JP4393206B2 - 質量分析装置用データ処理装置 - Google Patents

質量分析装置用データ処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4393206B2
JP4393206B2 JP2004009977A JP2004009977A JP4393206B2 JP 4393206 B2 JP4393206 B2 JP 4393206B2 JP 2004009977 A JP2004009977 A JP 2004009977A JP 2004009977 A JP2004009977 A JP 2004009977A JP 4393206 B2 JP4393206 B2 JP 4393206B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass
spectrum
data processing
mass spectrometer
database
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004009977A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005201835A (ja
Inventor
いずみ 緒方
伸也 伊藤
泰啓 武川
喜三郎 出口
裕章 中川
紳一郎 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Priority to JP2004009977A priority Critical patent/JP4393206B2/ja
Priority to US11/037,043 priority patent/US20050159902A1/en
Publication of JP2005201835A publication Critical patent/JP2005201835A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4393206B2 publication Critical patent/JP4393206B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027Methods for using particle spectrometers
    • H01J49/0036Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
    • GPHYSICS
    • G16INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS
    • G16CCOMPUTATIONAL CHEMISTRY; CHEMOINFORMATICS; COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE
    • G16C20/00Chemoinformatics, i.e. ICT specially adapted for the handling of physicochemical or structural data of chemical particles, elements, compounds or mixtures
    • G16C20/20Identification of molecular entities, parts thereof or of chemical compositions

