JP4293484B2 - 測量器用光反射装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、測量器に使用される光反射装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来の光反射装置は、支持体に一枚の平面鏡ないし同じ作用をするコーナーキューブを所定の角度を付けて取付けてなるものであった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来のものは、指向性のある平面鏡ないしコーナーキューブのみから構成されていたため、これを目標点に設置する際には、平面鏡の向きを調節して目標点に設置する必要があり、光反射装置の設置作業に手数及び熟練を要する欠点があった。特に平面多角形の測量において距離を計測して新たな目標点を決める場合には、平面鏡の向きを投光機側に向ける作業とこれを移動させる作業との双方を必要とし、上記欠点が顕著となる。さらに、周囲長測定、面積測量等、複数の目標点が存在する場合には、光反射装置と投光器を有する測量器本体部とを順次複数の目標点に移動させて測量せねばならず、手数及び労力を要するとともに、高精度の測量ができない欠点があった。本発明は、凸面反射器と、指向性の平面反射器とを組合せることにより、上記欠点を解消した新規な測量器用光反射装置を得ることを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するために以下の如く構成したものである。即ち、請求項1に係る発明は、任意の角度において投光側から受けた光線の少なくとも一部を該投光側に向けて反射する球面鏡からなる第1反射器と、投光側から受けた光線を所定方向に向けて反射する指向性を有し、前記第1反射器を通る上下軸心を中心として回転可能であり、かつ前記上下軸心と直交する水平軸心を中心として回転可能とされた平面性の第2反射器とを上下に配置し、前記第2反射器を上下軸心を中心として回転させる縦軸回転装置と、水平軸心を中心として回転させる横軸回転装置とを設ける構成にしたものである。
また、請求項2に係る発明は、前記第1反射器を球面鏡にするとともに、その上部を遮光材で被覆するようにしたものである。
【0005】
【発明の実施の形態】
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。図において、図1は、本発明の基本概念を示す簡略化した説明図である。典型的には、球面鏡(第1反射体)5と平面鏡(第2反射体)8とが同一鉛直軸を共有する構造の反射装置1となっている。一般に光波測量は、測量機から発した光線が平面鏡により反射されて、もとの測量機本体へ戻ることによって、二点間線分長さの計測をひとつの作業単位として成り立つ。しかし、平面図形の測量、あるいは地上に予定された図形を描くなどの場合には、上記作業単位を繰り返すことになり、その手間は複数の作業工程の組合せに従って加速的に増加する。
【0006】
本発明は、このような複雑な測量工程に適応すべくなされたものである。即ち、二点間の測量にとどまらず、三点間など、二次元平面図形の輪郭に沿って屈折した辺長を測量すべく発明された。その手順を述べれば、まず測量機から第1反射装置までの距離は、測量機から発した光線を球面鏡に照射させることによって測量できる。続いて別の第2予定地点に同種の第2光反射装置を設置する。第2光反射装置には、第1光反射装置のうち平面鏡を介して光線が到達するので、これをガイドとして第2光反射装置のうちの球面鏡に照射させることにより、測量機方向に光を戻すことができ、これによって第1光反射装置経由第2光反射装置までの屈折光総延長をそのままで測定しうる。
【0007】
屈折光路が完成したので、それをガイドとして第1光反射装置の平面鏡を回転し、球面鏡と交代反射させれば、より強い光を回帰させることができる。また、回転角から屈折直線の夾角を求めることができる。また、高低差を測量するために平面鏡を水平軸のまわりに回転させる機構も必要とする。これらは図示しないが必要なものである。
【0008】
これらの際、光反射点の鉛直軸からのオフセットがあると距離誤差を生ずるが、これはオフセット量が既知なので補正することができる。さらに次段の反射装置を設置して、もう一度屈折させた光の光路長を測定できることは上記の説明から明らかである。また、閉じた図形輪郭の総延長が測量できることは、再計算誤差チェックに有効である。また、予定図面をグランド上に描く場合には、上記の利点がなお顕著になり、作業の手戻りが少なくてすむことになる。
【0009】
