JP4411633B2 - 遅延固定ループの電源電圧供給装置及び電源電圧供給方法 - Google Patents

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Description

本発明は半導体記憶素子内の遅延固定ループに電圧を供給するための電源電圧供給装置及び電源電圧供給方法に関する。
遅延固定ループ(Delay Locked Loop:以下、DLLと記す)に使用される電源は、時間的に変動しない一定レベルの電圧をDLLに対して供給しなければならず、外部供給電源及び内部回路で発生するノイズによる影響は、最小化されなければならない。このような理由によって、遅延固定ループに電圧を供給する従来の電圧供給装置は、図1に示すように、外部電源電圧VDDの入力を受け、プロセス、電圧、温度などの外部条件に影響されず、一定のバンドギャップ電圧Vbgを出力するバンドギャップ電圧発生器110を備えている。ところが、バンドギャップ電圧発生器110から出力されるバンドギャップ電圧Vbgは、DLL130で使用するには低い電圧であるため、この電圧のレベルをシフトさせるためにバンドギャップ電圧発生器110から出力されるバンドギャップ電圧Vbgを所定の電圧レベルにシフトする電圧レベルシフタ120をさらに備えている。
図2は、従来の電圧レベルシフタ120の内部構成を示す回路図である。電圧レベルシフタ120は、増幅部210と、PMOSトランジスタからなる第1駆動部220と、抵抗部230とを備えている。これらの動作を簡単に説明すれば以下の通りである。
増幅部210は、バンドギャップ電圧発生器110から出力されたバンドギャップ電圧Vbgと抵抗部230からフィードバックされるフィードバック電圧Vfbとを比較する。
図2において、バンドギャップ電圧Vbgがフィードバック電圧Vfbよりも大きければ、第1のNMOSトランジスタNM1には、第2のNMOSトランジスタNM2よりも少ない電流が流れる。これによって、PMOSトランジスタPM1のゲートの電圧は低くなり、フィードバック電圧Vfbが上昇する。これに対して、バンドギャップ電圧Vbgがフィードバック電圧Vfbよりも小さければ、第1のNMOSトランジスタNM1には、第2のNMOSトランジスタNM2よりも多くの電流が流れる。これによって、PMOSトランジスタPM1のゲートの電圧は高くなり、フィードバック電圧Vfbが低下する。従って、通常の動作状態では、バンドギャップ電圧Vbgとフィードバック電圧Vfbとは同じ電圧レベルとなる。
ここで、バンドギャップ電圧Vbgは、バンドギャップ電圧発生器110の特性上、外部電源電圧VDDに対する依存性が比較的低く、バンドギャップ電圧発生器110がバンドギャップの特性によって動作可能な範囲では、外部電源電圧VDDが変化してもバンドギャップ電圧Vbgは一定の出力レベルを維持する。一方、フィードバック電圧Vfbは、電圧レベルシフタ120の出力電圧VDLLを抵抗部230を構成する複数の抵抗を使用して抵抗値の割合に応じて分配された電圧値であるため、電圧レベルシフタ120の出力電圧レベルが低下すればフィードバック電圧Vfbも低下する。
即ち、図3に示すように、従来の電圧レベルシフタ120は、外部電源電圧VDDが低くなった場合、DLL電源電圧VDLL、すなわちDLLで使用される電源電圧VDLLが外部電源電圧VDDと一定の間隔を維持しながら低くなるという問題がある。これは次のような理由によって発生する。
電圧レベルシフタ120において最終的に電源の供給を担う第1駆動部220は、飽和領域において動作しているため、DLL電源電圧VDLLは、外部電源電圧VDDから一定のドレイン−ソース電圧VDSだけ減少した値になる。すなわち、増幅部210の動作によって第1駆動部220が飽和領域に置かれている時には、常にDLL電源電圧VDLLのレベルは、外部電源電圧VDDから一定のドレイン−ソース電圧VDSだけ低くなる。
ところが、外部電源電圧VDDのレベルが低い状態の時は、DLL電源電圧VDLLのレベルがさらに低くなって、DLLの動作に深刻な悪影響を及ぼし、正常に動作しなくなることがある。
本発明は上述した従来技術の問題点に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、遅延固定ループで使用されるDLL電源電圧VDLLのレベルが、外部電源電圧VDDのレベルを維持できるようにすることにある。
上記目的を達成するために、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給装置は、半導体記憶素子内の遅延固定ループにDLL電源電圧を供給する装置であって、外部電源電圧(VDD)を印加され、外部条件の変動の影響を受けないバンドギャップ電圧を出力するバンドギャップ電圧発生手段と、前記DLL電源電圧がフィードバックされたフィードバック電圧を用いて、前記バンドギャップ電圧をDLL電源電圧レベルにシフトする電圧レベルシフタと、前記フィードバック電圧レベルがバンドギャップ電圧レベルより低い場合、前記DLL電源電圧を前記外部電源電圧(VDD)と同じレベルの電圧を出力する電圧レベル補正手段とを備えていることを特徴としている。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給装置において、前記電圧レベルシフタは、前記バンドギャップ電圧及びフィードバック電圧を比較及び増幅して出力する増幅部と、該増幅部の出力によって制御され、前記外部電源電圧(VDD)を出力する第1駆動部と、該第1駆動部の出力を分割した電圧を、前記フィードバック電圧として前記増幅部に提供する抵抗部とを備えていることができる。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給装置において、前記電圧レベル補正手段は、前記バンドギャップ電圧及び前記フィードバック電圧を比較及び増幅する比較部と、該比較部から出力される信号の論理レベルを反転させて出力する反転部と、該反転部の出力によって制御され、前記外部電源電圧(VDD)を出力する第2駆動部とを備えていることができる。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給装置において、前記第1及び第2駆動部は、PMOSトランジスタであることができる。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給装置において、前記第2駆動部のPMOSトランジスタは、線型領域において動作するトランジスタであることができる。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給装置において、前記第2駆動部のサイズは、前記第1駆動部のサイズより小さいことができる。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給装置において、前記抵抗部は、複数の抵抗を直列に接続して構成され、前記第1駆動部の出力と接地との間に接続されることができる。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給装置において、前記比較部は、前記バンドギャップ電圧と前記フィードバック電圧とを比較するために、前記外部電源電圧(VDD)を印加されることができる。
また、本発明の遅延固定ループの電源電圧供給方法は、半導体記憶素子内の遅延固定ループにDLL電源電圧を供給する方法であって、バンドギャップ電圧発生手段が、外部電源電圧(VDD)を印加され、外部条件の変動の影響を受けないバンドギャップ電圧を出力する第1ステップと、電圧レベルシフタによって前記DLL電源電圧がフィードバックされたフィードバック電圧を用いて、前記バンドギャップ電圧をDLL電源電圧レベルにシフトする第2ステップと、電圧レベル補正手段が、前記フィードバック電圧レベルがバンドギャップ電圧レベルより低い場合、前記DLL電源電圧を前記外部電源電圧(VDD)と同じレベルの電圧出力する第3ステップとを含んでいることを特徴としている。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給方法において、前記第2ステップは、増幅部が前記バンドギャップ電圧及びフィードバック電圧を比較及び増幅して出力する第4ステップと、第1駆動部が、前記第4ステップによる出力によって制御され、前記外部電源電圧(VDD)を出力する第5ステップと、抵抗部が、前記第5ステップによる出力を分割した電圧を、前記フィードバック電圧として提供する第6ステップとを含んでいることができる。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給方法において、前記第3ステップは、比較部が前記バンドギャップ電圧及び前記フィードバック電圧を比較及び増幅する第7ステップと、反転部が前記第7ステップにより出力される信号の論理レベルを反転させて出力する第8ステップと、第2駆動部が、前記第8ステップによる出力によって制御され、前記外部電源電圧を出力する第9ステップとを含んでいることができる。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給方法において、前記第2駆動部は、PMOSトランジスタであることができる。
また、本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給方法において、前記PMOSトランジスタは、線型領域において動作することができる。
本発明に係る遅延固定ループの電源電圧供給装置は、外部電源電圧が低下しても、遅延固定ループ用の電源電圧が所定の電圧レベル以下に低下することを防止し、遅延固定ループをスムーズに動作させることができるという効果を奏する。
以下、本発明の望ましい実施の形態を、添付する図面を参照して説明する。
本発明の実施の形態に係る遅延固定ループの電源電圧供給装置は、バンドギャップ電圧発生器、電圧レベルシフタ、及び電圧レベル補正回路を備えている。ここで、バンドギャップ電圧発生器及び電圧レベルシフタは、それぞれ従来技術のバンドギャップ電圧発生器110、及び電圧レベルシフタ120と同じものである。図4は、本発明の実施の形態に係る電源電圧供給装置の一部を示す回路図であり、従来の電圧レベルシフタ120と同じ構成の電圧レベルシフタ410に電圧レベル補正回路420が追加された構成を示している。
本発明の実施の形態に係る電源電圧供給装置の電圧レベルシフタ410は、従来の電圧レベルシフタ120と同様に増幅部210、PMOSトランジスタから構成される第1駆動部220、及び抵抗部230を備え、これらの構成及び動作は、図2に示した従来技術の電圧レベルシフタ120と同じであるため、これに対する具体的な説明は省略する。ただし、バンドギャップ電圧Vbgと抵抗部230からフィードバックされるフィードバック電圧Vfbとが同じでない場合には、DLL電源電圧VDLLを分割する抵抗部230の複数の抵抗の抵抗値を調整し、フィードバック電圧Vfbとバンドギャップ電圧Vbgとが同じ電圧レベルになるようにできることに注目しなければならない。
本発明の実施の形態に係る電源電圧供給装置の電圧レベル補正回路420は、比較部421、反転部422及びPMOSトランジスタMP3から構成された第2駆動部423を備えて構成されている。比較部421は、バンドギャップ電圧Vbgとフィードバック電圧Vfbとが入力され、これら2つの電圧の差を検出して増幅する。この時、2つの電圧は工程上の差によって、微細な電圧差が生じるため、増幅利益はそれほど大きくしないことが好ましい。
また、外部電源電圧VDDが低い場合には、フィードバック電圧Vfbがバンドギャップ電圧Vbgに比べ顕著に低くなる。この差によって比較部421の出力電圧V1は、反転部422の出力電圧V2を変更させることができる電圧Vih(PMOSトランジスタMP2及びNMOSトランジスタMN3によって形成されているインバータの出力を「L(Low)」レベルにシフトさせることができる、インバータに入力される最大電圧)より大きくなる。このため、比較部421を設計する際、インバータへの出力電圧V1をVil(PMOSトランジスタMP2及びNMOSトランジスタMNによって形成されているインバータの出力電圧V2を「H(High)」レベルにシフトさせることができる、インバータに入力される最小電圧)より低くなるように調整する必要がある。
一方、本発明の実施の形態に係る電圧レベル補正回路420は、次のように動作する。フィードバック電圧Vfbがバンドギャップ電圧Vbgより低くなれば、比較部421の出力電圧V1が高くなる。比較部421の高くなった出力電圧V1によって、反転部422の出力V2が「L」レベルにシフトされる。反転部422の出力V2が「L」レベルになれば、第2駆動部423のPMOSトランジスタMP3が抵抗領域(線型領域)において動作するようになり、MOSトランジスタの特性上、抵抗領域では飽和領域に比べて小さな抵抗値になる。したがって、図2に示すように従来の第1駆動部220のPMOSトランジスタMP1は、ドレイン−ソース間の電圧に変化があっても常に一定の電流を供給しなければならないため、飽和領域において動作しなければならない。
これに対して、第2駆動部423のPMOSトランジスタMP3は、DLL電源電圧VDLLと外部電源電圧VDDとを接続する機能だけを担うため、飽和領域において動作する必要がなく、抵抗領域においての動作だけで充分である。一方、DLL電源電圧VDLLが外部電源電圧VDDと同様のレベルになるには、第2駆動部423のPMOSトランジスタMP3がオンしたときの抵抗値が、DLLに流れる全電流値から予想できる抵抗値に比べて、非常に小さくなければならないため、PMOSトランジスタMP3のサイズをできるだけ大きくするのが望ましい。
しかし、この場合にもPMOSトランジスタは、抵抗領域において動作する際、抵抗値が飽和領域において動作する際の抵抗値よりも小さな値になるため、第2駆動部423のPMOSトランジスタMP3は、従来のPMOSトランジスタMP1よりも小さいサイズに形成することができる。
図5は、図4に示した構成における外部電源電圧VDDとDLL電源電圧VDLLとの間の関係を示す図である。
尚、本発明は、上記した実施の形態に限定されるものではない。本発明の趣旨から逸脱しない範囲内で多様に変更して実施することが可能である。
遅延固定ループに電源を供給するための従来の電源供給装置を示すブロック図である。 従来技術の電圧レベルシフタの内部構成を示す回路図である。 従来技術に係る外部電源電圧とDLL電源電圧との間の関係を示す図である。 本発明の実施の形態に係る電源電圧供給装置を構成する電圧レベルシフタ及び電圧レベル補正回路を示す回路図である。 本発明に係る外部電源電圧とDLL電源電圧との間の関係を示す図である。
符号の説明
210 増幅部
220 第1駆動部
230 抵抗部
410 電圧レベルシフタ
420 電圧レベル補正回路
421 比較部
422 反転部
423 第2駆動部

Claims (13)

  1. 半導体記憶素子内の遅延固定ループにDLL電源電圧を供給する装置であって、
    外部電源電圧(VDD)を印加され、外部条件の変動の影響を受けないバンドギャップ電圧を出力するバンドギャップ電圧発生手段と、
    前記DLL電源電圧がフィードバックされたフィードバック電圧を用いて、前記バンドギャップ電圧をDLL電源電圧レベルにシフトする電圧レベルシフタと、
    前記フィードバック電圧レベルがバンドギャップ電圧レベルより低い場合、前記DLL電源電圧を前記外部電源電圧(VDD)と同じレベルの電圧出力する電圧レベル補正手段と
    を備えていることを特徴とする遅延固定ループの電源電圧供給装置。
  2. 前記電圧レベルシフタが、
    前記バンドギャップ電圧及びフィードバック電圧を比較及び増幅して出力する増幅部と、
    該増幅部の出力によって制御され、前記外部電源電圧(VDD)を出力する第1駆動部と、
    該第1駆動部の出力を分割した電圧を、前記フィードバック電圧として前記増幅部に提供する抵抗部と
    を備えていることを特徴とする請求項1に記載の遅延固定ループの電源電圧供給装置。
  3. 前記電圧レベル補正手段が、
    前記バンドギャップ電圧及び前記フィードバック電圧を比較及び増幅する比較部と、
    該比較部から出力される信号の論理レベルを反転させて出力する反転部と、
    該反転部の出力によって制御され、前記外部電源電圧(VDD)を出力する第2駆動部と
    を備えていることを特徴とする請求項2に記載の遅延固定ループの電源電圧供給装置。
  4. 前記第1及び第2駆動部が、PMOSトランジスタであることを特徴とする請求項3に記載の遅延固定ループの電源電圧供給装置。
  5. 前記第2駆動部を構成するPMOSトランジスタが、線型領域において動作することを特徴とする請求項4に記載の遅延固定ループの電源電圧供給装置。
  6. 前記第2駆動部のサイズは、前記第1駆動部のサイズより小さいことを特徴とする請求項4に記載の遅延固定ループの電源電圧供給装置。
  7. 前記抵抗部が、
    複数の抵抗を直列に接続して構成され、前記第1駆動部の出力端子と接地との間に接続されていることを特徴とする請求項2に記載の遅延固定ループの電源電圧供給装置。
  8. 前記比較部が、
    前記バンドギャップ電圧と前記フィードバック電圧とを比較するために、前記外部電源電圧(VDD)を印加されることを特徴とする請求項3に記載の遅延固定ループの電源電圧供給装置。
  9. 半導体記憶素子内の遅延固定ループにDLL電源電圧を供給する方法であって、
    バンドギャップ電圧発生手段が、外部電源電圧(VDD)を印加され、外部条件の変動の影響を受けないバンドギャップ電圧を出力する第1ステップと、
    電圧レベルシフタによって前記DLL電源電圧がフィードバックされたフィードバック電圧を用いて、前記バンドギャップ電圧をDLL電源電圧レベルにシフトする第2ステップと、
    電圧レベル補正手段が、前記フィードバック電圧レベルがバンドギャップ電圧レベルより低い場合、前記DLL電源電圧を前記外部電源電圧(VDD)と同じレベルの電圧出力する第3ステップと
    を含むことを特徴とする遅延固定ループの電源電圧供給方法。
  10. 前記第2ステップが、
    増幅部が前記バンドギャップ電圧及びフィードバック電圧を比較及び増幅して出力する第4ステップと、
    第1駆動部が、前記第4ステップによる出力によって制御され、前記外部電源電圧(VDD)を出力する第5ステップと、
    抵抗部が、前記第5ステップによる出力を分割した電圧を、前記フィードバック電圧として提供する第6ステップと
    を含むことを特徴とする請求項9に記載の遅延固定ループの電源電圧供給方法。
  11. 前記第3ステップが、
    比較部が前記バンドギャップ電圧及び前記フィードバック電圧を比較及び増幅する第7ステップと、
    反転部が前記第7ステップにより出力される信号の論理レベルを反転させて出力する第8ステップと、
    第2駆動部が、前記第8ステップによる出力によって制御され、前記外部電源電圧(VDD)を出力する第9ステップと
    を含むことを特徴とする請求項10に記載の遅延固定ループの電源電圧供給方法。
  12. 前記第2駆動部が、PMOSトランジスタであることを特徴とする請求項11に記載の遅延固定ループの電源電圧供給方法。
  13. 前記PMOSトランジスタが、線型領域において動作することを特徴とする請求項12に記載の遅延固定ループの電源電圧供給方法。
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