JP4364095B2 - 微小凸部の作製方法 - Google Patents

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Description

本発明は、ガラス基材表面または薄膜表面に微小凸部を形成させる微小凸部の作製方法に関するものである。
例えば、基板表面上に微小凸部を形成させた一例として、半導体材料であるシリコン基板上に、アルカリ水溶液を用いて微小な針形状を作製する方法が知られている(例えば、特許文献1参照。)。このような方法は、機械加工を用いて針形状を作製しており、まず、溝を作製したシリコンウエハに、アルカリ性の溶液による結晶異方性エッチングを行うと、溝底面がエッチングされるとともに、溝加工で形成された島状構造体部分全体がエッチングされる。このとき島状構造体の上部角部ではエッチング速度の最も速い結晶面が現れ、結果的に先鋭な先端部を有する針状構造体が形成される。そして、針状構造体が形成された基板表面をエッチングマスクし、機械加工を施して針状構造体間またはその周辺に溝を形成し、針の高さを高くする。このように、エッチングマスクにより針先先端部は保護されているため、鋭利な先端を有する針状構造体を作製することができる。
特開2004−58265号公報
しかしながら、上記特許文献1に記載の針形状を作製する方法では、エッチングマスクを用いているため、コストがかかるとともに、マスク合わせ等により工程数が増え、生産性が低下するという問題がある。また、機械加工方法として、ダイシング加工、放電加工、レーザー加工、サンドブラスト加工などを用いると、針形状を作製する装置が高価になってしまい全体的な作製コストが上がってしまう。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、簡易なプロセスによりガラス基材表面または薄膜表面に微小凸部を作製する微小凸部の作製方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は、以下の手段を提供する。
本発明の微小凸部の作製方法は、ガラス基材に圧力を局所的に印加すること、または圧力と熱とを局所的に印加した後冷却することにより、前記ガラス基材の表面及びその近傍に、使用するエッチング液に対するエッチングレートが他の部分と異なる圧縮応力部を形成し、該圧縮応力部を形成したガラス基材に対し、非圧縮応力部のエッチング量に対する前記圧縮応力部の残存量の割合であるエッチング選択比が第1の所定範囲にあるエッチング液による化学的エッチング処理を行う第1のエッチング工程と、前記エッチング選択比が前記第1の所定範囲とは異なる第2の所定範囲にあるエッチング液による化学的エッチング処理を行う第2のエッチング工程とにより、前記ガラス基材表面に前記圧縮応力部に対応した微小凸部を形成することを特徴とする。
本発明に係る微小凸部の作製方法では、ガラス基材に圧力を局所的に印加すること、または圧力と熱とを局所的に印加した後冷却することにより圧縮応力部を形成する。そして、圧縮応力部が形成されたガラス基材にエッチング選択比が第1の所定範囲にあるエッチング液による化学的エッチング処理を行うと、ガラス基材の表面には山形形状の突起が形成される。その後、エッチング選択比が第2の所定範囲にあるエッチング液により化学的エッチング処理を行うと、ガラス基材の表面に、裾幅に対する高さの割合であるアスペクト比が高く、先端が鋭利な微小凸部を形成することができる。すなわち、簡易なプロセスによりガラス基材表面に圧縮応力部に対応した微小凸部を作製することが可能となる。
ここで、エッチング選択比とは、非圧縮応力部のエッチング量に対する圧縮応力部の残存量の割合をいい、例えば、エッチング選択比が0.9の場合、非圧縮応力部が1μmエッチングされるとき、圧縮応力部4は0.1μmエッチングされ、0.9μm(残存量)の高さが形成される。
