JP4317119B2

JP4317119B2 - 熱アシスト磁気記録方法および試験記録再生方法

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Description

本発明は、熱アシストを伴って磁気記録媒体に情報を記録するための磁気記録方法、および、熱アシスト磁気記録方法において採用する記録条件を決定するための試験記録再生方法に関する。

ハードディスクなどの記憶装置を構成するための記録媒体として、磁気記録媒体（磁気ディスク）が知られており、コンピュータシステムにおける情報処理量の増大に伴い、磁気ディスクについては高記録密度化の要求が高まっている。

磁気ディスクへの情報記録に際しては、磁気ディスクの記録面（記録磁性膜により構成される）に対して記録用の磁気ヘッドが近接配置され、当該磁気ヘッドにより、記録磁性膜に対し、その保磁力より強い記録磁界が印加される。磁気ディスクに対して磁気ヘッドを相対移動させつつ磁気ヘッドからの記録磁界の向きを順次反転させることにより、記録磁性膜において、磁化方向が順次反転する複数の磁区（記録マーク）が磁気ディスクの周方向ないしトラック延び方向に連なって形成される。このとき、記録磁界方向を反転させるタイミングが制御されることにより、各々に所定の長さで記録マークが形成される。このようにして、記録磁性膜において、磁化方向の変化として所定の信号ないし情報が記録される。

磁気ディスクの技術分野においては、記録磁性膜の保磁力が高いほど、記録磁性膜に形成される磁区の熱安定性が高く、微小ないし幅狭で安定した磁区を形成しやすいことが、知られている。記録磁性膜にて安定に形成され得る最小の磁区が微小であるほど、磁気ディスクにおいて、より大きな記録密度を得ることが可能である。

磁気ディスクへの情報記録においては、上述のように、記録磁性膜の保磁力より強い記録磁界を印加しなければ適切に記録マークを形成することができない。そのため、記録磁性膜について設定される保磁力の増大に伴い、磁気ヘッドにより印加すべき記録磁界の強度を増大することが考えられる。しかしながら、磁気ヘッドにより印加できる記録磁界の強度については、例えば磁気ヘッドの構造や消費電力の観点から、制約を受ける。

そこで、磁気ディスクへの情報記録においては、いわゆる熱アシスト磁気記録方式が採用される場合がある。熱アシスト磁気記録方式で磁気ディスクに情報記録が実行される場合、まず、回転する磁気ディスクの記録面に近接配置される所定の光学ヘッドからのレーザ照射により、磁気ディスクの記録磁性膜が局所的に順次昇温される。記録磁性膜における昇温領域では、その周囲の非昇温領域よりも保磁力が低下する。そして、磁気ディスクの記録面に近接配置される磁気ヘッドにより、記録磁性膜の昇温領域の保磁力より強い記録磁界が当該昇温領域に印加され、当該昇温領域の一部が所定方向に磁化される。この磁化は、当該磁化箇所の冷却の過程で定着することとなる。熱アシスト磁気記録方式では、このようにして所定方向に磁化された記録マークが形成される。熱アシスト磁気記録方式によると、加熱により保磁力が低下された箇所に対する記録磁界印加により情報記録が実行されるため、情報保持時や情報再生時の常温での記録磁性膜の保磁力を高く設定する場合であっても、磁気ヘッドにより印加すべき記録磁界の強度を過度に増大する必要はない。このような熱アシスト磁気記録方法については、例えば下記の特許文献１や特許文献２に記載されている。

特開平６−２４３５２７号公報特開２００３−１５７５０２号公報

従来の熱アシスト磁気記録方法では、磁気ディスクの回転速度は一定に設定され、且つ、照射レーザのパワーも一定に設定される。磁気ディスクの回転速度が一定であるため、情報記録時における磁気ディスクの記録面内の各箇所の線速度は、回転軸心からの距離に応じて変化する。具体的には、回転軸心に近い箇所ほど線速度は低い。線速度の低い箇所（回転軸心に近い箇所）ほど当該箇所に対するレーザ照射時間（加熱時間）は長く、且つ、上述のように照射レーザパワーは一定であるため、線速度の低い箇所ほど、単位時間あたりに受ける昇温エネルギは大きい。これとともに、線速度の低い箇所ほど、磁気ディスクが回転することに起因する冷却効率は低い。したがって、従来の熱アシスト磁気記録方法では、記録面において線速度の低い箇所ほど、即ち回転軸心に近い箇所ほど、レーザが照射された場合に、最高到達温度（レーザ照射による昇温領域内の最も高い温度）は高く且つ所定温度以上に昇温する範囲は広い。そのため、従来の熱アシスト磁気記録方法では、記録面において回転軸心から最も遠い最外周箇所（即ち最も加熱効率の低い箇所）にて記録マークを形成するときの昇温領域の最高到達温度と、記録面において回転軸心から最も近い最内周箇所（即ち最も加熱効率の高い箇所）にて記録マークを形成するときの昇温領域の最高到達温度とは、相当程度に異なる。これとともに、記録面の最外周箇所にて記録マークを形成するときの所定温度以上の昇温範囲と、記録面の最内周箇所にて記録マークを形成するときの所定温度以上の昇温範囲とは、相当程度に広さが異なる。このような従来の熱アシスト磁気記録方法では、記録面の最外周箇所にて記録マークを形成可能な強さに照射レーザパワーが設定されるところ、記録面の内周側に対する情報記録時には、照射レーザパワーが強すぎるために、レーザ照射による記録磁性膜の最高到達温度は不当に高くなり且つ所定温度以上の昇温範囲は不当に広くなる場合がある。

