JP4535621B2 - 照明装置の品質が低下したフィラメントの検出方法 - Google Patents

照明装置の品質が低下したフィラメントの検出方法 Download PDF

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Description

【0001】
(技術分野)
本発明は、一定の電流が供給される照明回路、とくに、空港の照明システムの白熱照明装置のフィラメントの品質低下を検出する方法および装置に関するものである。
【0002】
(従来の技術)
空港において、飛行機の着陸および誘導滑走の間、飛行機を誘導するために、照明システムが用いられている。これらの照明システムは、きわめて多くの照明装置を備えており、故障した照明装置を、速やかに、とくに、視程が低い間に、交換することが重要である。そうでないと、飛行機が誘導路を見失い、停止信号が出されるという結果を招いてしまう。視覚的に、照明装置を検査することは、事故の危険があり、コストアップの原因にもなるので、自動的に、照明装置をモニターするシステムが開発されている。
【0003】
これらの照明システムにおける照明装置は、絶縁トランスを用いたいわゆる直列回路に、しばしば、接続されている。かかる照明装置は、電力ケーブルを介して、直列に接続され、定電流調整器(CCR)から、一定の電力が供給される。照明装置が輝いている間に、その明るさが低下していく。この現象は、一つには、通常、螺旋状をなしたフィラメントから、材料が蒸発して、ガラス電球上に昇華し、発光光の一部を吸収することに起因するものである。しかしながら、照明装置は、フィラメントから蒸発した材料が、再び、フィラメント上に昇華するように、設計されるため、このようなことが起こる確率は、かなり低い。
【0004】
照明装置の品質が低下するより大きな原因は、フィラメントから蒸発した材料が、昇華して、隣接するフィラメントコイルの巻き部の間に、短絡ブリッジを形成することにある。一定の電流が供給される照明装置のフィラメントの一部が短絡すると、フィラメントの抵抗に比例する照明装置の公称ワット数が低下し、その結果、照明強度が低下する。最終的に、完全に短絡して、あるいは、フィラメントが破損されて、照明装置が破損する。照明装置に、一定の電圧が供給される場合は反対で、その公称ワット数は、フィラメントの抵抗に反比例し(強度≒ワット数)、フィラメントが短絡すると、過度の電力の散逸に起因して、多かれ少なかれ、フィラメントがただちに燃えてしまう。
【0005】
フィラメントの破損によって、照明装置が破損した場合には、照明装置に接続されている絶縁トランスの二次側のインピーダンスがきわめて高くなり、絶縁トランスの一次側および二次側に、高い電圧が発生する。高電圧は、絶縁トランスを通じて、供給される交流電流の各サイクルの始めに、生ずる。
【0006】
しかしながら、使用される絶縁トランスは、絶縁トランスのコアが飽和した後に、短い時間にのみ、高電圧が現われるように、設計することができ、コアが飽和したときは、絶縁トランスのインピーダンスが低下するため、絶縁トランスを横切る電圧は、低い値に低下する。
【0007】
フィラメントの短絡によって、照明装置が破損した場合には、絶縁トランスを横切る電圧は、わずかに低下するだけである。絶縁トランスと照明装置の間の長いケーブル中で、大きな電圧降下が生じた場合には、このことが妥当する。
【0008】
販売されている公知の照明装置モニターシステムは、フィラメントの破損に起因する照明装置の欠陥を検出するように構成されている。一般的なタイプでは、電流、定電流によって供給された電圧および定電力源によって、直列回路に供給される電圧をモニターし、それによって、照明装置の故障に起因する回路中のインピーダンス変化を検出する。
【0009】
別のタイプのモニターシステムは、各照明装置に設けられたモニターユニットを備え、モニターユニットは、絶縁トランスのコアが飽和する前の電流の半周期ごとに生ずる電圧降下を検出し、あるいは、単に、開回路における「電流ゼロ」の状態を検出するように構成されている。
【0010】
部分的にあるいは完全に短絡したフィラメントを検出するシステムは存在しない。
【0011】
照明装置は破損する前に、照明装置の品質は、相当に予測可能な形で、低下するので、照明装置の発光時間に基づいて、照明装置の破損を予測するシステムもある。直列回路がオンされてからの累積時間に関する記録が、各直列回路ごとに保持される。改良されたシステムでは、別個の累積時間記録が、最大電流値、あるいは、回路が起動される各電流値に対して、保持される。これらの記録に基づいて、照明装置が、ある経験的に確立された発光時間後に、取り換えられる。
【0012】
