JP4422643B2 - 多孔質フィルムの製造方法ならびに層間絶縁膜、半導体材料および半導体装置 - Google Patents
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前記Si−O結合を含む多孔質フィルムを前記接触工程で処理したのち、前記プラズマ処理工程で処理する改質された多孔質フィルムの製造方法であって、
前記被処理材が、Si−O結合を含む平均細孔径0.5〜10nmの多孔質フィルムであることを特徴とする改質された多孔質フィルムの製造方法である。
ロゲン原子を示す。Rは前記に同じ。)を2つ以上有する有機ケイ素化合物(1)とを接触させる工程であり、該工程が、接触後の多孔質フィルムがハロゲン原子を含まないものとなるよう実施されることを特徴とする。
また本発明は、前述の半導体材料を含むことを特徴とする半導体装置である。
ゾルゲル法によれば、たとえば、アルコキシシラン、触媒および水ならびに必要に応じて溶媒を混合して塗布液を調製し、この塗布液を適当な基板上に塗布して成膜することにより、多孔質フィルムが得られる。
酸触媒としては、たとえば、塩酸、硝酸、硫酸、フッ酸、リン酸、ホウ酸、臭化水素酸などの無機酸、酢酸、プロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン酸、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、マレイン酸、メチルマロン酸、アジピン酸、セバシン酸、没食子酸、酪酸、メリット酸、アラキドン酸、シキミ酸、2−エチルヘキサン酸、オレイン酸、ステアリン酸、リノール酸、リノレイン酸、サリチル酸、安息香酸、p−アミノ安息香酸、p−トルエンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢酸、トリクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、スルホン酸、フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸、コハク酸、フマル酸、イタコン酸、メサコン酸、シトラコン酸、リンゴ酸などの有機酸が挙げられる。これらの酸触媒は、1種単独でも2種以上を組み合わせても使用できる。
有機化合物の自己組織化作用を利用するゾルゲル法によれば、たとえば、アルコキシシラン、触媒、有機化合物および水ならびに必要に応じて溶媒を混合して塗布液を調製し、この塗布液を適当な基板上に塗布して成膜することにより、多孔質フィルムが得られる。
CxH2x+1(N(CH3)2(CH2)y)a(CH2)bN(CH3)2−
−CzH2z+1X1+a
(式中、aは0〜2の整数、bは0〜4の整数、xは8〜24の整数、yは0〜12の整数、zは1〜24の整数であり、Xはハロゲン化物イオン、HSO4 −または1価の有機アニオンである。)
で表されるアルキルアンモニウム塩が好ましい。
多孔質フィルムは、基板表面にゼオライトを結晶成長させることによっても製造できる。ゼオライトの結晶成長は、公知の方法に従って実施できる。具体的には、次に示す方法が挙げられる。
プラズマ処理とは、多孔質フィルムを特定のガスプラズマ雰囲気に曝すことをいう。
Si−O結合を含む多孔質フィルムに接触させる有機ケイ素化合物としては、ヘキサメチルジシラザン(HMDS)などの一般的な有機ケイ素化合物を使用できるが、1分子中にSi−X−Si結合単位(XはO、NR、CmH2mまたはC6H4を示す。RはCnH2n+1またはC6H5を示す。mは1または2を示す。nは1〜6の整数を示す。)を1つ以上、かつSi−A結合単位(AはH、OH、ORまたはハロゲン原子を示す。Rは前記に同じ。)を2つ以上有する有機ケイ素化合物(1)が特に好ましい。
上記有機ケイ素化合物として、より具体的には、一般式
で表される環状シロキサンが好ましく、一般式
で表される環状シロキサンがさらに好ましい。
Y1SiR10R11ZSiR12R13Y1 …(2)