記録磁性膜に対するレーザ照射と記録磁界印加とにより当該記録磁性膜のトラックに沿って記録マークが順次形成される熱アシスト磁気記録においては、最高到達温度が高すぎると、直前に形成された記録マークの当該形成箇所における保磁力が不当に低下して、記録磁界の作用により当該直前記録マークが消失ないし劣化するという、記録減磁現象が生じる場合がある。記録減磁現象は、磁気ディスク再生時の再生信号におけるＳＮＲ（Signal to Noise Ratio）を低下させて磁気ディスクの高記録密度化を阻害するので、好ましくない。また、所定温度以上の昇温範囲が広すぎると、記録マークが順次形成されているトラックの隣りのトラックまで記録マーク幅が不当に広がることにより、当該隣りのトラックの記録マークが消失ないし劣化するという、クロスライト現象が生じる場合がある。クロスライト現象は、トラックの狭ピッチ化を阻害するので、磁気ディスクの高記録密度化の観点から好ましくない。このように、記録面の最外周箇所にて記録マークを形成可能に設定される照射レーザパワーが記録面の内周側に対する情報記録時にも適用される従来の熱アシスト磁気記録方法は、記録密度を高めるうえで困難性を有するのである。

本発明は、以上のような事情の下で考え出されたものであって、磁気記録媒体の高記録密度化に適した熱アシスト磁気記録方法、および、当該方法で採用する複数のレーザパワー条件を決定するための試験記録再生方法を提供することを、目的とする。

本発明の第１の側面によると磁気記録方法が提供される。本方法では、記録磁性膜を有して回転軸心まわりに回転する磁気記録媒体において、記録磁性膜にレーザを照射して当該記録磁性膜を局所的に順次昇温させつつ当該昇温領域に記録磁界を印加することにより、情報記録を実行する。また、本方法では、記録磁性膜においてレーザを照射すべき箇所（レーザ照射予定箇所）の回転軸心からの距離に応じてレーザパワーを選択して記録磁性膜にレーザを照射する。

本熱アシスト磁気記録方法においては、記録磁性膜におけるレーザ照射予定箇所（記録マーク形成予定箇所）の回転軸心からの距離に応じて適当なレーザパワーを選択してレーザ照射を行うことにより、記録磁性膜の昇温領域の最高到達温度を適切に調節することができ、また、所定温度以上の昇温範囲を適切に調節することができる。例えば、記録磁性膜において回転軸心から最も遠くて線速度の最も高い最外周箇所に記録マークを形成する場合には最も強いレーザパワー（第１レーザパワー）を選択してレーザ照射を行い、記録磁性膜において回転軸心に最も近くて線速度の最も低い最内周箇所に記録マークを形成する場合には最も弱いレーザパワー（第２レーザパワー）を選択してレーザ照射を行い、他の箇所に記録マークを形成する場合には第１および第２レーザパワーの間の強さのレーザパワーを選択してレーザ照射を行うことにより、記録磁性膜の最外周箇所から最内周箇所にわたって、情報記録時における記録磁性膜の昇温領域の最高到達温度の相異を抑制して最高到達温度を一様化することができ、また、所定温度以上の昇温範囲の広さの相異を抑制して当該昇温範囲の広さを一様化することができる。最高到達温度を適切な温度で一様化することにより、最高到達温度が不当に高まることに起因する上述の記録減磁現象を回避または充分に抑制することが可能である。これとともに、所定温度以上の昇温範囲を適切な広さで一様化することにより、所定温度以上の昇温範囲が不当に広がることに起因する上述のクロスライト現象を回避または充分に抑制することが可能である。したがって、本熱アシスト磁気記録方法によると、記録減磁現象やクロスライト現象を回避ないし充分に抑制しつつ、適切に各記録マークを形成することができるのである。このような熱アシスト磁気記録方法は、磁気記録媒体の高記録密度化に適している。

本発明の第２の側面によると熱アシスト磁気記録方法が提供される。本方法では、記録磁性膜を有して回転軸心まわりに回転する磁気記録媒体において、記録磁性膜にレーザを照射して当該記録磁性膜を局所的に順次昇温させつつ当該昇温領域に記録磁界を印加することにより、情報記録を実行する。また、本方法では、記録磁性膜は、回転軸心を共通軸とする同軸状の複数の円環領域を含み、記録磁性膜においてレーザを照射すべき箇所（レーザ照射予定箇所）が含まれる円環領域の種類に応じてレーザパワーを選択して記録磁性膜にレーザを照射する。

本熱アシスト磁気記録方法においては、記録磁性膜におけるレーザ照射予定箇所（記録マーク形成予定箇所）が含まれる円環領域の種類に応じて適当なレーザパワーを選択してレーザ照射を行うことにより、記録磁性膜の昇温領域の最高到達温度を適切に調節することができ、また、所定温度以上の昇温範囲を適切に調節することができる。例えば、最も外側の円環領域内に記録マークを形成する場合には最も強いレーザパワー（第１レーザパワー）を選択してレーザ照射を行い、最も内側の円環領域内に記録マークを形成する場合には最も弱いレーザパワー（第２レーザパワー）を選択してレーザ照射を行い、他の円環領域が存在して当該他の円環領域内に記録マークを形成する場合には第１および第２レーザパワーの間の強さのレーザパワーを選択してレーザ照射を行うことにより、記録磁性膜の最外円環領域から最内円環領域にわたって、情報記録時における記録磁性膜の昇温領域の最高到達温度の相異を抑制して最高到達温度を一様化することができ、また、所定温度以上の昇温範囲の広さの相異を抑制して当該昇温範囲の広さを一様化することができる。最高到達温度を適切な温度で一様化することにより、最高到達温度が不当に高まることに起因する上述の記録減磁現象を回避または充分に抑制することが可能である。これとともに、所定温度以上の昇温範囲を適切な広さで一様化することにより、所定温度以上の昇温範囲が不当に広がることに起因する上述のクロスライト現象を回避または充分に抑制することが可能である。したがって、本熱アシスト磁気記録方法によると、記録減磁現象やクロスライト現象を回避ないし充分に抑制しつつ、適切に各記録マークを形成することができるのである。このような熱アシスト磁気記録方法は、磁気記録媒体の高記録密度化に適している。

本発明の第３の側面によると試験記録再生方法が提供される。本方法は、試験記録工程およびその後の再生工程を含む。試験記録工程では、記録磁性膜を有する磁気記録媒体を回転軸心まわりに回転させ、記録磁性膜にレーザを照射して当該記録磁性膜を局所的に順次昇温させつつ当該昇温領域に記録磁界を印加することにより、記録磁性膜における第１トラックに沿って第１記録マーク群を形成し、その後、第１トラックと隣り合う第２トラックに沿って第２記録マーク群を形成し、その後、第２トラックとは反対の側で第１トラックと隣り合う第３トラックに沿って第３記録マーク群を形成する。再生工程では、第１トラックに形成された第１記録マーク群に由来する磁気信号を測定する。本方法では、試験記録工程における第１トラックについて複数の線速度を設定し、試験記録工程において記録磁性膜に照射するレーザについて線速度ごとに複数のレーザパワーを設定し、試験記録工程および再生工程を、当該複数の線速度と当該複数のレーザパワーとの全ての組合せで実行する。

本方法の一の試験記録工程において第１〜第３トラックの各々に第１〜第３記録マーク群を形成する間は、第１トラックの線速度を一定に維持し、且つ、記録磁性膜に照射するレーザのパワーを一定に維持する。再生工程では、試験記録工程で第１トラックに沿って試験的に形成された第１記録マーク群に由来する磁気信号を測定するところ、この磁気信号測定に基づいて、当該再生における例えばビットエラーレート（ｂＥＲ）や再生信号振幅について知ることができる。このような試験記録工程およびその後の再生工程を、同一の第１トラック線速度条件において、当該線速度ごとに設定された全てのレーザパワーについて実行することにより、当該線速度条件において最小ｂＥＲまたは最大再生信号振幅が得られたレーザパワーを最適レーザパワーとして決定することができる。ｂＥＲが最小であることや、再生信号振幅が最大であることは、当該線速度条件において最も記録減磁現象および／またはクロスライト現象が抑制されていることを意味する。そして、同一線速度条件下でのこのような最適レーザパワーの決定を、設定される全ての線速度について行うことにより、設定される複数の線速度に対応する一組の最適レーザパワーを決定することができる。以上のようにして、本発明の第１および第２の側面の熱アシスト磁気記録方法において採用する複数のレーザパワー条件を適切に決定することが可能である。

図１は、本発明に係る熱アシスト磁気記録方法と試験記録再生方法とを実施することのできる磁気ディスク１０およびスライダ２０を表す。

磁気ディスク１０は、ディスク基板１１と、記録磁性膜１２と、保護膜１３とを含む積層構造を有し、熱アシスト磁気記録方式による情報記録と情報再生とを実行可能な磁気記録媒体として構成されている。ディスク基板１１は、主に、磁気ディスク１０の剛性を確保するための部位であり、例えば、アルミニウム合金基板、ガラス基板、または樹脂基板である。記録磁性膜１２は、垂直磁化膜または面内磁化膜よりなり、磁気ディスク１０において情報が記録される記録面を構成する。この記録面には、同心円状の複数のトラックが磁気的に構成されている。このような記録磁性膜１２は、例えば、Ｃｏ合金、Ｆｅ合金、または希土類遷移金属アモルファス合金よりなる。保護層１３は、記録磁性膜１２を外界から物理的および化学的に保護するためのものであり、例えば、ＳｉＮ、ＳｉＯ₂、またはダイアモンドライクカーボンよりなる。磁気ディスク１０は、必要に応じて他の膜を含んでもよい。このような磁気ディスク１０は、図外のスピンドルモータに支持され、スピンドルモータが回転駆動することによって矢印Ｄ方向に回転される。スピンドルモータの回転駆動は、所定の制御部からの制御信号に基づいて制御される。

スライダ２０は、スライダボディ２１と、集光レンズ２２と、記録用磁気ヘッド２３と、再生用磁気ヘッド２４とを備え、磁気ディスク１０の情報記録時および情報再生時に磁気ディスク１０に対向して浮上配置される。スライダボディ２１は、回転中の磁気ディスク１０においてスライダ２０に対向する箇所の線速度が所定以上であるときに、磁気ディスク１０ないし保護層１３とスライダ２０との間に気体潤滑膜を生じさせるための所定の形状を有する。また、スライダボディ２１は、その媒体対向側に所定のレーザ出射部２１ａを有し、図外の光源から発せられて集光レンズ２２を通過したレーザＬがレーザ出射部２１ａから出射可能に構成されている。集光レンズ２２は、レーザＬを集束させるためのものである。磁気ヘッド２３は、記録磁性膜１２に対して所定の記録磁界Ｈｒを印加するためのものであり、磁界発生用の電流を流すためのコイルと、発生磁界を強い磁界に変換するための磁極とからなる。磁気ヘッド２４は、記録磁性膜１２の磁化状態に由来する磁気信号を検知して電気信号に変換するためのものであり、例えばＧＭＲ素子やＭＲ素子よりなる。このようなスライダ２０は、板バネ状のサスペンションアーム（図示略）を介して図外のアクチュエータに連結されている。サスペンションアームは、スライダ２０に対し、磁気ディスク１０に向けて付勢力を作用させるためのものである。アクチュエータは、例えばボイスコイルモータにより構成されている。

本発明の熱アシスト磁気記録方法においては、磁気ディスク１０の記録面（記録磁性膜１２により構成される）を、例えば図２に示すように、同心円状の複数のゾーン（円環領域）Ｚ₁〜Ｚ₁₀に区分しておく。ゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀の各々は複数のトラック（図２において図示せず）を含む。ゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀の各々の範囲の一例を、ディスク半径位置（ディスク径方向における１次元的な位置であって、磁気ディスク１０の回転中心Ｏからの距離）により図３の表に示す。また、本熱アシスト磁気記録方法では、図３に示すように、ゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀に対してレーザＬのレーザパワーＰ₁〜Ｐ₁₀を設定しておく。レーザパワーＰ₁〜Ｐ₁₀は、Ｐ₁＜Ｐ₂＜Ｐ₃＜Ｐ₄＜Ｐ₅＜Ｐ₆＜Ｐ₇＜Ｐ₈＜Ｐ₉＜Ｐ₁₀の関係を有する。レーザパワーＰ₁〜Ｐ₁₀は例えば１〜１０ｍＷの範囲に含まれる。

回転速度一定で磁気ディスク１０を回転させつつ所定の一のトラックに対して熱アシスト磁気記録方式で記録マークを形成する場合、当該トラックのディスク半径位置に応じて記録マーク形成予定箇所の線速度（ないしレーザ照射時間）は異なるところ、本発明の熱アシスト磁気記録方法では、レーザＬの照射による記録磁性膜１２の昇温領域の最高到達温度の相異を抑制して最高到達温度を一様化し且つ所定温度以上の昇温範囲の広さの相異を抑制して当該昇温範囲の広さを一様化するように、ゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀の各々の平均線速度の相異に応じて、適切な強さのレーザパワーＰ₁〜Ｐ₁₀を設定しておくのである。具体的には、内側のゾーンほどその平均線速度は低いので、より内側のゾーンに対して、より弱いレーザパワーを設定しておく。

本発明の熱アシスト磁気記録方法による情報記録に際しては、磁気ディスク１０を所定の一定速度で回転させる。回転速度は例えば４２００〜１００００ｒｐｍである。これにより、磁気ディスク１０とスライダ２０との間に気体潤滑膜が生じ、スライダ２０は、磁気ディスク１０に対して浮上配置されることとなる。そして、スライダ２０に搭載されている集光レンズ２２を通ってレーザ出射部２１ａから出射されるレーザＬを磁気ディスク１０の記録面（記録磁性膜１２）に照射し続ける。本方法では、情報記録が実行されるゾーン（記録マーク形成予定箇所が含まれるゾーン）の種類（ゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀）に応じてレーザパワーＰ₁〜Ｐ₁₀を選択したうえで当該レーザ照射を行う。これとともに、本方法では、スライダ２０に搭載されている磁気ヘッド２３により、一定強度の記録磁界を記録磁性膜１２に対して印加する。記録磁界強度は例えば４〜５ｋＯｅである。また、磁気ディスク１０を回転させた状態で磁気ヘッド２３からの記録磁界の向きを順次反転させることにより、記録磁性膜１２において、磁化方向が順次反転する複数の磁区（記録マーク）を磁気ディスク１０の周方向ないしトラック延び方向に連ねて形成する。このとき、記録磁界方向を反転させるタイミングを制御することにより、各々に所定の長さで記録マークを形成する。このようにして、記録磁性膜１２において、磁化方向の変化として所定の信号ないし情報を記録する。

本熱アシスト磁気記録方法においては、記録磁性膜１２におけるレーザ照射予定箇所（記録マーク形成予定箇所）が含まれるゾーンの種類（ゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀）に応じて適当なレーザパワーＰ₁〜Ｐ₁₀を選択してレーザ照射を行うことにより、記録磁性膜１２の最外のゾーンＺ₁₀から最内のゾーンＺ₁にわたって、情報記録時における記録磁性膜１２の昇温領域の最高到達温度の相異を抑制して最高到達温度を一様化することができ、また、所定温度以上の昇温範囲の広さの相異を抑制して当該昇温範囲の広さを一様化することができる。最高到達温度を適切な温度で一様化することにより、最高到達温度が不当に高まることに起因する記録減磁現象を回避または充分に抑制することが可能である。これとともに、所定温度以上の昇温範囲を適切な広さで一様化することにより、所定温度以上の昇温範囲が不当に広がることに起因するクロスライト現象を回避または充分に抑制することが可能である。したがって、本熱アシスト磁気記録方法によると、記録減磁現象やクロスライト現象を回避ないし充分に抑制しつつ、適切に各記録マークを形成することができるのである。このような熱アシスト磁気記録方法は、磁気記録媒体の高記録密度化に適している。

本発明の熱アシスト磁気記録方法においては、磁気ディスク１０の記録面を区分するゾーンの数を増大し、設定されるレーザパワーの数を増大するほど、情報記録時における記録磁性膜１２の昇温領域の最高到達温度の相異をより抑制して最高到達温度をより一様化するうえで、また、所定温度以上の昇温範囲の広さの相異をより抑制して当該昇温範囲の広さをより一様化するうえで、好適である。

図４は、上述の熱アシスト磁気記録方法で採用するレーザパワー条件（レーザパワーＰ₁〜Ｐ₁₀）を決定するための第１の試験記録再生方法のフローチャートである。本試験記録再生方法では、磁気ディスク１０の記録面（記録磁性膜１２）におけるゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀に、各々、図５に示すようにテストエリアＡ₁〜Ａ₁₀を設定しておく。テストエリアＡ₁〜Ａ₁₀には、各々、図６に示すように３本のトラックＴ１〜Ｔ３が含まれる。本方法におけるトラックＴ１は、ゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀の各々において、ディスク半径方向中央に位置する。すなわち、トラックＴ１のディスク半径位置は、ゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀の各々の平均ディスク半径位置である。また、テストエリアＡ₁〜Ａ₁₀には、各々、複数のレーザパワー条件を対応させて予め設定しておく。テストエリアごとの複数のレーザパワー条件は、例えば１〜１０ｍＷの範囲で設定され、全てのテストエリアＡ₁〜Ａ₁₀に対して同じ一組のレーザパワー条件を設定してもよいし、異なるテストエリアに対しては異なる一組のレーザパワー条件を設定してもよい。

本試験記録再生方法では、まず、ステップＳ１において、テストエリアＡ₁〜Ａ₁₀から選択した所定のテストエリアＡｘのトラックＴ１上に、アクチュエータの駆動によりスライダ２０を移動させる。

次に、ステップＳ２において、次の試験記録工程における照射レーザＬのパワーを選択する。具体的には、テストエリアＡｘに対して予め設定されている複数のレーザパワーから一のレーザパワーＰｘを選択する。

次に、ステップＳ３において、テストエリアＡｘにてレーザパワーＰｘの条件で試験記録工程を実行する。具体的には、まず、磁気ディスク１０を所定の一定速度で回転させて磁気ディスク１０上にスライダ２０を浮上配置させた状態で、レーザパワーＰｘのレーザＬをトラックＴ１に照射して当該トラックＴ１を局所的に順次昇温させつつ、当該昇温領域に対して所定強度および所定周波数の記録磁界Ｈｒを印加することにより、トラックＴ１の一周にわたって第１記録マーク群を形成する。磁気ディスク１０の回転速度は、本試験記録再生方法を通じて、上述の熱アシスト磁気記録方法における回転速度と同一速度に設定する。第１記録マーク群は、線記録密度が例えば８００ｋＦＣＩの一定マーク長の記録マークよりなる。このようにして第１記録マーク群をトラックＴ１に形成した後、磁気ディスク１０を同一速度で回転させたまま磁気ディスク１０上にスライダ２０を浮上配置させた状態で、トラックＴ１の隣りのトラックＴ２に対してレーザパワーＰｘのレーザＬを照射して当該トラックＴ２を局所的に順次昇温させつつ、当該昇温領域に対して所定強度および所定周波数の記録磁界Ｈｒを印加することにより、トラックＴ２の一周にわたって第２記録マーク群を形成する。これに続いて、第２記録マーク群を形成したのと同様に、トラックＴ３の一周にわたって第３記録マーク群を形成する。第２および第３記録マーク群は、線記録密度が例えば１００ｋＦＣＩの一定マーク長の記録マークよりなる。以上のようにして、テストエリアＡｘにおけるレーザパワーＰｘの条件での試験記録工程を実行する。

次に、ステップＳ４において、上述の試験記録工程を経たテストエリアＡｘのトラックＴ１ついて再生工程を実行する。具体的には、上述のようにして第１記録マーク群が形成されたテストエリアＡｘのトラックＴ１について、スライダ２０の磁気ヘッド２４により、第１記録マーク群に由来する磁気信号を測定する。そして、本ステップでは、測定された磁気信号と、記録時（第１記録マーク群の形成時）の磁気信号とを比較することにより、記録時の磁気信号に対する再生時の磁気信号の誤り率をビットエラーレート（ｂＥＲ）として求める。第１記録マーク群に由来する磁気信号を測定した後、トラックＴ１〜Ｔ３の第１〜第３記録マーク群を消去する。

テストエリアＡ₁〜Ａ₁₀から選択した一のテストエリアＡｘについて、以上のステップＳ３，Ｓ４を、当該テストエリアＡｘに対して設定された複数のレーザパワー条件の全てにおいて実行するまで、ステップＳ５ではステップＳ２に戻り、ステップＳ３，Ｓ４を繰り返す。このようにして、テストエリアＡｘについて、設定された全てのレーザパワー条件でのｂＥＲを求める。そして、一のテストエリアＡｘについてレーザパワー条件ごとに求めた複数のｂＥＲのうち最も値の小さいｂＥＲが得られたレーザパワー条件を、当該テストエリアＡｘでの最適レーザパワー条件として決定する。ｂＥＲが最小であることは、当該最小ｂＥＲが得られたレーザパワー条件が、当該テストエリアＡｘについて設定されている複数のレーザパワー条件のなかで、記録減磁現象および／またはクロスライト現象を抑制するうえで最適であることを意味する。この後、ステップＳ５からステップＳ６に進む。

一のテストエリアＡｘについてのステップＳ２〜Ｓ５を通しての最適レーザパワー条件の決定を、複数のテストエリアＡ₁〜Ａ₁₀の全てにおいて実行するまで、ステップＳ６ではステップＳ１に戻り、ステップＳ２〜Ｓ５を繰り返す。このようにして、全てのテストエリアＡ₁〜Ａ₁₀について、最適レーザパワー条件を決定することができる。

決定された一組の最適レーザパワー条件は、上述の熱アシスト磁気記録方法においてゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀に対して設定されるレーザパワー条件（レーザパワーＰ₁〜Ｐ₁₀）として採用することができる。また、以上の試験記録再生方法においては、テストエリアＡ₁〜Ａ₁₀のトラックＴ１ごとに線速度が異なるところ、テストエリアＡ₁〜Ａ₁₀ごとの最適レーザパワー条件は、当該線速度ごとの最適レーザパワー条件に相当する。

図７は、上述の熱アシスト磁気記録方法で採用するレーザパワー条件（レーザパワーＰ₁〜Ｐ₁₀）を決定するための第２の試験記録再生方法のフローチャートである。本試験記録再生方法では、磁気ディスク１０の記録面（記録磁性膜１２）におけるゾーンＺ₁₀の最外周に、図８に示すようにテストエリアＡを設定し、このテストエリアＡにおいて後述の試験記録工程や再生工程を実行する。テストエリアＡには、図６に示すように３本のトラックＴ１〜Ｔ３が含まれる。本方法では、トラックＴ１について１０種の異なる線速度Ｒ₁〜Ｒ₁₀が実現されるように、磁気ディスク１０について１０種の回転速度を設定しておく。トラックＴ１についての当該１０種の線速度Ｒ₁〜Ｒ₁₀は、磁気ディスク１０の回転速度を上述の熱アシスト磁気記録方法における回転速度と同一に設定した場合の、ゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀の各々の平均ディスク半径位置における１０種の線速度Ｒ₁〜Ｒ₁₀（ゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀の平均線速度）である。また、トラックＴ１の線速度Ｒ₁〜Ｒ₁₀には、各々、複数のレーザパワー条件を対応させて予め設定しておく。線速度ごと複数のレーザパワー条件は、例えば１〜１０ｍＷの範囲で設定され、全ての線速度Ｒ₁〜Ｒ₁₀に対して同じ一組のレーザパワー条件を設定してもよいし、異なる線速度に対しては異なる一組のレーザパワー条件を設定してもよい。

本試験記録再生方法では、まず、ステップＳ１において、後述の試験記録工程におけるトラックＴ１の線速度Ｒｘを、線速度Ｒ₁〜Ｒ₁₀から選択する。

次に、ステップＳ２において、次の試験記録工程における照射レーザＬのパワーを選択する。具体的には、線速度Ｒｘに対して予め設定されている複数のレーザパワーから一のレーザパワーＰｘを選択する。

次に、ステップＳ３において、テストエリアＡにて線速度ＲｘおよびレーザパワーＰｘの条件で試験記録工程を実行する。具体的には、まず、トラックＴ１の線速度が線速度Ｒｘとなるように磁気ディスク１０を一定速度で回転させて磁気ディスク１０上にスライダ２０を浮上配置させた状態で、レーザパワーＰｘのレーザＬをトラックＴ１に照射して当該トラックＴ１を局所的に順次昇温させつつ、当該昇温領域に対して所定強度および所定周波数の記録磁界Ｈｒを印加することにより、トラックＴ１の一周にわたって第１記録マーク群を形成する。第１記録マーク群は、線記録密度が例えば８００ｋＦＣＩの一定マーク長の記録マークよりなる。このようにして第１記録マーク群をトラックＴ１に形成した後、磁気ディスク１０を同一速度で回転させたまま磁気ディスク１０上にスライダ２０を浮上配置させた状態で、トラックＴ１の隣りのトラックＴ２に対してレーザパワーＰｘのレーザＬを照射して当該トラックＴ２を局所的に順次昇温させつつ、当該昇温領域に対して所定強度および所定周波数の記録磁界Ｈｒを印加することにより、トラックＴ２の一周にわたって第２記録マーク群を形成する。これに続いて、第２記録マーク群を形成したのと同様に、トラックＴ３の一周にわたって第３記録マーク群を形成する。第２および第３記録マーク群は、線記録密度が例えば１００ｋＦＣＩの一定マーク長の記録マークよりなる。以上のようにして、線速度ＲｘおよびレーザパワーＰｘの条件での試験記録工程を実行する。

次に、ステップＳ４において、上述の試験記録工程を経たテストエリアＡのトラックＴ１ついて再生工程を実行する。具体的には、上述のようにして第１記録マーク群が形成されたテストエリアＡのトラックＴ１について、スライダ２０の磁気ヘッド２４により、第１記録マーク群に由来する磁気信号を測定する。そして、本ステップでは、測定された磁気信号と、記録時（第１記録マーク群の形成時）の磁気信号とを比較することにより、記録時の磁気信号に対する再生時の磁気信号の誤り率をビットエラーレート（ｂＥＲ）として求める。第１記録マーク群に由来する磁気信号を測定した後、トラックＴ１〜Ｔ３の第１〜第３記録マーク群を消去する。

線速度Ｒ₁〜Ｒ₁₀から選択した一の線速度Ｒｘについて、以上のステップＳ３，Ｓ４を、当該線速度Ｒｘに対して設定された複数のレーザパワー条件の全てにおいて実行するまで、ステップＳ５ではステップＳ２に戻り、ステップＳ３，Ｓ４を繰り返す。このようにして、線速度Ｒｘについて、設定された全てのレーザパワー条件でのｂＥＲを求める。そして、一の線速度Ｒｘについてレーザパワー条件ごとに求めた複数のｂＥＲのうち最も値の小さいｂＥＲが得られたレーザパワー条件を、当該線速度Ｒｘでの最適レーザパワー条件として決定する。ｂＥＲが最小であることは、当該最小ｂＥＲが得られたレーザパワー条件が、当該線速度Ｒｘについて設定されている複数のレーザパワー条件のなかで、記録減磁現象および／またはクロスライト現象を抑制するうえで最適であることを意味する。この後、ステップＳ５からステップＳ６に進む。

一の線速度ＲｘについてのステップＳ２〜Ｓ５を通しての最適レーザパワー条件の決定を、複数の線速度Ｒ₁〜Ｒ₁₀の全てにおいて実行するまで、ステップＳ６ではステップＳ１に戻り、ステップＳ２〜Ｓ５を繰り返す。このようにして、全ての線速度Ｒ₁〜Ｒ₁₀について、最適レーザパワー条件を決定することができる。

決定された一組の最適レーザパワー条件は、上述の熱アシスト磁気記録方法においてゾーンＺ₁〜Ｚ₁₀に対して設定されたレーザパワー条件（レーザパワーＰ₁〜Ｐ₁₀）として採用することができる。本方法によると、一つのテストエリアＡのみを利用して複数の最適レーザパワー条件を決定することができるので、本方法は、磁気ディスク１０の高容量化の観点からは好ましい。

上述の第１および第２の試験記録再生方法のステップＳ３（試験記録工程）では、第１〜第３記録マーク群はいずれもトラック一周にわたって形成されているが、トラック一周を複数に区分して、その区分ごとに試験記録条件（レーザーパワーや線速度）を変化させることにより、トラック一周内にて複数の試験記録工程を同時的に実行してもよい。このような手法を採用する場合、当該複数の試験記録工程に対応する複数の再生工程は当該複数の試験記録工程の後に同時的に実行する。このような手法は、試験記録再生方法の効率化を図るうえで好ましい。

また、上述の第１および第２試験記録再生方法のステップＳ４では、最適レーザパワーの決定に際してｂＥＲを利用しているが、ｂＥＲに代えて再生信号振幅を利用してもよい。再生信号振幅を利用した手法では、具体的には、テストエリアＡｘまたは線速度Ｒｘについて、設定された全てのレーザパワー条件での再生信号振幅を測定し、一のテストエリアＡｘまたは線速度Ｒｘについてレーザパワー条件ごとに測定した複数の再生信号振幅のうち最大のものが得られたレーザパワー条件を、当該テストエリアＡｘまたは線速度Ｒｘでの最適レーザパワー条件として決定する。再生信号振幅が最大であることは、当該最大再生信号振幅が得られたレーザパワー条件が、当該テストエリアＡｘまたは線速度Ｒｘについて設定されている複数のレーザパワー条件のなかで、記録減磁現象および／またはクロスライト現象を抑制するうえで最適であることを意味する。

本発明に係る熱アシスト磁気記録方法および試験記録再生方法を実施するための磁気ディスクおよびスライダを表す。磁気ディスクの記録面におけるゾーン区分を表す。本発明の熱アシスト磁気記録方法において設定される、ゾーン（円環領域）の種類、ゾーンの範囲、およびレーザパワーの関係をまとめた表である。本発明の第１の試験記録再生方法のフローチャートである。第１の試験記録再生方法におけるテストエリアを表す。一のテストエリアの部分拡大図である。本発明の第２の試験記録再生方法のフローチャートである。第２の試験記録再生方法におけるテストエリアを表す。

符号の説明

１０磁気ディスク
１２記録磁性膜
２０スライダ
２３，２４磁気ヘッド
Ｌレーザ
Ｈｒ記録磁界
Ｚ₁〜Ｚ₁₀，Ｚｘゾーン
Ａ₁〜Ａ₁₀，Ａｘ，Ａテストエリア
Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３トラック
Ｒ₁〜Ｒ₁₀，Ｒｘ線速度

Claims

記録磁性膜を有する磁気記録媒体を回転軸心まわりに回転させ、前記記録磁性膜にレーザを照射して当該記録磁性膜を局所的に順次昇温させつつ当該昇温領域に記録磁界を印加することにより、前記記録磁性膜における第１トラックに沿って第１記録マーク群を形成し、前記第１トラックと隣り合う第２トラックに沿って第２記録マーク群を形成し、且つ、前記第２トラックとは反対の側で前記第１トラックと隣り合う第３トラックに沿って第３記録マーク群を形成するための、試験記録工程と、
前記第１トラックに形成された第１記録マーク群に由来する磁気信号を測定するための再生工程と、を含み、
前記試験記録工程における前記第１トラックについて複数の線速度を設定し、前記試験記録工程において前記記録磁性膜に照射する前記レーザについて前記線速度ごとに複数のレーザパワーを設定し、前記試験記録工程および前記再生工程を、当該複数の線速度と当該複数のレーザパワーとの全ての組合せで実行する、試験記録再生方法。