検知センサと領域検知センサとの両出力をＡＮＤ処理することに基づいてメダル通過時の検知情報の適否を判定する検知情報判定部とを備えたことを特徴とする。

この発明によると、検知情報判定部のＡＮＤ処理（論理積演算）を監視することによって、個々の光学式検知センサの検知信号だけでなく、領域検知センサを含めた複数の検知センサの検知信号が全て検知しているかを確認するとともに、これらの検知信号を時間的に関連付けて判定する構成のため、メダル検知情報が正確に得られる。従って、検知センサを部分的に検知させるような不正行為は完全に防止される。

このように、異種検知センサとＡＮＤ処理との組合せにより正確にメダル検知情報の適否を判定できるため、制御部にあってはＡＮＤ処理を付加するだけでよく、既存の制御部のプログラムは大きな変更を要せず、制御プログラムに与える影響を最小にしながらも不正を防止することができる。

この発明の領域検知センサとして、例えば近接センサを用いることができる。この近接センサを１つ配設すれば、その周辺の複数の検知センサが検知する全ての検知領域を含めて同時に検知することができる。このほか、領域検知センサと組合せて利用される１つ以上の検知センサとしては、例えば第１センサと第２センサからなる光学式検知センサを用いることができる。

この発明の別の構成では、立姿で対向する基板と開閉板との対向面間に、メダルを自重により縦方向から横方向へと転動させて通過させるＬ形状のメダル通路と、前記メダル通路の途中には、該メダル通路と対向する部位の開閉板側に開口してメダル類を排除させる排除口と、前記排除口と対向する前記メダル通路の位置には、前記基板の外壁面側より延出させて、ここに導かれたメダルを取込み側と排除側とに振分ける可動ガイド板と、前記可動ガイド板を可動変位させる駆動手段と、前記メダル通路を通過するメダルを検知する検知手段とを設けた投入メダル選別装置であって、前記検知手段は、メダル通路を通過するメダルの通過枚数を計数する第１センサと第２センサからなる光学式検知センサと、前記第１センサと第２センサのうち、少なくとも一方のセンサ検知領域を包含する検知領域でメダルが通過したことを検知する領域検知センサとから構成され、前記光学式検知センサと領域検知センサの両出力をＡＮＤ処理することに基づいてメダル通過時の検知情報の適否を判定する検知情報判定部を備えたことを特徴とする。

この発明によると、投入メダル選別装置に投入されたメダルは、メダル通路内で複数の検知センサによって略同時に検知され、このときに検知された複数の検知信号に応じたＡＮＤ処理を実行することによりメダルが通過されたことを正確に判定できる。これに対し、セル等を用いた不正行為に対しては同じくＡＮＤ処理を実行することによって全ての検知センサが検知せず、通過媒体はメダルではないと判定するため、不正行為による誤計数を完全に防止することができる。

このように、同一のメダルを同期検知するかの如く、複数の検知センサの検知情報をＡＮＤ処理するだけで正確にメダルか否かを判定できる。この場合も制御部にあっては、ＡＮＤ処理を加えるだけでよいため、制御プログラムに与える影響を最小にしながらも、不正対策を構築するメダル選別装置を実現できる。

このように構成された投入メダル選別装置を内蔵した遊技機を使用すれば、検知領域の異なる複数の検知センサの組合せ及びそのＡＮＤ処理の信号を監視するという制御機能とによって不正防止機能を有することからセキュリティ性及び信頼性の高い遊技機として運用することができる。又、検知情報判定部は遊技機の制御部に付加することができ、既存の設備を有効に活用してコスト高を抑制した遊技機を構築できる。

さらに、前記検知情報判定部を遊技機に内蔵される制御部以外の部位に備えて構成することもできる。例えば、遊技機の投入メダル選別装置、あるいは投入メダル選別装置と制御部との間に配設される中継位置の信号処理基板に配設することができる。このように、検知情報判定部を制御部以外の位置に配設した場合は、制御部で検知データをＡＮＤ処理する際に、他の部位で検知データのＡＮＤ処理が完結しているので、制御部では新たな制御プログラムの変更を要せず、制御部での負荷を小さくして構築できる。

