JP4253415B2 - データ再生システム及びそのシステムを用いてデータ再生する光ディスク装置 - Google Patents
データ再生システム及びそのシステムを用いてデータ再生する光ディスク装置 Download PDFInfo
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置や光磁気ディスク装置または磁気ディスク装置等のデータ記録装置に適用される記録媒体のデータ再生システムに関する。
また、本発明は、そのシステムを用いてデータ再生する光ディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、光ディスク装置に用いられる光ディスク記録媒体(光ディスク、光磁気ディスク)は、大容量、可換性、高信頼性等により、画像・イメージ情報の記録再生やコンピュータ用のコード記録等、種々の分野で利用が図られている。
このような光ディスク装置では、記録密度の増大に伴ってより精度の高いデータの記録及び再生の手法が望まれている。この光ディスク記録媒体に対する精度の高いデータの記録及び再生を行なう手法として、例えば、記録データ信号を所謂パーシャルレスポンス(PR)波形に変調して光ディスク記録媒体に記録する一方、この光ディスク記録媒体からの再生信号を所定周期でサンプリングした後に、所謂ビタビ検出器(最尤データ検出器)にて最も確からしいデータを検出する手法が提案されている。
【0003】
図1に示す従来のPRMLシステム構成において、再生信号はアンプ(Amp)50及びローパスフィルタ(LPF)51でアナログ処理され、ADC52によりデジタル変換され、等化器(EQ)53で等化される。等化器53は、アナログ処理で行なっている場合やアナログとデジタルの両方で行なっている場合とがある。デジタル化した値から位相検出器(Phase Detector)55により位相誤差を抽出し、その位相誤差を基に位相や周波数をPLL54により調整したクロック(チャネルクロック)を作成し、最適なサンプリング値をえるようなクロックをADC52へ供給する。図示していないが、同様なクロックをロジックシステムにも供給する。
【0004】
再生波形とサンプリング値の例を図2に示す。PR(1,1)の理想信号をクロックの立ち上がりでサンプリングすると「0」、「1」及び「2」の3レベルが得られる。
また、ナイキスト条件を満たすPR(1,1)波形干渉の例を示す図3より、これは、(1、7)変調((1、7)RLLC)のランダムデータに対するアイパターンからナイキスト条件を満たすようなPR(1,1)波形干渉では3つのレベルとなることが理解できる。
【0005】
PR(1、1)を例とした場合の基データとその期待値を図4に示す。図4より、データの遷移状態の組み合わせによりナイキスト条件を満足した波形干渉において、すなわち、PR(1、1)を例とした場合において、遷移状態の組み合わせとその組み合わせに応じて期待されるレベルを期待値Phで示す。ここで、状態遷移S2からS1及びS1からS2の2つの組み合わせは(1、7)RLLCでは存在せず、後述するビタビ検出では考慮されないため消去される。
【0006】
ビタビ検出は、図1のブランチメトリック計算回路(BM)56、アッドコンペアセレクト(ACS)58、パスメトリックメモリ(PMM)57及びパスメモリ(PM)59から構成されている。
ブランチメトリック計算回路56は、期待値に対するブランチメトリックを計算する。計算式を下記(1)から(6)に示す。下記計算式では、ブランチメトリックBMn(n=0,1,3,4,6及び7)は、時刻tでのサンプル値ytと期待値Ph(h=0,1,3,4,6及び7)の差の二乗を計算しているが、ブランチメトリックは相対的な大きさがわかれば良いため差の絶対値でもかまわない。
【0007】
BM0 = (yt−P0)2 = yt2 (1)
BM1 = (yt−P1)2 = yt2 (2)
BM3 = (yt−P3)2 = (yt−1)2 (3)
BM4 = (yt−P4)2 = (yt−1)2 (4)
BM6 = (yt−P6)2 = (yt−2)2 (5)
BM7 = (yt−P7)2 = (yt−2)2 (6)
次に、ACS58でブランチメトリックを用いてパスメトリックを計算する。状態遷移を示す図5より、状態S1へのパスは状態遷移S3からS1、また、状態S2へのパスは状態遷移S0からS2の各々1つしか存在しない。よって、パスメトリックPM(t−1、3)のパスメトリックPM(t−1、0)から一義的に計算される。各パスメトリック計算式を(7)から(10)に示す。
【0008】
PM(t,0) = min(PM(t-1,0) +BM0,PM(t-1,1) +BM1)(7)
PM(t,1) =PM(t-1,3) +BM3 (8)
PM(t,2) =PM(t-1,0) +BM4 (9)
