JP4533824B2 - 画像入力装置及び校正方法 - Google Patents

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Description

本発明は、レーザー距離センサ及びカメラによって距離情報及び色情報を独立に計測可能な画像入力装置に係り、特に、レーザー距離センサのレーザー光をカメラで計測し、その計測結果に基づき、距離センサに対するカメラの相対位置及び相対姿勢を校正することができる画像入力装置及び校正方法に関する。
レーザー距離センサ及びカメラの校正手法として、例えば非特許文献1及び特許文献1記載の技術が知られている。
非特許文献1記載の技術によれば、レーザー距離センサ校正用ターゲット及びカメラ校正用ターゲットが1つになったターゲットをレーザー距離センサ及びカメラでそれぞれ計測し、その計測結果に基づき、レーザー距離センサとカメラとの相対位置及び相対姿勢を校正する。
一方、特許文献1記載の技術によれば、校正用に準備された特殊な治具にレーザー光を当てながら、治具を移動させたときのレーザーのスポット光の位置の変化を計測する。この計測結果に基づき、レーザーの投光器とカメラとの相対位置及び相対姿勢を算出し、投光器とカメラとの相対位置及び相対姿勢を手動で校正する。
Kazuhisa Inaba,Dinesh Manandhar and Ryosuke Shibasaki ,鼎alibration of a Vehicle-based Laser / CCD Sensor System for Urban 3D Mapping ,In Proc of the Asian Conference on Remote Sensing 1999,1999. 特開平7-208913号公報
ところが、上記従来の技術によれば、レーザーとカメラとの相対位置及び相対姿勢を校正するために、特殊なターゲットまたは特殊な治具を準備する必要がなる。
そこで、本発明は、レーザー距離センサ及びカメラを有する画像入力装置において、特殊な機器を用いずに、適切なタイミングで、レーザー距離センサとカメラとを自動校正可能にすることを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明は、不可視光により物体の距離情報を計測するレーザー距離センサと、前記物体の色情報を計測するカメラとを備える画像入力装置であって、
可視光を遮断して前記不可視光を通過させる第1フィルタおよび前記不可視光を遮断して前記可視光を通過させる第2フィルタを、前記カメラに装着可能に保持するフィルタ取付け手段と
前記第1フィルタ装着中のカメラによって撮影される、前記レーザー距離センサから前記物体上の平面に投影された前記不可視光のパターンの画像と基準画像との比較により、前記レーザー距離センサと前記カメラとの校正誤差を算出する校正誤差検証手段と、
前記校正誤差があらかじめ定めた値を超えた場合に、前記レーザー距離センサと前記カメラとの相対的な位置及び姿勢を校正する校正手段と、
前記カメラが取得した前記色情報および前記色画像の取得中に前記レーザー距離センサが取得した前記距離情報を画像データとして記録する計測手段と、を有し、
前記基準画像は、前回の校正時に前記第1フィルタ装着中のカメラによって撮影された前記レーザー距離センサから前記物体上の平面に投影された前記不可視光のパターンの画像であり、
前記フィルタ取付け手段は、前記校正手段による校正が終了した場合または前記校正誤差が前記あらかじめ定められた値以下である場合、前記カメラのフィルタを、前記第1フィルタから前記第2フィルタに切り替え、
前記計測手段は、前記カメラのフィルタが前記第1フィルタから前記第2フィルタに切り替えられた後、前記第2フィルタ装着中のカメラが取得した前記色情報および前記色画像の取得中に前記レーザー距離センサが取得した前記距離情報を画像データとして記録する、
ことを特徴とする画像入力装置を提供する。
本発明によれば、レーザー距離センサ及びカメラを有する画像入力装置において、特殊な機器を用いずに、適切なタイミングで、レーザー距離センサとカメラとを自動校正可能にすることができる。
以下、添付の図面を参照しながら、本発明の実施の形態について説明する。
まず、本実施形態に係る画像入力装置の構成について説明する。ここでは、人間の可視領域外の波長のレーザー光を不可視光として用いて物体までの距離及び物体の方位を計測可能なレーザー距離センサと、可視画像を計測可能なカメラとを有する画像入力装置を例として挙げる。
図5に示すように、本実施の形態に係る画像入力装置は、不可視光を用いて物体の方位及び物体までの距離を計測するレーザー距離センサ602、レーザー距離センサ602を回転可能に保持する距離センサ台座212、物体の画像を含む可視画像を計測するカメラ604、レーザー距離センサ602の本体210上でカメラ604を保持するカメラ移動機構、を有している。
レーザー距離センサ602は、不可視光213を投光する投光器211、投光器211及びその他の内蔵部品が収容されたセンサ本体210、を有している。レーザー距離センサ602は、投光器211を制御することによって、障害物に対して不可視光213を投光し、障害物までの距離及び障害物の方位を計測する。
カメラ移動機構608は、カメラ604を保持するとともにカメラ604をxy方向に送るXYステージ206、XYステージ206をz軸周りにまたはy軸周りに回転させる雲台207、雲台207をz方向に移動させる雲台支柱208、雲台支柱208を保持する雲台支柱基部209、を有している。これにより、レーザー距離センサ602に対するカメラ604の姿勢及び位置を調整することができる。
カメラ604は、レンズ203、2種類のフィルタ(不可視光を遮って可視光を透過する可視光用フィルタ201、可視光を遮って不可視光を透過する不可視光用フィルタ202)、レンズ203を覆うフィルタが切り替わるように2種類のフィルタ201,202を回転させるフィルタ切り替え用アクチュエータ204、これらが取り付けられるとともにその他の内蔵部品が収容されたカメラ本体205、を有している。
