JP4351410B2 - 機能障害を検出する回路装置 - Google Patents

機能障害を検出する回路装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4351410B2
JP4351410B2 JP2001584900A JP2001584900A JP4351410B2 JP 4351410 B2 JP4351410 B2 JP 4351410B2 JP 2001584900 A JP2001584900 A JP 2001584900A JP 2001584900 A JP2001584900 A JP 2001584900A JP 4351410 B2 JP4351410 B2 JP 4351410B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
potential terminal
differential amplifier
circuit device
supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001584900A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004508537A (ja
Inventor
ロベルト アリンガー,
ズィークフリート チェターニッヒ,
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Infineon Technologies AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Infineon Technologies AG filed Critical Infineon Technologies AG
Publication of JP2004508537A publication Critical patent/JP2004508537A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4351410B2 publication Critical patent/JP4351410B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/04Voltage dividers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16533Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
    • G01R19/16538Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies
    • G01R19/16542Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies for batteries

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Burglar Alarm Systems (AREA)
  • Circuits Of Receivers In General (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

【0001】
本発明は、第1の差動増幅器および第2の差動増幅器を用いて、機能障害を検出する回路装置に関する。この発明において、回路装置の出力はゲートの入力と接続され、入力は、それぞれ、参照電位端子と接続され、他の入力は、それぞれ、供給電圧と結合される。
【0002】
供給電圧の低周波電圧にゆらぎがある場合、集積回路の機能性能は、通常保証された状態である。しかしながら、高周波の妨害パルスの場合、集積回路の不確定な状態に至り得る。例えば、集積回路の種々の信号の同期化が妨害され得る。メモリ内容の読み出しが誤って行なわれ得る。同様に、論理的回路装置に悪影響が及ぼされ得る。
【0003】
しかしながら、集積回路の構造的構成および動作方法を究明するために、これらの本来望ましくないこの効果を探索し得る。
【0004】
このような不正な意図を回避するために、フィルタ回路により、特定の供給電圧の領域内の電圧のゆらぎが低減される。しかし、この場合、集積回路は機能のシーケンスを、通常、中断しない。
【0005】
本発明の課題は、機能障害を検出する回路装置を提供することである。この回路装置は、集積回路内の、上述のような機能障害を阻止または、少なくとも検出する。
【0006】
本課題は、請求項1の特徴により解決される。
【0007】
本発明は、通常、各集積回路内に、供給電圧の電圧ゆらぎが存在することを監視する回路装置が存在するという状況を利用する。集積回路は、予め与えられた供給電圧の範囲内で動作され得る。供給電圧が上側電圧閾値を上回るか、または下側電圧閾値を下回ると、いわゆる「パワーオンリセット」が作動される。これは、集積回路が「パワーオンリセット」が作動した後に規定の動作状態にシフトされることを意味する。従って、この機能性は、例えば、ゼロから連続的に上昇する供給電圧に基づいてスイッチオンする場合に集積回路を、下側の特定の電圧閾値に達した場合にパワーオンリセットを作動させるために利用される。このパワーオンリセットは、その後、集積回路を規定の動作状態に切り換える。パワーオンリセットをそれぞれ作動させる、下側および上側の電圧閾値を設定するために、例えば、2つの分圧器が設けられる。上側切り換え閾値(Schaltschwelle)を規定する分圧器は、第1の演算増幅器の入力に接続され、他方、下側切り換え閾値を規定する分圧器は、第2の演算増幅器の入力に接続される。第1の演算増幅器および第2の演算増幅器のそれぞれ別の入力は、参照電位端子と接続される。この参照電位端子には一定に設定された参照電圧が存在する。第1の演算増幅器および第2の演算増幅器の出力は、ゲートに供給され、このゲートは、第1の演算増幅器および第2の演算増幅器により送達された信号を評価し、出力において利用可能にする。この回路装置の出力は、集積回路の別の回路領域と接続され、その後、パワーオンリセットを作動させ得る。
【0008】
しかしながら、電圧のゆらぎを検出するこの回路装置は、リセット閾値内で変動する高周波電圧のゆらぎを検出するために適切でないので、本発明は、監視手段と接続する第1の差動増幅器および第2の差動増幅器のそれぞれ別の入力を提供する。この監視手段は、供給電圧が変化する場合、回路装置の供給電位端子で応答する。
【0009】
有利な実施形態は、従属請求項から明らかである。
【0010】
好適には、各差動増幅器に1つの監視手段が割り当てられる。
