JP4352699B2 - ディスプレイの製造方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor。以下、TFTと称する。)が構成された薄膜トランジスタ基板を駆動基板とする液晶ディスプレイ(LCD)や有機EL(Electro-Luminescence)ディスプレイ等の製造に適用して好適な、ディスプレイの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
マルチメディア情報化時代の必需品として、携帯電話、携帯情報端末(PDA等)、モバイルPC等の携帯機器の市場が急速に伸びている。これら携帯機器の表示部には液晶ディスプレイ(LCD)が多く用いられている。最近では有機ELディスプレイが携帯機器用の発光型表示素子として用いられ始めている。これらのディスプレイは薄膜トランジスタ(TFT)が構成されたTFT基板で駆動している点が共通であり、製造プロセスも類似している。以下に、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイについてそれぞれ説明する。
【0003】
液晶ディスプレイには、バックライトを利用する透過型、外光を利用する反射型及び、両方の機能を持った反透過型(反射、透過併用型)がある。図7に反透過型の液晶ディスプレイの断面構造の一例を示す。
【0004】
図7において、右側が反射領域、左側が透過領域である。ガラス等の透明な基板17にMo(モリブデン)などをスパッタ成膜しゲート電極16を形成する。続いて、ゲート電極16を被覆するように、例えばプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition )法で窒化シリコンからなる第1ゲート絶縁膜15を成膜し、次いで酸化シリコンからなる第2ゲート絶縁膜14を成膜することで絶縁膜を形成する。次に薄膜半導体層13として、例えば非晶質シリコンを同じくプラズマCVD法で成膜する。 成膜後、アニール処理を行い非晶質シリコンに含まれている水素を除去する。続いて、エキシマレーザ等を照射し、非晶質シリコンを多結晶シリコン(p−Si)膜13に転換する。
【0005】
そして、この多結晶シリコン膜13をパターニングする。その後CVD法で酸化シリコンを成膜し、ゲート電極16をマスクとしてセルフアライメントによりこの酸化シリコンをパターニングして、ゲート電極16上に位置する多結晶シリコン膜の部分を被覆するようにストッパー層11を形成する。このストッパー層11をマスクとして例えば不純物P(リン)を注入しLDD(Lightly Dopedd Drain)構造部を形成する。12は純多結晶シリコン(純p−Si)領域を表す。ストッパー層11及びその周辺をフォトレジストでマスクした後、不純物P(リン)を注入しnチャンネル領域を形成する。そして、ランプアニール法により不純物の活性化を図る。pチャンネルも同様に、不要な領域をフォトレジストでマスクした後、例えばB(ボロン)を注入しpチャンネル領域を形成し、アニール処理を行うことで作成される。
【0006】
この後、例えばプラズマCVD法で酸化シリコン等の第1層間絶縁膜10と、窒化シリコン等の第2層間絶縁膜9を順次積層して2層構造で絶縁膜を形成する。
【0007】
次に、反射光を拡散し均一な明るさにするための拡散層8(スキャッタリング層(以下、SCT層という。)を形成し、さらにその上に平坦化層7を形成する。その上に透過部の画素電極膜とするためにITO(Indium Tin Oxides)などの透明導電膜の第1画素電極6を形成する。さらに反射部の画素電極膜として、例えばAl、などの導電膜からなる第2画素電極5を形成する。以上により、アクティブマトリクス型の表示装置の駆動回路基板に用いられるTFT基板が作成される。
【0008】
さらに、上述のTFT基板とカラーフィルタ3の隙間に液晶層4を封入して構成したパネルを、上下から位相差板2で挟み、さらにその上下から偏向板1でそれぞれ挟みこむようにして液晶ディスプレイを構成する。そして、バックライト18を図中下側の基板側に配置する。
【0009】
反透過型は、暗所ではバックライト18からの透過光を利用し、明所では外光を第2画素電極5で反射させることにより、高輝度、省消費電力を実現している。
【0010】
次に、図8に、一般的な有機ELディスプレイの断面構造の一例を示す。構造的には、TFTの配置に光量が影響されず、開口率を向上するように基板上部から光を取り出す方式を採用したトップエミッション(Top Emission)構造と、従来のTFT基板側に光を取り出す方式の通常構造がある。
【0011】
トップエミッション構造は、図8Aに示すように、透明基板25の上にTFTが構成され、このTFT構造のメタルアノード電極24の上の有機発光層を有した有機層22、カソード電極21、保護層20、透明シール19により構成されている。有機層22は隔壁23によって各色ごとに隔てられている。
【0012】
また、通常構造は、図8Bに示すように、透明基板29の上に、TFTが構成され、このTFT構造の透明アノード電極28の上の有機発光層を有した有機層27、メタルカソード電極26により構成されている。有機層27は隔壁23によって各色ごとに隔てられている。
【0013】
これらの有機ELディスプレイにおいて、一般に、有機発光層の材料が低分子有機材料の場合には、マスクを用いてパターニングするマスク蒸着法が用いられ、高分子有機材料の場合には、インクジェット塗布法や印刷塗布法が用いられている。
【0014】
また、有機層材料のパターニング時の問題を解決する方法として、例えば、フラットパネルディスプレイ用のカラーフィルターの製造では、カラーレジストのエッチングをレーザを用いて行う方法が知られている。各色カラーレジストを塗布する前に剥離層を形成しレーザエッチングによりパターニング後、カラーレジストの塗布・露光・現像を行い、最後に剥離層と不要なカラーレジストを除去する(例えば、特許文献1参照。)。
【0015】
【特許文献1】
特開平10−96813号公報
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
上述したようにTFT基板の製造プロセスではウェットエッチングプロセスが複数回用いられている。即ち、図7の液晶ディスプレイのバックライト光が透過可能な第1画素電極(透明導電膜)6を、真空成膜、フォトリソグラフィーによってパターンニングした後、外光を高反射する第2画素電極(反射導電膜)5を、真空成膜、フォトリソグラフィーによるパターニングを行う。それ故、2つのフォトリソグラフィー工程が必要となり、量産工場では、大型のコーターデベロッパーが必要となり、工程数およびフットプリントの点で問題があった。
【0017】
また、環境保護の観点からも薬液の使用削減あるいは削除が望まれており、ウエットエッチングプロセスの削減・フォトリソグラフィー工程の削減が求められている。
【0018】
一方、有機ELディスプレイにおいて、低分子有機材料は、蒸着物質のマスク開口部からの回り込みや、微細パターニングを行う場合に下地と蒸着層に対するマスクセッティングの位置精度が問題となる。また、各色蒸着時に各色専用のマスクと基板が接触するため、既に作成された有機層にダメージが入り面欠点を引き起こす。さらに、有機ELディスプレイの表示画面の大型化を図る場合、基板やマスクのたわみを考慮しなければならず、高精細なマスクを作成するのは困難である。それ故、マスクレスのプロセスが望まれている。
【0019】
一方、高分子有機材料は、数ピコリットル程度のわずかな有機液滴を決められたパターン上に滴下しなければならず、供給ミスによる面欠点が生じ易い不都合がある。以上より、有機材料のパターニングは有機層を全面に塗布した後、高精度にパターニングできるプロセスが望まれている。
【0020】
さらにまた、上述の有機層は酸素や水分によって劣化し易く、寿命が短くなったり発光しなくなるなどの不都合を生じる恐れがあり、現像液を用いる事はできない。それ故、有機層のパターニングでは、完全なドライプロセスを実現することが必要とされている。
【0021】
斯かる点に鑑み、本発明は、レーザを用いフォトリソグラフィー工程等のウェットエッチングプロセスを削減し、薬液等の液体材料を選択的に滴下・塗布することなく高精細なエッチングを行い、高生産性を実現することを目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】