ここでは、フィルタ切り替え用アクチュエータ204として、パルス波により回転角を制御可能なステッピングモータを用いている。2種類のフィルタ201,202は、ステッピングモータの回転軸に関して対称な位置に配置されるように(一方に対して、他方が、回転軸周り180度の位置に配置されるように)、この回転軸の先端部に取り付けられている。このため、回転軸を180度回転させるパルス波がステッピングモータに送られるごとに、フィルタ201,202が互いの位置関係を保持しつつ一体として180度回転するため、カメラ604のレンズ203を覆うフィルタを、可視光用フィルタ201から不可視光用フィルタ202に、または、不可視光用フィルタ202から可視光用フィルタ201に切り替えることができる。
なお、本実施の形態においては、フィルタ切り替え用アクチュエータ204としてステッピングモータを用いているが、ステッピングモータの代わりに、エンコーダ付き直流モータまたは交流モータ、空気圧または油圧によって伸縮するアクチュエータを用いてもよい。例えば、エンコーダ付きモータをフィルタ切り替え用アクチュエータ204として用いる場合には、エンコーダでモータの軸の回転を計測しながら、カメラ604のレンズ203の前にいずれか一方のフィルタが配置されるようにモータの回転軸の回転角度を制御すればよい。これにより、フィルタを切り替えることが可能である。また、空気圧または油圧によって伸縮するアクチュエータをフィルタ切り替え用アクチュエータ204として用いる場合には、アクチュエータの軸の伸縮によって2種類のフィルタ201,202の位置をそれぞれカメラの前からずらすことができるように、それらのフィルタ201,202をアクチュエータの軸に取り付ければよい。これにより、カメラ604のレンズ203前にあるフィルタを切り替えることができる。
さらに、この画像入力装置の内部には、図10に示すように、レーザー距離センサ602を制御するレーザー距離センサ制御ボード603、カメラ604を制御するカメラ制御ボード605、フィルタ切り替え用アクチュエータ204を制御するフィルタ制御ボード607、雲台を含むカメラ移動機構608、雲台等の動作を制御する雲台等制御ボード609、メモリ等の主記憶610、各種プログラム613〜617があらかじめ格納されるとともに各種データ(レーザー距離センサ602による計測値、カメラ604による計測値、現在レンズに装着されているフィルタの種類を表すフィルタ情報、各プログラムの処理結果等)を保持するためのバッファ領域618が設けられたハードディスク等の補助記憶611、補助記憶611から主記憶610にロードされたプログラムを実行するメインプロセッサ601、これらの間を接続するバス等を備える。
補助記憶611に格納されたプログラム群には、プログラムの実行等を管理する基本ソフトウェアであるオペレーティングシステム613、校正誤差を検証する校正誤差検証モードの処理(後述の図1のS110及びS150)を実現する校正誤差検証プログラム615、カメラ及びレーザー距離センサの相対位置及び相対姿勢を校正する校正実行モードの処理(後述の図1のS130)を実現する校正実行プログラム616、物体の色情報及び距離情報を計測する計測実行モードの処理(後述の図1のS140)を実現する計測実行プログラム617、全体の処理の流れを制御するメインプログラム614、が含まれている。
これらのプログラムが、主記憶610上に読み込まれ、メインプロセッサ601によって実行されることによって、特殊なターゲット及び特殊な治具を用いなくても、レーザー距離センサ602とカメラ604との相対的な位置及び姿勢(以下、相対位置及び相対姿勢)を適時に自動的に校正可能な機能構成が実現される。すなわち、図9に示すように、校正誤差検証処理(S110及びS150)を実行する校正誤差検証処理部624、校正処理(S130)を実行する校正実行処理部621、距離情報及び色情報の計測処理(S140)を実行する計測実行処理部623、全体を制御する制御部620、を実現する。
このような構成において、レーザー距離センサ602及びカメラ604によって物体の距離情報及び色情報が独立に計測され、必要に応じて、レーザー距離センサ602とカメラ604との相対位置及び相対姿勢が校正される。以下、このような処理を具体的に説明する。
図1に、本実施の形態に係る画像入力装置が実行する処理の概略フローチャートを示す。
この処理には、以下に示すように、校正誤差検証モードの処理S110,S160、校正実行モードの処理S130、計測実行モードの処理S140の3つのモードの処理が含まれる。
画像入力装置上でメインプログラム614が起動すると(S101)、これにより実現される制御部620によって以下の処理が実行される。制御部620は、まず、校正誤差検証プログラム615の呼び出しにより、校正誤差検証モードの処理S110を実行させる。
制御部620は、これにより得られた各校正誤差が閾値よりも小さいか否かをチェックする(S120)。
その結果、いずれの校正誤差も閾値以下であれば、制御部620は、計測実行プログラム617の呼び出しにより、計測実行モードの処理S140を実行させる。この処理S140が終了したら、制御部620は、校正誤差検証プログラム615の呼び出しにより、再度、校正誤差検証モードの処理S150を実行させ、それにより得られる校正誤差を、操作者に提示すべくディスプレイに表示させる(S160)。
操作者は、ディスプレイ上の表示情報(校正誤差)を参照することにより、計測が有効か否かを判断することができる(S170)。その結果、計測が有効である、すなわち、再計測が必要ないと判断した場合には、操作者は、計測の終了を画像入力装置に指示する。これに応じて、プログラム全体が終了する(S180)。これに対して、計測が有効でない、すなわち、再計測が必要であると判断した場合には、S120以降の処理の再実行を画像入力装置に指示する。これに応じて、S120以降の処理が再度実行される。
一方、いずれかの校正誤差が閾値を越えていれば、制御部620は、校正実行プログラム616の呼び出しにより、校正実行モードの処理S130を実行させてから、その後、校正誤差が閾値以下であった場合と同様に、S140以降の処理を実行する。
以上の処理に含まれる各モードの処理をさらに説明する。
(1)校正誤差検証モード(S120,S150)
一方の処理S150の内容は他方の処理S120と同様であるため、ここでは、処理S120の流れにしたがって説明する。
校正誤差検証プログラム615の呼び出しにより実現される校正誤差検証処理部624は、図2に示す以下の処理(S111〜S118)を実行する。
校正誤差検証処理部624は、カメラ604のレンズ203前に装着されているフィルタの種類を示すフィルタ情報を取得し (S111)。このフィルタ情報に基づき、フィルタの種類の判定を行う(S112)。