(式中、R10、R11、R12およびR13は同一または異なってH、C6H5、CaH2a+1、CF3(CF2)b(CH2)c、OCeH2e+1またはハロゲン原子を示す。ZはO、(CH2)d、C6H4、(OSiRaRb)qO、OSiRcRdQSiReRfOまたはNRgを示す。Ra、Rb、Rc、Rd、ReおよびRfは同一または異なって、H、OH、C6H5、CaH2a+1、OCeH2e+1、CF3(CF2)b(CH2)cハロゲン原子またはOSiRhRiRjを示す。Rh、RiおよびRjは同一または異なって、HまたはCH3を示す。Rgは(CH2)rまたはC6H4を示す。2つのY1は同一または異なって、H、OH、C6H5、CaH2a+1、CF3(CF2)b(CH2)c、OCeH2e+1またはハロゲン原子を示す。Qは(CH2)tまたはC6H4を示す。a、b、c、dおよびeは前記に同じ。qは1〜10の整数を示す。rは1〜6の整数を示す。tは1〜6の整数を示す。ただし、Ra、Rb、Rc、Rd、Re、Rfおよび2つのY1のうち少なくとも2つがH、OH、OCeH2e+1またはハロゲン原子を示す。)
で表される有機ケイ素化合物(以後「有機ケイ素化合物(2)」と称す)も使用できる。
さらに、有機ケイ素化合物としては、一般式
で表される環状シラザン(以後「環状シラザン(3)」と称す)も使用できる。
多孔質フィルムと有機ケイ素化合物との接触は、液相または気相雰囲気下で実施できる。接触処理を液相で実施する場合は、有機溶媒を用いて実施しても良い。使用し得る有機溶媒としては、メタノール、エタノール、n−プロピルアルコール、イソプロピルアルコールなどのアルコール類、ジエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、1,4−ジオキサン、テトラヒドロフランなどのエーテル類、ベンゼン、トルエン、キシレンなどのアリールアルカン類などが挙げられる。有機溶媒中で処理する場合には有機ケイ素化合物の濃度は特に制限はなく任意の濃度で実施できる。
本発明においては、プラズマ処理工程と接触処理とを併用することによって、多孔質フィルムが本来有する高誘電率を損なうことなく、膜強度が一層向上することが判明した。しかも、プラズマ処理工程と接触処理とを併用する処理を繰返し実施すると、誘電率はほとんど変化せずに、フィルムの膜強度はさらに向上することが判明した。従来技術における膜強度の向上処理では、繰り返し実施してもさらなる膜強度の向上は認められておらず、この点からも、本発明の方法が従来とは異なる処理方法であるといえる。
テトラエトキシシラン(TEOS):(株)高純度化学研究所製ELグレード、Si(OC2H5)4
エタノール:和光純薬工業(株)製電子工業用
塩酸:和光純薬工業(株)製超微量分析用
ポリエチレンアルキルエーテル:CH3(CH2)17O(CH2CH2O)20H(Aldrich社製Brij 78)70gを量りとり、エタノール700gに溶解させ、イオン交換樹脂(商品名:SK1BH、日本錬水(株)製)を用いてイオン交換し、エタノールを蒸留により除去することで脱金属処理したもの。
水:純水製造装置(Millipore社製)にて脱金属処理した水
1,3,5,7−テトラメチルシクロテトラシロキサン:アヅマックス(株)製
テトラエトキシシラン10.0gとエタノール10mLとを室温下で混合後、1N塩酸1.0mLを添加撹拌し、さらにエタノール40mLを添加して撹拌した。この溶液にポリエチレンアルキルエーテル(商品名:Brij 78、Aldrich社製)2.8gをエタノール40mLに溶解した溶液を添加して撹拌した。さらに水8mLを添加、攪拌して透明で均一な塗布液を得た。
上記の塗布液を、12inchシリコンウェハ表面上に数ml滴下し、2000rpmで10秒間回転させて、シリコンウェハ表面に塗布した後、バッチ炉にてAir雰囲気中400℃で1時間焼成した。引き続き、バッチ炉内に窒素をキャリアとして1,3,5,7−テトラメチルシクロテトラシロキサンを1g/分の割合で導入した。1時間後、窒素雰囲気下で30℃まで冷却し、多孔質フィルムを得た。
比誘電率は、基板上の多孔質フィルム表面と基板に用いたシリコンウェハの裏面とに蒸着法によりアルミニウム電極を作成して金属−絶縁膜(多孔質フィルム)−シリコン−金属構造とし、25℃、相対湿度50%の雰囲気下、周波数100kHz、−40V〜40Vの範囲で測定した電気容量と、分光エリプソメトリー(商品名:GES5、SOPRA製)により測定した膜厚から求めた。
(実施例1)
(プラズマ処理工程)
多孔質フィルムをUHF ECR型のプラズマ処理装置(商品名:U722、(株)日立ハイテクノロジーズ製)内のチャンバーに入れ、ウェハ温度を80℃に保持した。アルゴンを1000sccm導入し、チャンバー内の圧力2.0Paとした。プラズマを発生させる電源(周波数450MHz)の出力を400W、ウェハにイオンを引き込むための電源(周波数800kHz)の出力を900Wとした。40秒間プラズマ雰囲気に多孔質フィルムを曝した後、装置から取り出し、プラズマ処理された多孔質フィルムを得た。
