JP4455961B2 - ダハ面特性測定方法及びダハ面特性測定装置 - Google Patents

ダハ面特性測定方法及びダハ面特性測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4455961B2
JP4455961B2 JP2004263401A JP2004263401A JP4455961B2 JP 4455961 B2 JP4455961 B2 JP 4455961B2 JP 2004263401 A JP2004263401 A JP 2004263401A JP 2004263401 A JP2004263401 A JP 2004263401A JP 4455961 B2 JP4455961 B2 JP 4455961B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
roof
light
angle
roof surface
light receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004263401A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006078363A (ja
Inventor
健二 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2004263401A priority Critical patent/JP4455961B2/ja
Publication of JP2006078363A publication Critical patent/JP2006078363A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4455961B2 publication Critical patent/JP4455961B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、プリズム、ミラー等の被検物の1対のダハ面の精度を検査するために、ダハ面が形成するダハ角度及び交点位置を測定するダハ面特性測定方法及びダハ面特性測定装置に関する。
一般に、複写機、プリンタ、ファクシミリ等の画像形成装置においては、原稿を走査して画像を読み取るために2つの走行体が設けられている(例えば、特許文献1参照)。このような画像形成装置では、第1の走行体は、原稿が載置されるコンタクトガラスに対して45°の角度で配置されたミラーを有し、原稿からの反射光はこのミラーによって90°角度を変えて第2の走行体に向かって反射する。一方、第2の走行体は、互いに90°の角度をもって配置された1対のダハミラーを有し、第1の走行体からの反射光はダハミラーによって180°折り返されて撮像素子であるCCDに導かれ、CCDに結像されて読み取られる。この一連の処理を第1の走行体及び第2の走行体が走行して繰り返すことにより、原稿の画像が撮像される。
このような画像形成装置では、ダハミラーの光が反射する面(ダハ面)が互いに成す角度(ダハ角度)及びダハ面が互いに交わる稜線の位置(交点位置)の精度は画像の読み取りの精度に大きく影響する。すなわち、1対のダハミラーが垂直に組み合わされてダハ角度が正確に90°となること、及びそれぞれのダハ面の延長面が交わる稜線が予め設定された水平面(基準面)上に正確に位置することが重要となる。
そこで、これらのダハ角度や交点位置を測定する技術が従来より考案されている(例えば、特許文献2参照)。しかしながら、従来の測定方法では、ダハ角度の測定と交点位置の測定とをそれぞれ別々に行ったり、あるいは両者を併せて測定するとしてもそのために様々な異なる計測を行う必要があったりして、測定のために多くの作業が求められ測定自体が非常に煩であるとともに、高コスト化を招来するものであった。
特開平8−79463号公報 特開平6−42928号公報
本発明は、上記の問題に鑑みて為されたもので、少ない作業で容易にダハ角度及び交点位置を測定することができ、コストの低減化を図ることが可能なダハ面特性測定方法及びダハ面特性測定装置を提供することを課題としている。
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、被検物の1対のダハ面に光を照射し、前記ダハ面で反射する光を平行光変換手段を用いてダハ面に照射した光と平行な平行光に変換して受光する場合と、前記ダハ面で反射する光を平行光に変換することなく受光する場合とのそれぞれで受光位置を検出し、検出した前記2つの受光位置の情報に基づいて前記ダハ面のダハ角度及び交点位置を測定するダハ面特性測定方法を特徴とする。
請求項2に係る発明は、請求項1に記載のダハ面特性測定方法において、前記2つの受光位置の情報に基づいてまず前記ダハ角度を算出し、つぎに該ダハ角度の情報に基づいて前記交点位置を算出することを特徴とする。