その結果、不可視光用フィルタ202がレンズ203に装着されている場合(カメラ604が、レーザー距離センサ602の投光器211からの不可視光を撮影可能な状態にある場合)には、校正誤差検証処理部624は、レーザー距離センサ制御ボード205を介してレーザー距離センサ602を制御することによって、投光器211から不可視光を投影させる(S113)。これにより、物体に不可視光が投影され、その表面(平面)に校正誤差検証用パターンが形成される。
ここでは、校正誤差検証用パターンとして、一直線上にない、3点のスポット光により形成されるパターン(以下、点パターン)を用いる。このような校正誤差検証用パターンは、投光器211から複数のスポット光を同時に投光するか、または、雲台を回転させながら、順次、投光器211からスポット光を投光することによって形成される。なお、ここでは、校正誤差検証用パターンとして、3点の点パターンを用いているが、校正誤差検証用パターンは、3点の点パターンに限らず、一直線上にない、4点以上の点パターン、複数の直線状パターン、複数の円状または四角形状のパターン、格子状に配列した点パターン、等であってもよい。
つぎに、校正誤差検証処理部624は、カメラ制御ボード205を介してカメラ205を制御することによって、投影された3つの校正誤差検証用パターンを撮影し、その結果得られた画像をバッファ領域618に記録する(S114)。そして、校正誤差検証処理部624は、このとき記録した画像の二値化処理を行い、これにより抽出された領域の重心算出等によって校正誤差検証用パターンを抽出する。さらに、校正誤差検証処理部624は、このとき抽出したパターン画像を、現在の日時を表す日時情報とともにバッファ領域618に記録する(S115)。
校正誤差検証処理部624は、これらの抽出パターン画像と、基準パターン画像とを比較する。ここでは、基準パターン画像として、前回の校正の完了時を示す日時情報とともに記録された対応パターン画像(前回の校正中に最終的に得られた対応パターン画像、すなわち、適正な相対位置及び相対姿勢に調整されたときに記録された対応パターン画像)を用いる。両パターン画像の比較により、両パターン画像間の距離を、閾値との比較処理(前述のS120)または表示処理(前述のS160)に用いられる校正誤差として算出する(S116)。
例えば、カメラを載せているカメラ雲台支柱208が機構的な遊び等によって若干下がった場合に得られる校正誤差検証用パターン画像304〜306と、前回の校正において最終的に得られた校正用パターン画像(適正な相対位置及び相対姿勢になったときと判断されたときの校正用パターン画像)301〜303とを図6に示す。この図6において、新たなパターン画像304〜303とパターン304〜306との間の距離dXが校正誤差として算出され、これらの校正誤差が、前述のS120において閾値と比較される、または、前述のS160において表示される。
なお、図6には、カメラを載せているカメラ雲台支柱208が機構的な遊び等によって若干下がった場合に校正誤差検証用パターン画像304〜303と基準パターン画像304〜306との間に生じる、X方向へのずれを示したが、レーザー距離センサ602とカメラ604との相対的な位置及び相対的な姿勢の変化によっては、校正誤差検証用パターン画像304〜303と基準パターン画像304〜306との間に、X方向へのずれだけでなく、Y方向へのずれ、回転方向へのずれ(例えばO回りの回転方向へのずれ等)を生じることもある。このような場合には、パターン画像間のX方向距離dXだけでなく、パターン画像間のY方向距離dY等も、校正誤差として算出すればよい。
一方、S112において、不可視光用フィルタ202以外のフィルタ(すなわち、可視光用フィルタ201)がレンズ203に装着されていると判断した場合(カメラ604が、投光器211からの不可視光を撮影可能な状態にない場合)には、校正誤差検証処理部624は、フィルタ制御ボード207を介してフィルタ切り替え用アクチュエータ204を制御することによって、レンズ前のフィルタを、可視光用フィルタ201から不可視光用フィルタ202に切り替える(S118)。具体的には、180度の回転を指示するパルス波をフィルタ切り替え用アクチュエータ204に送ることによって、フィルタ切り替え用アクチュエータ204の回転軸を180度回転させる。これにより、2種類のフィルタ201,202が180度回転して、カメラ604のレンズ203が不可視光用フィルタ202で覆われるため、カメラ604が、投光器211からの不可視光を可視画像として撮影可能な状態となる。その後、補助記憶611内のフィルタ情報を、不可視光用フィルタを表す情報で書き換える。
その後、校正誤差検証処理部624は、不可視光用フィルタ202がレンズ203に装着されていると判断した場合と同様、S105以降の処理を実行する。これにより、閾値との比較処理(前述のS120)または表示処理(前述のS160)において用いられる校正誤差が得られる。
(2)計測実行モードの処理(S140)
前述したように、校正誤差検証モードの処理S110が終了すると、各校正誤差と閾値との比較処理(S120)が行われ、その結果、いずれの校正誤差も閾値より小さければ、計測実行プログラム617が呼び出される。これにより実現される計測実行処理部623が、以下に示すように、図3に示す処理(S141〜S147)を実行する。
計測実行処理部623は、カメラ604のレンズ203に装着されているフィルタの種類を示すフィルタ情報を取得し(S141)、このフィルタ情報に基づき、カメラ604のレンズ203に現在装着されているフィルタを判定する(S142)。
その結果、カメラ604のレンズ203に可視光用フィルタ201が取り付けられている場合(カメラ604が、投光器からの不可視光を撮影可能な状態でない場合)には、計測実行処理部623は、レーザー距離センサ602とカメラ604とに同期信号を送り、レーザー距離センサ602及びカメラ604による同時計測を開始する(S143)。
これにより、レーザー距離センサ602による、物体の距離及び方位の計測(S144)、及び、カメラ604による、物体の色情報の計測(S145)とが並行して行われ、その結果得られる、物体の色情報(R,G,B)、距離情報Z及び方位情報が、補助記憶611のバッファ618に記録される(S146)。