PM(t,3) = min(PM(t-1,2) +BM6,PM(t-1,3) +BM7 (10)
上記式(7)で示されるPM(t,0) と式(10)で示されるPM(t,3) の要素の大小関係は、下記式(7)−1及び(7)−2と式(10)−1及び(10)−2の4式の条件となる。
【0009】
PM(t-1,0) +BM0 < PM(t-1,1) +BM1 (7)−1
PM(t-1,0) +BM0 ≧ PM(t-1,1) +BM1 (7)−2
PM(t-1,2) +BM6 < PM(t-1,3) +BM7 (10)−1
PM(t-1,2) +BM6 ≧ PM(t-1,3) +BM7 (10)−2
それらの組み合わせにより発生するマージは、図6に示すように4種類のマージに分類される。図6において、下から上への状態遷移の場合、対応するパスメモリD0からD3の値は「0」となる。例えば、S1からS2への状態遷移の場合、D2の値は「0」となる。一方、上から下への状態遷移の場合、対応するパスメモリD0からD3の値は「1」となる。例えば、図6に示される4つのマージの組み合わせから少なくとも3つ以上のマージが合わさってパスマージが発生する。図6において、上述のPR(1、1)波形を例とした場合、サンプル値「0」を取り得るのは条件▲1▼、サンプル値「1」を取り得るのは条件▲2▼及びサンプル値「2」を取り得るのは条件▲4▼が成立する場合である。この場合、条件▲3▼は起こり得ない条件であるので、条件▲1▼、▲2▼及び▲4▼の3つでマージが発生し、パスマージの組み合わせは、図7に示す8種類となる。図7において、収束するようにデータを過去へ追跡することで、過去データを決める(●で示される点)ことができ、かつ、状態遷移が決定される。
【0010】
パスメモリの構成を図8に示す。パスメトリックで選択されたデータがD0からD3に入力される。入力データは、図6のマージに従って決められる。図8においてシフトレジスタSRは、クロック同期で動作するが、SRの前にはセレクタSel.があり、SRに入るデータが選択される。例えば、D3に「1」が入力された場合は、図6よりS3からS3へのパスが確からしいと判断されるため、D3のすべてのSRは時刻t−1のD3のデータを時刻tのデータとする。一方、D3に「0」が入力された場合は、図6よりS2からS3のパスが確からしいと判断されるためD3の全てのSRは時刻t−1のD2のデータを時刻tのデータとする。このような動作を各SRとSel.が行うことにより、パスメモリの後方ではパスマージ発生によりD0からD3の各SRが同じデータに収束される。
【0011】
上述の従来のPRMLシステム構成は、線形な重ね合わせで成る波形によるデータ再生に効果を奏していた。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
上述従来のPRMLの動作原理において、対象とする波形は、線形な重ね合わせが成り立つ伝送系を対象としている。すなわち、再生波形のサンプリング点がナイキスト条件を満足していることが前提であった。しかし、磁気ディスクや光ディスクなどは、高密度化していく磁化の向き易さや読み出しスポット(アパーチャ)などが対象ではなくなり、そのため非線形ズレ成分が再生信号に含まれ、その結果、歪みが発生する。例えば、データ高密度記録を実現するための磁気超解像効果を持つ媒体(MSR(Magnetic Super Resolution )媒体)では、光ビームの熱分布を利用したマスクを形成することにより超解像効果をつくりだすため、媒体上を移動する光ビームの熱分布の偏りによって再生信号に非線形ズレ成分が発生し、この非線形ズレ成分のために再生波形に歪みが発生する。そのような場合、従来のPRMLでは十分なデータ検出能力が得られないという問題がある。
【0013】
よって、歪みを含む再生波形に対しても有効にビタビ検出が行なわれることが必要とされている。
そこで、本発明の第一の課題は、歪みを含む再生波形に対しても有効にビタビ検出が行なわれるようにしたデータ再生システムを提供することである。
また、本発明の第二の課題は、そのシステムを用いてデータ再生する光ディスク装置を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