請求項3に係る発明は、被検物の1対のダハ面に光を照射する光源と、前記ダハ面で反射する前記光源の光を受光してその受光位置を検出する受光位置検出手段と、入射する光をダハ面に照射した光と平行な平行光とする平行光変換手段とを備え、前記ダハ面で反射してから前記受光位置検出手段で受光されるまでの光路上に、前記平行光変換手段が進退自在に設けられ、前記受光位置検出手段によって検出された前記平行光変換手段が前記光路上に介在する場合の受光位置の情報と、前記平行光変換手段が前記光路上に介在しない場合の受光位置の情報とに基づいて、前記ダハ面のダハ角度及び交点位置を測定するダハ面特性測定装置を特徴とする。
請求項4に係る発明は、請求項3に記載のダハ面特性測定装置において、前記受光位置検出手段によって検出された前記2つの受光位置の情報に基づいてまず前記ダハ角度を算出し、つぎに該ダハ角度の情報に基づいて前記交点位置を算出することを特徴とする。
請求項1乃至請求項4のいずれかに係る発明によれば、平行光変換手段をダハ面で反射する光の光路上に進入・退出するように移動させるだけで(反射する光を平行光に変換するかしないかだけで)測定に必要な情報を得ることができ、従来に比べて測定の作業量が非常に少なく、また作業自体が極めて容易なため、誰でも簡単にダハ角度及び交点位置を測定することができる。また、これに加えて、ダハ角度と交点位置とで測定のための光学系を共通にできるため、コストの低減化を図ることができる。
本発明によれば、少ない作業で容易にダハ角度及び交点位置を測定することができ、コストの低減化を図ることが可能なダハ面特性測定方法及びダハ面特性測定装置を提供することができる。
本発明を実施するための形態を図面に基づいて説明する。図1は、本実施の形態に係るダハ面特性測定装置を用いたダハ角度及び交点位置の測定方法を説明するための模式図である。このダハ面特性測定装置1は、計測部2と、制御部3とから構成される。計測部2は、光源としてのレーザ4と、受光位置検出手段としてのCCD5と、平行光変換手段としてのコリメータレンズ6とを筐体(図示略)の内部に備えている。
レーザ4は、筐体に形成された開口(図示略)から、外部に設置された被検物としての1対のダハミラー9a,9b(厳密には一方のダハミラー、ここではダハミラー9a)に向けて、レーザ光を照射するようになっている。CCD5は、ダハミラー9a,9bで反射したレーザ光を受光し、その受光位置Sを検出するようになっている。
コリメータレンズ6は、可動式であって、CCD5の手前で、ダハミラー9a,9bで反射してからCCD5で受光されるまでのレーザ光の光路上に進退可能に設けられている。このコリメータレンズ6の進入及び退出の移動動作は制御部3によって制御され、進入した状態ではコリメータレンズ6はCCD5に対向する位置に配されるようになっている。コリメータレンズ6は、出射光が互いに平行となるように入射光を平行光束にするレンズであり、レーザ光の光路に進入しているときは、入射するダハミラー9a,9bで反射したレーザ光を(ダハミラー9aに照射したレーザ光と平行な)平行光にしてCCD5に向けて出射するようになっている。逆に、コリメータレンズ6が光路から退出しているときは、ダハミラー9a,9bで反射したレーザ光は平行光となることなくそのままCCD5に向かう。なお、計測部2の筐体内に設けられたハーフミラー11は、ダハミラー9a,9bで反射したレーザ光をCCD5に向けて折り返すためのものである。
制御部3は、計測部2に接続されて、計測部2全体の制御を行う。また、CCD5が検出した受光位置の情報を記録し、この情報に基づいてダハミラー9a,9bが成すダハ角度θ及び交点位置Pを算出する。ここで、ダハ角度θとは、ダハミラー9a,9bの光が反射する面であるダハ面12a,12bが互いに成す角度である。また、交点位置Pとは、ダハ面12a,12bの延長面が互いに交わる稜線の位置である。一般に、ダハ角度は正確に90°であること、また交点位置は予め決められた所定の水平面(基準面)上に存すること、すなわち上下方向で基準面と正確に一致することが求められる。
なお、このダハ面特性測定装置1を用いてダハ角度θ及び交点位置Pを測定する際には、計測部2の開口の手前で、レーザ光の光路上にアダプタ13を設置する。このアダプタ13は、ビームスプリッタ14と、ハーフミラー15とを備え、ダハミラー9a,9bで反射したレーザ光がハーフミラー15、ビームスプリッタ14でそれぞれ反射することにより、計測部2の開口から筐体内部に戻るようになっている。
ただし、レーザ4から照射されるレーザ光がビームスプリッタ14を通ると、ダハミラー9aに向かうはずのレーザ光が分岐されて一部ハーフミラー15に向かってしまう(図1の矢印D参照)。そして、このハーフミラー15に向かった光がダハミラー9a,9bで反射して計測部2に戻ってくると、CCD5が不要な光を受光し測定不良が発生してしまう。そこで、こうした測定不良を防止するために、ハーフミラー15とダハミラー9bとの間のレーザ光の光路上に1/2波長板(雲母板)16及び偏光フィルタ17が設けられている。この偏光フィルタ17はハーフミラー15からくるレーザ光を遮断するように角度調整されて設置されている。また、1/2波長板16はダハミラー9a,9bからくるレーザ光が偏光フィルタ17を通過可能なようにダハミラー9a,9bからの光の偏光方向(振動方向)を変えるようになっている。このようにしてダハミラー9a,9bからのレーザ光のみが計測部2に戻るようにすることによって、ダハ面特性測定装置1の測定不良の発生を防止している。
このダハ面特性測定装置1の光学系は図2のように等価することができる。以下、等価した構成を示す図を用いて説明する。図2は、ダハ角度θが正確に90°であり、かつ交点位置Pが上下方向で基準面Lと正確に一致する場合を示す。このときのダハ角度θをθx、交点位置PをPx、反射ピッチRをRx、ダハミラー9bで反射する反射光OをOx、ダハ面12a,12bにおけるレーザ光の反射点QをQx,Qx、受光位置SをSxとする。
まず、レーザ4からダハミラー9aに向けて水平方向に入射光Iが照射されると、この入射光Iはダハミラー9aで反射してダハミラー9bへ向かい、さらにダハミラー9bで反射して折り返し、反射光Oxとなる。反射光Oxはコリメータレンズ6の進退状況により、コリメータレンズ6を介して又は介さずに、CCD5で受光される。ここで、図2に示すように、ダハ角度θが正確に90°のとき(すなわち、ダハ角度θ=θxのとき)は、反射光Oxは入射光Iと平行となる。
一方、ダハ角度θや交点位置Pの精度が狂うと、反射光Oに影響が生じる。例えば、図3は、ダハ角度θが90°よりも大きく、かつ交点位置Pが基準面Lよりも上方に位置する場合を示す。このときのダハ角度θをθy、交点位置PをPy、反射ピッチRをRy、ダハミラー9bで反射する反射光OをOy、ダハ面12a,12bにおけるレーザ光の反射点QをQy,Qyとする。図3に示すように、ダハ角度θが90°よりも大きいとき(ダハ角度θ=θyのとき)、ダハ面12aからの光がダハ面12bへ入射する入射角度は、ダハ角度θ=90°(=θx)のときよりも大きくなるため、反射光Oyは、入射光Iと平行にはならず、離間する方向に向かう。また、交点位置Pが基準面Lよりも上方に位置するとき(交点位置P=Pyのとき)、反射点Qy,Qyは、交点位置P=Pxのときの反射点Qx,Qxよりも手前(レーザ4寄り)になるため、反射ピッチRyは反射ピッチRxよりも大きくなる。なお、逆にダハ角度θが90°よりも小さいとき、反射光Oは入射光Iに近接する方向に向かい、交点位置Pが基準面Lよりも下方に位置するとき、反射ピッチRは反射ピッチRxよりも小さくなる。
また、図3(a)はコリメータレンズ6が反射光Oyの光路に進入した状態を示し、図3(b)はコリメータレンズ6が反射光Oyの光路から退出した状態を示す。図3(a)及び(b)に示すように、本来直進するはずの反射光Oyは、コリメータレンズ6の介在により平行光に変換されてCCD5に向かう。したがって、コリメータレンズ6が介在した場合の反射光Oyの受光位置Sy1と、コリメータレンズ6が介在しない場合の反射光Oyの受光位置Sy2とは異なる。
以上より、ダハ角度θ及び交点位置Pの相違、加えてコリメータレンズ6の介在の有無によってCCD5による反射光Oの受光位置Sは異なってくる。このことを利用して、ダハ面特性測定装置1はダハミラー9a,9bのダハ角度θ及び交点位置Pの精度を測定する。
図4は、ダハ面特性測定装置1を用いてダハミラーのダハ角度及び交点位置を測定するときのフローを示す。
まず、水平方向に出射するレーザ4のレーザ光がダハミラー9aに照射可能なようにダハミラー9a,9bを計測部2と対向するように配置した後、コリメータレンズ6を反射光Oの光路に進入する位置に移動させ、光路上にコリメータレンズ6を介在させる(S1)。そして、レーザ4からレーザ光をダハミラー9aに向けて照射する(S2)。この入射光Iはダハミラー9a,9bでそれぞれ反射して折り返され、この反射光Oはコリメータレンズ6を通って平行光となった後CCD5で受光される。CCD5はこの平行光を受光した位置(受光位置)Sの情報を取得し(S3)、制御部3はこの受光位置Sの情報をCCD5から受けて記憶する(S4)。
つぎに、コリメータレンズ6を反射光Oの光路から退出する位置に移動させ、光路上にコリメータレンズ6を介在させないようにする(S5)。すると、反射光Oはコリメータレンズ6を通らずにそのままCCD5で受光される。CCD5はこの光の受光位置Sの情報を取得し(S6)、制御部3はこの受光位置Sの情報をCCD5から受けて記憶する(S7)。
制御部3は、ステップS4及びステップS7において記憶した2つの受光位置Sの情報に基づいて、ダハミラー9a,9bのダハ角度θ及び交点位置Pを算出する(S8)。
このダハ角度θ及び交点位置Pの算出方法については、まず、2つの受光位置Sの情報に基づいてダハ角度θを算出し、つぎにダハ角度θの情報も加えて、交点位置Pを算出する。