例えば、カメラ604の方向を変えずに、レーザー距離センサ602の投光器211からの不可視光213を鉛直方向(図5のz方向)に走査させながら、レーザー距離センサ本体210を回転させる。この間、レーザー距離センサ602によってカメラ604の視野内の物体までの距離情報Z及び物体の方位情報が計測されるとともに、カメラ604によって、その物体の色情報(R,G,B)が計測される。これにより得られた色情報及び距離情報は、例えば図7に示すような物体画像401の画像データとして補助記憶611のバッファ618に記録される。この画像データのフォーマットを図8に示す。画像データには、画素ごとに、色情報(R,G,B)501〜503、距離情報(Z)504及び方位情報(不図示)が含まれている。
一方、カメラ604のレンズ203に不可視光用フィルタ202が取り付けられている場合には、計測実行処理部623は、フィルタ制御ボード207を介してフィルタ切り替え用アクチュエータ204を制御することによって、レンズ203前のフィルタを、不可視光用fフィルタ202から可視光用フィルタ201に切り替える(S147)。具体的には、180度の回転を指示するパルス波をフィルタ切り替え用アクチュエータ204に与えることによって、フィルタ切り替え用アクチュエータ204の回転軸を180度回転させる。これにより、カメラ604のレンズ203前に可視光用フィルタ201で位置付けられるため、カメラ604が、投光器211からの不可視光を撮影不可能な状態となる。
その後、計測実行処理部623は、補助記憶611内のフィルタ情報を、可視光用フィルタを表す情報で書き換えて、S118以降の処理を実行する。これにより、物体の色情報(R,G,B)及び距離情報Z等を含む上述の画像データ(図8参照)が得られ、この画像データが補助記憶のバッファ内に記録される。
なお、以上の処理が終了すると、上述したように、制御部620は、校正誤差検証モードの処理(S150)を実行させた後に校正誤差を表示し、その後、操作者の指示に応じた処理を実行する。なお、S150における処理は、上述したように、S110と同様な処理である。
(3)校正実行モードの処理(S130)
前述したように、校正誤差検証モードの処理(S110)が終了すると、各校正誤差と閾値との比較処理(S120)が行われ、その結果、いずれかの校正誤差が閾値以上であれば、校正実行プログラム616が呼び出される。これにより実現される校正実行処理部621が、以下に示すように、図4の処理(S131〜S135)を実行する。
校正実行処理部621は、レーザー距離センサ制御ボード205を介してレーザー距離センサ204を制御し、投光器211からの不可視光を物体に投影させることによって、校正用パターンとして、校正誤差検証用パターンと同様なパターンを、物体の表面に形成する(S131)。ここでは、校正誤差検証用パターンとして3点の点パターンを用いているため、校正誤差検証用パターンとして3点の点パターンを用いる。ただし、校正誤差検証用パターンが他のパターン(例えば、上述したような、一直線上にない、4点以上の点パターン、複数の直線状パターン、複数の円状または四角形状のパターン、格子状パターン等)を用いる場合には、校正誤差検証用パターンと同様な他のパターンを校正用パターンとして用いればよい。
さらに、校正実行処理部621は、カメラ制御ボード207を介してカメラ206を制御することによって、このとき投影された校正用パターンを撮影する(S132)。
校正実行処理部621は、前述のS115と同様な処理によって、撮影により得られた画像から校正用パターン画像を抽出し(S133)、現在における、レーザー距離センサ602及びカメラ604の相対位置及び相対姿勢を表す校正用パラメータを、抽出結果に基づき算出する(S134)。例えば、Tsaiの校正手法等の既存の校正手法を用いて、レーザー距離センサ602に対するカメラ604の相対位置及び相対姿勢を表す値を校正用パラメータとして算出する。
校正実行処理部621は、この校正用パラメータが、あらかじめ定めた相対位置及び相対姿勢を示す値となるように、雲台制御ボード209を介して雲台207等を制御する(S135)。これにより、レーザー距離センサ602とカメラ604との相対位置及び相対姿勢が調整される。
例えば、校正用パラメータの目標値が設定されている場合には、逐次得られる校正用パラメータと目標値との差分を算出し、この差分が小さくなるように(0に近づくように)、XYステージ206の駆動による並進によってxy面内の位置を、雲台207の回転によって姿勢を、カメラ雲台支柱208の伸縮によって高さをそれぞれ調整する。これにより、レーザー距離センサ602に対するカメラ604の相対位置及び相対姿勢を、適正な相対位置及び相対姿勢になる。
このようにして、レーザー距離センサ602及びカメラ604が適正な相対位置及び相対姿勢に配置されたら、上述したように、制御部620は、前述の計測実行モードの処理(S140)を実行させる。
以上の処理によれば、カメラのレンズ前の可視用フィルタ及び不可視用フィルタを切り替えるだけで、通常の測定時においては、カメラで可視光を可視画像として撮像可能とし、校正誤差検証時または校正時においては、カメラで、レーザー距離センサからの不可視光を可視画像として撮像可能とする。このため、特殊な機器を用いなくても、レーザー距離センサからの不可視光を校正誤差検出または校正のために利用することができる。また、校正誤差検証時または校正時において、操作者は、レーザー距離センサからの不可視光が形成するパターンの位置を可視画像の位置として視覚で認識することができるため、操作がしやすい。
また、プログラム起動時だけでなく、タイミングでも校正誤差が検出され、校正誤差の計測結果から校正の要否が判断され、その判断結果に応じて、レーザー距離センサからの不可視光を利用した校正が自動的に実行される。このように、校正誤差の計測結果から必要と判断されたとき、すなわち、適切なタイミングでレーザー距離センサカメラとを自動的に校正することができる。
なお、本実施の形態においては、不可視光を観測可能にするフィルタをカメラ側に取り付けたが、例えば、不可視光を可視光とするようなフィルタをレーザー距離センサの投光器側に取り付けてもよい。このようにしても、カメラで、投光器からの光を可視画像として計測することができるため、上述の場合と同様の結果を得ることができる。
また、本実施の形態においては、各モードの機能を実現するプログラム615〜617が画像入力装置の補助記憶611にあらかじめ格納されているが、必ずしも、このようにする必要はない。例えば、それらのプログラム615〜617が格納された記憶媒体から、それらのプログラム615〜617が主記憶610にロードされ、メインプロセッサ601によって実行されるようにしてもよい。
