JP4505854B2 - レーザ加工装置 - Google Patents
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Description
ここで、制御手段によりレーザ光偏向手段及びレーザ光反射手段が制御され、レーザ光収束手段におけるレーザ光の屈折点からレーザ光反射手段におけるレーザ光の反射点までの光路長とレーザ光反射手段におけるレーザ光の反射点からレーザ光が被加工物に照射する照射点までの光路長との和が、レーザ光収束手段の焦点距離と略等しくなるように設定される。これにより、レーザ光を被加工物に対してあらゆる方向(X軸方向、Y軸方向、Z軸方向)からレーザ光を照射することができる。この結果、障害物を避けて被加工物にレーザ光を照射することができるとともに、特に被加工物の加工面の高さが変化しても、常に焦点位置でレーザ加工することができるため、レーザ加工の品質を向上させることができる。
なお、本明細書の「焦点距離」とは、焦点と主点の間隔のことを意味する。また、「焦点」とは、レーザ光収束手段(例えば、fθレンズ)に細い平行光を入射させたときの集光点であり、「主点」とは、光学系全体をそれと同じ機能の1枚の薄い仮想レンズに置き換えた場合、その薄い仮想レンズと光軸の交点のことである。
図1及び図2に示すように、レーザ加工装置10は、レーザ光Lを出射するレーザ光発振器(レーザ光出射手段)12と、レーザ光発振器12から出射されたレーザ光Lを任意の方向(例えば、X軸方向及びY軸方向)に偏向させるガルバノメータ型スキャナ(レーザ光偏向手段)14と、ガルバノメータ型スキャナ14により偏向されたレーザ光Lを収束させるfθレンズ(レーザ光収束手段)16と、fθレンズ16により収束されたレーザ光Lを任意の方向(例えば、X軸方向、Y軸方向及びZ軸方向)に反射させる反射ミラー(レーザ光反射手段)18と、を有している。
なお、各偏向ミラー14B、14Dは、X軸用ガルバノメータ14A及びY軸用ガルバノメータ14Cにそれぞれ回転可能に取り付けられている構成を例にとり説明したが、これに限られるものではなく、例えば、各偏向ミラー14B、14DをX軸方向及びY軸方向に移動可能に設定されたテーブル(図示省略)に取り付けてもよい。
なお、XYZテーブル20はモータ式に限られるものではなく、シリンダー駆動により移動可能とした構成でもよい。
また、反射ミラー18は、XYZテーブル20に取り付けられた構成を例にとり説明したが、これに限られることなく、各反射ミラー18A、18B、18C自体をX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向に変位可能に設け、後述の制御回路22により各反射ミラー18A、18B、18Cを制御して変位させるようにしても良い。
本実施形態では、被加工物として、誘電体ブロックフィルタが挙げられる。この誘電体ブロックフィルタは、高周波用に開発された誘電体共振器を使用したフィルタの一種である。
本実施形態のレーザ加工装置10は、上記した誘電体ブロックフィルタのフィルタ波形調整工程に用いられるものであり、フィルタ特性として所望する周波数範囲を設定するために、誘電体共振器に付与された導体膜を適宜レーザトリミングによって加工し、共振周波数を調整するためのものである。
図3(a)に示すように、fθレンズ16の焦点距離が185mmで、被加工物Wの加工面高さが5mmの場合では、ガルバノメータ型スキャナ14によるレーザ光Lの走査位置を、移動基準点から26.88mmに設定し、反射ミラー18の位置を同じく41.45mmに、また角度を75°に設定すると、fθレンズ16から反射ミラー18までの光路長(M1)が122.59mm、反射ミラー18から被加工物Wまでの光路長(N1)が62.41mmとなり、その和(122.59+62.41)をとると185mmとなり、fθレンズ16の焦点距離と一致する。
また、図3(b)に示すように、fθレンズ16の焦点距離が185mmで、被加工物Wの加工面高さが4mmの場合では、ガルバノメータ型スキャナ14によるレーザ光Lの走査位置を、移動基準点から23.11mmに設定し、反射ミラー18の位置を同じく38.22mmに、かつ図3(a)での高さより5.52mm低くし、また角度を図3(a)と同じく75°に設定すると、fθレンズ16から反射ミラー18までの光路長(M2)が128.29mm、反射ミラー18から被加工物Wまでの光路長(N2)が56.71mmとなり、その和(128.29+56.71)をとると185mmとなり、fθレンズ16の焦点距離と一致する。
なお、上記実施例では、反射ミラー18の位置を変えることで、fθレンズ16から反射ミラー18までの光路長と、反射ミラー18から被加工物Wまでの光路長との和を、fθレンズ16の焦点距離と一致させているが、反射ミラー18の角度を可変としても、同様の目的を達成することができる。
なお、レーザ加工装置10では、被加工物Wの側面をレーザ加工する場合に限られるものではなく、被加工物Wの上面も当然にレーザ加工することができる。
すなわち、他の電子部品が実装済みの基板(図示省略)に対して、局所的に半田付けを行う場合、fθレンズと基板との間にX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向に移動可能な反射ミラーを設け、上述したように、レーザ光Lを反射ミラーで反射させ、基板の照射面に対して傾斜させて照射することにより、実装済みの電子部品を避けてレーザ加工することができる。
また、半田付けが必要な箇所が複数あり、実装面の高さが異なる場合には、上記実施形態の場合と同様にして、偏向ミラー及び反射ミラーを制御回路等により制御してレーザ光Lの焦点位置を変更することにより、実装面の高さが異なる部位の半田付けも容易に行うことができる。
12 レーザ光発振器(レーザ光出射手段)
14 ガルバノメータ型スキャナ(レーザ光偏向手段)
16 fθレンズ(レーザ光収束手段)
18 反射ミラー(レーザ光反射手段)
20 XYZテーブル(移動手段)
22 制御回路(制御手段)
L レーザ光
W 被加工物
Claims (2)
- レーザ光を出射するレーザ光出射手段と、
前記レーザ光出射手段から出射されたレーザ光を任意の方向に偏向するレーザ光偏向手段と、
前記レーザ光偏向手段により偏向された前記レーザ光を収束させるレーザ光収束手段と、
前記レーザ光収束手段により収束された前記レーザ光を任意の方向に反射するレーザ光反射手段と、
前記レーザ光収束手段における前記レーザ光の屈折点から前記レーザ光反射手段における前記レーザ光の反射点までの光路長と前記レーザ光反射手段における前記レーザ光の反射点から前記レーザ光が被加工物に照射する照射点までの光路長との和が、前記レーザ光収束手段の焦点距離と略等しくなるように前記レーザ光偏向手段及び前記レーザ光反射手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とするレーザ加工装置。 - 前記レーザ光反射手段は、前記レーザ光反射手段を任意の方向に移動させる移動手段を有し、前記制御手段により前記移動手段が制御されることを特徴とする請求項1に記載のレーザ加工装置。
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JP2006102788A JP2006102788A (ja) | 2006-04-20 |
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JPH09192868A (ja) * | 1996-01-19 | 1997-07-29 | Honda Motor Co Ltd | レーザ加工方法および装置 |
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