JP4396814B2 - 静電容量検出装置及び電子機器 - Google Patents

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Description

本発明は、マトリクス状に配置された静電容量検出素子などのアクティブ素子を駆動するためのアクティブマトリクス駆動装置、これを利用した静電容量検出装置および電子機器に関する。
静電容量式指紋センサは、例えば特開平11−118415号公報、特開2000−346608号公報、特開2001−56204号公報、特開2001−133213号公報に開示されるように、基板上に形成されたセンサ電極の表面を誘電体膜で被覆し、指先の電位を基準電位として、指先とセンサ電極間に形成される静電容量を検出する静電容量検出回路を備えることで、指紋の凹凸を認識する。
このような静電容量検出回路をアクティブ素子で構成してマトリクス状に配置し、走査線およびデータ線の組み合わせによって個々の静電容量検出回路を選択可能にすることで、指紋の凹凸パターンを2値画像データとして取得することができる。
特開平11−118415号公報 特開2000−346608号公報 特開2001−56204号公報 特開2001−133213号公報
しかし、このようなアクティブマトリクスは、たとえば電源投入時に、データ線および走査線の電位にバラツキがある場合がある。そのような場合には、意図せずに選択されたデータ線または走査線に不要な電流が初期状態として流れ続けることになるという不都合が生じる。また、そのようなバラツキがあると、信頼性の高い安定した読み取りも困難となる。
そこで、本発明は上述の問題点を解決し、アクティブマトリクスの初期状態を安定化し、不要な電力消費の低減および動作の安定化を図ることを課題とする。
上記の課題を解決するため、本発明のアクティブマトリクス駆動装置は、複数の行方向線と複数の列方向線とが互いに交差するように配置され、1つの行方向線と1つの列方向線とによって選択可能に構成されたアクティブ素子が各交差部に配置されることでマトリクスを形成したアクティブマトリクスを駆動する。この駆動装置は、前記複数の行方向線のうち何れかまたは前記複数の列方向線のうち何れかにそれぞれ接続され、当該行方向線または列方向線の選択状態/非選択状態が切り替わる選択手段と、前記行方向線に接続された選択手段または前記列方向線に接続された選択手段を、複数同時に非選択状態に切り替わらせる非選択化手段と、を備えている。そして、前記非選択化手段により前記選択手段を非選択状態とした後で、前記選択手段による選択を行うものである。
上記駆動装置において、前記選択手段は、各行方向線または列方向線と外部回路との導通状態/非導通状態が切り替わるスイッチ手段と、このスイッチ手段に対して導通状態/非導通状態の切り替え信号を供給する信号供給手段と、を備え、前記非選択化手段は、前記信号供給手段から、前記スイッチ手段を非導通状態とする信号が発生するように制御し、当該スイッチ手段を非導通状態にすることが望ましい。特に、前記非選択化手段は、前記信号供給手段から前記スイッチ手段を非導通状態にする信号を発生させたときに、当該複数の行方向線または列方向線と、所定電位の電位供給線とを導通状態とする信号を供給することが望ましい。
上記駆動装置において、前記選択手段は、各行方向線または列方向線に対する選択信号または非選択信号を供給する信号供給手段を備え、前記非選択化手段は、前記信号供給手段から、前記非選択信号が発生するように制御することが望ましい。
また、上記駆動装置において、前記信号供給手段は、前記複数の行方向線のうち何れかまたは前記複数の列方向線のうち何れかを順次選択状態とするシフトレジスタにより構成され、前記非選択化手段は、前記シフトレジスタのデータを消去させるのが好ましい。特に、前記非選択化手段は、前記シフトレジスタの各段にリセット信号を供給することで、前記データを消去させるのが好ましい。
また、上記駆動装置において、前記非選択化手段は、前記行方向線に接続された選択手段および前記列方向線に接続された選択手段の両者を非選択状態とすることが望ましい。
