JP4356659B2 - 電圧制御型発振回路およびpll回路 - Google Patents

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Description

本発明は、電圧制御型発振回路およびPLL回路に関し、特に差動型の電圧制御型発振回路およびそれを備えたPLL回路に関する。
携帯電話をはじめとする無線通信や、様々なケーブルを通したシリアル通信や、ディスク媒体からのデジタル記録データ再生系(リードチャネル)等においては、スペクトラム精度の高い発振信号を生成したり、データ信号に周波数・位相ロックしたクロック信号を発生したりする為に、PLL(Phase Locked Loop)回路が広く用いられている。
近年、発振信号やクロック信号の高速化が迫られており、より高性能なPLL回路が求められている。
PLL回路に対して要求される性能の指標の1つとして、出力信号の精度が挙げられる。出力信号の精度は、熱雑音や素子固有の種々の雑音により低下するため、この低下を抑制することが望まれる。この精度を評価する指標として、ジッタ性能、位相ノイズと呼ばれるものが広く用いられている。
ところで、ジッタ・位相ノイズの主な要因としては、PLL回路の内部に設けられた電圧制御型発振回路(VCO:Voltage Control Oscillator)による雑音が挙げられ、VCOでの雑音そのものを小さくすることにより、PLL回路のジッタ性能を向上させることができる。
VCOは、その構成の違いから一般的に、LCVCOとリングVCOの2種類に大別される。一般的にLCVCOの方がジッタ性能は優れるが、リングVCOは、広い周波数可変領域を有し、互いに位相の異なる複数の出力信号を出すことができることや、インダクタを必要としないこと等の利点の為、ジッタ性能の要求がそれほど厳しくないアプリケーションにおいて広く使用されている。従って、適用アプリケーションの拡大をもたらすという意味において、リングVCOのジッタ性能を改善することが望まれる。
そこで、以降では差動型のリングVCOに絞って話を進める。
図11は従来の差動型のリングVCOを示す模式図である。
リングVCO90は、N段(N個)の互いに等しいVCOセルC91、C92、・・・、C9(n−1)、C9nを縦続接続した構成となっている。また、その段数Nが偶数の場合には、差動信号線を反転させる反転部を有する。段数Nが奇数の場合にはこの反転動作は不要である。
このリングVCOの発振周波数(以下、f)は、VCOセルの遅延時間Tとその段数Nとによって式(1)のように表せる。
=1/2N・T・・・(1)
また、各隣り合うVCOセルの出力差動信号はNが偶数のときにはπ/N[rad]、奇数のときには2π/N[rad]の位相差を有する。
次に、各VCOセルの内部構成について説明するが、VCOセルC91、C92、・・・、C9(n−1)、C9nの内部構成は互いに等しいため、代表的にVCOセルC91について説明する。
図12は、図11に示すVCOセルの等価回路を示す回路図である。
VCOセルC91は、負荷R91、R92、NMOSトランジスタM91、M92および定電流源を有している。
NMOSトランジスタM91、M92は、差動対(ソースカップルドペア)を構成しており、NMOSトランジスタM91のドレインには負荷R91が接続され、NMOSトランジスタM92のドレインには負荷R92が接続されている。また、NMOSトランジスタM91のゲートには信号Vが入力される入力端子In+が接続され、NMOSトランジスタM92のゲートには信号Vが入力される入力端子In−が接続されている。
NMOSトランジスタM91のドレインと、負荷R91との間には出力端子Out−が接続され、NMOSトランジスタM92のドレインと、負荷R92との間には出力端子Out+が接続されている。
負荷R91および負荷R92の、NMOSトランジスタM91およびNMOSトランジスタM92と反対側は、それぞれ電圧源VDDに接続されている。
また、NMOSトランジスタM91およびNMOSトランジスタM92のソースには、tailノード(ノード)N90を介して定電流Itail90を出力する定電流源が接続されている。
ところで、一般にNMOSトランジスタM91、M92は非線形な特性を持つ。例えば理想的なNMOSトランジスタを考えると、その特性は式(2)で表される2乗式に従う。
DS=K・(VGS−V・・・(2)