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

本発明は、MSn が可能な質量分析装置を用いて得られた未知化合物のマススペクトルを、既知化合物のマススペクトルデータベースで検索し、未知化合物の構造情報を得ることのできるデータ処理装置に関する。
未知の化合物を質量分析装置で測定し、その構造を明らかにするために、測定で得られた未知化合物のマススペクトルを、既知化合物のマススペクトルデータベースで検索することが広く行われている。マススペクトルのデータベース検索法は、特開平11−64285号公報(特許文献1),特開2001−50945号公報(特許文献2)などに開示されている。
質量分析装置は、イオン源でイオン化された試料を質量対電荷の比(m/z)を基に分離し、検出する装置である。この際、最初にイオン源でイオン化された試料をそのまま検出する通常の質量分析方法をMS1 とする。MS1 で得られたマススペクトル内の特定質量のイオン(前駆イオン)にエネルギーを与えて解離させ、生成した複数の生成物イオンを質量分離して第二のマススペクトルを得る方法をMS2 と呼ぶ。
試料分子内の各結合は、分子の構造に応じて開裂しやすさが異なるため、MS2 で得られるマススペクトル内のフラグメントイオンはそれぞれ強度が異なり、分子特有のマススペクトルパターンを示す。つまり、異なる化合物同士がMS1 スペクトルで同一のマススペクトルパターンを示す場合でも、MS2 スペクトルでは異なるマススペクトルパターンを示す。従って、MS2 スペクトルをMS1 スペクトルと併せてデータベース検索すると、より正確な同定が可能である。MS2 スペクトルを用いたデータベース検索方法の例として、特開平8−124519号公報(特許文献3),特開2001−249114号公報(特許文献4)や米国特許6624408(特許文献5)がある。
従来、未知化合物のデータベース検索の目的は、未知化合物の同定であった。この目的の下では、未知化合物と、データベースで検索された既知化合物は分子量が等しいことが必須であるため、MSn スペクトルを検索する際に世代の異なる(nが異なる)マススペクトル同士を検索することは無意味である。そのため、従来のデータベース検索では、未知化合物と既知化合物のMSn スペクトルのうち、MS1 はMS1、MS2はMS2・・・と世代の等しいマススペクトル同士を比較していた。
特開平11−64285号公報 特開2001−50945号公報 特開平8−124519号公報 特開2001−249114号公報 米国特許6624408
糖鎖化合物やペプチドのような生体高分子は一般に、同一の主鎖に種々の異なる側鎖を擁した一連の関連化合物が多数存在する。それらの構造解析においては、全体構造が判らなくても、主鎖が開裂したMSn スペクトルにより主鎖の構造が判れば、それに基づき側鎖を推測し、全体構造の解析が可能である。しかし、これら一連の関連化合物は、結合している側鎖の数や種類によって、主鎖の構造を示す主鎖内の結合が開裂したマススペクトルパターンを得るために必要なMSn の世代数(n)は化合物により異なる(図1)。そのため、各化合物のMSn スペクトルのうち世代が等しいマススペクトル同士を比較していた従来の検索方法では、主鎖に着目した構造比較は不可能であった。
また、糖鎖化合物のように同一の質量を持つ構造単位が複数結合した構造異性体を多数持つ化合物は、互いに分子量が等しい異性体が多数存在する。そのため、MS1 同士が同じマススペクトルパターンを示しても異なる化合物である場合が多い。その結果、従来のデータベース検索方法では正確な構造決定や同定が困難であった。
本発明は、MSn スペクトルのデータベース検索において、データベース内の既知化合物と測定した未知化合物の全構造が一致しなくとも、主鎖が一致する既知化合物を検索することを可能にし、全構造の解析を容易にすることを目的としたものである。
上記目的を達成するために、本発明は、イオン化された試料のMSn 分析を行うことが可能であり、既知化合物のMSn 分析の結果得られるマススペクトルデータを化合物ごとに格納し、未知試料のMSm 分析の結果得られたMSm スペクトル(m≧1)と比較して検索するためのデータベースを備えた質量分析装置用のデータ処理装置において、
データベース検索の際に世代の異なるMSnデータ同士の検索を可能とする機能を有することを特徴とする。
また本発明で比較対象となる未知化合物のMSm スペクトルは、マススペクトルのベースイオンと他のイオンとの強度比が閾値より大きいマススペクトルのうち、最もmが小さいものであることを特徴とする。
また本発明は、未知化合物のMSm 測定は、MSm スペクトルのベースイオンと他のイオンとの強度比が閾値を超えた場合に終了することを特徴とする。
また本発明は、データベースの構造によっては、未知化合物のMSm 分析の結果得られたm個のマススペクトルをm=1から順に、データベース内の全てのマススペクトルと比較することを特徴とする。
本発明により、生体高分子のように同一の主鎖に種々の異なる側鎖を擁した一連の関連化合物のMSn 測定において、全体構造が判らなくてもデータベース検索により主鎖の構造を明らかにすることが可能になる。更に、この主鎖構造に基づいた全体構造の推測が可能になる。また、主鎖の構造を明らかにする目的のデータベース検索であれば、データベース内に登録する既知化合物数より多数の関連化合物の構造を明らかにすることが可能である。
また、同一質量の構造単位が複数結合した構造を持ち、異性体同士の分子量が等しい化合物のMSn 測定において、MS1 結果が同じマススペクトルパターンであっても、データベース検索による異性体の識別が可能になる。
以下、本発明の実施例を説明する。
図2に、本発明の実施例で用いる質量分析装置の構成を示す。本実施例の質量分析装置は、試料をイオン化するためのイオン源1と、生成したイオンを質量分離し、かつMSnが可能なイオントラップ形質量分離部2と、質量分離されたイオンを検出する検出器3と、これらを制御するコントローラ4と、データ処理部5と、それらをつなぐ信号線6と、測定データや検索結果を表示する表示部7を備える。イオン源1には、エレクトロスプレイイオン源の他、ソニックスプレイイオン源及びイオンスプレイ,マトリックス支援レーザー脱離イオン源が使用可能である。
イオン源1でイオン化された試料イオンは、質量分離部2へ導入される。質量分離部2では、試料イオンを質量分離する。また、測定者の設定に従ってMSn (n=2,3,4・・・)を順次行う。質量分離されたイオンは検出器3へ送られ、マススペクトルとして検出される。マススペクトルは信号線6を経てデータ処理部5へ送られて処理され、表示部7に表示される。