上記第一の課題を解決するため、本発明は、パーシャルレスポンス波形の記録信号に従ってデータ記録のなされた記録媒体からの非線形歪み成分を含む再生信号を所定周期にてサンプリングし、ビタビ復号アルゴリズムに従って、該パーシャルレスポンス波形にて定まる期待値と当該サンプリング値とから演算されるブランチメトリック値に基づいてパスメトリック値を演算し、そのパスメトリック値の比較演算結果に基づいて再生データを決めるようにしたデータ再生システムにおいて、データ遷移状態を示す記録データ単位内を所定周期で複数のサンプリング位置でサンプリングする複数サンプリング手段と、前記複数サンプリング手段によってデータ遷移状態から成るデータパターンをサンプリングした値をデータ遷移状態とサンプリング位置との組み合わせに応じた複数の期待値として複数のレジスタに設定する期待値設定手段と、前記データ遷移状態毎のナイキスト条件を満たさない前記複数のサンプリング位置による前記複数サンプリング手段にて得られた複数のサンプリング値と該データ遷移毎の複数のレジスタから取得した複数の期待値に基づいて、各サンプリング位置に応じたブランチメトリックを演算し、それらのブランチメトリック値に対してサンプリング位置に応じた重み付けをし、所定のデータ遷移状態に応じて該ブランチメトリック値を合成することによって合成ブランチメトリック値を算出する合成ブランチメトリック演算手段とを有し、前記合成ブランチメトリック値をパスメトリック値の演算に用いるように構成される。
【0015】
このようなデータ再生システムでは、記録データ単位に複数位置でサンプリングされ、サンプリングされた複数のサンプリング値のブランチメトリック値から最も確からしいデータ遷移状態が抽出される。
従って、複数のサンプリング値からデータ遷移状態が考察されるため、データ遷移状態の抽出の精度を向上することができる。つまり、サンプリング位置がナイキスト条件を満たさない場合に、複数位置のサンプリング値から歪みを補正することが可能となる。
【0016】
上記パーシャルレスポンス波形は、例えば、3値4状態のPR(1、1)ML又はPR(1、2、1)ML、PR(1、2、2、1)ML、或いはPR(1331)ML等の拘束長が長い波形である。
上記記録データ単位は、例えば、データ遷移状態を示す3ビットで構成されるデータの単位である。
【0017】
サンプリング位置がナイキスト条件を満たさない場合においてもビタビ復号アルゴリズムを適用することができるという観点から、本発明は、請求項2に記載されるように、前記合成ブランチメトリック演算手段は、前記サンプリング位置毎に、ブランチメトリック値を演算する第一の演算手段と、サンプリング位置に応じた重み付け係数を上記ブランチメトリック値に掛け合わせて得られた値を、前記データ遷移状態に応じて加算することによって合成ブランチメトリック値を算出する第二の演算手段とを有するように構成することができる。
【0018】
このようなデータ再生システムでは、先ず、サンプリング位置毎のサンプリング値と期待値でデータ遷移状態の重み付けをした第一のブランチメトリック値を演算する。次に、データ遷移状態毎に複数位置で計算された第一のブランチメトリック値を足し合わせた第二のブランチメトリック値が演算される。従って、複数位置でサンプリングした場合においても、従来のビタビ復号アルゴリズムに適用させることができる。
【0019】
また、歪みの補正をより効果的に行なうという観点から、本発明は、請求項3に記載されるように、前記重み付け係数は、可変に設定できるように構成される。
【0020】
また、期待値を設定するという観点から、本発明は、請求項4に記載されるように、前記データ遷移状態から成るデータパターンに応じたリファレンス信号を、数回サンプリングすることによって取得したサンプリング値の平均値を前記レジスタに格納するように構成される。または、本発明は、請求項5に記載されるように、前記データ遷移状態から成るデータパターンに応じて記録された信号を、数回サンプリングすることによって取得したサンプリング値の平均値を前記レジスタに格納するように構成される。
【0021】
このようなデータ再生システムでは、基本となるデータパターンに応じて記録された信号から期待値が設定されるため、この期待値は予期される歪みを含むことになり、実際のサンプリング値と期待値の差を小さくすることができ、より確からしいブランチメトリック値を取得することが可能となる。さらに、学習した歪みから、より確からしいブランチメトリック値を取得するという観点から、本発明は、請求項6に記載されるように、レジスタから読み取った期待値をサンプリングすることによって更新された平均値で書き換えるように構成される。さらに、本発明は、請求項7に記載されるように、前記レジスタは、ファームウェアによって読み書き可能であり、該ファームウェアの判断によって補正された値を設定できるように構成される。
【0022】
このようなデータ再生システムでは、平均値を必要に応じてレジスタに設定しておくことで、ファームウェアが学習した歪みに応じてレジスタに設定された平均値を補正した値に書き換えて期待値とすることができる。
従って、期待値は、歪みに応じて動的に補正することができるので、ビタビ検出において、より効果的なブランチメトリック値を得ることができる。
【0023】
上記ファームウェアは、例えば、データ再生システムを制御するようなMPU(Micro Processing Unit )である。また、重み付け係数により、より確からしいブランチメトリック値を取得するという観点から、本発明は、請求項9に記載されるように、前記重み付け係数は、ファームウェアがレジスタに設定することによって、可変に設定できるように構成される。
【0024】
上記第二の課題を解決するため、本発明は、パーシャルレスポンス波形の記録信号に従って光学的にデータ記録のなされた記録媒体からの光学的に再生信号を読み取る光学ヘッドによって、非線形歪み成分を含む該再生信号を所定周期にてサンプリングし、ビタビ復号アルゴリズムに従って、該パーシャルレスポンス波形にて定まる期待値と当該サンプリング値とから演算されるブランチメトリック値に基づいてパスメトリック値を演算し、そのパスメトリック値の比較演算結果に基づいてデータを再生する再生手段を有する光ディスク装置において、前記再生手段は、データ遷移状態を示す記録データ単位内を所定周期で複数のサンプリング位置でサンプリングする複数サンプリング手段と、データ遷移状態とサンプリング位置との組み合わせに応じた期待値を格納する複数のレジスタのアドレスが割り当てられているリファレンス領域を参照して、前記データ遷移状態毎のナイキスト条件を満たさない前記複数のサンプリング位置による前記複数サンプリング手段にて得られた複数のサンプリング値と該期待値に基づいて、各サンプリング位置に応じたブランチメトリックを演算し、それらのブランチメトリック値に対してサンプリング位置に応じた重み付けをし、所定のデータ遷移状態に応じて該ブランチメトリック値を合成することによって合成ブランチメトリック値を算出する合成ブランチメトリック演算手段とを有し、前記合成ブランチメトリック値をパスメトリック値の演算に用いるように構成される。
【0025】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
本発明を適用した実施例に係る光ディスク装置は、例えば、図9に示すように構成される。この光ディスク装置は、記録媒体として光磁気ディスクを使用する光磁気ディスク装置である。
【0026】
図9において、この光磁気ディスク装置は、記録媒体となる光磁気ディスク10、光学ヘッド20、アンプ21、再生系ユニット25、書込み系ユニット26、電磁石27、MPU28、サーボ系ユニット29及びモータ30を有している。光磁気ディスク10には、所定の記録規則(拘束長2のパーシャルレスポンスPR(1、1))に従ったデータの記録がなされ、また、この光磁気ディスク10からデータの再生が行なわれる。
【0027】
MPU28は、ファームウェアとして動作し、コネクタ32、インタフェース回路31を介して供給される外部ユニット(図示せず)からのデータ再生命令及びデータ書込み命令に従って、再生系ユニット25、書込み系ユニット26及びサーボ系ユニット29を制御する。MPU28による再生系ユニット25の制御に関しては後に詳述する。
【0028】
上記光磁気ディスク装置では、データ再生命令が供給されたときに、光学ヘッド20が光磁気ディスク10を光学的に走査し、その際光学ヘッド20から出力される再生信号がアンプ21を介して再生系ユニット25に供給される。この再生系ユニット25は、供給される再生信号を量子化すると共に、その量子化データから最尤(ML)復号アルゴリズム(例えば、ビタビ復号アルゴリズム)に従って出力データを生成する。この出力データが、MPU28に供給され、さらにMPU28からインターフェース回路31及びコネクタ32を介して外部ユニットに出力される。
【0029】
一方、MPU28は、外部ユニットから記録データと共に書込み命令を受信すると、この記録データを所定の記録規制(例えば、パーシャルレスポンスPR(1,1))に従って変調し、その変調されたデータを書込み系ユニット26に供給する。書込み系ユニット26は、供給されたデータに従って光学ヘッド20の駆動制御を行い、更にMPU28がその記録データの変調にて得られたデータに基づいて電磁気27を制御する。その結果、光磁気ディスク10に上記所定の記録規則に従ったデータが書き込まれる。
【0030】
なお、MPU28にて制御されるサーボ系ユニット29は、モータ30を駆動させて光磁気ディスク10を所定の速度で回転させると共に、光学ヘッド20を光磁気ディスク10の記録/再生位置に位置付ける。
上記図9の再生系ユニット25は、例えば、図10に示すように構成することができる。
【0031】
図9の光学ヘッド20からの再生信号は、アンプ(Amp)111及びフィルター(LPF)112を経由してADC113へ供給される。また、PLL119から同期クロックが生成される。従来との違いは、マルチクロック(Multi-CLK)回路120で複数点のサンプリング用にクロックが作成されることである。Multi-CLK回路120で3倍化されたクロックは、セレクタ(Selector)114で3つの等化器EQ_M115、EQ116及びEQ_P117に並列に振り分る。3つのブランチメトリックBM_M121、BM122及びBM_P123は、各クロックに同期して検出されたサンプル値に応じて6個のブランチメトリックBM0からBM7の値を計算する。図4より、考え得る状態遷移の組み合わせ8つの内2つの組み合わせは、実際には起こり得ないので、起こり得る状態遷移の組み合わせに応じたMB0からMB7のブランチメトリックが計算される。
【0032】
上述より、マルチクロック(Multi-CLK)回路120でクロックを3倍化することにより、1クロック内で複数ポイントにおいてサンプル値を検出することが可能となる。
図10において、ビタビ検出は、ブランチメトリック(BM−MIX)回路124、ACS(Add Compare Select)126、パスメトリックメモリ(PMM)125及びパスメモリ(PM)127から構成される。このビタビ検出におけるブランチメトリック計算は、各BM_M121、BM122及びBM_P123で計算されたブランチメトリック値に重み付けをする。ACS126、PMM125及びPM127は、従来と同等である。本発明に係るビタビ検出の重み付け計算については後述する。
【0033】
図10のマルチクロック回路120は、例えば、図11に示すように構成することができる。図11(A)において、図10のPLL119のクロック信号は(1)から取得され、シンセサイザー(Synthesizer )1201により3倍クロック信号(2)となりカウンタ(Counter )1202へ供給される。カウンタ1202は、2ビットカウンタであり、1から開始し2、3とカウントした後また1へ戻る。このカウンタ1202の各ビットの出力C[0]及びC[1]は、3つの論理回路not1203、not1204及びand125によって、2ビットの値が論理演算され3つの出力信号(a)、(b)及び(c)となる。図11(B)は、各信号のタイムチャートを示す図であり、各符号は図11(A)の符号に対応する。
【0034】
図10に示される第一の構成例において、上記3倍化されたクロックに応じて十分高速に動作するADC113を用いた例である。マルチクロック回路120からADCへのクロック信号は、図11(B)に示されるクロック信号(2)の3倍クロック信号が用いられる。また、この構成例では、3倍クロック信号を用いたが、図11(A)のシンセサイザー1201を用いて、サンプリングする複数ポイントに応じて、2倍以上のクロック信号を生成すれば良い。
【0035】
次に、図10のブランチメトリック(BM_MIX)回路124は、例えば、図12に示されるように構成される。ブランチメトリック(BM_MIX)回路124は、図9に示されるMPU28(ファームウェア)で制御され、3つの乗算器(Multiply)1241、1242及び1243と加算器1247とで構成される。
【0036】
乗算器1242は、サンプリングされた値に応じて計算されたBM0からBM7までのブランチメトリックに所定の重み付けをする。例えば、重み付け係数がK0であれば、各BM0からBM7にK0を掛け合わせる。乗算器1241及び1243においても、重み付け係数KM及びKPで同様の処理が行なわれる。重み付け係数KM、K0及びKPは、図9のMPU28によって設定される。
【0037】
加算器1247は、各乗算器で計算された重み付けされたブランチメトリックを、状態遷移毎に足し合わせる処理を行なう。
これによって、ACS126は、従来通りにBM0からBM7のブランチメトリックの計算結果を取得することができ、従来からのビタビ検出方法に適用することが可能となる。
【0038】
また、BM0からBM7のブランチメトリックの計算結果は、3つのサンプリング値から演算されるため、より精度の高い結果を得ることが可能となる。
また、図9の再生系ユニット25は、例えば、図13に示すようなADCを複数用いた構成にすることができる。図13において、既に説明した構成部分と同一構成部分には同一符号を付し、その説明は省略する。図13に示される第二の構成例では、3個のADCが用いられている。
【0039】
各3個のADC1131〜1133は、それぞれマルチクロック回路120からの図11(A)及び(B)で示されるクロックの出力信号(a)、(b)及び(c)に同期してサンプリングする。
さらに、図9の再生系ユニット25は、例えば、図14に示すような構成にすることができる。図14において、既に説明した構成部分と同一構成部分には同一符号を付し、その説明は省略する。図14に示される第三の構成例では、PLL119へ供給する位相誤差量を1記録データに対する複数のサンプリング値から演算を行なう。信号を3つの等化器115〜117から取得することによって、同期するレベルに達したことを検出することが容易になり、よって、位相誤差量を抽出し易くすることができる。
【0040】
上記再生系ユニットの第一から第三の構成例において、3倍のクロックで1チャンネルクロック中に3つのサンプリング値が得られた場合、セレクタ又は3つのADCにより各等化器へ供給し波形等化を行なう。元の再生信号は同一であり、アナログ再生信号周波数よりも2倍以上のサンプリングを行なうことによって復元された元波形において、3つのサンプリングの時系列も同一のパーシャルレスポンス特性の波形となる。
【0041】
上記再生系ユニットの第一から第三の構成例では、波形等化を3つの等化器を用いる構成を示したが、サンプリング値をシリアルに供給し1つの等化器で等化を行ない、その後、3つのサンプリング値を並列に取得し、サンプリング値毎ににブランチメトリックを計算することも可能である。
サンプリングは、例えば、図15で示されるような3点a、b及びcで行なわれる。図15において、データ遷移0から7の各々のサンプリング位置が示されている。これらサンプリング位置で採取した3つのサンプリング値に対してブランチメトリックが計算される。この例では、サンプリング位置は3点であったが、2つ以上の複数点でのブランチメトリック値が計算されれば良く、それ以上でも良い。
【0042】
このように、1チャネルクロック内で、従来よりも複数点でサンプリングすることにより、データ遷移に応じたブランチメトリック値の精度を向上させることができる。
次に、リファレンス領域のデータパターンとデータパターンに応じた理想波形の例を図16に示す。図16に示されるデータパターンは、3チャンネルクロック単位毎に図15で示されるデータ遷移を示し、このデータパターンによって全ての組み合わせが示される。そして、図16には、このデータパターンに応じた理想波形が示されている。
【0043】
このデータパターンをリファレンスパターンとして用いて、図13のデータ遷移毎にa、b及びc点で数回サンプリングして得たサンプリング値を平均し、それを期待値として設定しておく。このように期待値を設定することにより、歪みを持った再生信号に対して、予め歪みを含めた期待値を設定することができる。よって、ブランチメトリック計算が向上し、正しいデータ検出が可能となる。
【0044】
リファレンス領域のデータパターンとデータパターンに応じた歪みのある波形の例を図17に示す。図17において、例えば、理想波形に対して歪みのある波形(太線)に応じた期待値が設定される。これによって、再生系ユニットにおけるデータ検出能力を向上させることができる。
MPUによるデータ遷移毎の期待値を設定する構成として、例えば、図18に示されるように構成することができる。図18は、図10に示される第一の構成例に、さらにMPUによるデータ遷移毎の期待値を設定する構成を加えたものである。図18において、既に説明した構成部分と同一構成部分には同一符号を付し、その説明は省略する。
【0045】
図18に示される第四の構成例において、図9の再生系ユニット25は、図10の第一の構成を有し、さらに、平均個数設定レジスタ130、平均回路131、132及び133、コントローラ(Controller)140、セレクタ(Sel.)141、142及び143、レジスタXa、Xb及びXc、リファレンス領域150とを有する。
【0046】
リファレンス領域(VFO領域)150には、データ遷移0〜7とサンプリング位置a、b及びcとの組み合わせに応じたレジスタXa、Xb及びXcが設定されており、組み合わせを示す各レジスタのアドレスが割り当てられている。各レジスタには、1クロック前のサンプリング値の平均が格納されている。ここで、レジスタXa、Xb及びXcにおいて、Xはデータ遷移番号を示し、a、b及びcは図15に示されるデータ遷移毎のサンプリング位置を示す。
【0047】
コントローラ140は、MPU28から受信した制御信号の1つであるレジスタ切り換え信号がレジスタReadの命令の場合、レジスタXa〜XcのWrite/Read動作をRead状態に切り換える。さらに、MPU28からの平均値計算命令に応じて、レジスタXa、Xb及びXcのWrite/Read動作を切り換えることによって、サンプリング値の新たな平均値を取得する。
【0048】
つまり、コントローラ140は、先ず、MPU28からのレジスタReadの命令に応じてレジスタXa〜XcへRead命令を送り、1クロック前の平均値をリファレンス領域150から読み出し、平均回路131〜133へ読み出した平均値を供給する。次に、平均回路131〜133から新たな平均値を得ると、コントローラ140は、レジスタXa〜XcへWrite 命令を送り、セレクタ141〜143を切り換えることによって、新たな平均値をレジスタXa〜Xcに書き込む。書き込まれた平均値が期待値となる。この様な動作を繰り返すことによって学習し得られた期待値は、最も確からしい期待値となる。この期待値は、ブランチメトリック121〜123でブランチメトリック値を計算する際に参照される。
