JP4405201B2 - 二次元パターニング方法ならびにそれを用いた電子デバイスの作製方法 - Google Patents
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Description
M. Rothschild and D. J. Ehrlich, J. Vac. Sci. Tech. B 6, 1 (1988) A. Heuberger, J. Vac. Sci. Tech. B 6, 107 (1988) R. L. Kubena et al., J. Vac. Sci. Tech. 19, 916 (1981) T. Ishitani et al., Jpn. J. Appl. Phys. 24, L133 (1985) P. Sudraud et al., J. Vac. Sci. Tech. B 6, 234 (1988)
できる。
エネルギーを受けたブリスターが図2(a)に示すように剥離することが観察された(図中「剥離部」参照)。剥離部の大きさはブリスターの大きさと等しく、数ミクロン程度である。TRIM98シミュレーションコードによる計算から、注入されたH+は0.1ミ
クロン程度の深さに分布していることが見積もられる。そのため、基板表面と剥離部との段差も0.1ミクロン程度と見積もることができる。
ある。
よれば、SOI(Silicon-on-Insulator)構造中に、シリコン薄膜と基板シリコンの電気伝導路を作ることが可能になる。
2 気体元素のイオン
3 ブリスター
4 酸化膜
5 電子線・イオン
6 酸化表面
7 清浄表面
8 Si
9 金属
10 蒸着
11 異種原子
Claims (4)
- シリコン基板の表面に、所望の二次元パターンを形成する二次元パターニング方法であって、基板表面に所望の二次元パターンにて水素イオン、重水素イオン又はヘリウムイオンを注入して、基板内の決まった深さ範囲の、水素イオン、重水素イオン又はヘリウムイオンの注入により形成されたドーム状の膨らみであるブリスターを形成し、当該ブリスターのみを電子照射により破壊して、上記決まった深さ範囲の深さの二次元パターンを形成することを特徴とする二次元パターニング方法。
- ブリスターを形成した後、ブリスターが形成された基板を酸素雰囲気に曝し、表面に酸化膜を形成した後、ブリスターとその上に形成された酸化膜を電子照射により破壊し除去することで、未成膜の清浄表面の二次元パターンを形成することを特徴とする請求項1に記載の二次元パターニング方法。
- マスクを介してイオン照射することにより、パターン化された配置を持つブリスターを形成することを特徴とする請求項1又は2に記載の二次元パターニング方法。
- 請求項1ないし3のいずれかに記載の二次元パターニング方法を用いることを特徴とする電子デバイスの作製方法。
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