本発明の静電容量検出装置は、被験物表面との間に形成される静電容量に対応した検出信号により、前記被験物表面の凹凸情報を読み取る。この静電容量検出装置は、複数の行方向線と複数の列方向線とが互いに交差するように配置され、1つの行方向線と1つの列方向線とによって選択可能に構成され前記検出信号を出力する静電容量検出回路が、各交差部に配置されることでマトリクスを形成している。そして、前記複数の行方向線のうち何れかまたは前記複数の列方向線のうち何れかにそれぞれ接続され、当該行方向線または列方向線の選択/非選択状態が切り替わる選択手段と、前記行方向線に接続された選択手段または前記列方向線に接続された選択手段を、複数同時に非選択状態に切り替わらせる非選択化手段とを備え、前記非選択化手段により前記選択手段を非選択状態とした後で、前記選択手段による選択を行う。
本発明の電子機器は、複数の行方向線と複数の列方向線とが互いに交差するように配置され、1つの行方向線と1つの列方向線とによって選択可能に構成されたアクティブ素子が各交差部に配置されることでマトリクスを形成したアクティブマトリクスを備える。そして、前記複数の行方向線のうち何れかまたは前記複数の列方向線のうち何れかにそれぞれ接続され、当該行方向線または列方向線の選択/非選択状態が切り替わる選択手段と、前記行方向線に接続された選択手段または前記列方向線に接続された選択手段を、複数同時に非選択状態に切り替わらせる非選択化手段とを備え、前記非選択化手段により前記選択手段を非選択状態とした後で、前記選択手段による選択を行う。
本発明の電子機器は、アクティブマトリクスとこれを駆動し情報処理する処理装置とを備えた機器一般をいい、例えばICカード、キャッシュカード、クレジットカード、身分証明書などの各種カード媒体の他に、電子商取引の本人認証装置、入退室管理装置、コンピュータ端末装置の認証装置などが含まれる。
[発明の実施形態1.]
以下、各図を参照して本発明の好適な第1実施形態について説明する。
図1は静電容量検出回路31をマトリクス状に配列した静電容量検出装置である静電容量式指紋センサ1のブロック図である。同図に示すように、同指紋センサ1は、データ線37を選択するためのデータドライバ10と、走査線36を選択するための走査ドライバ20と、指紋検出部として機能するアクティブマトリクス部30と、検出信号を増幅するための増幅回路40とを備えて構成されている。
データドライバ10は、データ線37を順次選択するタイミングを決定するシフトレジスタ11と、アナログスイッチ12を備えて構成されている。データドライバ10は本発明の選択手段の1態様であり、シフトレジスタ11は本発明の信号供給手段、アナログスイッチ12は本発明のスイッチ手段に相当する。シフトレジスタ11には、非選択化手段であるリセット信号発生回路(図示せず)が接続されている。
走査ドライバ20は、走査線36を順次選択するタイミングを決定するシフトレジスタ21を備えて構成されている。走査ドライバ20は本発明の選択手段の1態様であり、シフトレジスタ21は本発明の信号供給手段に相当する。シフトレジスタ21には、非選択化手段であるリセット信号発生回路(図示せず)が接続されている。
アクティブマトリクス部30には静電容量検出回路31がマトリクス状(M行×N列)に配列されており、M本の走査線36とM本の低電位電源線VSSは行方向に沿って配線され、N本のデータ線37は列方向に沿って配線されている。
上記の構成において、M本の走査線36が1ライン毎にアクティブになると、ある時点においてアクティブになっている走査線36上に並ぶN本のデータ線37がアナログスイッチ12により順次選択されて増幅回路40に接続するように点順次駆動される。
本実施形態のデータドライバ10及び走査ドライバ20はそれぞれシフトレジスタ11、21を備え、その動作によりデータ線37及び走査線36の順次選択を高速に行うことができる。しかし、電源投入時の電位のバラツキを消去する場合、通常のシフトレジスタでは全スキャンをかける必要があり、電源投入後の立ち上げに余計な時間がかかってしまう。本実施形態はこれを解決するため、シフトレジスタ11、21にリセット信号RSTをかけるだけでシフトレジスタのデータを一括消去できるようにするものである。