また、本発明の微小凸部の作製方法は、ガラス基材上に一層以上の無機材料からなる薄膜を成膜し、該薄膜に圧力を局所的に印加すること、または圧力と熱とを局所的に印加した後冷却することにより、前記薄膜の表面及びその近傍に、使用するエッチング液に対するエッチングレートが他の部分と異なる圧縮応力部を形成し、該圧縮応力部を形成した前記薄膜に対し、非圧縮応力部のエッチング量に対する前記圧縮応力部の残存量の割合であるエッチング選択比が第1の所定範囲にあるエッチング液による化学的エッチング処理を行う第1のエッチング工程と、前記エッチング選択比が前記第1の所定範囲とは異なる第2の所定範囲にあるエッチング液による化学的エッチング処理を行う第2のエッチング工程とにより、前記薄膜表面に圧縮応力部に対応した微小凸部を形成することを特徴とする。
本発明に係る微小凸部の作製方法では、薄膜に圧力を局所的に印加すること、または圧力と熱とを局所的に印加した後冷却することにより圧縮応力部を形成する。そして、圧縮応力部が形成された薄膜表面にエッチング選択比が第1の所定範囲にあるエッチング液による化学的エッチング処理を行うと、薄膜の表面には山形形状の突起が形成される。その後、エッチング選択比が第2の所定範囲にあるエッチング液により化学的エッチング処理を行うと、薄膜の表面に、裾幅に対する高さの割合であるアスペクト比が高く、先端が鋭利な微小凸部を形成することができる。すなわち、簡易なプロセスにより薄膜表面に圧縮応力部に対応した微小凸部を作製することが可能となる。さらに、例えば、イオンエッチング等のエッチング処理を行うことによって、薄膜表面に形成されている微小凸部の形状をガラス基材表面にそのまま反映させることが可能になる。したがって、ガラス基材表面に形成させたい微小凸部の形状を考慮した圧縮応力部を薄膜に形成させるようにすることで、所望の形状の微小凸部をガラス基材表面に形成させることが可能になる。
また、本発明の微小凸部の作製方法は、前記ガラス基材として、前記薄膜よりもエッチングレートの高いものを使用することを特徴とする。
本発明に係る微小凸部の作製方法では、薄膜よりもガラス基材の方が速くエッチングされるようになるので、ガラス基材表面に高アスペクト比形状の微小凸部を形成し易くすることができる。
また、本発明の微小凸部の作製方法は、前記第1の所定範囲のエッチング選択比が、前記第2の所定範囲のエッチング選択比より大きいことを特徴とする。
本発明に係る微小凸部の作製方法では、まず、エッチング選択比が第1の所定範囲にあるエッチング液によって化学的エッチング処理を行うが、エッチング選択比が大きいため、ガラス基材の表面または薄膜の表面には、山形形状の突起が形成される。その後、第1の所定範囲のエッチング選択比より小さい第2の所定範囲のエッチング選択比を有するエッチング液による化学的エッチング処理を行う。これにより、圧縮応力部が形成されている山形形状の突起部分がよりエッチングされるようになるので、山形形状の突起は相対的に細長くなる。したがって、ガラス基材の表面または薄膜の表面に、裾幅に対する高さの割合であるアスペクト比が高く、先端が鋭利な微小凸部を形成することができる。
また、本発明の微小凸部の作製方法は、前記圧力が、圧子を押圧または走査することによって印加されることを特徴とする。
本発明に係る微小凸部の作製方法では、圧子を押圧または走査した箇所に圧縮応力部が形成されるので、ガラス基材または薄膜をエッチング処理することにより所望の形状物を得ることができる。
また、本発明の微小凸部の作製方法は、前記圧力が、複数の突起形状を有する成形型を押圧することによって印加されることを特徴とする。
本発明に係る微小凸部の作製方法では、成形型の形状に対応した立体的な圧縮応力部を形成するようになるので、ガラス基材または薄膜をエッチング処理することにより立体形状物を得ることができる。
本発明の微小凸部の作製方法は、前記圧力が、尾根状の突起形状を有する成形型を押圧することにより印加されることを特徴とする。