具体的には、例えば以下の方法による。ここで、測定の対象となるダハミラー9a,9bは図3に示す状態と同様、すなわちダハ角度θy、交点位置Pyであるとして説明する。図5は、ダハ角度θy及び交点位置Pyの算出方法を説明するための図であり、測定対象となるダハ角度θy、交点位置Pyのときのダハ面12a,12bを実線で示し、基準となるダハ角度θx、かつ交点位置Pxのときのダハ面12a,12bを鎖線で示す。また、破線で示したダハ面12b’は交点位置Pyでダハ角度θxとしたときの仮定のダハ面であり、反射点Qy’はダハ面12b’における仮定の反射点である。
例えば、ダハ角度θyの算出については、ダハ角度θxとダハ角度θyとの角度差(=ダハ角度θy−ダハ角度θx)を角度差αとすると、この角度差αと、コリメータレンズ6からCCD5までの距離Wa及び受光位置Sy1から受光位置Sy2までの距離Haとの関係は以下の式で表される。
Figure 0004455961
ここで、距離Waは予め設定された定数であり、距離Haは受光位置Sy1の情報及び受光位置Sy2の情報から求められるため、角度差αは式(1)より算出される。このようにして角度差αが求められれば、ダハ角度θyはダハ角度θx(=90°)にこの角度差αを加えることにより算出される。
つぎに、例えば、交点位置Pyの算出について、基準面Lを基準としたときの交点位置Pxと交点位置Pyとの距離差(すなわち、交点位置Px(基準面L)から交点位置Pyまでの距離)を距離差βとして、説明する。ダハ角度θx、かつ交点位置Pxとしたときの受光位置Sxから受光位置Sy2までの距離Hbは、角度差αに起因するずれ分である距離Hc(レーザ光の入射角度が変化することによるずれ分)及び距離Hd(反射点Qが上下方向にシフトすることによるずれ分)と、距離差βに起因するずれ分である距離Heとからなる。
距離Hcは、ダハ角度θx、かつ交点位置Pxとしたときのダハ面12bにおけるレーザ光の反射点QxからCCD5までの距離を距離Wbとすると、以下の式で表される。
Figure 0004455961
また、距離Hdについては、距離Hdが反射点Qy’からダハ面12bにおける反射点Qyまでの距離と同じであるため、以下の関係が成り立つ。
Figure 0004455961
また、距離Heについては、以下の関係が成り立つ。
Figure 0004455961
したがって、距離差βは、式(2)、式(3)及び式(4)から次式で表される。
Figure 0004455961
ここで、距離Wb及び反射ピッチRxは予め求められる基準の定数であり、距離Hbは予め求められる基準の値である受光位置Sxと、受光位置Sy2の情報とから求められ、さらに、角度差αは先に求められているため、距離差βは式(5)から算出される。このようにして距離差βが求められれば、交点位置Pyは交点位置Px、すなわち基準面Lの位置に、この距離差β分を加えることにより算出される。
この実施の形態に係るダハ面特性測定装置1では、被検物のダハミラー9a,9bにレーザ4からレーザ光を照射し、ダハミラー9bで反射した反射光Oの光路にコリメータレンズ6を進入させてCCD5で受光する場合と、この光路からコリメータレンズ6を退出させてCCD5で受光する場合とのそれぞれで受光位置Sを検出し、検出した2つの受光位置Sの情報に基づいてダハ角度θ及び交点位置Pを測定するので、コリメータレンズ6を反射光Oの光路上に進入・退出するように移動させるだけで(反射光Oを平行光に変換するかしないかだけで)測定のための情報を得ることができ、従来に比べて測定の作業量が非常に少なく、また作業自体が極めて容易なため、誰でも簡単にダハ角度θ及び交点位置Pの測定を行うことができる。また、これに加えて、ダハ角度θと交点位置Pとで測定のための光学系が共通するため、全体としてコストの低減化を図ることができる。
以上、本発明を実施するための形態を説明したが、本発明は上述した形態に限られるものではなく、例えば本実施の形態ではダハ面特性測定装置の光学系を図1に示すレイアウトとして説明したが、図2のように等価できれば、これに限定されるものではない。
本実施の形態に係るダハ面特性測定装置を用いたダハ角度及び交点位置の測定方法を説明するための模式図である。 図1のダハ面特性測定装置の等価した光学系を説明するための模式図である。 図2の等価した光学系において、ダハ角度が90°より大きく交点位置が基準面より上方にある場合を説明するための模式図であって、(a)はコリメータレンズが光路に進入した状態を示し、(b)はコリメータレンズが光路から退出した状態を示す。 ダハ面特性測定装置を用いてダハミラーのダハ角度及び交点位置を測定するときの流れを示すフローチャートである。 ダハ角度及び交点位置の算出方法を説明するための図である。
符号の説明
1 ダハ面特性測定装置
4 レーザ(光源)
5 CCD(受光位置検出手段)
6 コリメータレンズ(平行光変換手段)
9a、9b ダハミラー(被検物)
12a、12b ダハ面
θ、θx、θy ダハ角度
P、Px、Py 交点位置
S、Sx、Sy1、Sy2 受光位置
I 入射光(光)
O、Ox、Oy 反射光(光)

Claims (4)

  1. 被検物の1対のダハ面に光を照射し、前記ダハ面で反射する光を平行光変換手段を用いてダハ面に照射した光と平行な平行光に変換して受光する場合と、前記ダハ面で反射する光を平行光に変換することなく受光する場合とのそれぞれで受光位置を検出し、検出した前記2つの受光位置の情報に基づいて前記ダハ面のダハ角度及び交点位置を測定することを特徴とするダハ面特性測定方法。
  2. 請求項1に記載のダハ面特性測定方法において、
    前記2つの受光位置の情報に基づいてまず前記ダハ角度を算出し、つぎに該ダハ角度の情報に基づいて前記交点位置を算出することを特徴とするダハ面特性測定方法。
  3. 被検物の1対のダハ面に光を照射する光源と、前記ダハ面で反射する前記光源の光を受光してその受光位置を検出する受光位置検出手段と、入射する光をダハ面に照射した光と平行な平行光とする平行光変換手段とを備え、
    前記ダハ面で反射してから前記受光位置検出手段で受光されるまでの光路上に、前記平行光変換手段が進退自在に設けられ、
    前記受光位置検出手段によって検出された前記平行光変換手段が前記光路上に介在する場合の受光位置の情報と、前記平行光変換手段が前記光路上に介在しない場合の受光位置の情報とに基づいて、前記ダハ面のダハ角度及び交点位置を測定することを特徴とするダハ面特性測定装置。
  4. 請求項3に記載のダハ面特性測定装置において、
    前記受光位置検出手段によって検出された前記2つの受光位置の情報に基づいてまず前記ダハ角度を算出し、つぎに該ダハ角度の情報に基づいて前記交点位置を算出することを特徴とするダハ面特性測定装置。
JP2004263401A 2004-09-10 2004-09-10 ダハ面特性測定方法及びダハ面特性測定装置 Expired - Fee Related JP4455961B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004263401A JP4455961B2 (ja) 2004-09-10 2004-09-10 ダハ面特性測定方法及びダハ面特性測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004263401A JP4455961B2 (ja) 2004-09-10 2004-09-10 ダハ面特性測定方法及びダハ面特性測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006078363A JP2006078363A (ja) 2006-03-23
JP4455961B2 true JP4455961B2 (ja) 2010-04-21