ここでIDSはNMOSトランジスタのドレイン・ソース間電流、Kは、NMOSトランジスタのサイズによって決まる定数、VGSはゲート・ソース間電圧、Vは閾値電圧である。また、正負の差動入力信号をそれぞれ、信号Vと信号Vとをコモン成分と差動成分とに変換したコモン信号V、発振信号Vは式(3)で表される。
Figure 0004356659
tailノードN90の電圧Vtail90は、式(2)および式(3)により、式(4)の関係を満たす。
Figure 0004356659
式(4)から分かるように、電圧Vtail90は差動の発振信号Vの倍の周波数、すなわち周波数2fで振動する。なお、以下では、電圧Vtail90が周波数2fで振動することを「電圧Vtailの2f振動」という。これは定性的には次のように理解される。NMOSトランジスタM91、M92のコモン信号VC90(V)が一定のまま、正弦振動をしている差動信号VD90(V)が大きくなると、NMOSトランジスタM91のゲート電圧は増加し、NMOSトランジスタM92のゲート電圧はその分だけ減少する。ただし、NMOSトランジスタの2乗特性により、NMOSトランジスタM91、M92の各ゲート・ソース電圧VGS90(VGS)の一定量の増大はその同量の減少よりも大きな電流変化を引き起こす。
図13は、tailノードの電圧の2f振動を示すグラフである。
全体の電流値は電流源により一定に固定されているため、結果として電圧Vtail90が上昇する事によりNMOSトランジスタM91、M92の変化量を調整する。NMOSトランジスタM92のゲート電圧が増加する場合にも同様である。従って、電圧Vtail90は発振周波数の2倍の周波数で振動する。
ところが、ドレイン・ソース電圧VDSが電圧(VGS−V)よりも小さくなる三極管領域(非飽和領域)においては、NMOSトランジスタの2乗特性は、式(5)で表される。
DS=K・{2・(VGS−V・VDS−VDS }・・・(5)
三極管領域ではNMOSトランジスタの増幅率gmは低下する。すなわち、出力波形の勾配が緩やかになる。
図14は、tailノードの電圧の2f振動による出力波形を示すグラフである。
前述した電圧Vtailの2f振動により、VCOセルC91の出力信号が歪む。具体的には図13に示したように、信号Vまたは信号Vが最も小さい点で電圧Vtailは最も高くなり、NMOSトランジスタM91、M92は交互に三極間領域に入り、増幅率gmすなわち出力波形の勾配が低下する。その結果、VCOセル91の出力信号には周波数2f成分やその他の歪み成分が生じる。従って、周波数fの信号の強度とその近傍周波数の信号強度の比である位相雑音は悪化する。また、周波数2fの振動の成分によって高調波歪みも発生する。出力波形の振幅も小さくなる。
ところで、歪んだ発振波形は次の原因(1)、(2)によりVCOの位相ノイズ・ジッタ性能を悪化させることが知られている(例えば、非特許文献1参照)。
(1)出力波形のPeak−to−Peak電圧の減少により、ノイズ源のノイズ量が一定であってもその位相ノイズへの変換量が増大すること。
(2)出力波形の非対称性により種々の雑音源の位相ノイズへの変換量が増大し、特にフリッカ(1/f)雑音の効果が著しく増大すること。
従来、電圧Vtailの振動が発振動作を不安定にすることが知られている(例えば、特許文献1参照)。
図15は、従来の他のリングVCOの構成を示すブロック図である。
なお、リングVCO90と同一の部分には同じ符号を用いてその説明を省略する。
リングVCO91は、VCOセルC91、C92、・・・、C9(n−1)、C9nの各tailノードと接地(GND)端子との間にNMOSトランジスタを接続するとともに、VCOセルC91、C92、・・・、C9(n−1)、C9nと同じ構造を持ちながらも信号は入力されないレプリカセルCrを設け、全VCOセルのtailノードの電圧が前記レプリカセルの基準tailノード電圧に等しくなるようオペアンプ(図示せず)で制御している。
特開2001−326560号公報 "A general theory of phase noise in electrical oscillators,"IEEE J.Solid-State Circuits,vol.33,pp.179-194,Feb.1998
