JP4393206B2 - 質量分析装置用データ処理装置 - Google Patents
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Description
データベース検索の際に世代の異なるMSnデータ同士の検索を可能とする機能を有することを特徴とする。
(図4a及び図4c)。MS2を行うと、200.2では主鎖内の各結合が開裂して複数のフラグメントイオンが生成した(図4b)。このフラグメントイオンの生成パターンが
200.2の主鎖の構造情報を示す。一方、210.2のMS2では、主鎖と側鎖(Fuc)間の結合のみが開裂したため、主鎖に相当する娘イオン(m/z 790)のみが検出され、主鎖の構造情報を得るには至らなかった(図4d)。そこで、210.2 について更に
MS3 を行うと、主鎖内の各結合が開裂し、複数のフラグメントイオンが生成した(図
4e)。この210.2の主鎖の構造情報を示すMS3 スペクトルのパターンと、200.2のMS2スペクトルとのパターンが類似していたことから、200.2と210.2 の主鎖が同一であるということが明らかとなった。
210.2のデータにおいて、MSnスペクトルを格納するデータベースがn=1,2,3・・・と階層構造を持ち、200.2のMS2測定結果として、MS1及びMS2の2つのマススペクトルをデータベースへ登録し、210.2のMS3分析結果をこのデータベースで検索する例である(図7)。
200.2のMS1スペクトルをピックアップする。この比較で、主鎖に相当する娘イオンを示すマススペクトルが明らかとなる。
Claims (7)
- イオン化された試料のMSn分析を行うことが可能であり、既知化合物のMSn分析の結果得られたマススペクトルデータを化合物ごとに格納し、未知化合物のMSm分析の結果得られたMSmスペクトル(m≧1)と比較して検索するためのデータベースを備えた質量分析装置用データ処理装置において、
データベース検索の際に世代の異なるMSnデータの検索を可能とする機能を有することを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。 - 請求項1において、
質量分析装置は、エレクトロスプレイイオン源、ソニックスプレイイオン源、イオンスプレイイオン源、又はマトリックス支援レーザー脱離イオン源を有することを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。 - 請求項1において、
比較対象となる未知化合物のMSmスペクトルは、マススペクトルのベースイオンと他のイオンとの強度比が閾値より大きいマススペクトルのうち、最もmが小さいものであることを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。 - 請求項3において、
比較対象となる未知化合物のMSmスペクトルを選択するための閾値が、10〜50%であることを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。 - 請求項1において、
未知化合物のMSm測定は、MSmスペクトルのベースイオンと他のイオンとの強度比が閾値を超えた場合に終了することを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。 - 請求項5において、
MSm測定を終了するための閾値が、10〜50%であることを特徴とする質量分析装
置用データ処理装置。 - 請求項1において、
未知化合物のMSm分析の結果得られたm個のマススペクトルをm=1から順に、データベース内の全てのマススペクトルと比較することを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。
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