プラズマ処理された多孔質フィルムをバッチ炉に入れ、窒素雰囲気下で400℃まで昇温した。引き続き、バッチ炉内に窒素をキャリアとして1,3,5,7−テトラメチルシクロテトラシロキサンを1g/分の割合で導入した。1時間後、窒素雰囲気下で30℃まで冷却し、改質された多孔質フィルムを得た。
プラズマ処理工程において、アルゴンに代えて窒素を使用する以外は実施例1と同様にして改質処理を行った。得られた改質された多孔質フィルムは、X線回折測定の結果、面間隔5.1nmの周期的な2D−ヘキサゴナル構造を保持していた。また、FT−IR測定の結果、C−HピークとSi−Hピークの面積比は0.13であった。得られた改質された多孔質フィルムの比誘電率と弾性率を表1に示す。
(プラズマ処理工程)
多孔質フィルムをCCP型プラズマ処理装置(商品名:Dragon2300、日本ASM社製)内のチャンバーに入れ、ウェハ温度を380℃に保持した。ヘリウムを1000sccm導入し、チャンバー内の圧力100Paとした。プラズマを発生させる電源(27.12MHz)の出力を178Wとし、ウェハを保持する電極は接地した。180秒間プラズマ雰囲気に多孔質フィルムを曝した後、装置から取り出し、プラズマ処理された多孔質フィルムを得た。接触工程は実施例1と同様に行い、改質された多孔質フィルムを得た。
プラズマ処理工程においてヘリウムに代えて水素を使用する以外は、実施例3と同様にして改質処理を行った。得られた改質された多孔質フィルムは、X線回折測定の結果、面間隔4.8nmの周期的な2D−ヘキサゴナル構造を保持していた。また、FT−IR測定の結果、C−HピークとSi−Hピークの面積比は0.15であった。得られた改質された多孔質フィルムの比誘電率と弾性率を表1に示す。
接触工程を実施しない以外は実施例1と同様に改質処理を行った。
プラズマ処理工程を実施しない以外は実施例1と同様にして改質処理を行った。
接触工程を実施しない以外は実施例2と同様にして改質処理を行った。
接触工程を実施しない以外は実施例3と同様にして改質処理を行った。
101 シリコンウェハ
102 多孔質フィルム
103 バリア膜
104 銅配線
105 キャップ膜
Claims (8)
- 被処理材であるSi−O結合を含む多孔質フィルムを、−50〜450℃の温度下および0.05〜150Paの圧力下に、ハロゲン含有ガスを含まない雰囲気下でAr、Kr、Xe、Ne、He、O2、O3、H2、N2、H2O、N2OおよびNH3の1種または2種以上を含むプラズマ雰囲気に曝露するプラズマ処理工程で処理したのち、さらに有機ケイ素化合物を接触させる接触工程で処理するか、または
前記Si−O結合を含む多孔質フィルムを前記接触工程で処理したのち、前記プラズマ処理工程で処理する改質された多孔質フィルムの製造方法であって、
前記被処理材が、Si−O結合を含む平均細孔径0.5〜10nmの多孔質フィルムであることを特徴とする改質された多孔質フィルムの製造方法。 - 接触工程を、プラズマ処理工程の前後に行うことを特徴とする請求項1記載の改質された多孔質フィルムの製造方法。
- 接触工程が、100〜450℃の温度下に、多孔質フィルムと、1分子内にSi−X−Si結合(XはO、NR、CmH2mまたはC6H4を示す。RはCnH2n+1またはC6H5を示す。mは1または2を示す。nは1〜6の整数を示す)を1つ以上、かつSi−A結合(AはH、OH、ORまたはハロゲン原子を示す。Rは前記に同じ。)を2つ以上有する有機ケイ素化合物(1)とを接触させる工程であり、該工程が、接触後の多孔質フィルムがハロゲン原子を含まないものとなるよう実施されることを特徴とする請求項1または2記載の改質された多孔質フィルムの製造方法である。
- 有機ケイ素化合物(1)が環状シロキサンであることを特徴とする請求項3に記載の改質された多孔質フィルムの製造方法。
- 請求項1〜4のいずれか1つに記載の製造方法により得られる改質された多孔質フィルムを含むことを特徴とする層間絶縁膜。
- 請求項1〜4のいずれか1つに記載の製造方法により得られる改質された多孔質フィルムを含むことを特徴とする半導体材料。
- 請求項5に記載の層間絶縁膜を含むことを特徴とする半導体材料。
- 請求項6または7のいずれかに記載の半導体材料を含むことを特徴とする半導体装置。
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