本発明の一側面は、薄膜トランジスタが形成された薄膜トランジスタ基板を駆動基板とするディスプレイの製造方法において、この薄膜トランジスタ基板上の配線または画素電極をパターニングするのに、配線または画素電極の下層に形成された熱膨張性のマイクロカプセルをレーザ加工用の剥離層として利用し、レーザ光を該当配線または画素電極に照射し熱膨張による剥離層の剥離を通してパターン形成をすることを特徴とする。
【0023】
また、上述した発明において、前記熱膨張性のマイクロカプセルを含有する剥離層を形成し、この剥離層の上層に成膜された前記配線または前記画素電極を構成する上層膜に対し所定パターンのレーザ光を照射し、このレーザ光により剥離層の除去に伴い上層膜を選択的に除去することが好適である。
【0024】
このような構成によれば、レーザ光照射によるマイクロカプセルの熱膨張・破裂を用いて特定層、すなわちマイクロカプセルを含有する剥離層の上層を選択的に除去することができる。また、このマイクロカプセルを利用したパターン形成により、加工面のエッジにおいてデブリを抑制し、シャープな加工エッジを得ることができる。
【0025】
また、本発明の一側面は、薄膜トランジスタが形成された薄膜トランジスタ基板を駆動基板とするディスプレイの製造方法において、この薄膜トランジスタ基板上の透明導電膜の上層に、熱膨張性のマイクロカプセルを含有する剥離層を形成した後、この剥離層の上層に導電膜を成膜し、このマイクロカプセルの形状を利用してこの剥離層を拡散層として凹凸を設けるようにする。そして、この導電膜に対し所定パターンのレーザ光を照射し、このレーザ光により剥離層とともに当該剥離層の上層の導電膜を選択的に除去するようにしたことを特徴とする。
【0026】
このような構成によれば、レーザ光照射によるマイクロカプセルの熱膨張・破裂を用いて特定層、すなわちマイクロカプセルを含有する剥離層の上層に成膜した導電膜を選択的に除去することができる。このマイクロカプセルを利用したパターン形成により、加工面のエッジにおいてデブリを抑制し、シャープな加工エッジを得ることができる。さらに、マイクロカプセルの形状を利用して剥離層に凹凸を設け拡散層として機能させることにより、独立した拡散層が不要となる。
【0027】
また、本発明の一側面は、薄膜トランジスタが形成された薄膜トランジスタ基板を駆動基板とするディスプレイの製造方法において、この薄膜トランジスタ基板上の有機層をパターニングするのに、有機層の下層に配置された熱膨張性のマイクロカプセルをレーザ加工用の剥離層として利用し、所定パターンのレーザ光を有機層に照射して剥離層を選択的に除去することより、各色の有機層のパターン形成をするようにしたことを特徴とするものである。
【0028】
また、上述した発明において、薄膜トランジスタ基板上に剥離層を形成し、所定パターンのレーザ光を照射して剥離層を選択的に除去し、R,G,Bの3色のうちいずれかの色の有機層を薄膜トランジスタ基板全面に塗布し、所定パターンのレーザ光を有機層に照射して剥離層とともに上層の不要な有機層のみを除去して第1色の有機層を得る工程と、
第1色の有機層を得た後、薄膜トランジスタ基板上に剥離層を形成し、所定パターンのレーザ光を照射して剥離層を選択的に除去し、3色のうちの第2色の有機層を薄膜トランジスタ基板全面に塗布し、所定パターンのレーザ光を第2の有機層に照射して剥離層とともに上層の不要な第2の有機層のみを除去して第2色の有機層を得る工程と、
第2色の有機層を得た後、薄膜トランジスタ基板上に剥離層を形成し、所定パターンのレーザ光を照射して剥離層を選択的に除去し、3色のうちの第3色の有機層を薄膜トランジスタ基板全面に塗布し、所定パターンのレーザ光を第3の有機層に照射して剥離層とともに上層の不要な第3の有機層のみを除去して第3色の有機層を得る工程と
を有することが好適である。
【0029】
このような構成によれば、薄膜トランジスタ基板上の有機層に隣接して配置された熱膨張性のマイクロカプセルをレーザ加工用の剥離層として利用し、剥離層を選択的に除去することで各色の有機層のパターン形成をするようにしたので、有機層のドライエッチングプロセスでのパターニングが実現できる。また、蒸着マスクを不要とすることができる。
【0030】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明ディスプレイの製造方法の一例につき説明する。
【0031】
本例は、薄膜トランジスタ基板を駆動基板とするディスプレイの各デバイスにおいて、ウェットプロセスおよびフォトリソグラフィー工程の削減を実現するため、各デバイスの材料をレーザ光でダイレクトに加工するダイレクトレーザエッチング(Direct Laser Etching。以下、DLEと称する。)プロセスを提案する。DLEはレーザビームをマスクを介して所望のビームパターンを得、それを加工対象の材料に照射して加工する方法である。
【0032】
本例に用いられるレーザ照射装置の一例を図6に示す。レーザ発生源30より射出されたレーザビームは、ビーム成形光学系31により大面積化され、平坦化光学系32によりビームの強度が一様となるよう補正される。その後レーザビームは、フォトマスクやステンシルマスク等のマスク33に入射され所望の加工パターンに成形される。マスク33を透過したビームは縮小投影レンズ34により、被加工物35に照射される。その結果、被加工物35のレーザ光が照射された部分では、熱あるいは光アブレーションが発生し、所望のパターン形状に加工される。
【0033】
ここで用いるレーザは加工対象材料がレーザ光を吸収し易い波長を選択することが好ましい。例えばYAGレーザやエキシマレーザが考えられ、YAGレーザの場合は基本波(発振波長1064nm)、2倍波(発振波長532nm)、3倍波(発振波長355nm)及び4倍波(発振波長266nm)から選択する。また、エキシマレーザの場合は、公知のものが使用でき、例えばF2(発振波長157nm)、ArF(発振波長193nm)、KrF(発振波長248nm)、XeCl(発振波長308nm)などが挙げられる。但し、レーザ照射装置は上述例に限定されるものではない。
【0034】
続いて、上述のようなレーザ照射装置を用い、反透過型(反射、透過併用型)液晶ディスプレイの画素電極を加工する方法について説明する。図1にその透過領域の要部について加工プロセスフローを示す。
【0035】
図1に示すように、透過領域の基板17の上に第1画素電極6を成膜した後、熱膨張性のマイクロカプセルを含有する剥離層36を塗布する。このとき例えば印刷法などを用いて透過領域のみに剥離層36を塗布する。
【0036】
マイクロカプセルとは、超微粒子カプセル(例えば、粒径数μm〜数十μm)のことで、液体・固体等さまざまな内包物を特殊な超薄膜剤で包み込んだものである。 カプセルの破壊によって内包物を必要な時に取り出して使用したり、他の物質と反応しないよう隔離・保存することができる。 マイクロカプセルの破壊は圧力・熱・超音波・酵素などの用途に応じた方法で可能であり、現在そのマイクロカプセル技術の応用、研究・開発が進められている。
【0037】
そして、剥離層36の上に第2画素電極5を成膜する。第2画素電極5を加工するためレーザ光を照射すると画素電極2に熱が発生する。その熱が剥離層36に伝わることにより、内部のマイクロカプセルが膨張・破裂し、この破裂した剥離層36とともにその上層部分の第2画素電極5のみが選択的に除去される。さらに、マイクロカプセルの膨張・破裂がエッチングの補助となり、加工エッジ(図1Fの点線丸部)に残るデブリを防ぎ、シャープな加工エッジが得られる。
【0038】
ここで、熱膨張性マイクロカプセルは、例えば松本油脂製薬(株)製造のマツモトマイクロスフェアー(商品名)等の市販品が挙げられる。また、マイクロカプセルを含む樹脂ポリマーとして例えばアクリル樹脂が挙げられる。
【0039】
上述の透過領域の画素電極の加工においては、剥離層36を透過領域にのみ塗布するため印刷法等によるパターニングを行っているが、一方、次に説明する方法では、第1画素電極6表面の全面に剥離層36を塗布するようにする。
【0040】
図2に本例のディスプレイの製造方法を適用して製造される液晶ディスプレイの断面構造の一例を示す。図中、図7に対応する部分について同一符号を付しその詳細説明は省略する。
【0041】
本例では、第2層間絶縁膜9の上に平坦化層7を成膜し、その上からこの平坦化層7を含む基板全面に第1画素電極6を形成した後、第1画素電極6表面の全面にマイクロカプセルを含有する剥離層36を塗布し、剥離層36の上に第2画素電極5を成膜する。
【0042】
そして、図1例に示すような透過領域の画素電極の加工を行うと、反射領域では剥離層36が第1画素電極6と第2画素電極5との間に残存する。
【0043】
ここでマイクロカプセルの形状を利用し、その粒径を適切に選ぶことにより、反射領域の第1画素電極6と第2画素電極5との層間に凹凸が形成された剥離層36を有する薄膜トランジスタ基板を得ることができる。これにより、剥離層36の上の第2画素電極5に凹凸を形成することができ、反射光を乱反射させて拡散することができる。
【0044】
図7に示したように、従来より反射領域では、光を拡散させるための凹凸を持つSCT層8(例えば、層の厚さ1〜10μm)が用いられている。よって、上述の剥離層36のマイクロカプセルの粒径を、例えば1〜10μmとして凹凸層を形成することにより、図7のSCT層8と同等の機能を持つ凹凸層が作成されることになる。 したがって、図7に示すような従来のSCT層8を不要とすることができ、またこの成膜工程を削減することができる。但し、マイクロカプセル粒径はこれに限定されるものではない。その他、反射領域の構成については図7と同様である。
【0045】
尚、このとき熱膨張性マイクロカプセルは、その後の液晶ディスプレイ製造工程での熱処理を考慮し、例えば製造プロセスが高温200℃であるとすれば、200℃より上の温度で膨張・破裂するものでなくてはならず、例としてマツモトマイクロスフェアー(商品名;松本油脂製薬(株))が挙げられる。そして、マイクロカプセルを含む樹脂ポリマーは、第1画素電極6と第2画素電極5の導通を保つため、例えばアニリン系やピロール系の導電性ポリマーに、例えば銀(Ag)を含有するバインダー(接合剤)を用い、剥離層36が第1画素電極6と第2画素電極5と間の導電率とほぼ同じになることが好ましい。
【0046】
次に、本発明ディスプレイの製造方法を有機ELディスプレイの製造に適用した例について説明する。図3〜図5に、有機ELディスプレイの有機層の製造工程(パターニングプロセス)を示す。
【0047】
まず、TFTが構成されたTFT基板43の所定位置に有機層の各色を配置するための隔壁42を配置し、その上から全面に、マイクロカプセルを含有した剥離層41を塗布し(図3A)、例えば図6に示すレーザ照射装置を用いて、この剥離層41の第1色(例えば、Red)該当部に、画素電極等に応じた所定のパターンを持つマスク50を透過し所定パターンに成形されたレーザ光44を照射する(図3B)。レーザ光44が照射された剥離層41は、含有するマイクロカプセルがレーザ光44のエネルギーを受けて熱を発生し、膨張・破裂して所定部分のみが選択的に除去される(図3C)。
【0048】
次いで、第1色の有機層45を、上述の所定パターンに加工された剥離層41全面に成膜し、剥離層41の上層に成膜するとともに、図3Cに示す剥離層41が除去された部分にも成膜させる(図3D)。マスク50を介して有機層45の不必要部にレーザ光を照射し(図3E)、マイクロカプセルの熱膨張・破裂により、所望の有機層45を剥離層41からリフトオフする(図3F)。このようにして、第1色の有機層45のパターニングを行う。
【0049】
次に、第2色(例えば、Green)を成膜するため、さらにこの全面に剥離層41を塗布する(図4G)。そして、この剥離層41の第2色該当部に、画素電極等に応じた所定のパターンを持つマスク50を透過した所定パターンのレーザ光44を照射する(図4H)。レーザ光44が照射された剥離層41は、含有するマイクロカプセルがレーザ光44のエネルギーを受けて熱膨張し、破裂して所定部分のみが除去される(図4I)。
【0050】
次いで、第2色の有機層46を、上述の所定パターンに加工された剥離層41全面に成膜し、剥離層41の上層に成膜するとともに、図4Iに示す剥離層41が除去された部分に成膜させる(図4J)。このとき堆積させる高さは、先に形成済みの第1色の有機層45の高さに応じて調整しつつ所定の高さとなるようにする。マスク50を介して有機層46の不必要部にレーザ光を照射し(図4K)、マイクロカプセルの熱膨張・破裂により、所望の有機層46を剥離層41からリフトオフする(図4L)。このようにして、第2色の有機層46のパターニングを行う。
【0051】
次に、第3色(例えば、Blue)を成膜するため、さらにこの全面に剥離層41を塗布する(図5M)。そして、この剥離層41の第2色該当部に、所定のパターンを持つマスク50を透過したレーザ光44を照射する(図5N)。レーザ光44が照射された剥離層41は、含有するマイクロカプセルがレーザ光44のエネルギーを受けて熱膨張し、破裂して所定部分のみが除去される(図5O)。
【0052】
次いで、第3色の有機層47を、上述の所定パターンに加工された剥離層41全面に成膜し、剥離層41の上層に成膜するとともに、図5Oに示す剥離層41が除去された部分に成膜させる(図5P)。このとき堆積させる高さは、先に形成済みの第1色および第2色の有機層45、46の高さに応じて調整しつつ所定の高さとなるようにする。マスク50を介して有機層47の不必要部にレーザ光を照射し(図5Q)、マイクロカプセルの熱膨張・破裂により、所望の有機層47を剥離層41からリフトオフする(図5R)。このようにして、第3色の有機層47も該当部に成膜でき、有機材料3色のパターニングを行うことができる。マスク50は、加工対象とする有機層の色や除去したい剥離層パターンなどに応じてその都度目的にあったパターンのものを使用する。
【0053】
ここで熱膨張性マイクロカプセルは、例えば市販品のマツモトマイクロスフェアー「商品名、松本油脂製薬(株)」等の市販品が挙げられる。
【0054】
上述のようにして、有機層の所望のパターニングが可能となることにより、蒸着マスクレスのプロセスが構築できるとともにフォトリソグラフィー工程も削除することができる。したがって、従来の低分子材料を用いた手法に見られた蒸着マスクと各色パネルとの接触による面欠点不良を抑制することができる。
【0055】
また、従来の高分子材料を用いたインクジェット塗布方式に見られたような有機液滴の滴下不良に起因する面欠点不良を抑制することができる。
【0056】
さらに、レーザ光によるダイレクトエッチング加工により、有機層のドライエッチング加工プロセスが実現でき、薬液(水分)などによる有機層の劣化を抑制することができる。
【0057】
尚、本発明は上述した実施の形態の例に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱することなくその他種々の構成を取り得ることは勿論である。
【0058】
【発明の効果】
斯かる本発明によれば、レーザ光照射によるマイクロカプセルの熱膨張・破裂を用いて特定層を選択的に除去することができる。また、このマイクロカプセルにより、加工面のエッジにおいてデブリを抑制し、シャープな加工エッジが得られる利益がある。
【0059】
また、本発明によれば、導電膜と透明導電膜との間に成膜した剥離層を、マイクロカプセルの形状を利用して凹凸層とすることで、光を拡散させるための拡散層として機能させることができ、従来の拡散層が不要となるため、これらの成膜工程が削減できる利益がある。
【0060】
また、本発明によれば、薄膜トランジスタ基板上の有機層をドライエッチングプロセスでのパターニングが実現できるとともに、蒸着マスクを不要とする製造プロセスを実現することができる。 それにより、マスクと加工面表面の接触による面欠点不良を抑制することができる利益がある。さらにはインクジェット方式に見られた滴下不良に起因する面欠点不良を抑制することができる利益がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明ディスプレイの製造方法の例の説明に供する線図である。
【図2】本発明ディスプレイの製造方法を適用して製造された液晶ディスプレイの断面構造の一例を示す線図である。
【図3】本発明ディスプレイの製造方法の例の説明に供する線図である。
【図4】本発明ディスプレイの製造方法の例の説明に供する線図である。
【図5】本発明ディスプレイの製造方法の例の説明に供する線図である。
【図6】レーザ照射装置の一例を示す線図である。
【図7】液晶ディスプレイの断面構造の一例を示す線図である。
【図8】有機ELディスプレイの断面構図の一例を示す線図である。
【符号の説明】
5・・・・第2画素電極、6・・・・第1画素電極、35・・・・被加工物、36, 41・・・・剥離層(マイクロカプセル層)、40, 44・・・・レーザ光、45・・・・有機層(Red)、46・・・・有機層(Green)、47・・・・有機層(Blue)

Claims (5)

  1. 薄膜トランジスタが形成された薄膜トランジスタ基板を駆動基板とするディスプレイの製造方法において、
    前記薄膜トランジスタ基板上の配線または画素電極をパターニングするのに、前記配線または前記画素電極の下層に形成された熱膨張性のマイクロカプセルをレーザ加工用の剥離層として利用し、レーザ光を前記配線または前記画素電極に照射し熱膨張による前記剥離層の剥離を通してパターン形成をする
    ディスプレイの製造方法。
  2. 請求項1に記載のディスプレイの製造方法において、
    前記熱膨張性のマイクロカプセルを含有する剥離層を形成し、前記剥離層の上層に成膜された前記配線または前記画素電極を構成する上層膜に対し所定パターンのレーザ光を照射し、前記レーザ光により前記剥離層の除去に伴い前記上層膜を選択的に除去する
    ディスプレイの製造方法。
  3. 薄膜トランジスタが形成された薄膜トランジスタ基板を駆動基板とするディスプレイの製造方法において、
    前記薄膜トランジスタ基板上の透明導電膜の上層に、熱膨張性のマイクロカプセルを含有する剥離層を形成した後、前記剥離層の上層に導電膜を成膜し、
    前記マイクロカプセルの形状を利用して前記剥離層を拡散層として凹凸を設けるようにし、
    前記導電膜に対し所定パターンのレーザ光を照射し、前記レーザ光により前記剥離層とともに前記剥離層の上層の導電膜を選択的に除去するようにした
    ディスプレイの製造方法。
  4. 薄膜トランジスタが形成された薄膜トランジスタ基板を駆動基板とするディスプレイの製造方法において、
    前記薄膜トランジスタ基板上の有機層をパターニングするのに、前記有機層の下層に配置された熱膨張性のマイクロカプセルをレーザ加工用の剥離層として利用し、所定パターンのレーザ光を前記有機層に照射して前記剥離層を選択的に除去することより、各色の有機層のパターン形成をする
    ディスプレイの製造方法。
  5. 請求項4に記載のディスプレイの製造方法において、
    前記薄膜トランジスタ基板上に前記剥離層を形成し、所定パターンのレーザ光を照射して前記剥離層を選択的に除去し、R,G,Bの3色のうちいずれかの色の有機層を前記薄膜トランジスタ基板全面に塗布し、所定パターンのレーザ光を前記有機層に照射して前記剥離層とともに上層の不要な前記有機層のみを除去して第1色の有機層を得る工程と、
    前記第1色の有機層を得た後、前記薄膜トランジスタ基板上に前記剥離層を形成し、所定パターンのレーザ光を照射して前記剥離層を選択的に除去し、前記3色のうちの第2色の有機層を前記薄膜トランジスタ基板全面に塗布し、所定パターンのレーザ光を前記第2の有機層に照射して前記剥離層とともに上層の不要な前記第2の有機層のみを除去して第2色の有機層を得る工程と、
    前記第2色の有機層を得た後、前記薄膜トランジスタ基板上に前記剥離層を形成し、所定パターンのレーザ光を照射して前記剥離層を選択的に除去し、前記3色のうちの第3色の有機層を前記薄膜トランジスタ基板全面に塗布し、所定パターンのレーザ光を前記第3の有機層に照射して前記剥離層とともに上層の不要な前記第3の有機層のみを除去して第3色の有機層を得る工程と
    を有するディスプレイの製造方法。
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JP4103865B2 (ja) * 2004-07-27 2008-06-18 セイコーエプソン株式会社 有機el表示装置の製造方法
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CN112130416B (zh) * 2020-10-19 2024-02-13 北京京东方技术开发有限公司 一种光刻材料、显示基板及其制作方法、显示面板
CN114854418A (zh) * 2022-03-28 2022-08-05 北京京东方技术开发有限公司 量子点混合物、图案化的方法、量子点膜及发光器件
KR102626607B1 (ko) * 2023-03-10 2024-01-19 (주)라이타이저 유기층의 미세 패턴화 방법 및 그 방법으로 형성된 디스플레이용 rgb 픽셀 구조체
KR102631678B1 (ko) * 2023-03-21 2024-02-01 (주)라이타이저 싱글 dpr 코팅을 이용한 미세 패터닝 방법 및 시스템
KR102631680B1 (ko) * 2023-03-21 2024-02-02 (주)라이타이저 디스플레이용 rgb 서브 픽셀 형성 방법 및 그 구조체
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