しかしながら、この方法ではレプリカセルやオペアンプ等の別途回路が追加されるため、回路規模や消費電力も増大するという問題があった。また、上記別途回路の追加によりノイズ源は増大し、ジッタ性能の向上も制限されたものであった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、簡易な構成でリングVCOの発振波形の歪みおよび位相ノイズ・ジッタ性能を向上させる電圧制御型発振回路およびPLL回路を提供することを目的とする。
本発明では上記問題を解決するために、差動型の電圧制御型発振回路において、それぞれ一端側が負荷を介して電圧源に接続され、他端側が共通のノードを介して共通の電流源に接続され、差動信号が入力される一対のスイッチング素子を備え、前記差動信号に対してπ/4の位相差を有する差動信号を出力する環状に縦続接続された複数のVCOセルを備え、前記VCOセルは、それぞれ位相がπ/2ずれた差動信号が入力される前記VCOセルの前記ノードを接続した接続部を備える、ことを特徴とする電圧制御型発振回路が提供される。
本発明によれば、VCOセルの各ノードの振動を相殺することにより、各ノードの振動を抑制・低減させることによって、スイッチング素子の3極管領域での動作による不要な振動や歪みを容易かつ確実に防止させることができる。これにより、出力波形の歪みを低減し、位相ノイズ・ジッタ性能を向上することができる。
特に、VCOセルを偶数個で使用した場合には、上記効果がより顕著に発揮される。
また、従来に比べ、VCOセル等に構造上著しい変更がなく、回路規模や消費電力を増やすことがないため、構造を簡易なものとすることができる。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図1は、第1の実施の形態の発振回路を説明するブロック図である。
発振回路100は、電圧制御型発振回路(VCO)であり、基準信号と帰還信号との位相差に応じた制御電圧信号に応じて発振信号の周波数を変化させるものである。
発振回路100は、内部の構成が互いに等しい4つのVCOセルC1〜C4と、VCOセルC1およびVCOセルC4に接続された差動信号線を反転させる反転部2とを有している。
VCOセルC1およびVCOセルC3は、それらのtailノード(後述)が互いに接続され、VCOセルC2およびVCOセルC4は、それらのtailノードが互いに接続されている。
VCOセルC1〜C4は、環状(リング状)に複数段縦続接続されており、VCOセルC1の出力端子がVCOセルC2の入力端子に接続されており、VCOセルC2の出力端子がVCOセルC3の入力端子に接続されており、VCOセルC3の出力端子がVCOセルC4の入力端子に接続されており、VCOセルC4の出力端子が反転部2を介してVCOセルC1の入力端子に接続されている。
VCOセルC1〜C4は、入力端子から入力される差動信号に対して、π/4[rad]の位相差を有する差動信号を出力端子から出力する。すなわちVCOセルC1〜C4には、それぞれ位相がπ/4[rad]ずれた差動信号が入力される。
次に、tailノードが接続された2つのVCOセルの等価回路について説明するが、VCOセルC1、C3の等価回路とVCOセルC2、C4の等価回路は互いに等しいため、代表的にVCOセルC1、C3の等価回路について説明する。
図2は、tailノードを接続したVCOセルの等価回路を示す回路図である。
等価回路10は、負荷R1、R2およびNMOSトランジスタM1、M2で構成される差動増幅部11(VCOセルC1)と、負荷R3、R4およびNMOSトランジスタM3、M4で構成される差動増幅部12(VCOセルC3)と、NMOSトランジスタM1、M2、M3、M4のソースと、定電流を出力する定電流源Iとを備えている。
また、図2中、tailノードNは、NMOSトランジスタM1、M2、M3、M4のソースと定電流源Iとの接続部を構成している。
NMOSトランジスタM1、M2およびNMOSトランジスタM3、M4は、それぞれ差動対(ソースカップルドペア)を構成している。
NMOSトランジスタM1のドレインには負荷R1が接続され、NMOSトランジスタM2のドレインにはR2が接続されている。また、NMOSトランジスタM3のドレインには負荷R3が接続され、NMOSトランジスタM4のドレインにはR4が接続されている。
NMOSトランジスタM1のゲートには信号VInA+が入力される入力端子InA+が接続され、NMOSトランジスタM2のゲートには信号VInA−が入力される入力端子InA−が接続されている。また、NMOSトランジスタM3のゲートには信号VInB+が入力される入力端子InB+が接続され、NMOSトランジスタM4のゲートには信号VInB−が入力される入力端子InB−が接続されている。