Family

ID=36157950

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004263401A Expired - Fee Related JP4455961B2 (ja) 2004-09-10 2004-09-10 ダハ面特性測定方法及びダハ面特性測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4455961B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009068942A (ja) * 2007-09-12 2009-04-02 Ricoh Co Ltd ダハミラー測定装置
CN101915658B (zh) * 2010-07-26 2013-02-20 长春理工大学 激光指示器多参数检测仪
CN103364173A (zh) * 2012-03-27 2013-10-23 长春市艾必利务科技有限公司 可见-近红外激光束多参数数字化测量仪耦合装置
CN110411377B (zh) * 2019-06-11 2021-09-28 湖北光安伦芯片有限公司 一种直角检测调节系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006078363A (ja) 2006-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1840502B1 (en) Optical interferometer for measuring changes in thickness
JPH07107481B2 (ja) 変位測定装置
JP5782786B2 (ja) 形状測定装置
JP2008145417A (ja) 表面形状測定装置および応力測定装置、並びに、表面形状測定方法および応力測定方法
JPH0455243B2 (ja)
JP4455961B2 (ja) ダハ面特性測定方法及びダハ面特性測定装置
CN104508421B (zh) 光学测量探针和用于内直径和外直径的光学测量的方法
JP2007298281A (ja) 被検体の面形状の測定方法及び測定装置
JP4810693B2 (ja) 光波干渉測定装置
JP2001174414A (ja) 基準板,表面検査装置の調整方法及び表面検査装置用調整装置
KR102341437B1 (ko) 분광 분석 장치, 분광 분석 방법, 강대의 제조 방법, 및 강대의 품질 보증 방법
TWI466112B (zh) 光學設備及光學定址方法
JP5346670B2 (ja) 非接触表面形状測定装置
JP2009103592A (ja) コリメーション検査装置
JP6162499B2 (ja) 対向平面平行度測定装置の自動調整方法及び装置
JP2008032669A (ja) 光走査式平面外観検査装置
KR101799775B1 (ko) 레이저 간섭계 및 이를 이용한 측정방법
JPS61155902A (ja) 干渉計測装置
JP4995041B2 (ja) 印刷はんだ検査方法、及び印刷はんだ検査装置
JP5149085B2 (ja) 変位計
JP2007017287A (ja) クロスダイクロイックプリズムの検査装置、製造装置、検査方法、製造方法
JP5430473B2 (ja) 面形状計測装置
KR102062641B1 (ko) 압연재 폭 측정장치
KR102069647B1 (ko) 광 간섭 시스템
JP2591143B2 (ja) 三次元形状測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070619

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090731

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090811

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090917

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091124

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091209

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100202

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100204

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130212

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130212

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140212

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees