JP4316818B2 - 光散乱測定プローブ - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試料に光を照射し、散乱体積内から散乱される光を検出することにより光散乱測定を行う光散乱測定プローブに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
光散乱測定装置は、流体中に存在する粒子の動き(ブラウン運動)に起因する散乱光強度の揺らぎ(時間変化)を測定することにより、粒子の拡散係数や流体力学的な大きさを求めるための装置である。
従来の光散乱測定装置では、試料流体の入った円筒形や直方体のセルに、レーザ光を、レンズを介して照射し、試料から出てくる散乱光を、ピンホール等で観測体積を制限された受光光学系を通して、フォトマルチプライヤ等の光検出器で測定していた。
【0003】
この従来の光散乱測定装置では、セル内の試料流体の光路長が長いので、溶液の粒子濃度が高くなると、セル内で散乱光による散乱(多重散乱)が起こり、正確な散乱光の情報を測定することができない。
そこで、入射光ファイバと受光ファイバとの端面同士を、セル内で、所定角度で対向させ、しかも端面同士の距離を近接させた光散乱測定プローブの構造が提案されている(R.R.Khan, H.S.Dhadwal, and K.Suh, Applied Optics 33(25), 1994)。この光散乱測定プローブを使えば、観測体積を小さくでき、多重散乱の問題を避けることができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
前記の光散乱測定プローブでは、入射光ファイバの端面と受光ファイバの端面に、それぞれ、光ファイバーの焦点を目的の位置に合わせるための微小なレンズ(グレーデッドインデックスファイバーを含む)を配置している。このため、光ファイバーやレンズの位置関係に高い精度が要求され、実用レベルの製品としての品質確保が困難となる。
【0005】
そこで、光ファイバのクラッドを露出するか、削り込むことにより、光ファイバのコアの端面同士の距離をできるだけ短くして、多重散乱の影響をなくす発明が提案されている(国際公開WO00/31514)。
ところが、単にクラッドを露出したのでは、強度が保てない、位置調整が困難、クラッドから光が漏れる、などの問題があった。
そこで、本発明は、製造が容易で、精度のよい、かつ信頼性の高い散乱光強度測定を行うことのでき、光散乱測定プローブを実現することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段及び発明の効果】
本発明の光散乱測定プローブは、試料の散乱体積に照射する光を伝播するための入射用光ファイバと、前記散乱体積からの散乱光を集めて伝搬するための散乱光測定用光ファイバとが装着され、両光ファイバの先端部にそれぞれフェルールが被せられ、各フェルールの先端は、光ファイバのコアを含む先端面の一部又は全部を残して円錐台形にカットされており、両光ファイバの先端面同士が所定距離離れて所定角度で対向するように、前記フェルールが、光散乱測定プローブに保持され、両光ファイバの先端面同士の角度及び距離は、フェルールを介して、調節部材により調節可能にされているものである。
【0007】
前記の構成によれば、両光ファイバの先端部にフェルールが被せられ、当該フェルールの先端は、両光ファイバの先端面の一部又は全部を残して円錐台形にカットされている。
したがって、光ファイバの先端部の強度が少なくても、フェルールにより強度を補い、保護することができる。また、両光ファイバの先端面同士の距離、角度は、フェルールを保持することによって、容易に保つことができる。クラッドからの光の漏れも、フェルールによって防ぐことができる。
【0008】
さらに、フェルールの先端を円錐台形に斜めカットすることにより、両光ファイバの先端に試料流体の気泡がつきにくくなる。また、斜めカットしない場合と比べて、両光ファイバの先端面同士の距離を縮めることができる。また前記両光ファイバの先端面同士の角度及び距離は、フェルールを介して、調節部材により調節することにより、散乱体積を所望の大きさに調整することができる。例えば前記フェルールを約90度の角度で向かい合うようにすることができる。
【0009】
光ファイバは、シングルモード光ファイバであることが好ましい。これにより、よりコヒーレンスのよい条件で測定ができる。
【0010】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、光散乱測定プローブ3を含む測定システムの全体構成図である。レーザ装置1から照射された光は、レンズ2で絞られ、入射用光ファイバ4に入射される。入射用光ファイバ4の先は光散乱測定プローブ3に結合されている。光散乱測定プローブ3は、試料液体hを満たしたセル5に挿入され、光散乱測定プローブ3からレーザ光が試料に照射される。
【0011】
試料からの散乱光は、光散乱測定プローブ3で受光され、光散乱測定プローブ3から散乱光測定用光ファイバ6を通して、フォトマルチプライヤ等の受光素子7に入り、受光素子7において時系列データが測定される。そして、図示しない処理回路において、そのデータの自己相関係数が計算され、粒子サイズ等が求められる。
入射用光ファイバ4、散乱光測定用光ファイバ6は、シングルモード光ファイバであることが、光のコヒーレンスを保つ上から、好ましい。
【0012】
図2は、光散乱測定プローブ3の正面図(a)および中心線で切った側断面図(b)を示す。上方向をy,正面方向をz、側方向をxで示している。
光散乱測定プローブ3は、筒状の胴部61と、胴部61に結合される先端部62とを有している。胴部61から先端部62にかけて、入射用光ファイバ4および散乱光測定用光ファイバ6が挿通されている。胴部61、先端部62は金属、あるいは樹脂で形成することができる。
【0013】
先端部62の一面には、凹部63が形成されていて、入射用光ファイバ4は、この凹部63に形成された縦孔64から飛び出し、散乱光測定用光ファイバ6は、この凹部63に形成された横孔65から覗いている。
そして、当該飛び出した入射用光ファイバ4の先端部に円筒形フェルール66が被せられ、散乱光測定用光ファイバ6にフェルール67が被せられている。図2では、フェルール66は一部断面示し、フェルール67は全部断面示している。
【0014】
フェルール66は、箱状の支持体70に設けられた孔を貫通している。フェルール66,67は、互いに約90°の角度で向かい合っている(図5も参照)。測定する散乱体積は、図5に符号Vで示している。
支持体70の正面と側面及び先端部62の底面には、後に詳しく説明するように、光ファイバ4,6の投光、受光の位置を調節するための「調節部材」としての調節ねじ71〜74が設けられている。
【0015】
図3は、フェルール66,67の詳細構造を示す断面図である。フェ−ルール66,67は、ジルコニア等のセラミック製で、円筒形をしている。
入射用光ファイバ4又は散乱光測定用光ファイバ6は、クラッド部分4a,6aが露出される。フェ−ルール66,67の中心線に沿って、この露出部分を挿入する細い穴66a,67aが設けられている。さらに、フェ−ルール66,67の基端には、入射用光ファイバ4又は散乱光測定用光ファイバ6の被覆部分を挿入し止める太い孔66a,67aが設けられている。
【0016】
フェ−ルール66,67の先端は、両光ファイバ4,6の先端面4b,6bの一部又は全部を残して円錐台形に研磨されている(図3(b)参照)。研磨は、クラッド部分4a,6aまで及んでいてもよく、及んでいなくてもよい。しかし、残された先端面4b,6bには、両光ファイバ4,6の光が伝播するコア部分が必ず含まれている必要がある。
この斜め研磨により、両光ファイバ4,6の先端面4b,6b同士を十分に近づけることができる。また、先端面4b,6bに試料液体の気泡が付きにくくなり、測定の信頼度を向上させることができる。
【0017】
次に、両光ファイバ4,6の先端面4b,6bの位置関係を調節する機構を図4、図5を用いて説明する。
図4は、先端部62の凹部63に配置された支持体70等を示す斜視図であり、図5は、A−A線階段断面図である。
支持体70には、支持体70を、先端部62の凹部63に固定するための固定ねじ72が挿通されている。さらに、ねじを緩めた後締め付けることにより、フェ−ルール66及び入射用光ファイバ4をy軸方向に移動調整する調整ねじ71が設けられている。
【0018】
また、支持体70をx軸方向に移動調整する調整ねじ73が設けられている。なお、調整ねじ73で支持体70をx軸方向に移動調整する場合は、固定ねじ72を先に緩めておいて、調整ねじ73で調整し、その後固定ねじ72を締め付けることにより行う。このため、固定ねじ72のねじ孔には、若干の遊びがある。一方、先端部62の底面には、ねじを緩めた後締め付けることにより、フェ−ルール67及び散乱光測定用光ファイバ6のz方向の位置を調節する調整ねじ74が設けられる。
【0019】
以上のねじ71,73,74を回転調節することにより、入射用光ファイバ4の先端面4bと、散乱光測定用光ファイバ6の先端面6bとの対向角度、距離を微妙に調整することができる。
以上の構成の光散乱測定プローブ3を試料液体hに浸け、入射用光ファイバ4にレーザ光を入射すると、散乱光測定用光ファイバ6を通して散乱光が出射される。この散乱光を受光素子7で検出することができる。先端を斜めにカットしたフェ−ルール66,67同士を近づけて、非常に小さな散乱体積Vを測定することができる。したがって、多重散乱による測定精度低下を防ぐことができる。
【0020】
以上で、本発明の実施の形態を説明したが、本発明の実施は、前記の形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変更を施すことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】光散乱測定プローブ3を含む測定システムの全体構成図である。
【図2】光散乱測定プローブ3の正面図(a)および側断面図(b)である。
【図3】フェルール66,67の詳細構造を示す断面図である。(a)はカット前の状態を示し、(b)はカット後の状態を示す。
【図4】先端部62の凹部63に配置された支持体70等を示す斜視図である。
【図5】図4のA−A線階段断面図である。
【符号の説明】
1 レーザ装置
2 レンズ
3 光散乱測定プローブ
4 入射用光ファイバ
5 セル
6 散乱光測定用光ファイバ
7 受光素子
61 胴部
62 先端部
63 凹部
64,65 孔
66,67 フェルール
70 支持体
71〜74 調節ねじ

Claims (3)

  1. 試料に光を照射し、散乱体積内から散乱される光を検出することにより光散乱測定を行う光散乱測定プローブであって、
    光散乱測定プローブに、試料の散乱体積に照射する光を伝播するための入射用光ファイバと、前記散乱体積からの散乱光を集めて伝搬するための散乱光測定用光ファイバとが装着され、
    両光ファイバの先端部にそれぞれフェルールが被せられ、
    各フェルールの先端は、光ファイバのコアを含む先端面の一部又は全部を残して円錐台形にカットされており、
    両光ファイバの先端面同士が所定距離離れて所定角度で対向するように、前記フェルールが、光散乱測定プローブに保持され
    両光ファイバの先端面同士の角度及び距離は、フェルールを介して、調節部材により調節可能にされていることを特徴とする光散乱測定プローブ。
  2. 前記フェルールは約90度の角度で向かい合っていることを特徴とする請求項1記載の光散乱測定プローブ。
  3. 前記光ファイバは、シングルモード光ファイバであることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の光散乱測定プローブ。
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