【0049】
各平均回路131〜133は、例えば、下記計算式でサンプリング値を平均化すれば良い。
新Ave=((n−1)*旧Ave+新Smpl)/n
新平均値(新Ave)は、リファレンス領域150から取得した旧Aveに所定の平均個数から1を引いた数(n−1)を掛け合わせ、さらに、新しくサンプリングされたサンプリング値(新Smpl)を足した結果を所定の平均個数(n)で割った結果で表わされる。平均個数は、平均個数設定レジスタ130で指定され、この平均個数設定レジスタ130は、MPU28によって設定される。平均個数が1個の場合は、レジスタXa〜Xcに新たにサンプリングしたサンプリング値(新Smpl)が平均値として格納される。
【0050】
また、MPU28は、レジスタXa〜Xcの読み書きが可能であるため、レジスタXa〜Xc内に格納された平均値を読み取り、システムの特性を考慮したアルゴリズムによって補正し、必要に応じて値を書き込むことにより期待値を補正することができる。
上記第一から第四の実施例において、パーシャルレスポンス波形の例として3値4状態のPR(1、1)MLを示したが、PR(1、2、1)ML、PR(1、2、2、1)ML、或いはPR(1、3、3、1)ML等の拘束長が長い場合でも同様に適用が可能である。
【0051】
上記第四の実施例におけるデータ遷移毎の期待値を設定する構成は、第一の実施例に限らず、第二及び第三の実施例にも適用できる。
上述によって、非線形ズレ成分が再生信号に含まれ、サンプリング点がナイキスト条件を満たさない場合においても、複数位置でのサンプリング、重み付け係数の設定、又は、期待値の設定によって、歪み補正が可能であるため、十分なデータ検出能力が得られる。
【0052】
なお、上記各例では、光ディスク記録媒体(具体的には、光磁気ディスク)のデータ再生システムについて述べたが、本発明は、これに限らず、磁気ディスク等の記録媒体のデータ再生システムにも適用可能である。
【0053】
【発明の効果】
以上、説明してきたように、請求項1乃至9記載の本願発明によれば、複数のサンプリング位置でサンプリング値を取得し、重み付けされたブランチメトリック値を演算することにより、最も確からしいデータ遷移状態を抽出することができる。従って、データ検出の精度を向上させることができる。また、記録媒体の特性や再生システムの特性に依存した再生信号の特性(非線形ズレ量等)に応じて期待値又は重み付け係数を変更することにより、実際のサンプリング値と期待値の差を小さくすることができ、より確からしいデータがより精度良く再生することができる。
【0054】
また、請求項10記載の本願発明によれば、複数のサンプリング位置でサンプリング値を取得し、重み付けされたブランチメトリック値を演算することにより、最も確からしいデータ遷移状態を抽出し、非線形ズレ量等を補正するように期待値又は重み付け係数を変更することにより、実際のサンプリング値と期待値の差を小さくすることができ、より確からしいデータがより精度良く再生することができる光ディスク装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、従来のPRMLシステム構成を示す図である。
【図2】図2は、再生波形とサンプリング値の例を示す図である。
【図3】図3は、ナイキスト条件を満たす波形干渉の例を示す図である。
【図4】図4は、基データとその期待値の例を示す図である。
【図5】図5は、状態遷移図である。
【図6】図6は、マージの種類を示す図である。
【図7】図7は、パスマージの組み合わせを示す図である。
【図8】図8は、パスメモリの構成を示す図である。
【図9】図9は、光ディスク装置の構成例を示す図である。
【図10】図10は、再生系ユニットの第一の構成例を示す図である。
【図11】図11は、マルチクロック回路の構成例を示す図である。
【図12】図12は、BM−MIX回路の構成例を示す図である。
【図13】図13は、再生系ユニットの第二の構成例を示す図である。
【図14】図14は、再生系ユニットの第三の構成例を示す図である。
【図15】図15は、データ遷移とそのサンプリング位置の例を示す図である。
【図16】図16は、リファレンス領域のデータパターンと理想波形の例を示す図である。
【図17】図17は、リファレンス領域のデータパターンと歪みのある波形の例を示す図である。
【図18】図18は、再生系ユニットの第四の構成例を示す図である。
【符号の説明】
10 光磁気ディスク
25 再生系ユニット
28 MPU
114 セレクタ
115、116、117 等化器
120 マルチクロック
121、122、123 ブランチメトリック計算
124 ブランチメトリック計算(重み付け計算)
125 パスメトリックメモリ
126 ACS(Add Compare Select)
127 パスメトリック
Claims (10)
- パーシャルレスポンス波形の記録信号に従ってデータ記録のなされた記録媒体からの非線形歪み成分を含む再生信号を所定周期にてサンプリングし、ビタビ復号アルゴリズムに従って、該パーシャルレスポンス波形にて定まる期待値と当該サンプリング値とから演算されるブランチメトリック値に基づいてパスメトリック値を演算し、そのパスメトリック値の比較演算結果に基づいて再生データを決めるようにしたデータ再生システムにおいて、
データ遷移状態を示す記録データ単位内を所定周期で複数のサンプリング位置でサンプリングする複数サンプリング手段と、
前記複数サンプリング手段によってデータ遷移状態から成るデータパターンをサンプリングした値をデータ遷移状態とサンプリング位置との組み合わせに応じた複数の期待値として複数のレジスタに設定する期待値設定手段と、
前記データ遷移状態毎のナイキスト条件を満たさない前記複数のサンプリング位置による前記複数サンプリング手段にて得られた複数のサンプリング値と該データ遷移毎の複数のレジスタから取得した複数の期待値に基づいて、各サンプリング位置に応じたブランチメトリックを演算し、それらのブランチメトリック値に対してサンプリング位置に応じた重み付けをし、所定のデータ遷移状態に応じて該ブランチメトリック値を合成することによって合成ブランチメトリック値を算出する合成ブランチメトリック演算手段とを有し、
前記合成ブランチメトリック値をパスメトリック値の演算に用いるようにしたデータ再生システム。 - 前記合成ブランチメトリック演算手段は、
前記サンプリング位置毎に、ブランチメトリック値を演算する第一の演算手段と、
サンプリング位置に応じた重み付け係数を前記ブランチメトリック値に掛け合わせて得られた値を、前記データ遷移状態に応じて加算することによって合成ブランチメトリック値を算出する第二の演算手段とを有するようにした請求項1記載のデータ再生システム。 - 前記重み付け係数は、可変に設定できるようにした請求項1乃至2記載のデータ再生システム。
- 前記データ遷移状態から成るデータパターンに応じたリファレンス信号を、数回サンプリングすることによって取得したサンプリング値の平均値を前記期待値として前記レジスタに格納するようにした請求項1記載のデータ再生システム。
- 前記データ遷移状態から成るデータパターンに応じて記録された信号を、数回サンプリングすることによって取得したサンプリング値の平均値を前記期待値として前記レジスタに格納するようにした請求項1記載のデータ再生システム。
- 前記レジスタから読み取った期待値をサンプリングすることによって更新された平均値で書き換えるようにした請求項4又は5記載のデータ再生システム。
- 前記レジスタは、ファームウェアによって読み書き可能であり、該ファームウェアの判断によって補正された値を設定できるようにした請求項6記載のデータ再生システム。
- 前記サンプリングの回数を1回とすることによって、前記ファームウェアが前記サンプリング値を直接読み取ることができるようにした請求項7記載のデータ再生システム。
- 前記重み付け係数は、ファームウェアがレジスタに設定することによって、可変に設定できるようにした請求項3記載のデータ再生システム。
- パーシャルレスポンス波形の記録信号に従って光学的にデータ記録のなされた記録媒体からの光学的に再生信号を読み取る光学ヘッドによって、非線形歪み成分を含む該再生信号を所定周期にてサンプリングし、ビタビ復号アルゴリズムに従って、該パーシャルレスポンス波形にて定まる期待値と当該サンプリング値とから演算されるブランチメトリック値に基づいてパスメトリック値を演算し、そのパスメトリック値の比較演算結果に基づいてデータを再生する再生手段を有する光ディスク装置において、
前記再生手段は、データ遷移状態を示す記録データ単位内を所定周期で複数のサンプリング位置でサンプリングする複数サンプリング手段と、
データ遷移状態とサンプリング位置との組み合わせに応じた期待値を格納する複数のレジスタのアドレスが割り当てられているリファレンス領域を参照して、前記データ遷移状態毎のナイキスト条件を満たさない前記複数のサンプリング位置による前記複数サンプリング手段にて得られた複数のサンプリング値と該期待値に基づいて、各サンプリング位置に応じたブランチメトリックを演算し、それらのブランチメトリック値に対してサンプリング位置に応じた重み付けをし、所定のデータ遷移状態に応じて該ブランチメトリック値を合成することによって合成ブランチメトリック値を算出する合成ブランチメトリック演算手段とを有し、
前記合成ブランチメトリック値をパスメトリック値の演算に用いるようにした光ディスク装置。
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