複雑化させるファクターは、選択的に、照明装置をオン、オフが可能なシステム、すなわち、直列回路内のすべての照明装置が、同時に、オン、オフされないシステムが一般化しているということである。特定の瞬間に、飛行機に導くことは必要な照明装置だけが、同時に、オン、オフされるため、その発光時間と強度に基づいて、各照明装置の残りの寿命を予測することが、簡単ではなくなる。
【0013】
本発明は、添付の独立した方法および装置クレームにしたがって、照明装置のフィラメントの品質低下を検出する方法および装置を提供するものである。本発明の実施態様は、添付の従属クレームによって、明確にされる。
【0014】
(発明の要約)
本発明は、電流が供給される空港の照明回路における品質が低下したフィラメントを検出することができる品質が低下したフィラメントの検出方法および装置を提供することを目的とするものである。
【0015】
本発明の前記目的は、定電流が供給される空港の照明回路(11)における品質が低下したフィラメント(3)の検出方法であって、
前記空港の照明回路(11)に一定の実効電流の供給を開始するステップと、
前記一定の実効電流の供給を開始した開始時点における前記空港の照明回路(11)の第一の抵抗値を測定するステップと、
前記開始時点から所定の時間が経過し、電流の値が定常状態に達した後に、前記空港の照明回路(11)の第二の抵抗値を測定するステップと、
前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差を、しきい値(ΔTr)と比較するステップと、
前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差が、前記しきい値(ΔTr)以下になったときに、前記フィラメント(3)の品質が低下したと判定するステップと
を有することを特徴とする品質が低下したフィラメントの検出方法によって達成される。
照明回路を通じて、供給される定電流が変化し始めると、抵抗を、電流の変化とともに、一度、所定時間経過後に、一度、測定して、抵抗の測定値の差によって、前記抵抗の測定値の差としきい値とを比較することによって、照明装置のフィラメントの品質低下を検出する。
【0016】
本発明の好ましい実施態様においては、前記フィラメント(3)を含む照明装置(4)が、前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差が前記しきい値(ΔTr)以下のときに、取り換えられるように構成されている。
【0017】
本発明のさらに好ましい実施態様においては、前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値のそれぞれが、照明回路(11)を横切る電圧(U)および前記照明回路(11)と直列に配置された抵抗器を横切る電圧(U)を測定することによって、決定され、こうして測定された電圧値間の商に、前記抵抗器の抵抗値が乗算された値が、前記照明回路(11)の抵抗に等しくなる。
【0018】
本発明のさらに好ましい実施態様においては、前記しきい値(ΔTr)が、前記照明回路(11)に供給される定電流値によって異なる値に決定される。
【0019】
本発明の別の好ましい実施態様においては、前記しきい値(ΔTr)が、前記照明装置(4)の公称ワット数によって異なる値に決定される。
【0020】
本発明の好ましい実施態様においては、前記しきい値(ΔTr)が、電流値のそれぞれに応じて、経験的に決定される。
【0021】
本発明の前記目的はまた、定電流が供給される空港の照明回路(11)における品質が低下したフィラメント(3)の検出装置であって、
前記空港の照明回路(11)に一定の実効電流の供給を開始する電流供給手段と、
前記一定の実効電流の供給が開始された時点における前記空港の照明回路(11)の第一の抵抗値を測定するとともに、前記開始時点から所定の時間が経過し、電流の値が定常状態に達した後に、前記空港の照明回路(11)の第二の抵抗値を測定する抵抗測定手段と、
前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差を、しきい値(ΔTr)と比較する比較手段と、
前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差が、前記しきい値(ΔTr)以下になったときに、前記フィラメント(3)の品質が低下したと判定する判定手段と
を備えたことを特徴とする品質が低下したフィラメントの検出装置によって達成される。
【0023】
本発明の好ましい実施態様においては、前記フィラメント(3)を含む照明装置(4)が、前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差が前記しきい値(ΔTr)以下のときに、交換されるように構成されている