本発明は、距離センサとカメラを自動的に校正する画像入力装置により、画像の各画素における色とその画素に対応する物体までの距離が算出可能となるため、例えばロボットの自律作業に必要な物体の認識、環境地図の生成、建築物のCGモデルの生成等、距離情報及び色情報の幾何的な関係を表す情報が必要とされる分野において利用可能である。
本発明の一実施形態に係る画像入力装置で実行される処理の全体の流れを示す図である。 本発明の一実施形態に係る、校正誤差検証モードの処理のフローチャートである。 本発明の一実施形態に係る、計測実行モードの処理のフローチャートである。 本発明の一実施形態に係る校正モードの処理のフローチャートである。 本発明の一実施形態に係る画像入力装置の外観図である。 本発明の一実施形態に係る画像入力装置のカメラで撮影した、校正誤差検証用パターンの画像と、基準パターン画像とを示した図である。 本発明の一実施形態に係る画像入力装置のカメラで撮影した物体の画像例を示した図である。 本発明の一実施形態に係る画像入力装置による計測結果のフォーマットを示した図である。 本発明の一実施形態に係る画像入力装置の機能構成図である。 本発明の一実施形態に係る画像入力装置の概略ハードウェア構成図である。
符号の説明
201:可視光用フィルタ、202:不可視光用フィルタ、204:フィルタ切り替え用アクチュエータ、207:雲台、601:メインプロセッサ、602:レーザー距離センサ、603:レーザー距離センサ制御ボード、604:カメラ、605:カメラ制御ボード、607:フィルタ制御ボード、608:カメラ移動機構、609:雲台等制御ボード、612:主記憶、611:補助記憶、620:制御部、621:校正実行処理部、623:計測実行処理部、624:校正誤差検証処理部。

Claims (5)

  1. 不可視光により物体の距離情報を計測するレーザー距離センサと、前記物体の色情報を計測するカメラとを備える画像入力装置であって、
    可視光を遮断して前記不可視光を通過させる第1フィルタおよび前記不可視光を遮断して前記可視光を通過させる第2フィルタを、前記カメラに装着可能に保持するフィルタ取付け手段と
    前記第1フィルタ装着中のカメラによって撮影される、前記レーザー距離センサから前記物体上の平面に投影された前記不可視光のパターンの画像と基準画像との比較により、前記レーザー距離センサと前記カメラとの校正誤差を算出する校正誤差検証手段と、
    前記校正誤差があらかじめ定めた値を超えた場合に、前記レーザー距離センサと前記カメラとの相対的な位置及び姿勢を校正する校正手段と、
    前記カメラが取得した前記色情報および前記色画像の取得中に前記レーザー距離センサが取得した前記距離情報を画像データとして記録する計測手段と、を有し、
    前記基準画像は、前回の校正時に前記第1フィルタ装着中のカメラによって撮影された前記レーザー距離センサから前記物体上の平面に投影された前記不可視光のパターンの画像であり、
    前記フィルタ取付け手段は、前記校正手段による校正が終了した場合または前記校正誤差が前記あらかじめ定められた値以下である場合、前記カメラのフィルタを、前記第1フィルタから前記第2フィルタに切り替え、
    前記計測手段は、前記カメラのフィルタが前記第1フィルタから前記第2フィルタに切り替えられた後、前記第2フィルタ装着中のカメラが取得した前記色情報および前記色画像の取得中に前記レーザー距離センサが取得した前記距離情報を画像データとして記録する、
    ことを特徴とする画像入力装置。
  2. 請求項1に記載の画像入力装置であって、
    前記校正誤差検証手段は、
    前記第1フィルタ装着中のカメラによって撮影された、前記不可視光のパターンの画像と前記基準画像との間の距離に基づき前記校正誤差を算出することを特徴とする画像入力装置。
  3. 請求項1または2に記載の画像入力装置であって、
    前記距離情報及び前記色情報の計測開始前、及び、前記距離情報及び前記色情報の計測が行われるごと、の少なくとも一方のタイミングで、前記フィルタ取付け手段が前記第1フィルタを前記カメラに装着し、前記校正誤差検証手段が前記レーザー距離センサと前記カメラとの校正誤差を算出する、
    ことを特徴とする画像入力装置。
  4. 請求項1〜3のいずれか一項に記載の画像入力装置であって、
    前記不可視光のパターンは、一直線上にない3点以上の点パターン、複数の直線状のパターン、複数の円状もしくは四角形状のパターン、格子状に配列した点パターンのいずれかである、
    ことを特徴とする画像入力装置。
  5. 不可視光により物体の距離情報を計測するレーザー距離センサと、前記物体の色情報を計測するカメラと、前記レーザー距離センサ及び前記カメラの相対的な位置及び姿勢を変更する調整機構と、を備える画像入力装置において、前記レーザー距離センサと前記カメラとの相対的な位置及び姿勢を校正する校正方法であって、
    前記画像入力装置は、
    可視光を遮断して前記不可視光を通過させる第1フィルタおよび前記不可視光を遮断して前記可視光を通過させる第2フィルタを、前記カメラに装着可能に保持するフィルタ取付け手段と、
    演算処理手段と、
    を有し、
    当該校正方法は、
    前記フィルタ取付け手段が、前記第1フィルタを前記カメラに装着させる処理と、
    前記演算処理手段が、前記第1フィルタ装着中のカメラによって撮影される、前記レーザー距離センサから前記物体上の平面に投影された前記不可視光のパターンの画像と基準画像とを比較し、前記レーザー距離センサと前記カメラとの校正誤差を算出する処理と、
    前記校正誤差があらかじめ定めた値を超えた場合に、前記演算処理手段が、前記調整機構を制御して、前記レーザー距離センサと前記カメラとの相対的な位置及び姿勢を校正する処理と、
    前記フィルタ取付け手段が、前記演算処理手段による校正が終了した場合または前記校正誤差が前記あらかじめ定められた値以下である場合、前記カメラのフィルタを、前記第1フィルタから前記第2フィルタに切り替える処理と、
    前記演算処理手段が、前記カメラのフィルタが前記第1フィルタから前記第2フィルタに切り替えられた後、前記第2フィルタ装着中のカメラが取得した前記色情報および前記色画像の取得中に前記レーザー距離センサが取得した前記距離情報を画像データとして記録する処理と、
    を実施し、