このような発明の実施例をさらに具体的に開示すれば次のようになる。図2は本発明の第1実施例を示す側面図、図2は図1のII-II 断面図、図3は第1実施例による縦軸回転装置の作動状態を示す側面図、図5は第1実施例による横軸回転装置の作動状態を示す側面図、図6は本発明の第2実施例を示す側面図、図7は本発明の第3実施例を示す側面図、図8は図7の平面図、図9は第1の使用例を示す説明図、図10は第2の使用例を示す説明図である。
【0010】
図2において、1(1−1)は光反射装置、2はそのフレームである。このフレーム2は、金属製の板材を前部側(図2において右部)が開口する側面視コ字状に折り曲げてなり、該フレーム2の上部辺2aに第1反射器5を載置し、接着剤、あるいは小ねじ等により上記上部辺2aに固定する。この第1反射器5は、表面を鏡面に仕上げた鋼球、あるいは鏡面処理したガラス球等の球面鏡からなり、任意の角度において投光側から受けた光線の一部を該投光側にも向けて反射する無指向性のものである。この球面鏡は、晴天時太陽光線を受けて、測量作業を妨害する迷光を発することがあるので、その上半球の適当な部分に遮光用のキャップ等で被覆することがよい。
【0011】
上記フレーム2内、つまり上部辺2a、下部辺2b、起立辺2cで囲まれた中に第2反射器8を配置し、これを回動体7を介して上記フレーム2の上部辺2aに取り付ける。回動体7は、上記フレーム2内に配置し、上下方向に延びるケース7aの上下部に上部支持板7b及び下部支持板7cを前方(図3において右方)に向けて突出固定してなり、上記ケース7aの左右両側から前方に突出させた一対のブラケット7dの前端部を、上記フレーム2の上部辺2aの左右両側から下方に垂下固定した一対の懸垂アーム3,3の下端部に支点ピン4,4を介して回動可能に連結する。この支点ピン4,4は前述した第1反射器5の中心を通る上下軸線と直交する水平軸線上に配置する。
【0012】
上記回動体7の上下部支持板7b,7cに二個一組みの平面鏡からなる指向性の第2反射器8を取り付ける。この第2反射器8は、図2に示すように、上記支点ピン4,4を通る前後方向の水平線に対して45度の角度で対称状に対面する入力反射器8−1と出力反射器8−2とからなり、入力反射器8−1は下部が45度の角度で裁断された円筒状のホルダを介して上部支持板7bに垂下固定する。一方、出力反射器8−2は上部が45度の角度で裁断された円筒状のホルダを介して下部支持板7cの上部に取り付けた伝動ケース11上に回転可能に取付ける。上記出力反射器8−2のホルダの下部にブラケット9を前方に向けて突出固定し、該ブラケット9に上記出力反射器8−2から発せられる光線を増幅するビームエキスパンダー10を取り付ける。10aは覗き窓である。なお、上記ビームエキスパンダー10は、測量機本体に取付けて、ここでは省略するようにしてもよい。
【0013】
上記入力反射器8−1及び出力反射器8−2は前述した第1反射器5の上下軸線上に配置し、出力反射器8−2は縦軸回転装置12により上記上下軸線を中心として回転される。この縦軸回転装置12は、回動体7のケース7a内にパルスモーターからなる縦軸モーター12aを設け、この縦軸モーター12aを伝動ケース11内に設けたタイミングベルト、ギア等の伝動機構12bを介して上記出力反射器8−2に連結してなり、上記縦軸モーター12aは光線の照射基点側(測量器本体部)からの遠隔操作によって回転制御されるようになっている。
【0014】
前述した回動体7は、横軸回転装置13によって支点ピン4を中心として回動される。この横軸回転装置13は、上記回動体7の下部支持板7cの下面に支点ピン4を中心とする円弧状のラック13cを取付け、前述したフレーム2の下部辺2bにパルスモーターからなる横軸モーター13aを取付け、この横軸モーター13aに取り付けたピニオンを13bを上記ラック13cに噛み合わせてなり、上記横軸モーター13aも上記縦軸モーター12aと同様に光線の照射基点側からの遠隔操作によって回転制御されるようになっている。
【0015】
上記出力反射器8−2の下部に縦軸エンコーダー14を取付け、該縦軸エンコーダー14により出力反射器8−2の上下軸心を中心とする回転角度が検出できるようにする。また、上記支点ピン4の一方に横軸エンコーダー15を取付け、該横軸エンコーダー15により第2反射器8、即ち、入力反射器8−1及び出力反射器8−2の水平軸心を中心とする回転角度が検出できるようにする。なお、図1、図2において、6はフレーム2を支持する三脚である。
【0016】
次に上記第1実施例の作動態様について説明する。まず、図2に示すように、第2反射器8が鉛直軸心上に位置し、かつ各入出力反射器8−1,8−2が共に同方向(前方)に向いている状態において、光線(レーザー光線)(ア)が水平方向前方から第1反射器5に向けて投光(照射)されると、該光線(ア)はその投光源方向(水平方向前方)に向かって反射されることになる。また、光線(イ)が水平方向前方から第2反射器8の入力反射器8−1に向けて投光されると、該光線(イ)は出力反射器8−2を介して同じくその投光源方向(水平方向前方)に向かって反射(ウ)される。
【0017】
上記状態において、図4に示すように、縦軸モーター12aを起動させて出力反射器8−2を入力反射器8−1に対して上下軸心を中心として所定角度回転させると、上記入力反射器8−1に向けて投光された光線(イ)は上記出力反射器8−2によって上記所定角度回転された方向に向かって反射(エ)されることになる。
【0018】
次に、図5に示すように、前方下方から光線(カ、キ)が照射される場合には、横軸モーター13aを起動させて回動体7を下方に回動させ、各入出力反射器8−1,8−2の縦軸回転軸心を上記光線(カ、キ)と直交させる。この状態で各入出力反射器8−1,8−2を共に上記光線(カ、キ)方向に向けると、第1反射器5に向けて投光(照射)された光線(カ)はその投光源方向(前方下方)に向かって反射されることになる。また、第2反射器8の入力反射器8−1に向けて投光された光線(キ)は出力反射器8−2を介して同じくその投光源方向(前方下方)に向かって反射(ク)される。
【0019】
上記状態において、図4と同様に、縦軸モーター12aを起動させて出力反射器8−2を入力反射器8−1に対して上下軸心(光線キと直交する上下軸心)を中心として所定角度回転させると、上記入力反射器8−1に向けて投光された光線(キ)は上記出力反射器8−2によって上記所定角度回転された方向に向かって反射(ケ)されることになる。
【0020】
図6は第2実施例を示す。1−2は光反射装置である。このものは、前述と略同様に構成された回動体7の下部支持板7cに伝動ケース11を取付け、この伝動ケース11の上部にホルダ16を回転可能に載置し、このホルダ16に一枚の平面鏡からなる第2反射器8を取り付ける。該第2反射器8は第1反射器5の上下軸心と平行に延長させるとともに、その上下中心部を支点ピン4部に位置させる。その他は前述した第1実施例と略同様の構造となっている。このようにすれば、第2反射器8の構造が第1実施例のものに比し簡素となる。
【0021】
図7、図8は第3実施例を示す、1−4は光反射装置である。このものは、三脚6に支持されるベース20の中心部に六角柱状の第2反射器8を起立固定し、該第2反射器8の上面中心部に球状の第1反射器5を固定したものである。なお、この第2反射器8は四角形、三角形あるいは不等辺多角形としてもよい。21は上記ベース20に取り付けた水準器である。この水準器21は、図示省略したが、第1、第2実施例のフレーム2にも取り付られている。また、前述した第1反射器5は、約90度の範囲の任意の位置において投光器から受けた光線を該投光器方向に向けて反射するコーナーキューブを、例えば、上下軸心を中心として回転させるか、円周方向に複数個配列し、これにより球面鏡と同様に無指向性の機能を有させるようにしてもよい。このようにすれば、強い反射光を得ることができる。
【0022】
図9は、第1、第2実施例による光反射装置1の使用例を示す。まず、境界杭等の目標点が決まっていて面積、あるいは距離を測量する場合について説明する。まず、測量器体部25を基点Aに設置し、第1〜第3目標点B,C,Dにそれぞれ第1〜第3光反射装置1a,1b,1cを設置する。この状態で測量器本体部25の照射器(投光器)25aから第1光反射装置1aの第1反射器(以下球面鏡という)5aに向けて光線(レーザー光線)L1 を照射すると、該光線L1 が上記照射器25a部に反射され、この反射光を照射器25a部に設けた受光器(図示省略)が受光し、測量器本体部25の演算部(制御部)25cで上記点AB間の距離M1 が算出及び記憶される。
【0023】
次に上記照射器25aから第1光反射装置1aの第2反射器(以下平面鏡という)8aに向けて光線(レーザー光線)L2 を照射し、この状態で縦軸モーター12a及び必要により横軸モーター13aを駆動制御して上記平面鏡8aの出力光L3 が第2の球面鏡5bに向かう如く、該平面鏡8aの向きを設定する。さすれば、上記出力光L3 が第2の球面鏡5bによって第2の平面鏡8aを介して上記照射器25a部に反射され、上記演算部25cで上記目標点ABC間の距離が算出され、さらに「(AB+BC)−(AB)」が算出及び及び記憶される。また、縦軸エンコーダー14により上記縦軸モーター12aの回転角度が検出され、目標点Bの内角が算出及び記憶される。このさい鉛直軸からのオフセット値が既知なので、計算により補正する。なお、上記横軸モーター13aは基点Aに対して各目標点B,C,Dの高さが異なる場合に駆動制御される。
【0024】
次いで、上記光線L2 を照射した状態で、第1、第2光反射装置1a,1bの縦軸モーター12a(及び横軸モーター13a)を駆動制御して第1の平面鏡8aの出力光L4 が第2の平面鏡8bに、該第2の平面鏡8bの出力光L5 が第3の球面鏡5c向かう如く、第1、第2の平面鏡8a,8bの向きを設定する。さすれば、上記出力光L5 が第3の球面鏡5cによって第2の平面鏡8b→第1の平面鏡8aを介して上記照射器25a部に反射され、演算部25cで上記目標点CD間の距離M3 が算出「(AB+BC+CD)−(AB+BC)」及び記憶される。また、縦軸エンコーダー14により上記縦軸モーター12aの回転角度が検出され、目標点Cの内角が算出及び記憶される。なお、目標点Bの内角のみでよい場合には、上記目標点C以降の内角の算出及び記憶は省略される。
【0025】
次いで、上記光線L2 を照射した状態で、第2、第3光反射装置1b,1cの縦軸モーター12a(及び横軸モーター13a)を駆動制御して第2の平面鏡8bの出力光L6 が第3の平面鏡8cに、該第3の平面鏡8cの出力光L7 が測量器本体部25に設けた反射器(平面鏡)25bに向かう如く、第2、第3の平面鏡8b,8cの向きを設定する。さすれば、上記出力光L7 が反射器25bによって第3の平面鏡8c→第2の平面鏡8b→第1の平面鏡8aを介して上記照射器25a部に反射され、演算部25cで上記目標点DA間の距離M4 が算出「(AB+BC+CD+DA)−(AB+BC+CD)」及び記憶される。また、上記縦軸エンコーダー14によって縦軸モーター12aの回転角度が検出され、必要に応じて目標点Dの内角が算出及び記憶される。これにより、上記各目標点A,B,C,D間の距離M1 〜M4 あるいはこれらに囲まれた面積等が測量されることになる。このさい、横軸及び縦軸に対して平面鏡を回転させる機構を有しているので、測量すべき面が水平面でない場合でにも、三次元的な座標を決定することができる。
【0026】
なお、上記出力光L6 による計測は省略するようにしても、以前のデーターによりDAの距離M4 及び、点A〜Dで囲まれた面積を求めることができるが、上記したように出力光L7 の反射光を第3の平面鏡8c→第2の平面鏡8b→第1の平面鏡8aを介して上記照射器25a部(測量器本体部25の受光器)で受けるようにすれば、光線がループするので周囲最終誤差が収束する筈であるため、計算値をチェックすることができ、測量値がより高精度となる。
【0027】
次に、更地に平面図形を描くために、新たな目標点を決定する場合について図9を参照して説明する。この場合、測量器本体部25の演算部25cには図9に示す基点A及び各目標点B,C,Dの図形データーが予め入力(記憶)されているものとする。まず、測量器本体部25を基点Aに設置し、次いで第1光反射装置1aを概略の目標点B’(図示省略)に仮設置し、この状態で照射器(投光器)25aから上記第1光反射装置1aの球面鏡5aに向けて光線L1 ’(図示省略)を照射し、演算部25cでAB’間の距離を計測するとともに、記憶されているAB間の距離データーと比較し、その誤差を算出する。この誤差に基づいて上記第1光反射装置1aを移動(この作業は数回繰り返す場合がある)させ、光線L2 上に位置する球面鏡5aの距離を計測して上記第1光反射装置1aを正規の第1目標点Bに設置する。
【0028】
次いで、上記第1光反射装置1aの縦軸モーター12a(及び横軸モーター13a)を駆動制御して上記第1の以下平面鏡という8aの角度を所定の角度に設定し、この状態で照射器25aから光線L2 を上記第1光反射装置1aの平面鏡8aに向けて照射し、その出力光(反射光)L3 が所定角度となるようにする。この状態で前述と同様にして第2光反射装置1aを移動調整し、光線L3 上に位置する第2の球面鏡5bの距離を計測して上記第2光反射装置1bを正規の第2目標点Cに設置する。
【0029】
次いで、上記第1、第2光反射装置1a,1bの縦軸モーター12a(及び横軸モーター13a)を駆動制御して第1の平面鏡8aの出力光L4 が第2の平面鏡8bに向かうとともに、該第2の平面鏡8bの出力光L5 が所定角度となるようにする。この状態で前述と同様にして第3光反射装置1cを移動調整し、光線L5 上に位置する第3の球面鏡5cの距離を計測して上記第3光反射装置1cを正規の第3目標点Dに設置する。
【0030】
次いで、上記第2、第3光反射装置1b,1cの縦軸モーター12a(及び横軸モーター13a)を駆動制御して第2の平面鏡8bの出力光L6 が第3の平面鏡8cに、該第3の平面鏡8cの出力光L7 が測量器本体部25に設けた反射器(平面鏡)25bに向かう如く、第2、第3の平面鏡8b,8cの向きを設定する。この状態で上記出力光L7 が反射器25bによって第3の平面鏡8c→第2の平面鏡8b→第1の平面鏡8aを介して上記照射器25a部に反射されることを確認し、これにより、上記第1〜第3光反射装置1a〜1cが予め入力された図形データーと一致した正規の各目標点B,C,Dに設置されたことになり、この部に境界杭を打つ、あるいは印を付して線を引くことにより、希望する土地区画、あるいは希望する図形を描くことができる。なお、前述した縦軸回転装置12及び横軸回転装置13を省略した場合には、第2反射器8の向きの調整は手作業となる。
【0031】
図10は第4実施例による光反射装置1−4の使用例を示す。まず光反射装置1−4を基点Pに設置し、測量器本体部26を移動装置30を介して第1目標点Aに配置する。上記測量器本体部26は、移動装置30に上下軸心を中心として回動可能に取付けられ、その制御部にはテニスコートあるいはバスケットコート等、所定の図形データーが入力されている。また、照射器26aから上記光反射装置1−4に向けて投光するとともに、該光反射装置1−4からの反射光を照射器26a部に組み込んだ受光部で入力し、演算部で上記図形データーと比較して自身の位置が確認できるようになっている。また、上記移動装置30は、自身の走行距離が検出できるようになっている。
【0032】
まず目標点Aにて照射器26aから光反射装置1−4の第1反射器5に投光するとともに、その反射光(ア)を入力してAの距離を、また上記照射器26aから第2反射器8に投光してその反射光(イ)の入力の有無を確認して上記移動装置30(測量器本体部26)の初期位置を決定する。次いで、移動装置30を次段の目標点Bに向けて規定量進行させ、ここで上記と同様に、照射器26aから光反射装置1−4、及び第2反射器8に投光してBの距離、及び第2反射器8からの反射光の入力の有無を確認して上記移動装置30の次段の目標点Bを決定する。以下同様にして順次目標点C,D,E,Fを決定し、各目標点A〜Fをライン(白線)で結ぶことにより、地面にテニスコートあるいはバスケットコート等、所定の図形を描くことができる。なお、上記移動装置30にライン引き装置(マーカー装置)を装備すれば、該移動装置30の移動時に地面に直接所定の図形を描くことができる。
【0033】
【発明の効果】
以上の説明から明らかな如く、本発明は、無指向性の第1反射器と指向性の第2反射器とを上下に配置するようにしたので、第1反射器は向きを調節することなく、任意方向から投光される光線を該投光方向に向けて反射させることになり、距離の測定が容易に行えることになる。また、第2反射器は、投光される光線を所定方向に向けて反射させるので、角度の測定が容易に行えるとともに、複数の目標点がある場合に、光線をループさせて各目標点間の距離の総延長距離を、チェック値として計算値と比較できるので高精度に行えることになる。
また、上記第2反射器を上下軸心を中心として回転させる縦軸回転装置、該第2反射器を水平軸心を中心として回転させる横軸回転装置を設けるようにしたので、第2反射器の向きの調節が容易にでき、また平坦地でなく勾配を有する斜面においても支障なく測量作業が容易にかつ迅速にできることになる。また、第1反射器を球面鏡とし、該球面鏡にした第1反射器の上部を遮光用のキャップ等で被覆したので、晴天時に太陽光線を受けた際に、第1反射器の上部から測量作業を妨害する迷光が発しなくなり、測量作業が容易に行えることになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の基本概念を示す簡略化した説明図である。
【図2】 本発明の第1実施例を示す側面図である。
【図3】 図2のII-II 断面図である。
【図4】 第1実施例による縦軸回転装置の作動状態を示す側面図である。
【図5】 第1実施例による横軸回転装置の作動状態を示す側面図である。
【図6】 本発明の第2実施例を示す側面図である。
【図7】 本発明の第3実施例を示す側面図である。
【図8】 図7の平面図である。
【図9】 第1の使用例を示す説明図である。
【図10】 第2の使用例を示す説明図である。
【符号の説明】
1(1−1,1−2,1−3,1−4) 光反射装置
2 フレーム
2a 上部辺
2b 下部辺
2c 起立辺
3 懸垂アーム
4 支点ピン
5 第1反射器
6 三脚
7 回動体
7a ケース
7b 上部支持板
7c 下部支持板
7d ブラケット
8 第2反射器
8−1 入力反射器
8−2 出力反射器
9 ブラケット
10 ビームエキスパンダー
10a 覗き窓
11 伝動ケース
12 縦軸回転装置
12a 縦軸モーター
12b 伝動機構
13 横軸回転装置
13a 横軸モーター
13b ピニオン
13c ラック
14 縦軸エンコーダー
15 横軸エンコーダー
16 ホルダー
17 支持ケース
18 モーターケース
20 ベース
21 水準器
25 測量器本体部
25a 照射器(投光器)
25b 反射器
25c 演算部(制御部)
26 測量器本体部
26a 照射器(投光器)
30 移動装置

Claims (2)

  1. 任意の角度において投光側から受けた光線の少なくとも一部を該投光側に向けて反射する球面鏡からなる第1反射器(5)と、投光側から受けた光線を所定方向に向けて反射する指向性を有し、前記第1反射器(5)を通る上下軸心を中心として回転可能であり、かつ前記上下軸心と直交する水平軸心を中心として回転可能とされた平面性の第2反射器(8)とを上下に配置し、前記第2反射器(8)を上下軸心を中心として回転させる縦軸回転装置(12)と、水平軸心を中心として回転させる横軸回転装置(13)とを設けたことを特徴とする測量器用光反射装置。
  2. 第1反射器(5)を球面鏡にするとともに、その上部を遮光材で被覆したことを特徴とする請求項1記載の測量器用光反射装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101123889B1 (ko) 2011-07-11 2012-03-23 김은주 두 지점의 거리를 동시에 측량할 수 있는 포인트 디텍터
EP3839431A1 (en) * 2019-12-19 2021-06-23 Hexagon Technology Center GmbH Spherical surveying retroreflector
US11619491B2 (en) 2019-06-27 2023-04-04 Hexagon Technology Center Gmbh Retroreflectors

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4783892B2 (ja) * 2001-09-25 2011-09-28 国土交通省国土地理院長 測量用反射鏡の位置測定方法及び反射鏡取付用器具
WO2008120153A2 (en) * 2007-04-03 2008-10-09 Csir Aiming of indirect fire weapons

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3214998C2 (de) * 1982-04-22 1984-06-20 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Verfahren zur Bestimmung unzugänglicher Meßpunkte mit Winkelmeßinstrumenten
JPS6341713U (ja) * 1986-09-05 1988-03-18
JPH0612491Y2 (ja) * 1988-10-21 1994-03-30 株式会社大林組 測量用標的装置
JPH05141975A (ja) * 1991-11-25 1993-06-08 Sotsuken:Kk 測量用基準器及びそれを利用した測量方法
JP2599431Y2 (ja) * 1993-12-30 1999-09-06 株式会社ソキア 反射鏡装置
JPH07208994A (ja) * 1994-01-25 1995-08-11 Hitachi Kiden Kogyo Ltd 三次元計測におけるレール位置決め用ターゲット
JPH08184440A (ja) * 1994-12-28 1996-07-16 Topcon Corp コーナーキューブ支持装置
JPH09145373A (ja) * 1995-11-20 1997-06-06 Seiwa Consultant Kk 測量用標識
JPH09264711A (ja) * 1996-03-29 1997-10-07 Nec Eng Ltd スラスタノズルアラインメント治具を用いた測定装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101123889B1 (ko) 2011-07-11 2012-03-23 김은주 두 지점의 거리를 동시에 측량할 수 있는 포인트 디텍터
US11619491B2 (en) 2019-06-27 2023-04-04 Hexagon Technology Center Gmbh Retroreflectors
EP3839431A1 (en) * 2019-12-19 2021-06-23 Hexagon Technology Center GmbH Spherical surveying retroreflector

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