【0011】
監視手段は、例えば、微分器として実施され得る。しかしながら、これは、供給電位端子と接続される電荷蓄積器でもあり得る。監視手段の寸法調整に応じて、供給電圧のどの変動速度の場合にそれぞれの演算増幅器が応答するかが設定され得る。好適には、構成部品は、供給電圧の高周波の電圧変動のみが検出されるように寸法調整される。このようにして、集積回路のシーケンスにおいて機能障害を達成するという目的において、供給電圧における障害が阻止され得る。低周波の電圧変動は、集積回路のシーケンスを、通常、損なわないので、監視手段は応答する必要がない。すなわち、上記の第1の演算増幅器および第2の演算増幅器の入力において存在する参照電圧を上回る。
【0012】
好適な実施形態において、分圧器は、供給電位端子と参照接地電位端子との間に設けられる。分圧器の中央タップは、それぞれの監視手段、およびそれぞれの差動増幅器と接続される。分圧器は、冒頭で述べたように、上側電圧閾値および下側電圧閾値を設定するために機能する。従って、第1の差動増幅器にも、第2の差動増幅器にも、それぞれ固有の分圧器が設けられる。
【0013】
以下の実施例を用いて、本発明のさらなる利点および実施形態の変形が説明される。
【0014】
図1は、機能障害を検出する回路装置の好適な実施例を示す。この回路装置は、同時に、従来技術から公知の機能性が、供給電圧に関する上側電圧閾値および下側電圧閾値を監視し、一方で、この特定の供給電圧領域内で生じる高周波妨害パルスを検出し、かつ回路装置の出力において、信号を発信することを可能にする。この信号は、集積回路を安全な状態に至らせることを可能にする。
【0015】
この目的のために、この回路装置は、第1の差動増幅器4および第2の差動増幅器8を備える。第1の差動増幅器4の出力7および第2の差動増幅器8の出力11は、ゲート12の入力と接続される。ゲート12の出力13は、図示されない、パワーオンリセットを作動させ得るさらなる回路装置と接続される。第1の差動増幅器4の非反転入力6、および第2の差動増幅器8の反転入力9は、参照電位端子3と接続され、この端子に、一定に設定された参照電圧が存在する。第1の差動増幅器4の反転入力5は、抵抗器14、15からなる、分圧器の中央タップ16と接続される。分圧器は、供給電位端子1と参照接地電位端子2(Bezugspotintialanschluss)との間に配置される。抵抗器18、19からなる、さらなる分圧器は、同様に、供給電位端子1と参照接地電位端子2との間に配置される。中央タップ20は、第2の差動増幅器8の非反転入力10と接続される。
【0016】
第1の分圧器の抵抗器14、15が、中央タップ16において、参照電位端子(Referenzpotenzialanschluss)3における参照電圧よりも少し小さい電圧が生じるように設定される。これに対して、第2の分圧器の抵抗器18、19は、中央タップ20において、参照電位端子3における参照電圧よりも少し大きい電圧が生じるように設定される。供給電位端子1に存在する電圧が上昇する場合、第1の分圧器の中央タップ16において存在する電圧も上昇する。中央タップ16において存在する電圧が、第1の差動増幅器4の非反転入力6に存在する参照電圧を上回る場合、第1の差動増幅器4は、その出力7に信号を発信する。ORゲート12は、この信号を出力13に転送し、これにより、パワーオンリセットが起動され得る。他方、供給電位端子1において電圧が低下した場合、中央タップ20において低下する電圧が生成される。その結果、第2の差動増幅器8はトグル(kippt)し、回路装置の出力13において、同様に、パワーオンリセットのための信号が生成される。
【0017】
本発明により、監視手段が設けられる。この監視手段は、好適には、供給電圧の高周波が変化した場合、それぞれの差動増幅器を同様にトグルさせる。従って、図1による実施例において、中央タップ16と供給電位端子1との間に電荷蓄積器17が設けられる。同様に、第2の分圧器の中央タップ20と供給電位端子1との間に、電荷蓄積器21が設けられる。電荷蓄積器17、21は、高い周波数の場合、すなわち、電圧が急上昇した場合、ブリッジのように作用し、第1の差動増幅器4の反転入力5、および第2の差動増幅器8の非反転入力10における電圧を、他の入力における参照電圧よりも上に上昇させ、このようにして、パワーオンリセット信号を生成する。従って、集積回路は、信号シーケンスにおいて機能障害を引き起こすことを目標として攻撃された場合、この集積回路を安全な動作状態に至らせ得る。安全な動作状態は、例えば、集積回路の停止であり得る。これにより、メモリチップのメモリ内容の読み出しはもはや不可能である。
【0018】
機能障害を検出するための、本発明による回路装置は、従来技術において既存の回路装置と比較して、ただわずかな追加的構成部品が必要であるという点で特徴的である。簡単な電荷蓄積器を設けることにより、予め与えられた電圧切り換え閾値を監視するように機能する回路装置が、故意でない機能障害を回避するために用いられ得る。
【0019】
代替的実施例が図2に示される。図2に示される回路装置は、機能障害を検出するようにのみ機能する。この実施例において、上側電圧閾値および下側電圧閾値の監視は提供されない。第1の差動増幅器4の反転入力5、および第2の差動増幅器8の非反転入力10を、それぞれの分圧器と接続する代わりに、差動増幅器4、8の上述の両方の入力が互いに接続される。接続点は、微分器22の出力23と接続され、微分器は、供給電位端子1と参照接地電位端子2との間に位置する。微分器を用いて、簡単に電圧の上昇が検出され得る。電圧の上昇は、電圧の変動の周波数の測定(Mass)である。微分器は、原則的に、各任意の様態で設計され得る。正の電圧の上昇は、その後、上述のように第1の差動増幅器4により検出され、他方、負の方向での電圧の上昇は、第2の差動増幅器8により検出される。
【0020】
図3は、従来技術から公知の微分器の実施例を示す。この微分器は、非反転入力が参照接地電位端子2と接続される差動増幅器24を備える。反転入力25は、電荷蓄積器29を介して、供給電位端子1と接続される。さらに、反転入力25は、抵抗器28を介して、差動増幅器24の出力27と接続される。差動増幅器24の出力は、いわば微分器の出力23を示す。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、機能障害を検出するための、本発明による回路装置の第1の実施例を示し、監視手段として、電荷蓄積器が設けられる。
【図2】 図2は、機能障害を検出するための、本発明による回路装置の第2の実施例を示し、監視手段として、微分器が設けられる。
【図3】 図3は、図2による回路装置において用いられる微分器の実施形態を示す。

Claims (6)

  1. 機能障害を検出する回路装置であって、
    該回路装置は、
    供給電位端子と、
    第1および第2の差動増幅器であって、該第1および第2の差動増幅器のそれぞれは出力を有している、第1および第2の差動増幅器と、
    複数の入力を有するゲートであって、該複数の入力はそれぞれ該第1および第2の差動増幅器の該出力に接続されている、ゲートと
    を備え、
    該第1の差動増幅器は、該供給電位端子での供給電圧を分圧した第1の電圧を受け取るように接続された第1の入力と、参照電位端子に接続された第2の入力とを有しており、該第2の差動増幅器は、参照電位端子に接続された第1の入力と、該供給電位端子での該供給電圧を分圧した第2の電圧であって該第1の電圧とは異なる第2の電圧を受け取るように接続された第2の入力とを有しており、該参照電位端子は、該第1および第2の差動増幅器のそれぞれに該供給電圧とは独立した参照電圧を提供し、
    該回路装置は、
    該第1の差動増幅器の該第1の入力に接続された第1のデバイスと、
    第2の差動増幅器の該第2の入力に接続された第2のデバイス
    をさらに備え、
    該第1のデバイスおよび該第2のデバイスは、該供給電位端子での供給電圧が変化した場合にその変化に応答する回路装置。
  2. 前記デバイスは、前記供給電圧の高周波電圧の変化のみを検出するように構成されている、請求項1に記載の回路装置。
  3. 前記デバイスは、前記差動増幅器のそれぞれに割り当てられた2つのデバイスのうちの一方である、請求項1に記載の回路装置。
  4. 前記デバイスは、微分器である、請求項1に記載の回路装置。
  5. 前記デバイスは、前記供給電位端子に接続された電荷蓄積器である、請求項1に記載の回路装置。
  6. 前記供給電位端子と参照接地電位端子との間に接続された分圧器を備え、
    該分圧器は、該それぞれのデバイスと該それぞれの差動増幅器とに接続された中央タップを有している、請求項3に記載の回路装置。
JP2001584900A 2000-05-17 2001-03-29 機能障害を検出する回路装置 Expired - Fee Related JP4351410B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP00110543A EP1160580B1 (de) 2000-05-17 2000-05-17 Schaltungsanordnung zur Detektion einer Funktionsstörung
PCT/DE2001/001238 WO2001088560A1 (de) 2000-05-17 2001-03-29 Schaltungsanordnung zur detektion einer funktionsstörung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004508537A JP2004508537A (ja) 2004-03-18
JP4351410B2 true JP4351410B2 (ja) 2009-10-28