NMOSトランジスタM1のドレインと負荷R1との間には、出力端子OutA−が接続され、NMOSトランジスタM2のドレインと負荷R2との間には、出力端子OutA+が接続されている。出力端子OutA+からは信号VInA+に対してπ/4[rad]の位相差を有する信号が出力され、出力端子OutA−からは信号VInA−に対してπ/4[rad]の位相差を有する信号が出力される。
また、NMOSトランジスタM3のドレインと、負荷R3との間には、出力端子OutB−が接続され、NMOSトランジスタM4のドレインと、負荷R4との間には、出力端子OutB+が接続されている。出力端子OutB+からは信号VInB+に対してπ/4[rad]の位相差を有する信号が出力され、出力端子OutB−からは信号VInB−に対してπ/4[rad]の位相差を有する信号が出力される。
負荷R1、R2、R3およびR4の、NMOSトランジスタM1、M2、M3およびM4と反対側は、それぞれ電圧源VDDに接続されている。
ここで、負荷R1〜R4および定電流源Iの構成は特に限定されない。
図3は、図2に示す等価回路の入力波形を示す図である。
信号VInA+と信号VInA−および信号VInB+と信号VInB−との位相差はそれぞれπ[rad]である。また、VCOセルC1、C3に入力される差動信号の位相差はπ/4×2=π/2であるから、信号VInA+と信号VInB+との位相差はそれぞれπ/2[rad]である。よって、信号VInA+、信号VInB+、信号VInA−、信号VInB−の位相差は、この順番で、それぞれπ/2[rad]である。
次に、差動信号の入力により生じるtailノードの電圧について説明する。
図4(a)および図4(b)は、差動信号の入力により生じるtailノードの電圧を説明する図、図4(c)は、等価回路のtailノードでの電圧波形を示す図である。
図4(a)に示す歪みαは、差動増幅部11に信号VInA+および信号VInA−が入力されることにより生じるtailノードでの電圧波形、すなわち、VCOセルC1単体でのtailノードでの電圧波形を示している。同様に図4(b)に示す歪みβは、差動増幅部12に信号VInB+および信号VInB−が入力されることにより生じるtailノードでの電圧波形、すなわちVCOセルC3単体でのtailノードでの電圧波形を示している。
図4(c)に示すように、等価回路10のtailノードNでは、歪みαと歪みβとが互いに打ち消しあい(相殺しあい)、振動の振幅が非常に小さいものとなる。
なお、図4(c)では説明を分かり易くするため、振動の振幅を誇張して表している。
次に、図2に示す等価回路を1つのユニットとするQDC(Quadrature-Delay-Cell)について説明する。
図5は、QDCを用いた第1の実施の形態の発振回路を示すブロック図である。
発振回路100aは、tailノードが互いに接続されたVCOセルC1、C3が1つのユニットとして構成される(構成が等価回路10と等しい)QDC101およびtailノードが互いに接続されたVCOセルC2、C4が1つのユニットとして構成される(構成が等価回路10と等しい)QDC102を有している。
QDC101、QDC102は、それぞれ入力端子InA+、入力端子InA−、入力端子InB+、入力端子InB−、出力端子OutA+、出力端子OutA−、出力端子OutB+、出力端子OutB−を備え、QDC101の出力端子OutA+、出力端子OutA−、出力端子OutB+、出力端子OutB−がそれぞれ、QDC102の入力端子InA+、入力端子InA−、入力端子InB+、入力端子InB−に接続されている。また、QDC102の出力端子OutA+、出力端子OutA−、出力端子OutB+、出力端子OutB−がそれぞれ、QDC101の入力端子InA+、入力端子InA−、入力端子InB+、入力端子InB−に接続されている。
また、QDC102の出力端子OutB+、出力端子OutB−とQDC101の入力端子InA+、入力端子InA−との間には、差動信号線を反転させる反転部3が設けられている。
QDC101、QDC102は、それぞれ入力端子InA+、入力端子InA−、入力端子InB+、入力端子InB−から入力される差動信号に対して、π/4[rad]の位相差を有する差動信号を出力端子OutA+、出力端子OutA−、出力端子OutB+、出力端子OutB−から出力する。
このような発振回路100aにおいても発振回路100と同様の効果が得られる。
以上説明したように、第1の実施の形態の発振回路100および発振回路100aによれば、位相差がπ/2の差動信号が入力されるVCOセルC1およびVCOセルC3のtailノードを互いに接続することにより、tailノードNの周波数2fの振動を非常に小さくすることができる(振動が抑制される)。これにより、NMOSトランジスタM1〜M4の3極管領域での動作による不要な振動や歪みを容易かつ確実に防止させることができる。
よって、出力信号の歪み、特に高調波歪みが低減または抑制され、位相雑音の悪化を確実に防止することができる。その結果、ジッタ性能を向上させることができる。
また、発振回路100および発振回路100aは、従来に比べ、VCOセルに構造上著しい変更がなく、回路規模や消費電力を増やすことがないため、構造を簡易なものとすることができる。
次に、発振回路の第2の実施の形態について説明する。
以下、第2の実施の形態の発振回路100b、100cについて、前述した第1の実施の形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図6は、第2の実施の形態の発振回路を示すブロック図である。
第2の実施の形態の発振回路100bは、tailノードを接続するVCOセルの組み合わせが第1の実施の形態の発振回路100と異なっている。
発振回路100bは、VCOセルC1、C2、C3、C4、C5およびC6を有している。
発振回路100bは、VCOセルの個数をN(Nは1以上の偶数)とすると、互いにN/2段毎の2つのVCOセルのtailノードが接続されている。すなわちVCOセルC1およびVCOセルC4のtailノードが互いに接続され、VCOセルC2およびVCOセルC5のtailノードが互いに接続され、VCOセルC3およびVCOセルC6のtailノードが互いに接続されている。
図7は、QDCを用いた第2の実施の形態の発振回路を示す回路図である。
発振回路100cは、tailノードが互いに接続されたVCOセルC1、C4が1つのユニットとして構成される(構成が等価回路10と等しい)QDC103、tailノードが互いに接続されたVCOセルC2、C5が1つのユニットとして構成される(構成が等価回路10と等しい)QDC104およびtailノードが互いに接続されたVCOセルC3、C6が1つのユニットとして構成される(構成が等価回路10と等しい)QDC105を有している。また、QDC105の出力端子OutB+、出力端子OutB−とQDC103の入力端子InA+、入力端子InA−との間には、差動信号線を反転させる反転部4が設けられている。
このような発振回路100bおよび発振回路100cによれば、前述した第1の実施の形態の発振回路100および発振回路100aと同様の効果が得られる。
ところで、第1の実施の形態の発振回路100aおよび第2の実施の形態の発振回路100bで説明したように、段数Nが偶数の場合、互いにN/2段毎の2つのVCOセルのtailノードを接続してQDCを作成し、各QDCの出力端子に対応する入力端子をそれぞれ接続することにより、容易にVCOセルのユニット化を図ることができる。また、ユニット化を図ることにより、例えば発振回路の配線パターンを容易なものとすることができる。
次に、発振回路の第3の実施の形態について説明する。
以下、第3の実施の形態の発振回路100dについて、前述した第1の実施の形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図8は、第3の実施の形態の発振回路を示すブロック図である。
第3の実施の形態の発振回路100dは、奇数段(奇数個)のVCOを用いる点が、第1の実施の形態の発振回路100および第2の実施の形態の発振回路100bと異なっている。
発振回路100dは、VCOセルC1、C2、C3と、VCOセルC1、C2のtailノード間に設けられた容量Ca1、VCOセルC2、C3のtailノード間に設けられた容量Ca2およびVCOセルC1、C3のtailノード間に設けられた容量Ca3とを有している。すなわち、発振回路100dは、隣り合うVCOセルのtailノード間に容量が設けられている。
容量Ca1、Ca2、Ca3は、各セルのtailノードの直流電圧成分に影響を与えないために設けられている。但し、容量Ca3は無くともよい。
この第3の実施の形態の発振回路100dによれば、前述した第1の実施の形態の発振回路100および第2の実施の形態の発振回路100bと同様の効果が得られる。
次に、発振回路の第4の実施の形態について説明する。
以下、第4の実施の形態の発振回路100eについて、前述した第3の実施の形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図9は、第4の実施の形態の発振回路を示すブロック図である。
第4の実施の形態の発振回路100eは、tailノードを接続するVCOセルの組み合わせが第3の実施の形態の発振回路100dと異なっている。
発振回路100eは、VCOセルC1、C2、C3、C4およびC5と、VCOセルC1、C3のtailノード間に設けられた容量Ca11、VCOセルC3、C5のtailノード間に設けられた容量Ca12およびVCOセルC1、C5のtailノード間に設けられた容量Ca13と、VCOセルC2、C4のtailノード間に設けられた容量Ca14とを有している。但し、容量Ca13は無くともよい。
発振回路100eは、(N−1)/2段毎の2つのVCOセルのtailノードが互いに接続されている。すなわち、2段毎に2つのVCOセルのtailノードが容量を介して互いに接続されている。
この第4の実施の形態の発振回路100eによれば、第3の実施の形態の発振回路100dと同様の効果が得られる。
ところで、第3の実施の形態の発振回路100dと第4の実施の形態の発振回路100eで説明したように、段数Nが奇数の場合の任意の段数のVCOセルにおいて、互いに(N−1)/2段毎のVCOセルのtailノードを容量を介して接続することにより、このtailノードの2f振動は互いに弱め合い、出力波形の歪みを低減させることができる。
また、第3の実施の形態の発振回路100dと第4の実施の形態の発振回路100eでは、(N−1)/2毎のVCOセルのtailノードを容量を介して接続したが、(N+1)/2毎のVCOセルのtailノードを容量を介して接続してもよく、いずれの方を選択するかは、個々のVCOセルの構成要素の詳細によって判断される。
ところで、前述した発振回路100〜100eは、PLL回路に好適に利用することができる。以下、代表的に発振回路100をPLL回路に適用した例を示す。
図10は、PLL回路の実施形態を示すブロック図である。
PLL回路200は、プリスケーラ回路21、分周器22、位相周波数比較器(PFD:Phase Frequency Detector)23、チャージポンプ(CP:Charge Pump)24、ループフィルタ(LPF:Loop Filter)25、および発振回路100を有している。
プリスケーラ回路21は、PLL回路200の外部に出力する出力クロックOUTCLKを分周する。プリスケーラ回路21は、分周器22から出力される制御信号Sに応じて、分周比を切り替えることができる。分周器22は、プリスケーラ回路21によって分周された出力クロックOUTCLKをさらに分周する。
PFD23は、出力クロックOUTCLKの基準となる基準クロックSTCLKと、プリスケーラ回路21、分周器22によって分周されたクロックとが入力される。PFD23は、基準クロックSTCLKと、プリスケーラ回路21、分周器22によって分周されたクロックとの位相の差に比例した幅を持つパルス信号を出力する。
CP24は、PFD23から出力されるパルス信号の幅に比例した電圧もしくは電流を出力する。
LPF25は、CP24から出力される電圧もしくは電流の高域をフィルタリングする。
発振回路100は、LPF25から出力される電圧値もしくは電流値に応じた周波数の出力クロックOUTCLKを出力する。
すなわち、PLL回路200は、プリスケーラ回路21、分周器22によって分周された出力クロックOUTCLKの周波数が、基準クロックSTCLKの周波数と等しくなるように動作することによって、出力クロックOUTCLKを一定の周波数で出力する。
発振回路100(発振回路100〜100e)をPLL回路200に適用することにより、PLL回路200の回路規模の増大や、消費電力の増大を容易に防止することができる。また、PLL回路の出力波形の歪みを低減し、位相ノイズ性能・ジッタ性能を向上することができる。
以上、本発明の好適な実施の形態について詳述したが、本発明は、その特定の実施の形態に限定されるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置換することができる。また、本発明に、他の任意の構成物や工程が付加されていてもよい。
また、本発明は、前述した各実施の形態のうちの、任意の2以上の構成(特徴)を組み合わせたものであってもよい。
なお、前述した各実施の形態では、VCOセルのスイッチング素子としてNMOSトランジスタM1〜M4を用いたが、これに限らず、任意の増幅素子を用いることができる。
また、前述した各実施の形態では、VCOセルC1〜C6(QDC101〜105)に正弦波を入力した場合について説明したが、これに限らず、例えば矩形波等、任意の波形を入力した場合に対しても同様の効果が得られる。
第1の実施の形態の発振回路を説明するブロック図である。 tailノードを接続したVCOセルの等価回路を示す回路図である。 図2に示す等価回路の入力波形を示す図である。 (a)および(b)は、差動信号の入力により生じるtailノードの電圧を説明する図であり、(c)は、等価回路のtailノードでの電圧波形を示す図である。 QDCを用いた第1の実施の形態の発振回路を示すブロック図である。 第2の実施の形態の発振回路を示すブロック図である。 QDCを用いた第2の実施の形態の発振回路を示す回路図である。 第3の実施の形態の発振回路を示すブロック図である。 第4の実施の形態の発振回路を示すブロック図である。 PLL回路の実施形態を示すブロック図である。 従来の差動型のリングVCOを示す模式図である。 図11に示すVCOセルの等価回路を示す回路図である。 tailノードの電圧の2f振動を示すグラフである。 tailノードの電圧の2f振動による出力波形を示すグラフである。 従来の他のリングVCOの構成を示すブロック図である。
符号の説明
100、100a、100b、100c、100d、100e……発振回路,101、102、103、104、105……QDC,C1、C2、C3、C4、C5、C6……VCOセル,Ca1、Ca2、Ca3、Ca11、Ca12、Ca13、Ca14……容量,I……定電流源,M1、M2、M3、M4……NMOSトランジスタ,N……tailノード,R1、R2、R3、R4……負荷

Claims (6)

  1. 差動型の電圧制御型発振回路において、
    それぞれ一端側が負荷を介して電圧源に接続され、他端側が共通のノードを介して共通の電流源に接続され、差動信号が入力される一対のスイッチング素子を備え、前記差動信号に対してπ/4の位相差を有する差動信号を出力する環状に縦続接続された複数のVCOセルを備え、
    前記VCOセルは、それぞれ位相がπ/2ずれた差動信号が入力される前記VCOセルの前記ノードを接続した接続部を備える、
    ことを特徴とする電圧制御型発振回路。
  2. 前記ノードが接続される前記VCOセルを1つのユニットで構成することを特徴とする請求項1記載の電圧制御型発振回路。
  3. 前記複数のVCOセルの段数が偶数であるとき、前記複数のVCOセルのいずれか1つの前記VCOセルの出力する差動信号を反転させて後段の前記VCOセルに出力する反転部をさらに備え、
    前記接続部には、N/2個(Nは前記VCOセルの段数)毎に前記VCOセルの前記各ノードが接続されていることを特徴とする請求項1記載の電圧制御型発振回路。
  4. 前記複数のVCOセルの段数が奇数であるとき、前記接続部には、前記各ノードがコンデンサを介して接続されていることを特徴とする請求項1記載の電圧制御型発振回路。
  5. 前記接続部には、(N−1)/2個または(N+1)/2個毎に前記VCOセルの前記各ノードが接続されていることを特徴とする請求項4記載の電圧制御型発振回路。
  6. PLL回路において、
    それぞれ一端側が負荷を介して電圧源に接続され、他端側が共通のノードを介して共通の電流源に接続され、差動信号が入力される一対のスイッチング素子を備え、前記差動信号に対してπ/4の位相差を有する差動信号を出力する環状に縦続接続された複数のVCOセルを備え、
    前記各VCOセルは、それぞれ位相がπ/2ずれた差動信号が入力される前記VCOセルの前記ノードを接続した接続部を備える電圧制御型発振回路、
    を有することを特徴とするPLL回路。
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