本発明に係る微小凸部の作製方法では、成形型の突起形状に対応して尾根方向に延びた圧縮応力部が形成される。従って、まず、エッチング選択比が第1の所定範囲にあるエッチング液によって化学的エッチング処理を行うが、このとき、ガラス基材の表面または薄膜の表面には、山形形状、特に頂部が連なる山脈形状の突起が形成される。その後、エッチング選択比が第2の所定範囲にあるエッチング液によって化学的エッチング処理を行う際、圧縮応力部が形成されている山脈形状の突起部分がよりエッチングされるようになるので、結果的に、圧縮応力部に対応した、先端が鋭利な例えばナイフエッジ形状の微小凸部を形成することができる。
また、本発明に係る微小凸部の作製方法は、前記微小凸部の表面の少なくとも一部に導電性部材を被覆する工程を有することを特徴とする。
本発明に係る微小凸部の作製方法では、表面の少なくとも一部に導電性部材が被覆された微小凸部を得ることができ、この導電性部材を利用することによって、STM(走査型トンネル顕微鏡)測定や原子・分子操作が可能となる。
本発明においては以下の効果を奏する。
本発明に係る微小凸部の作製方法によれば、エッチング選択比が第1の所定範囲にあるエッチング液と、エッチング選択比が第1の所定範囲と異なる第2の所定範囲にあるエッチング液によるエッチング処理を行うため、簡易なプロセスにより高アスペクト比を有する例えば針形状やナイフエッジ形状の微小凸部を作製することが可能になる。
<第1実施形態>
本発明の第1実施形態について、図1及び図2を参照して説明する。
本発明の第1実施形態に係るガラス基材表面に微小針5を形成する工程を説明する。
本実施形態では、加工対象とするガラス基材1として、酸性液(エッチング液)による化学的エッチング処理が行われることにより表面に凹凸を効果的に形成させるのに有利な、SiO2及び1モル%以上のAl23を含み且つSiO2含有量−Al23含有量が40〜67モル%であるガラス母材を用いる。このガラス母材は、多成分系ガラスであって、SiO2を主成分とし且つ1モル%以上のAl23が含有されており、このようなガラス母材では、Al23が酸性溶液に溶出し易いため、エッチング処理が促進され、また、これに含まれるSiO2とAl23のモル濃度の差(SiO2−Al23)が小さくなるに伴い(耐酸性の弱いAl23が相対的に多くなるに伴い)、その溶出が促進されエッチングレートが飛躍的に大きくなる。
また、ガラス基材1に圧力を局所的に印加する方法としては、圧子2を押圧することにより行われる。この圧子2の先端部の形状は、球の一部分をなしており、例えばその半径は0.25mmである。
本実施形態に係る工程では、まず、ガラス基材1を加熱する基板加熱装置(図示略)を300℃に加熱する。これにより、図1(a)に示したように、上述した組成のガラス基材1に熱を印加し、当該ガラス基材1を昇温させる。尚、このときの熱の印加は、少なくとも、圧子2を押圧して圧力を印加したときにクラックが生じない程度に昇温されるまで行われる。
続いて、ガラス基材1が昇温されると、図1(b)に示したように、圧子2を矢印Aに示したように降下し、圧子2をガラス基材1に押圧する。これにより、ガラス基材1の表面及びその近傍に昇温した状態の圧縮応力部3が形成される。尚、実際には、このときに圧子2の押圧によってガラス基材1の表面に凹が形成されるが、図1(b)では省略して示している(図1(c)において同じ)。
続いて、圧子2をガラス基材1に押圧した状態のままガラス基材1を冷却し、図1(c)に示したように、圧子2を矢印Bに示したように上昇させる。これにより、ガラス基材1の表面及びその近傍に圧縮応力部4が形成される。
このようにして形成された圧縮応力部4は、他の部分(通常部)と異なる化学的性質を示し、酸性液による化学的エッチング処理を行った際にエッチングレートに差が生じる。詳しくは、圧縮応力部4では、他の部分に比べてエッチングレートが低くなる(エッチング速度が遅くなる)。このメカニズムは、完全には明らかになっていないが、圧縮応力部4では、ガラス構造の変化、相変態、密度上昇等が生じ、緻密化したシロキサンネットワークがその他の成分の溶出を妨げる一方、他の部分ではAl23が酸性液により選択的にエッチングされるためと考えられる。
続いて、図1(d)及び図1(e)に示したように、前述の圧縮応力部4が形成されたガラス基材1を図2に示す第1の所定範囲(エッチング選択比:0.8〜0.9)のエッチング液である60℃,0.05%のフッ酸(HF)中に浸漬させる。これによって、約6μmの化学的エッチング処理が行われ、ガラス基材1の表面には、高さ約5.4μmの突起形状が形成される。
ここで、エッチング選択比とは、非圧縮応力部のエッチング量に対する圧縮応力部の残存量の割合である。例えば、エッチング選択比0.9の場合、非圧縮応力部が1μmエッチングされるとき、圧縮応力部4は0.1μmエッチングされ、0.9μm(残存量)の高さの突起が形成されるということを示している。すなわち、エッチング選択比が大きいほど、高さの高い山形形状の突起を形成することができる。
このような、第1の所定範囲のエッチング選択比を有するエッチング液によりエッチング処理を行うと(第1のエッチング工程)、図1(d)及び図1(e)に示したように、他の部分よりもエッチングレートが低い圧縮応力部4は他の部分よりもエッチングされ難くなり、圧縮応力部4が突起となって残存するようになる。さらに、図2に示す第2の所定範囲のエッチング選択比を有するエッチング液(エッチング選択比:0.5〜0.6)である50℃,0.1%のフッ酸(HF)中に浸漬させる。これによって、約4μmの化学的エッチング処理が行われた(第2のエッチング工程)。この工程により、図1(f)に示したように、圧縮応力部4が第1のエッチング工程に比して相対的に多くエッチングされるようになるので、山形形状の突起は内方に絞られる。これにより、エッチング処理が進むにつれて、ガラス基材1の表面には、裾幅L1が1μmで、高さL2が約7μmである先端が鋭利な針状の突起、すなわち微小針5が形成される。
また、この微小針5をガラス基材1の表面から切り離す方法としては、微小針5の裾の部分に、電子ビーム(EB),収束イオンビーム(FIB)を照射するものが挙げられる。
このように本実施形態に係る工程によれば、ガラス基材1の表面に、第1の所定範囲のエッチング選択比を有するエッチング液によるエッチング処理を行った後、第2の所定範囲のエッチング選択比を有するエッチング液によるエッチング処理を行うことで、裾幅L1に対する微小針5の高さL2の割合であるアスペクト比(L2/L1)が高く、先端が鋭利な微小針5を形成することができる。すなわち、簡易なプロセスにより微小針5を作製することが可能となる。
なお、本実施形態に係る工程において、ガラス基材1のSiO2含有量−Al23含有量は、耐水性を劣化させないガラス基材とする観点から40モル%以上とするのが好ましく、更にエッチング量に対して効率良く高い突起が得られるガラス基材とする観点から47モル%以上とするのが好ましい。一方、Al23のガラス基材中への多量の添加によって生じる耐酸性の低下を抑制し、かつガラス基材の溶融温度の上昇を抑制し、比較的低い溶融温度で組成均質性の高いガラス基材とする観点から、前述のSiO2含有量−Al23含有量は、67モル%以下とするのが好ましく、更にエッチング量に対して効率良く高い突起が得られるガラス基材とする観点から57モル%以下とするのが好ましい。
また、SiO2含有量は40モル%以上が好ましく、一方Al23含有量は1モル%以上が肝要であるが上限としては15モル%以下が好ましい。SiO2は、ガラス基材1の基本的構成成分であり、化学的耐久性の付与及び突起形成性の点から40モル%以上が好ましい。また、Al23は、ガラス基材の溶解性を確保し、均質なガラス基材とし、これにより突起形成の場所によるばらつきを小さくし得る点から15モル%以下が好ましい。
このように、ガラス基材1は、SiO2及びAl23を前述したような割合で含み、圧力を印加するか、または圧力と熱とを印加した後冷却することで、エッチングレートが低い圧縮応力部を容易に形成でき、その後エッチング処理を行うことによって突起が形成できるものであれば良く、特に制限はない。このようなガラス基材の種類の例を挙げれば、アルミノケイ酸塩ガラス、アルミノホウケイ酸塩ガラス、ホウケイ酸塩ガラス等から選択できる。尚、ホウケイ酸塩ガラス等に含まれているB23は、ガラス基材中でAl23と同様の作用を示すと考えられ、これがガラス基材1に含まれていても何ら差し支えない。
また、本実施形態に係る工程において、エッチング液としてフッ酸(HF)を使用したが、使用される酸性液はガラス基材1からSiO2以外の成分を選択的に溶出することが必要であり、更にエッチング液による化学的エッチング処理により圧縮応力部とそれ以外の通常部との間に前述の選択的溶出量が異なることが求められる。そのため、エッチング液はpH5以下の水溶液であることが好ましい。エッチング処理によりガラス基材中から選択的に溶出されるのはAl23などの耐酸性の低い成分であることから、エッチング液は酸性寄りであることが求められる。このようなエッチング液として、フッ素イオンを含有する酸性の水溶液、例えば、フッ化水素酸水溶液を用いることができる。また、この酸性のエッチング液には、硫酸、塩酸、硝酸、リン酸、スルファミン酸、シュウ酸、酒石酸、リンゴ酸及びクエン酸の中から選ばれる少なくとも一種が添加されたものを使用することができる。
また、この第1実施形態に係る工程では、ガラス基材1に一つの圧子2を押圧して圧力を印加するようにしているが、複数の圧子2を押圧して圧力を印加するようにしても良い。このようにすることで、ガラス基材1の表面に複数の突起を一回の押圧操作で形成させることができる。
<第2実施形態>
次に、本発明に係る第2実施形態について、図3を参照して説明する。
この第2実施形態に係る微小針15の作製方法において、第1実施形態と異なる点は、第2実施形態では、ガラス基材11上に薄膜12を成膜し、薄膜12に複数の微小針15を形成する点である。
本実施形態は、加工対象となるガラス基材が、プレス成形困難なものである場合等に好適なものである。このようなガラス基材としては、熱膨張が小さく高い透明性を有する結晶化ガラスや石英ガラス、アサーマルガラス等がある。尚、ガラスのプレス成形とは、ガラスを加熱軟化させた後に、所望の形状に加工した成形型(例えば、本実施形態で示す複数の突起形状を有する成形型14)で押圧して形状を転写させ、その後冷却してガラスを固化し、所望の形状のガラスを得る方法をいう。よって、プレス成形困難なものの中には、前述のような圧力を印加するか、または圧力と熱とを印加した後冷却することで圧縮応力部を形成することが困難なもの等も含まれる。
本実施形態では、最終的に表面に微小針15の形状を形成させるガラス基材として、結晶化ガラスを用いる。
このような結晶化ガラス表面に微小針15の形状を形成させるため、まず、図3(a)に示したように、結晶化ガラス11上に、加工層となる無機材料からなる薄膜である応力印加用膜12を成膜する。この応力印加用膜12は、前述のような熱及び圧力を局所的に印加し冷却することでエッチングレートが他の部分と異なる圧縮応力部を形成可能なものであって、例えば、前述の第1実施形態において加工対象となったガラス基材1等である。
続いて、この応力印加用膜12が成膜された結晶化ガラス11を、図3(b)に示したように、下型13上に載置し、第1実施形態と同様にして、基板加熱装置(図示略)を300℃に加熱する。このようにして、熱を印加して応力印加用膜12を昇温させる。尚、このときの熱の印加は、少なくとも、成形型14を押圧して圧力を印加したときにクラックが生じない程度に応力印加用膜12が昇温されるまで行われる。応力印加用膜12が昇温されると、続いて、成形型14を降下して成形型14を応力印加用膜12に押圧する。これにより、応力印加用膜12の表面及びその近傍に、成形型14の形状に応じた、昇温した状態の圧縮応力部が形成される。
続いて、応力印加用膜12に成形型14を押圧した状態のまま冷却して、成形型14を上昇させる。これにより、応力印加用膜12の表面及びその近傍に、圧縮応力部が形成される。
続いて、このようにして圧縮応力部が形成された応力印加用膜12を、図2に示す第1の所定範囲(エッチング選択比:0.8〜0.9)のエッチング液である60℃,0.05%のフッ酸(HF)中に浸漬させる。これによって、約6μmの化学的エッチング処理が行われ(第1のエッチング工程)、ガラス基材1の表面には、図3(c)に示すように、高さ5.4μmの圧縮応力部4からなる突起が複数形成される。
さらに、図2に示す第2の所定範囲(エッチング選択比:0.5〜0.6)のエッチング液である50℃,0.1%のフッ酸(HF)中に浸漬させる。これによって、約4μmの化学的エッチング処理が行われた(第2のエッチング工程)。この工程により、図3(d)に示すように、圧縮応力部4が第1のエッチング工程に比して相対的に多くエッチングされるようになるので、山形形状の突起は内方に絞られる。これにより、応力印加用膜12の表面には、裾幅L1が1μmで、高さL2が約7μmである先端が鋭利な針状の突起、すなわち微小針15が複数形成される。
続いて、このようにして表面に複数の微小針15の形状が形成された応力印加用膜12が成膜されている結晶化ガラス11に対し、図3(d)に示したように、イオンエッチングを行う。このイオンエッチングは、再現性及び均一性に優れ、活性でない材料(酸性液による化学的エッチング処理によってエッチングされ難い材料)のエッチングに有効であり、また複合材料のエッチングにも有効である、等といった特徴を有している。このようなことから、表面に微小針15の形状が形成された応力印加用膜12が成膜されている結晶化ガラス11に対しイオンエッチングを行うことによって、図3(e)に示したように、応力印加用膜12の表面に形成されていた微小針15の形状が結晶化ガラス11にそのまま反映され、結晶化ガラス11の表面に微小針15の形状が形成される。
このように、本実施形態に係る工程によれば、他の部分とエッチングレートが異なる圧縮応力部を形成困難な結晶化ガラス11であっても、簡易なプロセスにより微小針15を作製することが可能となる。
尚、本実施形態に係る工程では、応力印加用膜12の表面に形成された微小針15の形状を結晶化ガラス11にそのまま反映させるためにイオンエッチングによって応力印加用膜12を全て除去したが、必要に応じて、応力印加用膜12の一部を残すようにしても良い。
また、本実施形態は、例えば、ガラス基材が圧縮応力部を形成困難なものである場合等に有効である。
また、本実施形態に係る工程では、成形型14を用いて圧力を印加しているが、最終的に結晶化ガラス11の表面に形成させる微小針15の形状に応じて、例えば一つ或いは複数の圧子等を用いて圧力を印加するものであっても良い。また、この場合も、加熱された圧子を応力印加用膜12に押圧することによって、応力印加用膜12に熱及び圧力を印加するようにしても良い。
<第3実施形態>
次に、本発明に係る第3実施形態について、図4を参照して説明する。
この第3の実施形態に係る微小凸部の作製方法において、第1の実施形態と異なる点は、ガラス基材21に圧力を局所的に印加するにあたって、圧子22を押圧しながら走査する手段を採用した点である。
すなわち、この第3実施形態では、まず、ガラス基材21を加熱し、その後、ガラス基材21の表面に圧子22を押圧しながら走査する。これにより、ガラス基材21の表面及びその近傍に昇温した状態の圧縮応力部23を形成する。このときの圧縮応力部23の形状は、略楕円形を縦割りに2分割した断面形状を有し、圧子22の走査方向に延びている。
次いで、図示は省略するが前記第1実施形態で説明した工程と同様に、圧縮応力部23が形成されたガラス基材21を、エッチング選択比が第1の所定範囲にあるエッチング液に浸漬する。これにより、ガラス基材21の表面には、頂部が連なる山脈形状の突起部分が形成される。その後、同ガラス基材21を、エッチング選択比が第2の所定範囲にあるエッチング液に浸漬する。
これにより、圧縮応力部23が形成された山脈形状の突起部分が、よりエッチングされるようになるので、結果的に、例えば図4(b)に示すような、DNAの切断に用いて好適なナイフエッジ形状の微小凸部24を形成することができる。
なお、この図示例では、ガラス基材21に直接微小凸部24を形成しているが、図3に示す第2実施形態で説明したように、ガラス基材21の上側に薄膜を成膜しておき、この薄膜にナイフエッジ形状の微小凸部を形成するようにしてもよい。
<第4実施形態>
次に、本発明に係る第4実施形態について、図5を参照して説明する。
この第4の実施形態に係る微小凸部の作製方法において、第3の実施形態と異なる点は、ガラス基材31に圧縮応力部32を形成するに当たり、圧子を走査する代わりに、尾根状の突起形状を有する成形型33を押圧することを利用した点である。
このような成形型33を利用しても、略楕円形を縦割りに2分割した断面形状を有し、成形型33の尾根の方向に延びた圧縮応力部32を形成することができ、ひいては、ガラス基材31上あるいはガラス基材31上に成膜される薄膜にナイフエッジ形状の微小凸部を形成することができる。
なお、本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、第1実施形態では、基板加熱装置によりガラス基材1を加熱させたが、加熱せずに圧力のみを印加させても良い。
また、微小針5,15、あるいはナイフエッジ形状の微小凸部24の表面に導電性部材を被覆させても良い。これにより、STM(走査型トンネル顕微鏡)測定や原子・分子操作が可能となる。また、導電材料としては、各種金属材料を用いることが可能であり、CVD(化学的気相蒸着法)、スパッタ等の成膜手法で成膜を行えば良い。このように、表面に導電性部材が被膜された例えば微小針5,15は、細胞内に遺伝子等を導入する針,細胞等の微小物体をサンプリングするための針,原子間力顕微鏡等の走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバー及び微小部の電位等を測定する触針等に使用するのに好適である。
また、本発明の微小針5,15は、薬品等を注入する注入針,細胞等の微小物体の処理(切断などの加工)を行うための針及びDVD等の記録用光ディスク検査用の高アスペクト比のカンチレバー等に使用するのに好適であり、ナイフエッジ形状の微小凸部24は、DNA等の切断に使用するのに好適である。
また、本発明の主目的である遺伝子導入の用途に使用するためには、裾幅L1は1μm以下であり、裾幅L1に対する高さL2の割合であるアスペクト比(L2/L1)が10以上であることが好ましい。
また、第1実施形態では、圧子2の先端の形状を球状としたが、これに限るものではなく、所望の圧縮応力部の形状に応じて、角錐,円錐等に変えることも可能である。さらに、圧子2、22や成形型14、33の代わりに、圧縮応力部4、23、32が所望の形状となるように粒子を制御して衝突させても良い。この場合には、粒子射出手段としてのサンドブラストのノズルにより、ガラス基材1、21、31や応力印加用膜12の表面に粒子を衝突させることで、所望の形状の微小針5,15あるいはナイフエッジ形状の微小凸部24を形成させることもできる。
また、微小針5あるいはナイフエッジ形状の微小凸部24をガラス基材1の表面から切り離さず、ガラス基材1の表面に形成されたまま医療用等の検査や切断用に用いることも可能である。
また、ガラス基材1または応力印加用膜12に対し、第1のエッチング工程および第2のエッチング工程の2回に分けてエッチング処理を行い所望の高さの微小針5,15あるいはナイフエッジ形状の微小凸部24を形成したが、それぞれエッチング選択比の異なるエッチング液を用いてエッチング処理を3回以上行っても良い。このようなエッチング処理を行うことにより、ガラス基材1または応力印加用膜12に、高アスペクト比を有するとともに、先端が鋭利な微小針等をさらに精度良く形成することが可能となる。