図3に、本実施例で用いる2種類の糖鎖の構造を示す。アナリティカル・バイオケミストリー,1988年,171号,73ページ(Anal. Biochem.1988,171,pp73) に掲載されている高橋らによる命名法に基づき、これらは200.2(図3a)及び210.2(図3b)と呼ばれる。これらは共に、同じ主鎖を持つが、糖鎖210.2 には末端のグルコース(Glc)にフコース(Fuc)が結合している。
この2種類の糖鎖をMSn分析した結果を図4に示す。
糖鎖は、糖が複数結合した主鎖が、様々な側鎖によって誘導化された構造を持つ。これをMSn 測定すると、主鎖−側鎖間の結合から順に開裂していくため、化合物によって主鎖内の結合が開裂に至るまでに要するMSn の世代数(n)は異なる。また、糖鎖の主鎖を構成する糖は、それぞれ互いに質量の等しい異性体同士であるため、MSn-1 において側鎖が脱離して得られる主鎖に相当する娘イオンに基づいて主鎖の構造を特定することは困難であり、主鎖が開裂するまでMSnを行う必要がある。
図4a及び図4bは200.2 のMS1及びMS2のマススペクトル、図4cから図4eは210.2のMS1からMS3のマススペクトルである。MS1では分子イオンのみが生成し、200.2,210.2共に分子イオン(m/z 790,863)のみが検出された
(図4a及び図4c)。MS2を行うと、200.2では主鎖内の各結合が開裂して複数のフラグメントイオンが生成した(図4b)。このフラグメントイオンの生成パターンが
200.2の主鎖の構造情報を示す。一方、210.2のMS2では、主鎖と側鎖(Fuc)間の結合のみが開裂したため、主鎖に相当する娘イオン(m/z 790)のみが検出され、主鎖の構造情報を得るには至らなかった(図4d)。そこで、210.2 について更に
MS3 を行うと、主鎖内の各結合が開裂し、複数のフラグメントイオンが生成した(図
4e)。この210.2の主鎖の構造情報を示すMS3 スペクトルのパターンと、200.2のMS2スペクトルとのパターンが類似していたことから、200.2と210.2 の主鎖が同一であるということが明らかとなった。
ここで、未知化合物のMSn 測定を行う場合、MSn の世代数(n)については、予め測定者が化合物の主鎖が開裂するのに十分なnを予想し、測定条件としてnを指定して測定を行う方法がある。
また、予め、マススペクトル内の最強ピークであるベースイオンと、他のイオンの強度比に閾値を設定しておくと、この強度比が閾値を超えたマススペクトルを主鎖の構造情報を示すマススペクトルと判別することが可能である。これにより、主鎖の構造情報を示すマススペクトルが得られるまでベースイオンに対するMSn を自動的に繰り返すことが可能である。例えば上記の場合、マススペクトル内のベースイオンの強度に対して、他のイオンの強度が40%を超えた場合に主鎖が開裂したと判別するように設定をしておけば、200.2ではMS2、210.2ではMS3測定までを自動で行うことが可能である。この閾値としては、10〜50%が適当である。
以上で得られたデータのうち、200.2のMS2スペクトルをデータベースへ登録し、210.2のMS3分析結果をこのデータベースで検索する場合を考える(図5)。
本発明は、始めに210.2のMS3分析結果におけるMS1,MS2,MS3の3個のマススペクトルのうち最も主鎖の構造情報を示すマススペクトルを選択する。
この選択方法には、210.2のMSn分析方法に対応した2通りの方法がある。
まず、マススペクトルパターンに関わらずMSn の世代数(n)を指定して測定した場合は、得られたn個のマススペクトルの中から主鎖の構造を示すマススペクトルを選択する。これは、マススペクトル内のベースイオンに対する他のイオンの強度比が、ある閾値以上であったマススペクトルのうち、最もnが小さいマススペクトルを主鎖が開裂したマススペクトルと判断する。210.2 の場合、閾値を40%としておくと、ベースイオン強度に対して他のイオン強度が40%を超えたMS3 スペクトルを選択する。この閾値としては、10〜50%が適当である。
一方、主鎖が開裂したマススペクトルを自動判別させて210.2のMSn測定を行った場合には、主鎖の構造を示すマススペクトルはMSn 測定の最後に得られたマススペクトル、つまりMS3スペクトルであるため、これを選択する。
選択されたMS3 スペクトルについてデータベース内に登録されている全てのマススペクトルと比較する。その結果、類似のマススペクトルパターンを示す200.2のMS2スペクトルを検索結果として表示し、210.2の主鎖が200.2と同一であることが明らかとなる。測定者は、明らかとなった主鎖情報を手がかりとして、MS2,MS1のそれぞれのマススペクトルを解析し、全体構造を明らかにすることができる(図6)。
第二の実施例は、図1に示した第一の実施例の構成と、図4で得られた200.2と
210.2のデータにおいて、MSnスペクトルを格納するデータベースがn=1,2,3・・・と階層構造を持ち、200.2のMS2測定結果として、MS1及びMS2の2つのマススペクトルをデータベースへ登録し、210.2のMS3分析結果をこのデータベースで検索する例である(図7)。
本発明では、始めに210.2 のMSn スペクトル(n≧1)についてn=1から順に、データベース内に登録されている全てのマススペクトルと比較して、類似したマススペクトルを全てピックアップする。本実施例では、210.2のMS2スペクトルに類似の
200.2のMS1スペクトルをピックアップする。この比較で、主鎖に相当する娘イオンを示すマススペクトルが明らかとなる。
続いて、ピックアップされた未知化合物のMSm スペクトルとデータベース内のMSl スペクトル双方の、MSm+1 スペクトルとMSl+1スペクトルとを互いに比較する。本実施例では、210.2のMS3 スペクトルと、データベース内の200.2 のMS2 スペクトルとを比較する。この比較は、MSm スペクトルとMSn スペクトルのベースイオンが開裂したマススペクトル同士の比較である。この結果、類似度の高い順に検索結果として表示し、210.2の主鎖が200.2と同一であることが明らかとなる(図8)。
明らかとなった主鎖情報を手がかりとして、MS2,MS1のそれぞれのマススペクトルを解析し、測定者は全体構造を明らかにすることができる。
本発明のデータベース検索方法の概念図を示した図である。 本発明の実施例である質量分析装置の概略構成図である。 本発明の実施例に用いた二種類の糖鎖の構造を示した図である。 本発明の実施例に用いた二種類の糖鎖のMS2及びMS3分析で得られたマススペクトルである。 本発明の第一の実施例であるデータベース検索方法を示した模式図である。 本発明の第一の実施例であるデータ処理方法を説明した図である。 本発明の第二の実施例であるデータベース検索方法を示した模式図である。 本発明の第二の実施例であるデータ処理方法を説明した図である。
符号の説明
1…イオン源、2…イオントラップ形質量分離部、3…検出器、4…コントローラ、5…データ処理部、6…信号線、7…表示部。

Claims (7)

  1. イオン化された試料のMSn分析を行うことが可能であり、既知化合物のMSn分析の結果得られたマススペクトルデータを化合物ごとに格納し、未知化合物のMSm分析の結果得られたMSmスペクトル(m≧1)と比較して検索するためのデータベースを備えた質量分析装置用データ処理装置において、
    データベース検索の際に世代の異なるMSnデータの検索を可能とする機能を有することを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。
  2. 請求項1において、
    質量分析装置は、エレクトロスプレイイオン源、ソニックスプレイイオン源、イオンスプレイイオン源、又はマトリックス支援レーザー脱離イオン源を有することを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。
  3. 請求項1において、
    比較対象となる未知化合物のMSmスペクトルは、マススペクトルのベースイオンと他のイオンとの強度比が閾値より大きいマススペクトルのうち、最もmが小さいものであることを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。
  4. 請求項3において、
    比較対象となる未知化合物のMSmスペクトルを選択するための閾値が、10〜50%であることを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。
  5. 請求項1において、
    未知化合物のMSm測定は、MSmスペクトルのベースイオンと他のイオンとの強度比が閾値を超えた場合に終了することを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。
  6. 請求項5において、
    MSm測定を終了するための閾値が、10〜50%であることを特徴とする質量分析装
    置用データ処理装置。
  7. 請求項1において、
    未知化合物のMSm分析の結果得られたm個のマススペクトルをm=1から順に、データベース内の全てのマススペクトルと比較することを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。
JP2004009977A 2004-01-19 2004-01-19 質量分析装置用データ処理装置 Expired - Fee Related JP4393206B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004009977A JP4393206B2 (ja) 2004-01-19 2004-01-19 質量分析装置用データ処理装置
US11/037,043 US20050159902A1 (en) 2004-01-19 2005-01-19 Apparatus for library searches in mass spectrometry