Family

ID=8168757

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001584900A Expired - Fee Related JP4351410B2 (ja) 2000-05-17 2001-03-29 機能障害を検出する回路装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6646503B2 (ja)
EP (1) EP1160580B1 (ja)
JP (1) JP4351410B2 (ja)
CN (1) CN1253724C (ja)
AT (1) ATE276523T1 (ja)
DE (1) DE50007780D1 (ja)
WO (1) WO2001088560A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3863508B2 (ja) * 2003-07-03 2006-12-27 Necエレクトロニクス株式会社 電源電圧検出回路及び半導体集積回路装置
JP4440214B2 (ja) * 2003-12-26 2010-03-24 パナソニック株式会社 半導体装置
US7772960B2 (en) * 2007-11-27 2010-08-10 Interlink Electronics, Inc. Pre-loaded force sensing resistor and method
CN101566645B (zh) * 2008-04-21 2011-07-27 北京同方微电子有限公司 一种用于电源电压脉冲干扰的检测电路
CN101917177A (zh) * 2010-07-02 2010-12-15 宁波大学 一种信号零点恢复电路
JP2012195834A (ja) * 2011-03-17 2012-10-11 Elpida Memory Inc 半導体装置
PL222066B1 (pl) * 2011-08-19 2016-06-30 Akademia Górniczo Hutnicza Im Stanisława Staszica W Krakowie Adaptacyjny dzielnik napięcia o skorygowanej charakterystyce częstotliwościowej do pomiaru wysokich napięć
DE102015215801A1 (de) * 2015-08-19 2017-02-23 Siemens Aktiengesellschaft Eigenversorgte Messvorrichtung und Messverfahren

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5975708A (ja) * 1982-10-12 1984-04-28 テクトロニクス・インコ−ポレイテツド 緩衝増幅器
GB8716144D0 (en) * 1987-07-09 1987-08-12 British Aerospace Comparator circuits
IT1250240B (it) * 1991-12-02 1995-04-03 Fiat Auto Spa Dispositivo per rilevare l'efficienza di batterie,particolarmente a bordo di autoveicoli.
US5530879A (en) * 1994-09-07 1996-06-25 International Business Machines Corporation Computer system having power management processor for switching power supply from one state to another responsive to a closure of a switch, a detected ring or an expiration of a timer

Also Published As

Publication number Publication date
DE50007780D1 (de) 2004-10-21
US6646503B2 (en) 2003-11-11
EP1160580B1 (de) 2004-09-15
WO2001088560A1 (de) 2001-11-22
ATE276523T1 (de) 2004-10-15
CN1253724C (zh) 2006-04-26
CN1427954A (zh) 2003-07-02
US20030080812A1 (en) 2003-05-01
EP1160580A1 (de) 2001-12-05
JP2004508537A (ja) 2004-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4296811B2 (ja) 物理量センサ装置
US8218279B2 (en) Electronic device and method for dynamic USB power assignment
US6771478B2 (en) Hot-swap protection circuit
JP4351410B2 (ja) 機能障害を検出する回路装置
US7334149B1 (en) Clock distribution architecture with spread spectrum
US7043236B2 (en) RF detection and switching system and method
US20030164720A1 (en) Differential clock signal detection circuit
US6448824B1 (en) Method and apparatus for integrated circuit power up
KR100407930B1 (ko) 휴대용컴퓨터의홀트방지장치
JPH11133043A (ja) 車輪速センサの異常検出装置およびその異常検出方法
JPS63315962A (ja) 電源断検出回路
JP2003016400A (ja) 停電検知装置、及びその停電検知装置を備えたカードリーダ
JPH08274607A (ja) Cpuの電源電圧監視回路
JP2002041319A (ja) 電源異常検出回路及びインサーキット・エミュレータ
JP3262386B2 (ja) 電気部品接続認識装置
JP2546005B2 (ja) A/d変換装置
KR20070000761A (ko) 전원 감시 회로 및 이를 포함하는 휴대용 단말기
JPS6315819B2 (ja)
JPWO2005066733A1 (ja) 半導体装置
KR910004130Y1 (ko) 키폰 전화기(kts)의 리셋트 회로
KR20000056201A (ko) 마이크로 컴퓨터의 오동작 방지를 위한 초기화회로
JPH02242312A (ja) マイクロコンピュータ用リセット制御回路
JPH05244722A (ja) Dc電源保護回路
KR19990009451A (ko) 전압검출기 이용한 파워온리셋장치
KR0172840B1 (ko) 전원 전압 강하감지회로

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041125

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041129

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20050228

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20050308

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050530

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060904

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061229

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20070117

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20070302

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20081027

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20081030

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20081128

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20081204

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090610

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090724

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120731

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4351410

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120731

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130731

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees