JP4232186B2 - 超純水中の溶存窒素濃度測定装置及び測定方法 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体や液晶の基板洗浄に使われる超純水、すなわち、比抵抗値１８.０〜１８.２ＭΩ・cm程度の超純水中の窒素濃度のリアルタイムの測定を可能にする簡便な測定装置及び測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、電子産業では半導体基板の洗浄に超純水または薬品（硫酸、塩酸、アンモニア、過酸化水素など）を添加した超純水が使用されている。
この場合、添加薬品量や排水処理の負荷低減を可能にするため特定のガスを溶解した機能性洗浄水の利用が注目されている。この機能性洗浄水の製造には、目的のガス以外のガスである窒素ガス（Ｎ₂）を除去することが望ましい。
また、超純水の製造では、空気中の酸素の溶解を防止したり、酸素を追い出すため純水タンクを窒素ガスでシールすることが行われていることが多いので、超純水中に溶けている窒素ガス（Ｎ₂）濃度を簡便に測定し得るようにすることは、後に脱窒素処理するために重要である。
従来の溶存窒素濃度（ＤＮ₂）測定技術は、熱伝導度検出端子（ＴＣＤ）を利用し、窒素ガス特有の熱伝導度による温度変化を保つために必要な電気量を信号として検知するものである。熱伝導度検出端子は直接液中に入れることができないため、気体のみを通す半透膜で隔てた小さな容器に収納されている。
この方法では、まずパージガス（ＣＯ₂）を流し、熱伝導度検出端子の容器をパージガスで充満させる。そして、測定時にはパージガスの供給を止めると、試料水中の溶存窒素（Ｎ₂）が半透膜を透過して容器内に侵入する。これが熱伝導度検出端子の出力信号を変化させるので、溶存窒素濃度が測定できる。
しかし、この測定方法では、パージガスが不足すると半透膜を通じて水蒸気が入ってきて測定できなくなるのでパージガスを常に供給する必要があること、熱伝導度検出端子が非常に高価なため測定器自体が割高であること及び溶存窒素濃度が低い場合（例えば１ppm程度）の測定に要する時間が長いことなどの欠点がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記の欠点のない簡便な溶存窒素濃度測定装置及び測定方法を提供するものであり、特に、超純水中の溶存窒素をリアルタイムで迅速にモニターする装置及び方法を提供する。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、鋭意研究の結果、超音波や紫外線の照射を受けると水中の溶存窒素は、ヒドロキシラジカルや水素ラジカルとの反応でＮＯ_xやＮＨ₄イオンなどに変化する現象を利用することに着目して本発明の課題を解決した。
一般に、超音波照射又は紫外線照射で発生するＮＯ_x ^-、ＮＨ₄などのイオン種の濃度は、溶存窒素（ＤＮ₂）、溶存酸素（ＤＯ）及びラジカル発生条件に依存する。
そして、本発明者らは、溶存酸素等の不純物が殆ど存在しない超純水に対して適当なラジカル発生条件を設定し、処理すると、発生するラジカルと溶存窒素が迅速に反応し、そして発生するイオン種濃度は、実質的に溶存窒素のみを示す尺度になるという知見を得た。従って、このイオン種の濃度を測定することで間接的に迅速に溶存窒素濃度を知ることが可能になる。本発明者らは、これらの知見に基づき、直接溶存窒素濃度を測定しないで、間接的に超音波照射後のイオン種濃度の測定を比抵抗計で測定することにより、簡便でかつ迅速な溶存窒素濃度の計測系を構築することに成功した。
すなわち、本発明は、溶存窒素濃度を直接測定するのは測定速度及び精度の点で困難であるので、これを純水中に微量ラジカルを発生させて、これと窒素の反応で生成するイオン量を測定するものである。
本発明は、試料水が純度の高い超純水である点に着目して、ラジカル発生部でイオン化される原因としては溶存窒素分しか存在しないので、全イオン量≒Ｎイオン量とすることができる点を利用したものである。
また、仮に、イオン化される他成分が僅かに存在している場合であっても、その試験水について事前に標準添加法で、ブランクテストで確認しておけば溶存窒素濃度の測定は本発明方法によって行うことが可能である。
すなわち、本発明は次の各項の発明よりなる。
（１）試料水にラジカルを発生させるラジカル発生手段と、ラジカル発生後の試料水中のイオン量を測定する比抵抗計とからなることを特徴とする超純水中の溶存窒素濃度測定装置。
（２）試料水をラジカル発生処理したのち、比抵抗計によって窒素原子由来のイオン量を測定し、該イオン量に基づいて水中の溶存窒素濃度を算出することを特徴とする超純水中の溶存窒素濃度の測定方法。
【０００５】
【発明の実施の形態】
本発明装置においては、溶存ガス濃度を測定する部分にサンプリング用のバルブを設置し、そこからラジカル発生部分へ導く測定用の別配管を設ける。
溶存窒素濃度を測定される超純水は、容器に貯蔵中のもの又は流水状態のいずれでも適用可能である。
ラジカル発生部では、超音波照射手段又は紫外線照射手段によって、１〜６０秒間照射を受ける。
この時間が長すぎると、リアルタイムの測定に支障を来すので、ラジカル発生部に流すバイパスの水量及びラジカル発生部の出力を調節して、適宜照射時間を調節することが好ましい。
例えば、ラジカル発生手段として超音波発生装置を用いて印加し、超音波処理後のサンプル水をその後段に設置した比抵抗計による測定領域に通水することができる。
また、ラジカル発生手段として、超音波発生装置の代わりに紫外線照射装置を使用することが好ましい。
サンプル水中に窒素ガスが含まれると、超音波（メガソニック）により水分子由来のヒドロキシラジカル、水素ラジカルが発生し、それが窒素と反応しＮＯ_X ^-、ＮＨ₄ ⁺が生成する。これらの窒素化合物が超純水中に含まれると比抵抗値が下がる。
超純水の比抵抗値は、微量のイオンの存在に対しても比抵抗計で検知可能な変化を示す。
また、このようにして超純水中に生成する窒素化合物の量と比抵抗値との間に相関関係があるため、比抵抗値の変化により超純水中に含まれる窒素の量を簡単に知ることができる。さらに比抵抗計による測定値の変化は、応答性が敏感で、短時間で結果が分かるので溶存窒素のモニターとして好適に利用することができる。
例えば、通常、超純水の陰イオンの測定はＪＩＳ-Ｋ０５５６でイオンクロマトクラフ法により定量する方法が行われている。しかし、この方法は、精度が高いという利点があるが１測定当たり数十分かかる欠点があり、本発明のラジカル発生装置と組み合わせる陰イオンの測定として採用することはできない。
さらに、陰イオンの測定方法としては、特開平９−２８１０９９号公報、特開平７−２７７５８号公報、特開平７−１５１６８８号公報、特開平１０−１７０４９４号公報の方法が知られているが、イオン化するためのpH調整剤、酸化剤（オゾン、空気）や、イオン測定のための発色液等薬品を添加したり、光触媒等と接触させたりする。このような薬品を使うのは、測定時間がかかる上に、他の薬品による汚染を極度に嫌う超純水製造プラント（現場）での陰イオン測定方法としては好ましくない。
【０００６】
本発明は、ラジカル発生部分と比抵抗計と組み合わせた溶存窒素濃度測定方法であり、超純水を汚染せず、ラジカル発生部分と比抵抗計の両者ともにリアルタイムで迅速に反応及び応答するので、リアルタイムで窒素濃度の連続的測定することを可能にするものである。
本発明の測定方法は特に制限はないが、例えば少量の試料水をバイパスラインで連続的にラジカル発生手段部に採取して、試料水に連続的にラジカル発生処理にかけて、連続的に比抵抗計による測定を行うことができる。
本発明に用いるラジカル発生手段は、水から少量のラジカルを発生させるものであればよく、例えば超音波又は紫外線を照射する方法が好適である。
本発明における超音波を照射する方法は、特に制限はなく、例えば超音波発生ノズルを装備した容器に超純水のサンプル水を所定の照射時間（滞留時間）、例えば１〜６０秒、好ましくは５〜４０秒で流水して、ラジカル発生処理後の流水を比抵抗計を装備した容器（測定セル）に流す方法を使用することができる。
本発明の超音波工程に用いる超音波発生装置は、通常のトランデューサに高周波電圧を加えて発生させる超音波装置を使用することができる。
超音波の周波数は、特に制限はないが、ラジカル発生に適した周波数を選択すると照射時間、すなわちラジカル発生部の滞留時間を短くすることができ、好ましい。本発明に用いる超音波の周波数は、３０KHz〜３MHzが好ましく、５０KHz〜２MHzであることがより好ましい。
本発明における紫外線を照射する方法は、照射によってラジカル発生するものであれば特に制限はないが、超音波の場合と同じくラジカル発生に適した波長の紫外線が好ましく、例えば、３００ｎｍ以下の波長の紫外線、好ましくは２００ｎｍ以下の波長を好適に使用することができる。
本発明に用いる紫外線の光源としては、特に制限はなく、例えば低圧、中圧又は高圧水銀ランプ、キセノンランプ、重水素ランプ、メタルハライドランプ等を使用することができる。
試料水を流すラジカル発生部の紫外線照射用窓に用いる透明隔膜としては、石英ガラス、透明テフロンを使用して、紫外線の透過率を低下させないのが望ましい。特に、石英ガラス管の中に水銀ランプを設置したものを、超純水中に浸漬する方法などが好適である。
【０００７】
【実施例】
実施例１
実施例１に用いた試験水、超音波発生装置、比抵抗計は次の通りである。
（ｉ）試験水としては、超純水を脱気膜で脱気し、溶存窒素濃度が１ppm未満の脱気水を得た。
この脱気水に加える窒素の量を変化させて、５ppm、１０ppm及び１５ppmの溶存窒素濃度を有する試験水を３種調製した。
３種の試験水の溶存窒素の濃度は、熱伝導度検出端子を用いた方法によって測定した。
（ii）超音波（ＭＳ）処理は、ＰＲＥ−ＴＥＣＨ製超音波振動装置ＦＩＮＥＪＥＴ（１.６MHz）を用いて行った。
超音波処理の容器としては、石英製の容量１００mlのものを用いて、所定の照射時間（滞留時間）で試験水を流水し、処理後の流水を比抵抗計を装備した測定セル容器に流した。
（iii）比抵抗計は、電気化学計器株式会社製（ＭＸ−４）を使用して、試験水中に浸漬して測定した。
測定試験は、上記３種の溶存窒素水及び上記脱気水をそれぞれ１００mlを、比抵抗計を取り付けた容器に採取して、超音波照射時間経過と比抵抗値の変化を測定して、第１表の結果を得た。
【０００８】
【表１】

【０００９】
その結果を図１のグラフに示した。
実施例２
実施例１と同様に、３種の試験水と脱気水を、日本フォトサイエンス製紫外線装置（低圧水銀ランプ）を備えた容量５００mlの密封容器に、試験水の流量を所定の照射時間（滞留時間）に合わせて調整して注入した。
使用した低圧水銀ランプは、密封容器内部の石英ガラス管に収納されていて、出力６４０Ｗで紫外線の波長は、１５０〜３００ｎｍである。
密封容器から留出した試験水の比抵抗を各流量毎に測定して、紫外線照射時間、すなわち滞留時間と比抵抗値の変化の結果を図２のグラフに示した。
実施例のグラフから窒素を含まない超純水では比抵抗値の変化はほとんどないが、窒素を含むと比抵抗値が低くなり、窒素量が多いと低下の度合いが大きくなることが分かる。また、ラジカル発生後の溶存窒素とラジカルとの反応でイオンが生成する時間が短く、本発明方法が溶存窒素濃度の迅速な測定に使用できることが分かる。
実施例の結果によれば、３０秒〜１分以内の短時間で溶存窒素と比抵抗の変化を敏感に検知できるので、所望のリアルタイムのモニターとしての使用が充分可能になる。
かくて、上記実施例の結果より、溶存窒素濃度測定に要請される測定時間、測定精度に応じて、ラジカル発生部分における試料水の滞留時間を決定し、本発明の装置を具体的に設計することができる。
また、必要に応じて、ラジカル発生部を経由しない超純水の流れを別に設け、これを別の比抵抗計で抵抗値を測定して、ラジカル発生部を経由した超純水の比抵抗値から差し引くように設計することができることが実施例によって確認された。この場合、実施例で採用した種々の濃度の溶存窒素の試験水で実用装置と同一の装置によって、検量線グラフを予め用意することによって溶存窒素濃度の精度を向上させることができる。
このようなブランク試験水の測定によって、超純水に僅かに他のイオンが存在している場合も溶存窒素濃度の正確、かつ迅速な測定が可能となる。
【００１０】
【発明の効果】
本発明は、試料水にラジカル発生手段にかけたのち、比抵抗計によって窒素原子由来のイオン量を測定し、該イオン量に基づいて水中の溶存窒素濃度を算出する構成によって、超純水中の溶存窒素濃度の測定を連続的にリアルタイムで測定することを可能にした。
超純水の溶存窒素濃度を迅速に知ることによって、超純水の使用目的に対応して、超純水を溶存窒素除去処理にかけるか、又は調製後の超純水のモニタリングに使用することを可能にした点で超純水の分野における産業上の有用性は大きい。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、超音波振動処理を用いた溶存窒素測定方法における超音波照射時間と比抵抗値の変化を示す図である。
【図２】図２は、紫外線照射を用いた溶存窒素測定方法における紫外線照射時間と比抵抗値の変化を示す図である。

Claims (2)

1. 試料水にラジカルを発生させるラジカル発生手段と、ラジカル発生後の試料水中のイオン量を測定する比抵抗計とからなることを特徴とする超純水中の溶存窒素濃度測定装置。
2. 試料水をラジカル発生処理したのち、比抵抗計によって窒素原子由来のイオン量を測定し、該イオン量に基づいて水中の溶存窒素濃度を算出することを特徴とする超純水中の溶存窒素濃度の測定方法。

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