図2は上記静電容量式指紋センサに用いられるデータドライバ10の回路図、図3は走査ドライバ20の回路図である。
図2のデータドライバに備えられたシフトレジスタ11は、前段からのデータの受け入れを制御するクロックドインバータ14と、このクロックドインバータの出力を反転するインバータ15と、このインバータ15の出力すなわちシフトレジスタ後段への出力を反転制御するためのクロックドNAND16との組み合わせを複数段にわたって接続することで構成されている。
クロックドNAND16は、その回路構成に示すように、クロックドインバータ16aと、リセット信号入力トランジスタTr1及びTr2とを備えている。クロックドNAND16への入力信号として、図示しないリセット信号発生回路からのRST信号と、インバータ15からのIN信号が入力される。
クロックドNAND16に対する入力信号RSTがレベルLのときは、トランジスタTr2が非アクティブとなり、反転入力されたトランジスタTr1がアクティブとなるので、出力電圧は高電位VDDに近くなる。よってクロックドNAND16は、入力信号INの如何に関わらず、レベルHを出力する。このとき、クロックドNAND16の出力Hはインバータ15で反転されるので、シフトレジスタ各段のデータはすべてレベルLとなる。
クロックドNAND16に対する入力信号RSTがレベルHのときは、トランジスタTr2がアクティブとなり、反転入力されたトランジスタTr1が非アクティブとなる。よってクロックドNAND16は、この場合にはクロックドインバータ16aのみの回路と等価になる。従って、シフトレジスタ11は通常のシフトレジスタの動作を行う。
図3の走査ドライバに備えられたシフトレジスタ21は、前段からのデータの受け入れを制御するクロックドインバータ23と、このクロックドインバータの出力を反転するインバータ24と、このインバータ24の出力すなわちシフトレジスタ後段への出力を反転制御するためのクロックドNAND25との組み合わせを複数段にわたって接続することで構成されている。
シフトレジスタ21の機能は図2のデータドライバに設けられたシフトレジスタ11と同様である。
図4は被験者の指紋の凹凸情報を電気信号に変換する静電容量検出回路31の回路構成図である。同検出回路31は、同検出回路31を選択するための選択トランジスタ32と、被験者の指先とセンサ電極との間に形成される静電容量33と、静電容量33の微小な容量変化を基に指紋の凹凸情報を担う検出信号を出力する信号出力素子34と、選択トランジスタ32の開閉制御を行うための信号を伝達する走査線36と、検出信号を伝達するためのデータ線37と、検出信号の出力経路を構成する低電位電源線VSSと、容量値一定の基準容量Csを備えて構成されている。静電容量33の容量値をCdとすると、検出容量Cdは被験者の指紋の凹凸とセンサ電極(図6参照)との間の距離に応じて定まる。信号出力素子34としては、検出容量Cdに対応した検出信号を出力する素子であれば特に限定されるものではないが、検出容量Cdの大小に応じて電流増幅作用を行う信号増幅素子(電流増幅素子)などが好適である。このような信号増幅素子として、本実施形態においては、ゲート端子(電流制御端子)、ソース端子(電流出力端子)、及びドレイン端子(電流入力端子)から成る三端子トランジスタを例示するが、これに限られるものではない。
上述の構成において、走査線36上に論理レベルHの信号が出力され、選択トランジスタ32が開状態になると、データ線37には信号出力素子34のゲート電位で定まる検出電流が流れる。この検出電流は検出容量Cdに対応する検出信号として処理される。検出信号には指紋の凹凸情報が含まれている。信号出力素子34のゲート電位は、信号出力素子34自体の寄生容量Ct(図示せず)と、基準容量Csと、検出容量Cdとのそれぞれの容量比によって定まる。
例えば、被験者の指先をセンサ電極に近づけた場合に、指紋の凸部がセンサ電極に近接すると、検出容量Cdは寄生容量Ct、基準容量Csに対して十分に大きくなり、信号出力素子34のゲート電位はグランド電位に近づく。この結果、信号出力素子34は略オフ状態となり、信号出力素子34のソース/ドレイン間には極めて微弱な電流が流れる。一方、指紋の凹部がセンサ電極に近接すると、検出容量Cdは寄生容量Ct、基準容量Csに対して十分に小さくなり、信号出力素子34のゲート電位は走査線36の電位に近づく。走査線36がアクティブとなっている状態では、走査線36の電位は高電位VDDである。この結果、信号出力素子34は略オン状態となり、信号出力素子34のソース/ドレイン間には上述の微弱電流よりも大きな電流が流れる。ここで、信号出力素子34のソース端子は低電位電源線VSSに接続しているため、信号出力素子34を流れる検出電流の向きはデータ線37から低電位電源線VSSへ流れ込む向きとなる。つまり、被験者の指紋の凹凸情報を担う検出信号は外部回路から静電容量検出回路31へ流れ込むように出力される。なお、信号出力素子34のソース端子を高電位電源線に接続することにより、静電容量検出回路31からデータ線37に流れ出す向きに電流が流れるようにしてもよい。
図5は静電容量検出回路31の検出信号を増幅する増幅回路40の回路構成図である。増幅回路40は、前段のカレントミラー回路41と、後段のカレントミラー回路42を備えて構成されている。前段のカレントミラー回路41では、ゲート電位が参照電圧VRに保持されたMOSトランジスタ41aが出力する一定の参照電流Irefと、信号出力素子34が出力する検出電流Idatとを比較し、後段のカレントミラー回路42では、参照電流Irefと検出電流Idatとの差分を増幅した信号OUTを出力する。参照電流Irefは検出電流Idatの最大値と最小値のほぼ中間となるように予め設定されている。予め定められた所定の閾値と信号OUTの信号レベルを比較することによって、2値データから成る指紋情報を得ることが可能となる。
尚、同図において、CLK信号はシフトレジスタ11に入力するパルス信号と同一であり、アナログスイッチ12の切換タイミングに同期している。
図6はセンサ電極を中心とする静電容量検出回路31の断面構造図である。同図に示すように、静電容量検出回路31には、指紋の凹凸情報を担う検出信号を出力する信号出力素子34と、被験者の指先Fとの間に静電容量33を形成するためのセンサ電極(検出電極)71とが形成されている。信号出力素子34は、ゲート電極70、ゲート絶縁膜68、多結晶シリコン層63、ソース/ドレイン電極69を含んで構成されるMOSトランジスタである。静電容量33は指紋の凹凸パターンに応じてその容量値が変化する可変容量である。指先Fの電位は基準電位に設定されている。センサ電極71はゲート電極70に接続しており、指紋の凹凸による検出容量Cdの変化を信号出力素子34に伝達し、チャネルを流れるドレイン電流の増幅作用によって静電容量変化をセンシングできるように構成されている。
同図に示す静電容量検出回路31を製造するには、絶縁性基板61上に酸化シリコンなどの下地絶縁膜62を積層し、その上にアモルファスシリコンを成膜して結晶化させ、多結晶シリコン層63を形成する。次いで、多結晶シリコン層63上にゲート絶縁膜68とゲート電極70を形成し、自己整合的に多結晶シリコン層63に不純物を注入・拡散し、ソース/ドレイン領域を形成する。次いで、第1層間絶縁膜64を形成した後、コンタクトホールを開口してソース/ドレイン電極69を形成する。さらに、第2層間絶縁膜65、66を積層してコンタクトホールを開口し、センサ電極71を形成する。最後に、表面全体をパッシベーション膜67で被覆する。ここで、第2層間絶縁膜65、66が二層構造となっているのは、下層の第2層間絶縁膜65で平坦性を確保し、上層の第2層間絶縁膜66で所望の膜厚を得るためであるが、単層構造としてもよい。
尚、絶縁性基板61上にトランジスタ等の半導体素子を形成するには、上述の製法に限らず、例えば、特開平11−312811号公報やS.Utsunomiya et. al. Society for Information Display p. 916(2000)に開示された剥離転写技術を適用することで、トランジスタ等の半導体素子を絶縁性基板61上に形成してもよい。剥離転写技術を適用すれば、絶縁性基板61として、プラスチック基板やガラス基板などの適度な強度を有する安価な基板を採用できるため、静電容量式指紋センサ1の機械的強度を高めることができる。
次に、この指紋センサ1において、電源投入直後の未動作時の駆動について説明する。図7は走査ドライバ20のタイミングチャートである。この走査ドライバにおいては、電源投入直後、リセット信号RSTをレベルLにセットする。これにより、走査ドライバ20を構成するシフトレジスタ21に含まれるすべてのクロックドNAND25の出力はレベルHとなる。その結果、シフトレジスタ各段の出力はすべてレベルLとなる。これにより、走査線36の電位はすべてレベルLとなる。よって、データ線37と各静電容量検出回路31との接続を制御する選択トランジスタ32はすべて非アクティブとなる。このリセット動作が完了することにより不要な初期電流が抑制され、以後の安定した動作が可能になる。
リセット信号RSTをレベルHにセットすると、走査ドライバ20を構成するシフトレジスタ21は通常の動作を行う。すなわち、クロック信号CLKYに基づき、スタートパルスSPYの信号を順次転送する。その結果、走査線36が1本ずつ選択され、指紋検出動作を行う。
同様に、データドライバ10においても、電源投入直後、リセット信号RSTをレベルLにセットする。これにより、データドライバ10を構成するシフトレジスタ11に含まれるすべてのクロックドNAND16の出力はレベルHとなる。その結果、シフトレジスタ各段の出力はすべてレベルLとなる。これにより、グローバルデータ線70と各データ線37との接続を制御するアナログスイッチ13はすべて非導通となる。このリセット動作が完了することにより不要な初期電流が抑制され、以後の安定した動作が可能になる。
リセット信号RSTをレベルHにセットすると、データドライバ10を構成するシフトレジスタ11は通常の動作を行い、データ線37に接続するアナログスイッチ13を順次ONにして各静電容量検出回路31のデータを取得し、指紋検出動作を行う。
次に、静電容量式指紋センサ1の応用例について説明する。図8はスマートカード81のブロック図を示しており、上述した静電容量式指紋センサ1と、CPUやメモリ素子などを実装したICチップ82と、液晶ディスプレイなどの表示装置83を備えて構成されている。ICチップ82にはバイオメトリクス情報として、カード所有者の指紋情報が登録されている。
図9はこのスマートカード81の認証手順を示している。カード使用者が指先を指紋センサ1に接触させることによって、スマートカード81に指紋情報が入力されると(ステップS1)、この指紋情報は予め登録された指紋情報と照合される(ステップS2)。ここで、指紋が一致すると(ステップS2;YES)、暗証番号が発行される(ステップS3)。次いで、カード所有者によって暗証番号が入力される(ステップS4)。ステップS3で発行された暗証番号と、ステップS4で入力された暗証番号が一致しているか否かがチェックされ(ステップS5)、一致している場合には(ステップS5;YES)、カードの使用が許可される(ステップS6)。
このように、暗証番号に加えて指紋情報によって本人の認証を行うことによって、セキュリティの高いスマートカードを提供できる。バイオメトリクス認証機能を実装したスマートカードはキャッシュカード、クレジットカード、身分証明書などに利用できる。本実施形態の指紋センサは、本人認証を行うためのあらゆるバイオメトリクス認証装置に応用できる。例えば、室内への入退室管理を行うセキュリティシステムとして、本実施形態の指紋センサをドアに取り付けておき、当該指紋センサに入力された入室者の指紋情報と予め登録された指紋情報を照合し、両者が一致する場合には入室を許可する一方で、両者が一致しない場合には入室を不許可とし、必要に応じて警備会社等に通報するシステムにも応用できる。また、インターネットなどのオープンネットワークを通じた電子商取引においても、本人確認のためのバイオメトリクス認証装置として本実施形態の指紋センサは有効に応用できる。さらに、コンピュータ端末装置のユーザ認証装置や、複写機の複写機使用者の管理装置などにも広く応用できる。
尚、上記の説明においては、本発明の静電容量検出装置の実施形態として、指紋センサを例示したが、本発明はこれに限られるものではなく、あらゆる被験物の微小凹凸パターンを静電容量変化として読み取る装置に応用できる。例えば、動物の鼻紋の認識などにも応用できる。
[発明の実施形態2.]
図10は本発明の第2実施形態に係わる静電容量式指紋センサ1のブロック図である。同図に示すように同指紋センサ1は、データ線37を選択するためのデータドライバ10と、走査線36を選択するための走査ドライバ20と、指紋検出領域としてのアクティブマトリクス部30と、検出信号を増幅するための増幅回路40とを備えて構成されている。データドライバ10は、データ線37を順次選択するタイミングを決定するシフトレジスタ11を備えて構成されている。
データ線37は増幅回路40に接続するためのグローバルデータ線70に集約され、このグローバルデータ(GD)線70には、高電位VDDとの接続を制御するGD線プリチャージスイッチ71が設けられている。また、各データ線37には、高電位VDDとの接続を制御するデータ線プリチャージスイッチ72がそれぞれ設けられている。
走査ドライバ20は、走査線36を順次選択するタイミングを決定するシフトレジスタ21を備えて構成されている。アクティブマトリクス部30には静電容量検出回路31がマトリクス状(M行×N列)に配列されており、M本の走査線36とM本の低電位電源線VSSは行方向に沿って配線され、N本のデータ線37は列方向に沿って配線されている。
データドライバ10、走査ドライバ20、静電容量検出回路31、増幅回路40の回路構成は上記第1の実施形態と同様である。
次に、本実施形態による指紋センサの動作を説明する。電源投入直後の未動作時には、上記第1の実施形態において述べた通り、電源投入直後にリセット信号RSTをレベルLとすることにより、データドライバ10、走査ドライバ20を構成するシフトレジスタの各段の出力はレベルLとなり、走査線、データ線ともに非選択の状態となる。
このリセット時において、グローバルデータ線70とVDDレベルとの接続を制御するGD線プリチャージスイッチ71に対して、リセット信号RSTが反転入力される。このため、GD線プリチャージスイッチ71がON状態となり、グローバルデータ線70がVDDレベルにプリチャージされる。
同様に、各データ線37とVDDレベルとの接続を制御するデータ線プリチャージスイッチ72に対してもリセット信号RSTが反転入力される。このため、データ線プリチャージスイッチ72がON状態となり、すべてのデータ線37がVDDレベルにプリチャージされる。
なお、本実施形態ではリセット動作時にすべての走査線36が非選択となっているので、各静電容量検出回路31の選択トランジスタ32はOFF状態であるから、信号出力素子34とデータ線37とは遮断されている。
このようにセンシングの前段階でデータ線37のプリチャージ動作を行うことにより、センシング時のデータ線37の電位を安定させ、動作マージンを広げることができる。さらに、データ線37の電位が安定しているため、より高速な指紋情報の検出が可能となる。
この第2の実施形態における通常の指紋検出動作は、上記第1の実施形態と同様である。なお、通常の指紋検出動作時にはリセット信号RSTがレベルHとなっているので、GD線プリチャージスイッチ71、データ線プリチャージスイッチ72はともにOFF状態となっている。
また、プリチャージ用の電源電圧についても、上述のVDDに限らず、任意の電圧を用いることも可能である。
第1実施形態の静電容量式指紋センサのブロック図である。 上記指紋センサのデータドライバの回路構成図である。 上記指紋センサの走査ドライバの回路構成図である。 第1実施形態の静電容量検出回路の断面図である。 上記指紋センサの増幅回路の回路構成図である。 静電容量検出回路31の断面構造図である。 上記指紋センサの走査ドライバのタイミングチャートである。 第1実施形態の静電容量式指紋センサを実装した応用例である。 第1実施形態の認証手順を示すフローチャートである。 第2実施形態の静電容量式指紋センサのブロック図である。
符号の説明
1…静電容量式指紋センサ 10…データドライバ(選択手段) 13…アナログスイッチ(スイッチ手段) 11・21… シフトレジスタ(信号供給手段) 20…走査ドライバ(選択手段) 30…アクティブマトリクス部 31…静電容量検出回路 32…選択トランジスタ 33…静電容量 34…信号出力素子 36…走査線 37…データ線 Cs…基準容量 Cd…検出容量 VSS…低電位電源線

Claims (8)

  1. 被験物表面との間に形成される静電容量に対応した検出信号により、前記被験物表面の凹凸情報を読み取る静電容量検出装置であって、
    複数の行方向線と複数の列方向線とが互いに交差するように配置され、1つの行方向線と1つの列方向線とによって選択可能に構成され前記検出信号を出力する静電容量検出回路が、各交差部に配置されることでマトリクスを形成しており、
    前記静電容量検出回路は、
    容量値一定の基準容量と、
    前記被験物表面との間で静電容量を形成するためのセンサ電極と、
    前記基準容量と前記静電容量との容量比に応じた検出信号を出力する信号出力素子と、
    前記信号出力素子に一端が接続された選択トランジスタを有する選択手段と、を有し、
    前記複数の行方向線のうち何れかまたは前記複数の列方向線のうち何れかにそれぞれ接続され、当該行方向線または列方向線の選択/非選択状態を切り替える前記選択手段と、
    前記行方向線に接続された前記選択手段または前記列方向線に接続された前記選択手段を、複数同時に非選択状態に切り替わらせる非選択化手段とを備え、
    前記非選択化手段により前記選択手段を非選択状態とした後で、前記選択手段による選択を行静電容量検出装置。
  2. 請求項1において、
    前記選択手段は、各行方向線または列方向線と外部回路との導通状態/非導通状態を切り替える前記選択トランジスタと、前記選択トランジスタに対して導通状態/非導通状態の切り替え信号を供給する信号供給手段と、を備え、
    前記非選択化手段は、前記信号供給手段から、前記選択トランジスタを非導通状態とする信号が発生するように制御し、前記選択トランジスタを非導通状態にする、静電容量検出装置。
  3. 請求項1において、
    前記選択手段は、各行方向線または列方向線に対する選択信号または非選択信号を供給する信号供給手段を備え、
    前記非選択化手段は、前記信号供給手段から、前記非選択信号が発生するように制御する、静電容量検出装置。
  4. 請求項2において、
    前記非選択化手段は、前記信号供給手段から前記選択トランジスタを非導通状態にする信号を発生させたときに、当該複数の行方向線または列方向線と、所定電位の電位供給線とを導通状態とする信号を供給する、静電容量検出装置。
  5. 請求項2乃至請求項4の何れか一項において、
    前記信号供給手段は、前記複数の行方向線のうち何れかまたは前記複数の列方向線のうち何れかを順次選択状態とするシフトレジスタにより構成され、
    前記非選択化手段は、前記シフトレジスタのデータを消去させる、静電容量検出装置。
  6. 請求項5において、
    前記非選択化手段は、前記シフトレジスタの各段にリセット信号を供給することで、前記データを消去させる、静電容量検出装置。
  7. 請求項1乃至請求項6の何れか一項において、
    前記非選択化手段は、前記行方向線に接続された選択手段および前記列方向線に接続された選択手段の両者を非選択状態とする、静電容量検出装置。
  8. 請求項1記載の静電容量検出装置を有する電子機器。
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040111108A1 (en) 2001-11-09 2004-06-10 Farnan Robert C. Balloon catheter with non-deployable stent
ATE426427T1 (de) 2001-11-09 2009-04-15 Angioscore Inc Ballonkatheter mit nicht ablegbarem stent
US8080026B2 (en) 2003-01-21 2011-12-20 Angioscore, Inc. Apparatus and methods for treating hardened vascular lesions
US7686824B2 (en) * 2003-01-21 2010-03-30 Angioscore, Inc. Apparatus and methods for treating hardened vascular lesions
JP2006123493A (ja) * 2004-09-30 2006-05-18 Seiko Epson Corp ラインヘッド及び画像形成装置
KR100583519B1 (ko) * 2004-10-28 2006-05-25 삼성에스디아이 주식회사 주사 구동부 및 그를 이용한 발광표시장치
US10076641B2 (en) 2005-05-11 2018-09-18 The Spectranetics Corporation Methods and systems for delivering substances into luminal walls
KR100932988B1 (ko) * 2008-04-01 2009-12-21 삼성모바일디스플레이주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
EP2380604A1 (en) 2010-04-19 2011-10-26 InnoRa Gmbh Improved coating formulations for scoring or cutting balloon catheters
US8632559B2 (en) 2010-09-21 2014-01-21 Angioscore, Inc. Method and system for treating valve stenosis
US10203816B2 (en) 2013-05-07 2019-02-12 Egis Technology Inc. Apparatus and method for TFT fingerprint sensor
EP3019999A4 (en) 2013-07-09 2017-04-05 Fingerprint Cards AB Fingerprint sensing system and method
US10117668B2 (en) 2013-10-08 2018-11-06 The Spectranetics Corporation Balloon catheter with non-deployable stent having improved stability
CN108509074B (zh) 2017-02-23 2022-04-01 矽创电子股份有限公司 触控面板及其触控侦测电路
US11810394B2 (en) 2017-02-23 2023-11-07 Sitronix Technology Corp. Fingerprint identification panel and fingerprint identification circuit thereof
CN106959782B (zh) * 2017-03-31 2019-11-26 京东方科技集团股份有限公司 一种触控驱动电路、触控面板及显示装置
KR102016932B1 (ko) * 2017-04-14 2019-09-02 주식회사 리딩유아이 지문센서모듈 및 이를 갖는 지문인식장치
US11966525B2 (en) * 2021-04-07 2024-04-23 Novatek Microelectronics Corp. Touch device with FPR function and operation method thereof

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5883609A (en) * 1994-10-27 1999-03-16 Nec Corporation Active matrix type liquid crystal display with multi-media oriented drivers and driving method for same
JP2959532B2 (ja) * 1997-06-30 1999-10-06 日本電気株式会社 静電容量検出方式の指紋画像入力装置
JP3874217B2 (ja) 1997-10-13 2007-01-31 ソニー株式会社 指紋読取り装置及びその方法
GB9804539D0 (en) 1998-03-05 1998-04-29 Philips Electronics Nv Fingerprint sensing devices and systems incorporating such
JP3809733B2 (ja) 1998-02-25 2006-08-16 セイコーエプソン株式会社 薄膜トランジスタの剥離方法
DE19964449B4 (de) * 1998-06-30 2013-01-31 Fujitsu Semiconductor Ltd. Integrierte Halbleiterschaltung
JP4435886B2 (ja) 1998-06-30 2010-03-24 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
DE69933339T8 (de) * 1998-07-02 2007-09-13 Nippon Telegraph And Telephone Corp. Nachweisvorrichtung für kleine Kapazitätsänderungen
JP3044660B1 (ja) 1999-06-04 2000-05-22 日本電信電話株式会社 表面形状認識用センサ回路
JP2000213908A (ja) * 1998-11-16 2000-08-04 Sony Corp 静電容量検出装置およびその検査方法並びに指紋照合装置
JP2001056204A (ja) 1999-08-19 2001-02-27 Sony Corp 静電容量式指紋センサ
JP2001133213A (ja) 1999-11-08 2001-05-18 Sony Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2002013993A (ja) * 2000-04-25 2002-01-18 Sony Corp アクティブマトリクス回路及びその駆動方法と面圧力分布検出装置
JP3797174B2 (ja) * 2000-09-29 2006-07-12 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及びその駆動方法、並びに電子機器
JP3858728B2 (ja) 2002-03-04 2006-12-20 セイコーエプソン株式会社 静電容量検出装置
JP4593071B2 (ja) * 2002-03-26 2010-12-08 シャープ株式会社 シフトレジスタおよびそれを備えた表示装置

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