この発明によれば、メダルカウント数を不正に増大させるメダル通路への不正行為を無効にする不正防止技術の高い検知構造を有しているため、メダル通路に対する不正行為を防止することができる。

この発明の一実施例を以下図面に基づいて説明する。
図面は遊技機の一例として遊技ホールに設置されるスロットマシンを示し、図１において、このスロットマシン１１は接客面としての前面上部にパネル１２とリール部１３を有し、前面中央の幅方向に３個の並列するストップボタン１４を有し、その左側にスタートレバー１５と掛け数設定ボタン１６を有し、右側に清算ボタン１７とメダルＭを１枚ずつ投入するための投入口１８を有し、これらの前面下部に下皿１９を有している。

そして、遊技者がスロットマシン１１を遊技利用するときに、前記投入口１８にメダルＭが１枚ずつ投入される。投入されたメダルＭは内部で選別され、有効と選別された正規のメダルＭは内部に取込まれ、無効と選別された不適合の大きさのメダル類はメダル返却通路(図２参照)２７を介して下皿１９へと返却させる選別機能を有している。又、遊技者が遊技を中止するために清算ボタン１７を押下操作した場合もメダルＭは下皿１９へと返却される。

図２はスロットマシン１１の前面扉１１ａを片開き式に開口した扉の内部構造を示し、この開口されたスロットマシン本体１１ｂ側には、上部に制御部２０を設置し、中央部に外周面の絵柄の位置を回転・停止させて遊技利用を行う３列のリール部１３を設置し、下部の中央にメダルの取込み、及び払い出し用のメダル払出装置２１を設置し、その左側に電源装置２２を設置し、右側にオーバフロータンク２３を設置している。

一方、前面扉１１ａ側には、内面上部より下部にかけてリールカバー２４と、信号処理基板２５と、メダルの適否を選別するメダル選別装置(メダルセレクタ)２６と、メダル返却通路２７と、返却口２７ａとをこの順に有している。

前記信号処理基板２５はメダルセレクタ２６からの信号を制御部２０へと伝送する中継基板の役目を有して配設される。
上述のメダルセレクタ２６は、図３及び図４に示すように、平面視コの字状の基板２８と、開閉板２９とを備え、開閉板２９側の支軸３０を基板２８側の軸受部３１に軸支すると共に、バネ３２により開閉板２９を常時基板２８側に付勢し、これら基板２８と開閉板２９との両者によりメダル通路３３を形成している。

このメダル通路３３は前述の投入口１８に接続対応する入口３４と下方の出口３５とを有するＬ字状に形成され、入口３４から下方に延びる縦辺部Ｌ１と、斜め下方に延びて出口３５に至る横辺部Ｌ２と、これら両辺部Ｌ１，Ｌ２を湾曲状に連通接続する湾曲部Ｌ３とを備えている。

又、図５に示すように基板２８裏側の支軸３６を支点として揺動可能な可動ガイド板３７を設け、この可動ガイド板３７のガイド部３８を基板２８の開口部３９から図３、図４に示すようにメダル通路３３の上部に隣設し、このガイド部３８でメダルＭの上端側を搬送方向にガイドするように構成している。

さらに、上述の可動ガイド板３７には図５に示すように基板２８の裏側に位置する排出部材としてのブロッカー４０を下方に垂設しており、このブロッカー４０の下端ブロック部４０ａをメダル通路３３下流側の開口部３３ａから該メダル通路３３に出没可能に臨ませて設けている。

又、上述の基板２８の裏側にはソレノイド４１で駆動される可動板４２を設け、この可動板４２の遊端４２ａを可動ガイド板３７の上端３７ａに対向させ、ソレノイド４１のＯＮ時に可動板４２の遊端４２ａで可動ガイド板３７の上端３７ａを押圧して、そのガイド部３８でメダルＭの上端側を搬送ガイドすると共に、ブロッカー４０の下端ブロック部４０ａをメダル通路３３の開口部３３ａから裏面側に後退させ、有効と選別された正規のメダルはメダル払出装置２１へ搬送し、無効と選別された不適合の大きさのメダル類は開閉板２９の排出口２９ａから排出して、外部の返却口２７に返却するように構成している。

ソレノイド４１のＯＦＦ時にはガイド部３８によりメダルＭの上端側の搬送ガイドを解除すると共に、ブロッカー４０の下端ブロック部４０ａをメダル通路３３の開口部３３ａからメダル通路３３側へ突出させて、受入れを中止させている。

前記メダル通路３３の横辺部Ｌ２は、該横辺部Ｌ２の上下に対設される可動ガイド板３７と通路の下面を形成する案内プレート３３ｂとの上下に平行する平行間隔により直径の小さなメダルを通路外に排除する外形選別を実施し、正規の大きさのメダルのみを通過させて計数するように構成している。

従って、出口３５からは遊技機専用に設けられた一定の大きさの円板形状を有する適正な大きさのメダルＭのみが受入れられる。この出口３５の直前部においてメダル通路３３を形成する基板２８の通路壁には、メダル通路３３の横辺部Ｌ２を通過するメダルＭを検知して計数する第１センサＳ１と第２センサＳ２とを、この通路方向に順に取付けている。

前記両センサＳ１，Ｓ２は投受光してメダルＭの通過を検知する光学式検知センサで構成することができ、メダルＭがメダル通路３３を通って下流側に移動し、このメダルＭが両センサＳ１，Ｓ２の光軸をこの順に遮ることで、メダルＭの通過を検知する。具体的には、メダルの進行方向を検知すると共に、センサ出力時間、位相差、出力順位などを検知し、メダルの真偽判定と通過したメダル枚数を計数するため、適正なメダルの直径長さより短くなる間隔に配置された２つのセンサＳ１，Ｓ２を有している。これら２つのセンサＳ１，Ｓ２はユニット化されたメダル計数センサ部４３によって設けられている。

ところで、両センサＳ１，Ｓ２の検知領域には、検知種類の異なる特有のセンサを加えて検知機能を高めることにより不正防止対策を兼ねたメダル検知装置４４を構築している。このメダル検知装置４４は、メダル通路３３の特定の検知位置として定められた一点を光電検知する前記両センサＳ１，Ｓ２に加えて、広い検知領域でメダル通路３３を通過してきたメダルＭを検知する第３センサＳ３を有し、該第３センサＳ３を、図５に示すように、基板２８の背面側に配設している。

前記第３センサＳ３の一例としては近接センサＳ３を用い、この近接センサＳ３が、図６に示すように、両センサＳ１，Ｓ２の検知領域Ａ１，Ａ２を包含しながらメダル通路３３のメダル直径方向の全検知領域Ａ３を検知するものである。

次に、センサが出力した検知情報の制御処理について説明する。
メダルセレクタ２６では、図７に示すように、該メダルセレクタ２６内に構成された第１センサＳ１、第２センサＳ２及び第３センサＳ３の検知情報を制御部２０へと出力する。

制御部２０には、メダルセレクタ２６の第１センサＳ１と第３センサＳ３の出力及び、第２センサＳ２と第３センサＳ３の出力をＡＮＤ（論理積）処理するＡＮＤ演算回路（アンドゲート）を有しており、この制御部２０で各々のセンサの出力をＡＮＤ処理することに基づいて、メダルなどが通過した時に検知した検知情報が有効か無効かを判定する。又、制御部２０は出力信号α（センサＳ１∩Ｓ３）及び出力信号β（センサＳ２∩Ｓ３）を用いて、メダルＭの真偽判定及び通過枚数の計数を行う。

次に、センサが検知した検知情報が正常時のセンサ出力について説明する。
メダル検知装置４４の位置に導かれたメダルＭはメダル通路３３の小径メダル排除用に設けられた横辺部Ｌ２の上下に対設される可動ガイド板３７と案内プレート３３ｂとの上下の対向間隔によりガイドされながら通過し、ここで直径の小さなメダルを排除する選別が実施される。この外径識別された正規のメダルＭは、第１〜第３センサＳ1〜Ｓ３により、該メダルＭの流下状態が検知される。ここで、図８(Ａ)は第１〜第３センサＳ1〜Ｓ３の検知結果をタイムチャートで表し、図８(Ｂ)は各センサの検知位置に応じて論理積演算して求めたＡＮＤ処理結果を表している。

前記メダル通路３３を流下するメダルＭが検知領域に至ったとき、メダルＭを検知したローレベル（Ｌｏ）＝０状態と非検知のハイレベル（Ｈｉ）＝１状態とに変化する過程において、メダルＭは各センサに検知されていない状態(検知位置ａ)から第３センサＳ３に最初に検知される（検知位置ｂ）。この第３センサＳ３の検知に加えて、次に、第１センサＳ１がメダルを検知する（検知位置ｃ）。続いて、第１〜第３センサＳ1〜Ｓ３がメダルＭを検知し（検知位置ｄ）、ついで第２センサＳ２と第３センサＳ３が検知し（検知位置ｅ）、最後に第３センサＳ３のみが検知（検知位置ｆ）し、この第３センサＳ３の検知が終了することで１枚のメダルの検知動作が終了する。

前記第１〜第３センサＳ1〜Ｓ３の出力信号は、制御部２０の図示しないアンドゲートにおいて、図８(Ｂ)に示すように、ＡＮＤ処理されて、検知情報による判定結果が求められる。この場合、第１センサＳ１と第３センサＳ３、第２センサＳ２と第３センサＳ３の出力信号をそれぞれＡＮＤ処理し、出力信号α（センサＳ1∩Ｓ３）及び、β（センサＳ２∩Ｓ３）とする。

ここでＡＮＤ処理によれば、全ての入力「１」ならば出力「１」となり、そうでなければ「０」となる論理積演算からメダルを検知するため、正常なメダルの通過であれば、ＡＮＤ処理された出力信号α、βは、第１センサＳ１と第２センサＳ２と同一の出力信号となる。従って、この場合は図８(Ｂ)に示す出力信号α、βから正常なメダルが１枚通過したと判定することができる。

制御部２０では出力信号α、βを用いることで、図１６および図１７で述べた検知手法と同様にメダルの判定と、計数が可能になる。例えば、出力信号α、βの出力順序を確認することにより、メダルＭの流下方向が正常か否かを判断できる。

さらに、出力信号αのみが検知している時間Ｔ１７１、出力信号α及びβが同時に検知している時間Ｔ１７２、出力信号βのみが検知している時間Ｔ１７３などが、予め決定されている規定の時間であるか否かを判定する。この規定の時間はメダルの流下速度などから決定され、例えば、Ｔ１７１＞５（ｍｓ），Ｔ１７２＜１００（ｍｓ），Ｔ１７３＞５（ｍｓ）のように決定される。

次に、センサが検知した検知情報が異常時のセンサ出力について説明する。
第３センサＳ３はメダルＭに近い大きさの金属体のような物体が通過した場合にのみ検知するため、第３センサＳ３を誤動作させるには、メダルＭに近い大きさの不正装置が必要になる。又、メダル通路３３はメダルＭの大きさよりも少しだけ大きい寸法で構成されているため、メダルの直径と略同じ寸法を持つ不正装置を操作して第３センサＳ３を誤動作させることが考えられるが、この場合は動きがとれなくなるなど極めて困難となる。

又、不正装置により第１センサＳ１や第２センサＳ２だけを誤動作させても、図９(Ａ)のタイムチャート及び図９(Ｂ)の検知情報及びＡＮＤ処理結果に示すように、第３センサＳ３の出力が無いため、第１センサＳ１と第３のセンサＳ３、第２センサＳ２と第３のセンサＳ３をそれぞれＡＮＤ処理されても出力信号はなく、メダルは計数されない。従って、不正行為等の異常発生と判定することができる。

さらに、第３のセンサＳ３が異常で出力が無い場合も、同じく異常発生と判定することができ、このような制御機能を有することで不正を確実に検知することができる。この際は、制御部２０より異常発生を報知するように構成することができる。

又、広い検知領域を検知する第３センサＳ３を何らかの手法(不正行為)により誤動作させた場合は、不正装置がメダル通路３３内を通路方向に往復動することになるため第３センサＳ３の検知時間が規定の時間τを超えて連続して検知（ＯＮ）することになる（図９(Ａ)参照）。この場合も異常発生（エラー）と制御部２０で判定することができる。

さらに、第１センサＳ１と第２センサＳ２の出力が無いのに、第３センサＳ３の出力だけがある場合も制御部２０が異常と判定する。この場合を、図１０のタイムチャート及び図１０(Ｂ)の検知情報及びＡＮＤ処理結果に示す。このような制御機能を有することで不正を検知することができ、その異常発生結果をスロットマシン１１より報知することが可能になる。前記、規定の時間τは、メダルの流下速度などから決定され、例えば、τ＜３００（ｍｓ）のように決定される。

このように構成されたメダル検知装置４４を内蔵するメダルセレクタ２６は内部の検知位置に設置された第１センサＳ１、第２センサＳ２及び第３センサＳ３の検知状態をそれぞれ制御部２０へ出力し、制御部２０では、これらの検知情報に基づいて、メダルの判定及び通過枚数の計数等を行う。

ここで、第３センサＳ３は第１センサＳ１と第２センサＳ２の検知領域を包含する広い検知領域でメダルの通過を検知するため、図１８に示したセル板１６５等の不正装置により第３センサＳ３を誤動作させることは極めて困難となる。さらに、制御部２０は出力信号α（センサＳ１∩Ｓ３）及び、β（センサＳ２∩Ｓ３）を用いることで、メダルＭの判定、メダル通過枚数の計数は従来のままとすることができ、その制御プログラムに大きな変更を必要としない。従って、制御部２０の制御プログラムに与える影響を最小にしながらも、不正を防止することができるメダルセレクタ２６及びスロットマシン１１を実現できる。

前記したＡＮＤ処理は、制御部２０で行うのみでなく、図１１に示すように、信号処理基板２５で行うこともできる。この信号処理基板２５はメダルセレクタ２６と制御部２０との間に中継基板として設置することも、図１２に示すように、メダルセレクタ２６に設置することも可能である。このように、ＡＮＤ処理を信号処理基板２５で行った場合は、制御部２０のプログラムの変更は不要になる。

図１１に示す信号処理基板２５にＡＮＤ処理させるように構成した場合は、該信号処理基板２５において、メダルセレクタ２６の第１センサＳ１と第３センサＳ３の出力及び、第２センサＳ２と第３センサＳ３の出力をＡＮＤ処理する。このＡＮＤ処理された出力信号α（センサＳ１∩Ｓ３）及び、β（センサＳ２∩Ｓ３）を制御部２０に出力し、制御部２０では出力信号α（センサＳ１∩Ｓ３）及び、β（センサＳ２∩Ｓ３）を用いて、メダルＭの真偽判定及び通過枚数の計数を行う。

さらに、図１２に示すように、メダルセレクタ２６内に構成された信号処理基板２５にＡＮＤ処理させるように構成した場合は、該メダルセレクタ２６内に構成された第１センサＳ１、第２センサＳ２及び第３センサＳ３の検知情報を信号処理基板２５へ出力する。信号処理基板２５では第１センサＳ１と第３センサＳ３の出力及び、第２センサＳ２と第３センサＳ３の出力をＡＮＤ処理する。

このＡＮＤ処理された出力信号α（センサＳ１∩Ｓ３）及び、β（センサＳ２∩Ｓ３）の結果が制御部２０へ出力されて、メダルＭの真偽判定及び通過枚数の計数を行う。

ここで、第１〜第３センサＳ1〜Ｓ３の構成は、光センサと近接センサの組合せに限定するものではなく、メカアクチュエータ、ラインセンサ等によっても実施可能である。

前記第３センサＳ３は、第１センサＳ１と第２センサＳ２との両方の検知領域を包含する検知領域を検知するように配置しているが、このほか第１センサＳ１又は第２センサＳ２のどちらか一方のセンサが、メダルを検知する領域でメダルＭを検知するように第３センサＳ３を配置することも可能である。

以下にその構成の一例を図１３を参照して説明する。
前記実施例と同様の構成については、同様の符号を用いて説明を省略する。このうち、異なる部分は第３センサＳ３の検知領域Ａ３のみであり、この第３センサＳ３の検知領域は第２センサＳ２がメダルＭを検知する特定の検知領域（第２センサＳ２がメダルＭを検知し始めてから検知終了するまで）Ａ２を包含する検知領域にて配置され、第１センサＳ１の検知領域Ａ１は含まない。このため、第３センサＳ３がメダルＭを検知したときに、該第３センサＳ３は第２センサＳ２の検知領域と重なり、第１センサＳ１の検知領域とは重ならない。

このような検知条件で第２センサＳ２と第３センサＳ３とによりＡＮＤ処理する場合を次に説明する。図１４(Ａ)は第１〜第３センサＳ1〜Ｓ３の検知結果をタイムチャートで表し、図１４(Ｂ)は各センサの検知位置に応じてＡＮＤ（論理積）演算して求めたＡＮＤ処理結果を表している。

この結果、図１４(Ａ)のタイムチャートに示すように、メダルＭは各センサに検知されていない状態(検知位置ａ，ｂ)から上流側の第１センサＳ１のみが検知し（検知位置ｃ）、続いて第１センサＳ１、第２センサＳ２及び第３センサＳ３の全てがメダルＭを検知し（検知位置ｄ）、ついで第２センサＳ２と第３センサＳ３が検知し（検知位置ｅ）、最後に第３センサＳ３が検知する（検知位置ｆ）。

ここで、第３センサＳ３は第２センサＳ２がメダルＭを検知する領域を包含する領域でメダルＭを検知するように構成しているため、第３センサＳ３でのメダルＭの検知は以下のようになる。

第３センサＳ３は、図１４(Ａ)のタイムチャートに示すように、第２センサＳ２がメダルＭを検知開始（立下り）するよりも早く検知し始める（検知位置ｃ）。そして、第３センサＳ３は、第２センサＳ２がメダルＭを検知終了（立上り）した後に検知を終了する（検知位置f）。

制御部２０では図示しないアンドゲートにおいて、図１４(Ｂ)に示すように、検知情報に応じてＡＮＤ処理される。先ず、第２センサＳ２と第３センサＳ３の出力をＡＮＤ（論理積）処理し、出力信号β（センサＳ２∩Ｓ３）とする。

第３センサＳ３は、第２センサＳ２がメダルＭを検知する検知領域を包含する領域（検知位置ｃ〜検知位置ｆ）でメダルを検知するため、正常なメダルの流下であれば、ＡＮＤ処理された出力信号βは第２センサＳ２と同一の出力信号となる。このような構成においても、同様に異常検知時のセンサ出力に基づく不正を防止することが可能になる。

さらに、不正装置により第１センサＳ１や第２センサＳ２を誤動作させても、図１５(Ａ)のタイムチャート及び図１５(Ｂ)の検知情報及びＡＮＤ処理結果に示すように、第３センサＳ３の出力が無いため、ＡＮＤ処理された信号βに出力はなく、メダルは計数されない。従って、不正行為等の異常発生と判定することができる。

この発明の構成と、上述の実施例の構成との対応において、
この発明の検知情報判定部は、実施例の制御部２０と信号処理基板２５とに対応し、
以下同様に、
遊技機は、スロットマシン１１に対応するも、この発明は上述の実施例の構成のみに限定されるものではない。

スロットマシンを示す外観斜視図。 スロットマシンの前面扉を開けた内面状態を示す斜視図。 メダルセレクタを示す正面図。 メダルセレクタの基板の内面を示す正面図。 メダルセレクタの基板の外面を示す背面図。 メダル検知装置の検知領域を示す説明図。 スロットマシンの概略検知構成図。 適正なメダルのＡＮＤ処理結果を表すタイムチャートとその判定結果を表す図表。 異常発生時のＡＮＤ処理結果を表すタイムチャートとその判定結果を表す図表。 他の異常発生時のＡＮＤ処理結果を表すタイムチャートとその判定結果を表す図表。 スロットマシンの他の概略検知構成図。 スロットマシンの他の概略検知構成図。 メダル検知装置の他の検知領域を示す説明図。 他の適正なメダルのＡＮＤ処理結果を表すタイムチャートとその判定結果を表す図表。 他の異常発生時のＡＮＤ処理結果を表すタイムチャートとその判定結果を表す図表。 従来の並列したセンサ構造による検知動作を示す説明図。 従来のセンサ構造によるタイムチャート。 従来のセンサ構造に対する不正装置の使用状態を示す説明図。

１１…スロットマシン
２０…制御部
２５…信号処理基板
２６…メダルセレクタ
３３…メダル通路
４４…メダル検知装置
Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３…センサ
Ａ１，Ａ２，Ａ３…検知領域

Claims (6)

1. メダルを自重により１枚ずつ転動させて通過させるメダル通路を設け、このメダル通路を通過するメダルの通過枚数を計数する検知センサを備えたメダル検知装置であって、
   前記検知センサは、
   第１センサと第２センサからなる光学式検知センサと、
   該光学式検知センサの前記第１センサと第２センサのうち、少なくとも一方のセンサ検知領域を包含する検知領域でメダルが通過したことを検知する領域検知センサと、
   を備えたメダル検知装置。
2. メダルを自重により１枚ずつ転動させて通過させるメダル通路を設け、このメダル通路を通過するメダルの通過枚数を計数する検知センサを備えたメダル検知装置であって、
   前記検知センサは、
   前記メダル通路を通過するメダルの通過枚数を計数する第１センサと第２センサからなる光学式検知センサと、
   該光学式検知センサの前記第１センサと第２センサのうち、少なくとも一方のセンサ検知領域を包含する検知領域でメダルが通過したことを検知する領域検知センサと、
   前記光学式検知センサと領域検知センサとの両出力をＡＮＤ処理することに基づいてメダル通過時の検知情報の適否を判定する検知情報判定部と、
   を備えたメダル検知装置。
3. 前記領域検知センサは、近接センサであることを特徴とする
   請求項１又は２に記載のメダル検知装置。
4. 立姿で対向する基板と開閉板との対向面間に、メダルを自重により縦方向から横方向へと転動させて通過させるＬ形状のメダル通路と、
   前記メダル通路の途中には、該メダル通路と対向する部位の開閉板側に開口してメダル類を排除させる排除口と、
   前記排除口と対向する前記メダル通路の位置には、前記基板の外壁面側より延出させて、ここに導かれたメダルを取込み側と排除側とに振分ける可動ガイド板と、
   前記可動ガイド板を可動変位させる駆動手段と、
   前記メダル通路を通過するメダルを検知する検知手段とを設けた投入メダル選別装置であって、
   前記検知手段は、メダル通路を通過するメダルの通過枚数を計数する第１センサと第２センサからなる光学式検知センサと、
   前記第１センサと第２センサのうち、少なくとも一方のセンサ検知領域を包含する検知領域でメダルが通過したことを検知する領域検知センサとから構成され、
   前記光学式検知センサと領域検知センサの両出力をＡＮＤ処理することに基づいてメダル通過時の検知情報の適否を判定する検知情報判定部を備えた投入メダル選別装置。
5. 請求項４に記載の投入メダル選別装置を内蔵する遊技機。
6. 遊技情報を制御する制御部以外の部位に前記検知情報判定部を備えて構成した請求項４に記載の投入メダル選別装置を内蔵する遊技機。

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