本発明の第1実施形態に係る微小針を作製する工程の一例を説明する図である。 本発明の第1実施形態に係る微小針を作製する工程に用いるエッチング液のエッチング選択比の一例を示すグラフである。 本発明の第2実施形態に係る微小針を作製する工程の一例を説明する図である。 本発明の第3実施形態に係る微小凸部を作製する工程の一部分の例を説明する図である。 本発明の第4実施形態に係る微小凸部を作製する工程の一部分の例を説明する図である。
符号の説明
1、21、31 ガラス基材
2、22 圧子
3 昇温した状態の圧縮応力部
4、23、32 圧縮応力部
5、15 微小針
11 結晶化ガラス
12 応力印加用膜(薄膜)
13 下型
14、33 成形型
24 微小凸部



Claims (8)

  1. ガラス基材に圧力を局所的に印加すること、または圧力と熱とを局所的に印加した後冷却することにより、前記ガラス基材の表面及びその近傍に、使用するエッチング液に対するエッチングレートが他の部分と異なる圧縮応力部を形成し、
    該圧縮応力部を形成したガラス基材に対し、非圧縮応力部のエッチング量に対する前記圧縮応力部の残存量の割合であるエッチング選択比が第1の所定範囲にあるエッチング液による化学的エッチング処理を行う第1のエッチング工程と、前記エッチング選択比が前記第1の所定範囲とは異なる第2の所定範囲にあるエッチング液による化学的エッチング処理を行う第2のエッチング工程とにより、前記ガラス基材表面に前記圧縮応力部に対応した微小凸部を形成することを特徴とする微小凸部の作製方法。
  2. ガラス基材上に一層以上の無機材料からなる薄膜を成膜し、
    該薄膜に圧力を局所的に印加すること、または圧力と熱とを局所的に印加した後冷却することにより、前記薄膜の表面及びその近傍に、使用するエッチング液に対するエッチングレートが他の部分と異なる圧縮応力部を形成し、
    該圧縮応力部を形成した前記薄膜に対し、非圧縮応力部のエッチング量に対する前記圧縮応力部の残存量の割合であるエッチング選択比が第1の所定範囲にあるエッチング液による化学的エッチング処理を行う第1のエッチング工程と、前記エッチング選択比が前記第1の所定範囲とは異なる第2の所定範囲にあるエッチング液による化学的エッチング処理を行う第2のエッチング工程とにより、前記薄膜表面に前記圧縮応力部に対応した微小凸部を形成することを特徴とする微小凸部の作製方法。
  3. 前記ガラス基材として、前記薄膜よりもエッチングレートの高いものを使用することを特徴とする請求項2に記載の微小凸部の作製方法。
  4. 前記第1の所定範囲のエッチング選択比が、前記第2の所定範囲のエッチング選択比より大きいことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の微小凸部の作製方法。
  5. 前記圧力が、圧子を押圧または走査することによって印加されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の微小凸部の作製方法。
  6. 前記圧力が、複数の突起形状を有する成形型を押圧することにより印加されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の微小凸部の作製方法。
  7. 前記圧力が、尾根状の突起形状を有する成形型を押圧することにより印加されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の微小凸部の作製方法。
  8. 前記微小凸部の表面の少なくとも一部に導電性部材を被覆する工程を有することを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の微小凸部の作製方法。

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