    前記基準画像は、前回の校正時に前記第1フィルタ装着中のカメラによって撮影された前記レーザー距離センサから前記物体上の平面に投影された前記不可視光のパターンの画像である、
    ことを特徴とする校正方法。
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Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100823739B1 (ko) * 2006-12-08 2008-04-21 한국전자통신연구원 주변 환경 변화에 신속하게 적응하여 환경 지도를 작성할수 있는 이동체의 환경 지도 작성 장치 및 그 방법
TW200935025A (en) * 2008-02-05 2009-08-16 Asia Optical Co Inc Image-capturing system and method of capturing marked image
KR100863700B1 (ko) * 2008-02-18 2008-10-15 에스엔유 프리시젼 주식회사 비전 검사 시스템 및 이것을 이용한 피검사체의 검사 방법
US8978440B2 (en) 2008-02-29 2015-03-17 Trimble Ab Automated calibration of a surveying instrument
US8240912B2 (en) * 2008-08-15 2012-08-14 Fluke Corporation Multi-zone non-contact spot thermometer
US9279882B2 (en) * 2008-09-19 2016-03-08 Caterpillar Inc. Machine sensor calibration system
US10244190B2 (en) * 2009-03-02 2019-03-26 Flir Systems, Inc. Compact multi-spectrum imaging with fusion
JP4751939B2 (ja) * 2009-03-31 2011-08-17 アイシン精機株式会社 車載カメラの校正装置
TWI426775B (zh) * 2010-12-17 2014-02-11 Ind Tech Res Inst 攝影機再校正系統及其方法
JP5770486B2 (ja) * 2011-02-21 2015-08-26 株式会社トプコン 全周画像計測装置
US9099389B2 (en) * 2012-02-10 2015-08-04 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method and apparatus for reducing stripe patterns
CN104380133B (zh) * 2012-04-17 2018-01-16 联邦科学和工业研究组织 三维扫描束和成像系统
US9857166B2 (en) * 2012-09-19 2018-01-02 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus and method for measuring a target object
JP6214867B2 (ja) * 2012-11-14 2017-10-18 株式会社東芝 計測装置、方法及びプログラム
WO2014100787A1 (en) * 2012-12-21 2014-06-26 Flir Systems, Inc. Compact multi-spectrum imaging with fusion
DE102014117888A1 (de) 2014-12-04 2016-10-13 Connaught Electronics Ltd. Online-Kalibrierung eines Kraftfahrzeug-Kamerasystems
US9837783B2 (en) 2015-01-26 2017-12-05 Nlight, Inc. High-power, single-mode fiber sources
US10050404B2 (en) 2015-03-26 2018-08-14 Nlight, Inc. Fiber source with cascaded gain stages and/or multimode delivery fiber with low splice loss
EP3380266B1 (en) 2015-11-23 2021-08-11 NLIGHT, Inc. Fine-scale temporal control for laser material processing
US11179807B2 (en) 2015-11-23 2021-11-23 Nlight, Inc. Fine-scale temporal control for laser material processing
EP3174007A1 (en) 2015-11-30 2017-05-31 Delphi Technologies, Inc. Method for calibrating the orientation of a camera mounted to a vehicle
EP3173979A1 (en) 2015-11-30 2017-05-31 Delphi Technologies, Inc. Method for identification of characteristic points of a calibration pattern within a set of candidate points in an image of the calibration pattern
US10295820B2 (en) * 2016-01-19 2019-05-21 Nlight, Inc. Method of processing calibration data in 3D laser scanner systems
CN106441246A (zh) * 2016-08-31 2017-02-22 无锡信欧光电科技有限公司 一种全自动激光准直仪
US10295845B2 (en) 2016-09-29 2019-05-21 Nlight, Inc. Adjustable beam characteristics
JP6132221B1 (ja) * 2016-10-12 2017-05-24 国際航業株式会社 画像取得方法、及び画像取得装置
JP6132222B1 (ja) * 2016-10-12 2017-05-24 国際航業株式会社 画像補正方法、及び画像補正装置
CN106556826B (zh) * 2016-11-24 2018-12-04 国网山东省电力公司电力科学研究院 变电站巡检机器人定位导航用二维激光雷达标定装置及方法
DE102017000307A1 (de) 2017-01-16 2018-07-19 Connaught Electronics Ltd. Verfahren zum Kalibrieren einer Kamera für ein Kraftfahrzeug unter Berücksichtigung eines Kalibrierfehlers, Kamera sowie Kraftfahrzeug
CN110651218B (zh) 2017-04-04 2022-03-01 恩耐公司 用于检流计扫描仪校准的设备、系统和方法
JP6719494B2 (ja) * 2018-02-07 2020-07-08 直之 村上 追尾レーザー距離計測器の駆動計測で、3次元の数値駆動の制御機器の3次元の駆動数値を演算する方法。
EP3534333A1 (en) * 2018-02-28 2019-09-04 Aptiv Technologies Limited Method for calibrating the position and orientation of a camera relative to a calibration pattern
EP3534334B1 (en) 2018-02-28 2022-04-13 Aptiv Technologies Limited Method for identification of characteristic points of a calibration pattern within a set of candidate points derived from an image of the calibration pattern
JP7003219B2 (ja) * 2018-03-16 2022-01-20 三菱電機株式会社 重畳表示システム
KR102466940B1 (ko) * 2018-04-05 2022-11-14 한국전자통신연구원 로봇 주행용 위상 지도 생성 장치 및 방법
JP6921036B2 (ja) * 2018-05-28 2021-08-18 三菱電機株式会社 レーザ較正装置、その較正方法、及びレーザ較正装置を含む画像入力装置
CN114073075B (zh) * 2019-05-12 2024-06-18 魔眼公司 将三维深度图数据映射到二维图像上
US11590650B2 (en) * 2019-06-10 2023-02-28 Preferred Networks, Inc. Generation method for training dataset, model generation method, training data generation apparatus, inference apparatus, robotic controller, model training method and robot
WO2021075967A1 (en) * 2019-10-18 2021-04-22 Xnr B.V. Method and apparatus for optical measurement of environments
CN111938513B (zh) * 2020-06-30 2021-11-09 珠海市一微半导体有限公司 一种机器人越障的沿边路径选择方法、芯片及机器人
WO2023139946A1 (ja) * 2022-01-19 2023-07-27 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距装置および測距方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02228517A (ja) * 1989-03-02 1990-09-11 Ohbayashi Corp 建築又は土木現場用三次元位置測定装置及び方法
JPH11351826A (ja) * 1998-06-09 1999-12-24 Mitsubishi Electric Corp カメラ位置同定装置
JP2003170794A (ja) * 2001-12-04 2003-06-17 Honda Motor Co Ltd 車載用レーダー装置の軸調整装置
JP2003240510A (ja) * 2002-02-15 2003-08-27 Mitsubishi Electric Corp 車載センサの取り付け角度調整装置および調整方法
JP2003315441A (ja) * 2002-04-19 2003-11-06 Mitsubishi Electric Corp 車載レーダ装置の軸調整装置および軸調整方法
JP2003315442A (ja) * 2002-04-22 2003-11-06 Mitsubishi Electric Corp 車載レーダ装置の位置調整装置および位置調整方法
JP2004037396A (ja) * 2002-07-05 2004-02-05 Foundation For The Promotion Of Industrial Science 三次元データ取得装置
JP2004205398A (ja) * 2002-12-26 2004-07-22 Nissan Motor Co Ltd 車両用レーダ装置およびレーダの光軸調整方法
JP2005077385A (ja) * 2003-09-03 2005-03-24 Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd 画像対応付け方法ならびに測量方法およびそれらを利用する計測システム
JP2007171092A (ja) * 2005-12-26 2007-07-05 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 三次元計測用マーカとこれを用いた三次元計測方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3897150A (en) * 1972-04-03 1975-07-29 Hughes Aircraft Co Scanned laser imaging and ranging system
US4979815A (en) * 1989-02-17 1990-12-25 Tsikos Constantine J Laser range imaging system based on projective geometry
US5149972A (en) * 1990-01-18 1992-09-22 University Of Massachusetts Medical Center Two excitation wavelength video imaging microscope
JP3254475B2 (ja) 1994-01-11 2002-02-04 日本電信電話株式会社 レンジ・センサにおけるキャリブレーション方法
US5543889A (en) * 1994-05-16 1996-08-06 Eastman Kodak Company Camera with pointing aid
US5889582A (en) * 1997-03-10 1999-03-30 Virtek Vision Corporation Image-directed active range finding system
EP1006386B1 (en) * 1998-05-25 2011-05-04 Panasonic Corporation Range finder and camera
US6750899B1 (en) * 2000-01-07 2004-06-15 Cyberoptics Corporation Solder paste inspection system
JP2002213946A (ja) * 2001-01-19 2002-07-31 Seiko Precision Inc イメージ信号出力方法、イメージ信号出力装置、測距装置及び撮像装置
JP2002334338A (ja) * 2001-05-09 2002-11-22 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 物体追跡装置及び物体追跡方法並びに記録媒体
JP2003018604A (ja) * 2001-07-04 2003-01-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像信号符号化方法、画像信号符号化装置および記録媒体
US20030189633A1 (en) * 2002-04-05 2003-10-09 Roy Allen System and method for calibrating a laser line illumination system for use in imaging systems
EP1526477B1 (en) * 2002-07-26 2010-05-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Image processing apparatus
US7537381B2 (en) * 2003-12-02 2009-05-26 White Box, Inc. Measurement system and method
US7750936B2 (en) * 2004-08-06 2010-07-06 Sony Corporation Immersive surveillance system interface
US7629995B2 (en) * 2004-08-06 2009-12-08 Sony Corporation System and method for correlating camera views
US7541588B2 (en) * 2005-07-12 2009-06-02 Northrop Grumman Corporation Infrared laser illuminated imaging systems and methods

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02228517A (ja) * 1989-03-02 1990-09-11 Ohbayashi Corp 建築又は土木現場用三次元位置測定装置及び方法
JPH11351826A (ja) * 1998-06-09 1999-12-24 Mitsubishi Electric Corp カメラ位置同定装置
JP2003170794A (ja) * 2001-12-04 2003-06-17 Honda Motor Co Ltd 車載用レーダー装置の軸調整装置
JP2003240510A (ja) * 2002-02-15 2003-08-27 Mitsubishi Electric Corp 車載センサの取り付け角度調整装置および調整方法
JP2003315441A (ja) * 2002-04-19 2003-11-06 Mitsubishi Electric Corp 車載レーダ装置の軸調整装置および軸調整方法
JP2003315442A (ja) * 2002-04-22 2003-11-06 Mitsubishi Electric Corp 車載レーダ装置の位置調整装置および位置調整方法
JP2004037396A (ja) * 2002-07-05 2004-02-05 Foundation For The Promotion Of Industrial Science 三次元データ取得装置
JP2004205398A (ja) * 2002-12-26 2004-07-22 Nissan Motor Co Ltd 車両用レーダ装置およびレーダの光軸調整方法
JP2005077385A (ja) * 2003-09-03 2005-03-24 Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd 画像対応付け方法ならびに測量方法およびそれらを利用する計測システム
JP2007171092A (ja) * 2005-12-26 2007-07-05 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 三次元計測用マーカとこれを用いた三次元計測方法

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