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004009977A JP4393206B2 (ja) 2004-01-19 2004-01-19 質量分析装置用データ処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005201835A JP2005201835A (ja) 2005-07-28
JP4393206B2 true JP4393206B2 (ja) 2010-01-06

Family

ID=34747235

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004009977A Expired - Fee Related JP4393206B2 (ja) 2004-01-19 2004-01-19 質量分析装置用データ処理装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20050159902A1 (ja)
JP (1) JP4393206B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4808542B2 (ja) * 2006-04-27 2011-11-02 公益財団法人野口研究所 糖鎖異性体を分離同定する質量分析法
JP4769705B2 (ja) * 2006-12-18 2011-09-07 トヨタ自動車株式会社 排気ガスの温度分析装置、排気ガス温度分析方法、及び、温度分析プログラム
US11094399B2 (en) * 2011-01-11 2021-08-17 Shimadzu Corporation Method, system and program for analyzing mass spectrometoric data
WO2013051148A1 (ja) * 2011-10-07 2013-04-11 株式会社島津製作所 質量分析データ解析方法及び装置
WO2014128912A1 (ja) 2013-02-22 2014-08-28 株式会社島津製作所 データ処理装置及びデータ処理方法
KR101533745B1 (ko) * 2013-07-30 2015-07-03 주식회사 엘지화학 정량적 검색이 가능한 분자 오비탈 데이터베이스 구축 방법 및 이를 이용하는 시스템
JP6521041B2 (ja) * 2017-12-12 2019-05-29 株式会社島津製作所 質量分析データ処理装置及び質量分析データ処理方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030068825A1 (en) * 2001-07-13 2003-04-10 Washburn Michael P. System and method of determining proteomic differences
WO2004109449A2 (en) * 2003-05-30 2004-12-16 Novatia, Llc Analysis of data from a mass spectrometer

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005201835A (ja) 2005-07-28
US20050159902A1 (en) 2005-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8884218B2 (en) Method and systems for mass spectrometry for identification and structural analysis of unknown substance
US7880135B2 (en) Mass spectrometer
US6957159B2 (en) System for analyzing compound structure
JP4857000B2 (ja) 質量分析システム
JP2007538260A (ja) 混合物中のタンパク質を同定する方法および装置
US8694264B2 (en) Mass spectrometry system
JP6004080B2 (ja) データ処理装置及びデータ処理方法
US20050159902A1 (en) Apparatus for library searches in mass spectrometry
US11686713B2 (en) Glycopeptide analyzer
US9947519B2 (en) Computational method and system for deducing sugar chains using tandem MSn spectrometry data
JP4821400B2 (ja) 構造解析システム
JP5510011B2 (ja) 質量分析方法及び質量分析装置
CA2629203C (en) Mass defect triggered information dependent acquisition
JP4058449B2 (ja) 質量分析方法および質量分析装置
US8110793B2 (en) Tandem mass spectrometry with feedback control
CN110554084B (zh) 用于数据依赖性串联质谱的前体选择
JP2005510732A (ja) 質量分析法によって自動的にタンパク質の配列決定を行うシステムおよび方法
JP4929224B2 (ja) 質量分析システム
JP5983371B2 (ja) ペプチド構造解析方法及び装置
JP2008170346A (ja) 質量分析システム
JP2009080010A (ja) 質量分析システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060331

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060331

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20060509

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090721

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090827

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090929

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091013

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4393206

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121023

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121023

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131023

Year of fee payment: 4

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees