JP4380730B2 - 冷凍サイクル装置のコンプレッサの吸入圧力推定装置 - Google Patents
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Description
前記コンプレッサから吐出される冷媒を冷却する冷却器(3)と、
前記冷却器により冷却された冷媒を減圧する減圧器(5)と、
前記減圧器により減圧された冷媒を空気からの吸熱により蒸発させるエバポレータ(6)と、を備える冷凍サイクル装置のコンプレッサの吸入圧力推定装置であって、
前記エバポレータの表面温度を検出する温度センサ(13)と、
前記温度センサの検出温度に基づいて設定された関数に基づいて、前記エバポレータ内の冷媒温度を推定する第1の冷媒温度推定手段(S100)と、
前記第1の冷媒温度推定手段により推定される冷媒温度に基づいて前記コンプレッサの冷媒吸入圧力を推定する圧力推定手段(S180)と、を備え、
前記関数は、前記エバポレータの表面温度の変化率に基づいて前記エバポレータ内の冷媒温度を推定する一次進み関数であることを第1の特徴とする。
前記コンプレッサ起動後の所定期間(Tp1)は、前記第2の冷媒温度推定手段で推定された値を推定温度として用い、所定期間(Tp1)経過後は、前記第1の冷媒温度推定手段で推定された値を推定温度として用いるように設定する設定手段(S170)と、を備えることを第2の特徴とする。
前記一次遅れ関数は、前記エバポレータ内の冷媒の推定温度をY軸として時間をX軸とするX−Y座標において、前記温度センサ(13)によって検出された前記コンプレッサが起動時における前記エバポレータ(6)の表面温度と、予め推定される前記コンプレッサが起動して所定時間(Ts)後の冷媒温度である推定目標温度(Tefin_C)を下側に凸となる曲線で結ぶ関数であることを第3の特徴とする。
Tefin_fwd(N)=Tefin
+T_f×(Tefin−Tefin_old)/Δt……(1)
ここで、数式(1)は、エバポレータ6内の実際の冷媒温度に対するTefinの遅れを補正した補正温度を求めるための一次進み関数を示している。この一次進み関数は、エバポレータ6の表面温度の変化率に基づいてエバポレータ内の冷媒温度を推定する関数である。Tefin_oldは、前回の補正温度の演算で用いられた温度センサ13の検出値のサンプリング値である。
Tefin_C1=f1(Tefin_fwd(N))……(2)
ここで、f1(Tefin_fwd)とTefin_fwd(N)とは図4のグラフの関係になっており、このグラフとTefin_fwd(N)とに基づいてTefin_C1を求める。Tefin_C1は、後述するように、一次遅れ関数を用いてTefinの補正温度を求める際に用いる。
Tefin_C=Tefin_C1+f2(timer)……(3)
ここで、f2(timer)とtimerとは図5のグラフの関係になっており、このグラフとtimerとに基づいてf2(timer)を求める。これに加えてf2(timer)とTefin_C1とを加算してTefin_Cを求める。
Tefin_lag(N)=(T_l/Δt×Tefin_lag(N−1)+Tefin_C)/(T_l/Δt+1)……(4)
数式(4)は、エバポレータ6内の実際の冷媒温度に対するサンプリング値Tefinの遅れを補正した補正温度を求めるための一次遅れ関数を示している。なお、一次遅れ関数については後述する。
Ps_Eba(N)=0.013×Tefin_AD(N)
−0.16……(5)
次に、Ps_Eba(N)を次の数式(6)に代入してコンプレッサ2の冷媒吸入圧力の推定値Ps_es(N)を求める。
Ps_es(N)=Ps_Eba(N)
−(1.46/10^6)Gr……(6)
その後、ステップS90の処理を経て、次にステップS100において補正温度Tefin_fwd(N)を演算する。
コンプレッサ2が起動して所定時間Ts後では、Tefin_lag(N)は、コンプレッサ2が起動して所定時間Ts後の推定目標温度Tefin_Cと同一値になっている。
上述の実施形態では、「エバポレータの表面温度を検出する温度センサ13」として、エバポレータ6を通過した直後の吹出空気温度を検出する温度センサを用いた例について説明したが、これに限らず、エバポレータ6の外表面温度を検出する温度センサを用いてもよい。
6…エバポレータ、14…電子制御装置。
Claims (2)
- 冷媒を吸入、圧縮して吐出するコンプレッサ(2)と、
前記コンプレッサから吐出される冷媒を冷却する冷却器(3)と、
前記冷却器により冷却された冷媒を減圧する減圧器(5)と、
前記減圧器により減圧された冷媒を空気からの吸熱により蒸発させるエバポレータ(6)と、を備える冷凍サイクル装置のコンプレッサの吸入圧力推定装置であって、
前記エバポレータの表面温度を検出する温度センサ(13)と、
前記温度センサの検出温度に基づいて設定された関数に基づいて、前記エバポレータ内の冷媒温度を推定する第1の冷媒温度推定手段(S100)と、
前記第1の冷媒温度推定手段により推定される冷媒温度に基づいて前記コンプレッサの冷媒吸入圧力を推定する圧力推定手段(S180)と、を備え、
前記関数は、前記エバポレータの表面温度の変化率に基づいて前記エバポレータ内の冷媒温度を推定する一次進み関数であり、
前記第1の冷媒温度推定手段とは異なる手段によって前記エバポレータ内の冷媒温度を推定する第2の冷媒温度推定手段(S160)と、
前記コンプレッサ起動後の所定期間(Tp1)は、前記第2の冷媒温度推定手段で推定された値を推定温度として用い、所定期間(Tp1)経過後は、前記第1の冷媒温度推定手段で推定された値を推定温度として用いるように設定する設定手段(S170)と、を備え、
前記第2の冷媒温度推定手段(S160)は、前記エバポレータ内の冷媒の推定温度と時間との関係を示す一次遅れ関数を用いて、前記コンプレッサが起動してある時間経過後における前記エバポレータ内の冷媒温度を推定するものであり、
前記一次遅れ関数は、前記エバポレータ内の冷媒の推定温度をY軸として時間をX軸とするX−Y座標において、前記温度センサ(13)によって検出された前記コンプレッサが起動時における前記エバポレータ(6)の表面温度と、予め推定される前記コンプレッサが起動して所定時間(Ts)後の冷媒温度である推定目標温度(Tefin_C)を下側に凸となる曲線で結ぶ関数であることを特徴とする冷凍サイクル装置のコンプレッサの吸入圧力推定装置。 - 前記温度センサ(13)の検出温度を一定期間(Δt)毎にサンプリングするサンプリング手段(S90)を備え、
前記一定期間(Δt)は1sec以上に設定されていることを特徴とする請求項1に記載の冷凍サイクル装置のコンプレッサの吸入圧力推定装置。
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