本発明のさらに好ましい実施態様においては、前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値のそれぞれが、照明回路(11)横切る電圧および前記照明回路(11)と直列に配置された抵抗器を横切る電圧を測定することによって、決定され、こうして測定された電圧値間の商に、前記抵抗器の抵抗値が乗算された値が、前記照明回路(11)の抵抗に等しくなる。
本発明のさらに好ましい実施態様においては、前記しきい値(ΔTr)が、前記照明回路(11)に供給される定電流値によって異なる値に決定される。
本発明の別の好ましい実施態様においては、前記しきい値(ΔTr)が、前記照明装置(4)の公称ワット数によって異なる値に決定される。
本発明のさらに好ましい実施態様においては、前記しきい値(ΔTr)が、電流値のそれぞれに応じて、経験的に決定される。
【0024】
(好ましい実施態様の説明)
本発明は、白熱照明装置を通じて、電流が供給されると、フィラメントが加熱され、フィラメントの抵抗が、フィラメントの温度の関数になるという事実を利用している。熱いフィラメントの抵抗は、冷たいフィラメントの抵抗の数倍である。照明装置を通じて、供給される電流の値が変化すると、電流が定常状態値に達した後、ある時間後に、典型的には、数秒後に、フィラメントの温度および抵抗は定常状態値に達する。
【0025】
図1は、WO94/13119およびWO95/24820として、公開され、ラース ミルガードによって、本発明の譲受人に譲渡されたそれぞれ「パルス信号を送信するシステムおよび方法」および「直列ケーブル上の通信」という名称の関連する係属中の国際出願によって教示された原理にしたがった従来の空港照明システムを示すものである。本発明は、目的を遂行するために、かかるシステムを利用するものである。
【0026】
図1に示された空港照明システムは、照明装置4のための多数の電流供給ループ2を備えている。図1においては、これらのループのうち、1つのループのみが、その全体が図示されている。各照明装置4は、絶縁トランス6の二次巻き線5および光モニタースイッチ(LMS)10を介して、対応するループ2に接続されている。絶縁トランス6の一次巻き線8は、電流供給ループ2に、直列に接続されている。各電流供給ループ2には、定電流レギュレーター(CCR)12により、通信直列回路モデム(SCM)14を介して、電流が供給される。集信ユニット(CU)16が、通信ユニット14のグループ18に、マルチドロップ状に接続されている。ユニット14および16については、以下において、より詳細に説明を加える。
【0027】
上述したCUユニット16およびそれに関連する要素とは、サブユニット20を形成し、サブユニット20は、たとえば、空港照明システムのある部分に、振り向けることができる。照明システムは、必要な数のサブユニットを備えており、そのあるものが20’、20”で示されている。
【0028】
サブユニット内のCUユニット16は、マルチドロップモデムを介して、中央集信ユニット22に接続されている。
【0029】
中央CUユニット22は、ディスプレイ25を備えたコンピュータ24に接続可能に構成されている。コンピュータ24を、さらに、たとえば、ローカルエリアネットワーク(LAN)26を介して、他のシステムに接続することができる。ユニット22とコンピュータ24は、たとえば、コントロール室27内、あるいは、他の適当な場所に配置可能に構成されている。
【0030】
SCMユニット14は、LMSモジュールからの応答を検出し、応答のないモジュールのアドレスを、ローカルCUユニット16を介して、中央CUユニット22に報告する。中央CUユニット22内において、アドレスは、コントロール室27内のコンピュータ24にアクセス可能なデータベース中に保存される。
【0031】
ディスプレイ25上に、故障した照明装置4の数および故障した照明装置の位置が表示可能に構成されている。コンピュータ24を通じて、異なる警報基準を、中央集信ユニット22にセットすることもできる。
【0032】
LMSモジュールと関連する通信ユニットとの間の通信は、電力ケーブル内で、50Hzあるいは60Hz電流に重ね合わされた高周波信号によって、実行される。
【0033】
LMSモジュール10のブロックダイアグラムが、図2に示されており、フィラメント3を備えた照明装置4が、絶縁トランス6の二次巻き線5を備えた回路に接続された状態が示されている。
【0034】
LMSモジュール10は、照明装置4に直列に接続され、照明回路内の電流を遮断するスイッチ30を有するように、概略的に示されている。モジュール10は、さらに、たとえば、スイッチ30を制御するマイクロプロセッサなどのコントロール回路あるいは論理回路32と、上述したアドレスを保存するアドレスメモリ34と、ユニット14から、同期信号を受信し、論理回路32に転送する受信器36を備えている。モジュール10はまた、論理回路32および受信器36のための直列電源ユニット38を有している。
【0035】
また、コントロール回路32によって制御されるスイッチ42が、二次巻き線5上に、したがって、照明装置4と並列に接続されている。当業者には周知のように、スイッチ30は、電界効果型トランジスタの使用を前提に、設計することができる。
【0036】
各LMSモジュール10のアドレスを格納するメモリとしては、PROMメモリを使用することができる。
【0037】
本発明かかる方法は、照明電流の値の変化に関連して、図2に示される照明回路11の抵抗を測定することから始まる。変化は、定電流レギュレーターの設定が変化したことに起因していても、モニターユニット内のスイッチング機能によって誘起され、必要な電流変化を生成する短絡破壊、いわゆる強度制御によるものであってもよい。
【0038】
測定は、照明装置に供給される電流の値が変化したすぐ後に、少なくとも2回にわたり、実行される。最初の測定は、変化の直後に、2回目の測定は、電流の値が定常状態値に達したときに、それぞれ、実行され、得られた2つの抵抗値の差に基づいて、部分的にあるいは完全に短絡したかが判定される。限界値あるいはしきい値ΔTr(図3参照)を、使用される電流値ごとに、経験的に確立することができる。
【0039】
照明回路の抵抗を測定する一つの方法は、照明回路を横切る電圧および照明回路に直列に配置された抵抗器(図示せず)を横切る電圧を測定するステップを含んでいる。これらの電圧の間の商に、抵抗器の値が乗算された値は、照明回路の抵抗に等しい。
【0040】
空港の照明に使用される照明装置の抵抗は、照明装置に供給するケーブルの抵抗と同じオーダーである。視界が悪い場合に、一般的に、用いられる電流である6.6Aの電流が供給される45Wの照明装置の抵抗は、1オームのオーダーである。視界がよい場合に、一般的に、用いられる電流である2.8Aの電流が供給される同じ照明装置の抵抗は、約0.5Ωである。典型的な供給ケーブルは、2.5mmの一対の導線に対し、約0.014の抵抗を有している。
【0041】
照明装置がそれぞれ、モニターされるモニターシステムにおいては、モニターユニットは、照明装置とともに、配置されることはほとんどない。スペースがないため、モニターユニットは、トランスピット内に、絶縁トランスとともに、配置される。したがって、モニターユニットから照明装置への二次ケーブルは、典型的には、30ないし40mの長さを有し、それは、0.5Ωの抵抗に相当する。したがって、完全にフィラメントが短絡したことに起因する場合にも、抵抗の変化は、ケーブルの抵抗に比して、きわめて小さい。
【0042】
さらに、ケーブルの抵抗は、ケーブルの温度の関数として、変化し、これが、インピーダンスを遠くから測定する際に、複雑化させるファクターとなる。
【0043】
図3は、照明装置のフィラメントの経時変化を概略的に示すものである。フィラメントの抵抗を決定するためには、照明回路11を横切る電圧Uが、時間tに基づいて、測定される。
【0044】
図3に概略的に示されるように、照明装置の品質が低下せず、あるいは、照明装置が部分的にも短絡しないときは、電圧Uは、曲線40のとおり、時間とともに、高い一定値を示す。一方、破線で示される曲線42は、照明装置の品質が低下し、あるいは、照明装置が部分的に短絡したときの電圧の低下を示している。最後に、完全に短絡したときは、電圧Uが低い一定値44に低下することが示されている。冷たいフィラメントは、完全に短絡した照明装置4の一定の電圧値44に対応する短絡した照明装置の抵抗値一致する抵抗値を有している。
【0045】
図3には示されていないが、部分的に短絡した照明装置4あるいは品質が低下した照明装置4の電圧降下の曲線42は無数に存在することが認識されるべきである。
【0046】
さらに、本発明は、定電流が供給される照明回路における照明装置のフィラメントの品質低下を検出するモニター装置を含んでいる。
【0047】
モニター装置は、照明回路11に接続された照明装置モニター手段10を備え、照明回路を流れる定電流が変化し始めたことを検出する機能を一つの機能として有している。本実施態様においては、コントロールユニット36は、電圧降下ΔTrを測定するように構成されている。さらに、図3に概略的に示されているように、しきい値の例として、ΔTrが、限界値あるいはしきい値としてセットされ、照明装置の品質低下に起因して、電圧Uが、一定電圧レベル42に低下したときに、LMS回路と10が、たとえば、CU22に、照明装置を交換すべき旨の信号を出力するように、構成されている。
【0048】
さらに、たとえば、電流の変化とともに1回、所定時間後に1回、上述のようにして、電圧レベルを測定することによって、照明回路11を横切る抵抗値を決定する抵抗決定手段が設けられている。こうして決定された抵抗を決定し、評価するために、測定された抵抗値の差の値を測定する差測定手段と、抵抗の差の値を、差の値のしきい値と対比して、評価する評価手段が設けられている。
【0049】
したがって、決定された抵抗の差の値は、上述の電圧降下の測定値から演繹される抵抗しきい値に対する照明装置のフィラメントの品質低下を示すものになる。これによって、レコードに保持されている以前の抵抗決定値あるいは測定値を不用なものにすることができる。したがって、測定値をしきい値と比較することによって、照明装置のフィラメントがどのくらい短絡したか、あるいは、照明装置のフィラメントの品質がどのくらい低下したかを、リアルタイムに、明らかにすることができる。
【0050】
このようにして、抵抗値の差が、オームの法則によって、電圧しきい値ΔTrに比例する抵抗しきい値以下のときに、照明装置を交換することができる。
【0051】
本発明の一つの実施態様においては、抵抗は、照明回路を横切る電圧および照明回路11と直列に配置された抵抗器(図示せず)を横切る電圧を測定することによって、測定し、決定することができる。こうして決定された値の間の商に、抵抗器の値が乗算された値は、照明回路の抵抗に等しい。
【0052】
別の実施態様においては、しきい値は、電流値によって異なっている。これによれば、高負荷、低負荷など、照明装置を含むループ2の操作条件の違いを考慮することができるという利点がある。空港照明システム用のループ2は、空港によって異なり、さらには、ループによっても異なるので、本発明の一つの実施態様においては、しきい値を、各電流値に対して、経験的に確立されることがわかる。
【0053】
特定の実施態様とともに、本発明につき、説明を加えたが、上述したところおよび添付の請求範囲に照らせば、当業者にとって、その変更、修正、バリエーションが明らかであることは明白である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、従来の空港照明システムを示す概略図である。
【図2】 図2は、従来の照明回路を示す概略図である。
【図3】 図3は、照明装置のフィラメントの抵抗の経時変化を示す概略図である。
【符号の説明】
2 ループ
4 照明装置
5 二次巻き線
6 絶縁トランス
8 一次巻き線
12 定電流レギュレーター(CCR)
14 通信直列回路モデム(SCM)
16 集信ユニット(CU)
18 通信ユニットのグループ
20、20’、20” サブユニット
22 中央集信ユニット
24 コンピュータ
25 ディスプレイ
26 ローカルエリアネットワーク(LAN)
27 コントロール室
30 スイッチ
32 コントロール回路あるいは論理回路
34 アドレスメモリ
36 受信器
38 直列電源ユニット

Claims (12)

  1. 定電流が供給される空港の照明回路(11)における品質が低下したフィラメント(3)の検出方法であって、
    前記空港の照明回路(11)に一定の実効電流の供給を開始するステップと、
    前記一定の実効電流の供給を開始した開始時点における前記空港の照明回路(11)の第一の抵抗値を測定するステップと、
    前記開始時点から所定の時間が経過し、電流の値が定常状態に達した後に、前記空港の照明回路(11)の第二の抵抗値を測定するステップと、
    前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差を、しきい値(ΔTr)と比較するステップと、
    前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差が、前記しきい値(ΔTr)以下になったときに、前記フィラメント(3)の品質が低下したと判定するステップと
    を有することを特徴とする品質が低下したフィラメントの検出方法。
  2. 前記フィラメント(3)を含む照明装置(4)が、前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差が前記しきい値(ΔTr)以下のときに、取り換えられるように構成されたことを特徴とする請求項1に記載の品質が低下したフィラメントの検出方法。
  3. 前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値のそれぞれが、照明回路(11)を横切る電圧(U)および前記照明回路(11)と直列に配置された抵抗器を横切る電圧(U)を測定することによって、決定され、こうして測定された電圧値間の商に、前記抵抗器の抵抗値が乗算された値が、前記照明回路(11)の抵抗値に等しくなることを特徴とする請求項1または2に記載の品質が低下したフィラメントの検出方法。
  4. 前記しきい値(ΔTr)が、前記照明回路(11)に供給される定電流の値によって異なる値に決定されることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の品質が低下したフィラメントの検出方法。
  5. 前記しきい値(ΔTr)が、前記照明装置(4)の公称ワット数によって異なる値に決定されることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の品質が低下したフィラメントの検出方法。
  6. 前記しきい値(ΔTr)が、定電流値のそれぞれに応じて、経験的に決定されることを特徴とする請求項4または5に記載の品質が低下したフィラメントの検出方法。
  7. 定電流が供給される空港の照明回路(11)における品質が低下したフィラメント(3)の検出装置であって、
    前記空港の照明回路(11)に一定の実効電流の供給を開始する電流供給手段と、
    前記一定の実効電流の供給が開始された時点における前記空港の照明回路(11)の第一の抵抗値を測定するとともに、前記開始時点から所定の時間が経過し、電流の値が定常状態に達した後に、前記空港の照明回路(11)の第二の抵抗値を測定する抵抗測定手段と、
    前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差を、しきい値(ΔTr)と比較する比較手段と、
    前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差が、前記しきい値(ΔTr)以下になったときに、前記フィラメント(3)の品質が低下したと判定する判定手段と
    を備えたことを特徴とする品質が低下したフィラメントの検出装置。
  8. 前記フィラメント(3)を含む照明装置(4)が、前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値の差が前記しきい値(ΔTr)以下のときに、交換されるように構成されたことを特徴とする請求項7に記載の品質が低下したフィラメントの検出装置。
  9. 前記第二の抵抗値と前記第一の抵抗値のそれぞれが、照明回路(11)を横切る電圧および前記照明回路(11)と直列に配置された抵抗器を横切る電圧を測定することによって、決定され、こうして測定された電圧値間の商に、前記抵抗器の抵抗値が乗算された値が、前記照明回路(11)の抵抗値に等しくなることを特徴とする請求項7または8に記載の品質が低下したフィラメントの検出装置。
  10. 前記しきい値(ΔTr)が、前記照明回路(11)に供給される定電流の値によって異なる値に決定されることを特徴とする請求項7ないし9のいずれか1項に記載の品質が低下したフィラメントの検出装置。
  11. 前記しきい値(ΔTr)が、前記照明装置(4)の公称ワット数によって異なる値に決定されることを特徴とする請求項7ないし9のいずれか1項に記載の品質が低下したフィラメントの検出装置。
  12. 前記しきい値(ΔTr)が、定電流値のそれぞれに応じて、経験的に決定されることを特徴とする請求項10または11に記載の品質が低下したフィラメントの検出装置。
JP2000577862A 1998-10-22 1999-10-19 照明装置の品質が低下したフィラメントの検出方法 Expired - Fee Related JP4535621B2 (ja)

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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6666786B2 (en) * 2000-12-29 2003-12-23 Shimano Inc. Chamfered sprocket assembly
US6784667B2 (en) * 2002-04-03 2004-08-31 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Estimated remaining lamp life indicator system
US6911777B1 (en) * 2003-08-14 2005-06-28 Cooper Industries, Inc. Clamp-on low power isolation transformer for airfield lighting
EP1692532B1 (de) * 2003-12-11 2009-04-15 Conti Temic microelectronic GmbH Verfahren zur funktionspruefung einer lampenschaltung
WO2007122546A2 (en) * 2006-04-21 2007-11-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method and device for monitoring the condition of halogen bulbs in vehicle headlights
EP1865756A1 (en) * 2006-06-06 2007-12-12 Nesa A/S Lighting system
US7382454B1 (en) 2006-09-24 2008-06-03 Carl Anthony Turner System and method for optically assessing lamp condition
US7560867B2 (en) * 2006-10-17 2009-07-14 Access Business Group International, Llc Starter for a gas discharge light source
FR2919458B1 (fr) * 2007-07-25 2009-10-16 Sidel Participations Procede de detection de l'etat d'une lampe de chauffage de corps d'ebauches en matiere thermoplastique et installation de chauffage agencee pour sa mise en oeuvre
TWI445457B (zh) 2011-01-04 2014-07-11 Beyond Innovation Tech Co Ltd 日光燈管的驅動裝置及其方法與所應用之照明裝置
US9008992B2 (en) 2011-03-25 2015-04-14 Thomas & Betts International, Inc. Testing and monitoring an electrical system
JP5812292B2 (ja) * 2012-03-29 2015-11-11 東芝ライテック株式会社 標識灯および標識灯システム
WO2014013452A2 (en) * 2012-07-19 2014-01-23 Koninklijke Philips N.V. Lighting device comprising a monitoring circuit
JP2014182883A (ja) * 2013-03-18 2014-09-29 Toshiba Lighting & Technology Corp 直列負荷制御装置および標識灯装置
GB2506708B (en) * 2013-05-01 2014-09-03 Mk Test Systems Method for testing equipment
US9472108B2 (en) 2014-03-17 2016-10-18 Honeywell International Inc. Updating an airfield lighting system with an LED light source
DE102017210681A1 (de) * 2017-06-26 2018-12-27 Dr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschränkter Haftung Sensorschaltungsanordnung
CN112596558B (zh) * 2020-12-25 2022-06-28 航电中和山东医疗技术有限公司 一种加热管温度监控装置及方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55165541A (en) * 1979-06-11 1980-12-24 Mitsubishi Electric Corp Electron gun
JPH0752677B2 (ja) * 1988-08-31 1995-06-05 ホーヤ株式会社 ランプ異常検出回路およびランプ切替装置
SE9300193L (sv) * 1992-11-20 1994-05-21 Airport Tech Scandinavia Metod och system för kommunikation från en transformators sekundärsida, särskilt för ett lampövervakningssystem för flygplatsljus
JP3536933B2 (ja) * 1993-03-31 2004-06-14 東芝ライテック株式会社 白熱灯調光装置
US5578998A (en) * 1995-03-20 1996-11-26 Chivas Products Limited Method and apparatus for predicting of lamp failure
JPH09232083A (ja) * 1996-02-26 1997-09-05 Sansha Electric Mfg Co Ltd 照明装置
US5675246A (en) * 1996-03-18 1997-10-07 Msx, Inc. Current flow indicator

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