JP4209839B2 - レーザ照射装置の照射制御データを較正する方法 - Google Patents
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Description
本発明は、レーザビームを角膜に照射して角膜をアブレーションするレーザ照射装置の照射制御データを較正する方法に関する。
【背景技術】
レーザビームは治療用や加工用として様々な分野で用いられている。例えば、眼科分野では、レーザビームにより角膜をアブレーション(切除)して角膜の曲率を変えることにより眼の屈折異常を矯正するレーザ装置が知られている。この種の装置では、レーザビームの1ショット当たり(または1スキャン当たり)のアブレーションレート(アブレーション深さ)は、レーザ出力や導光光学系の経年変化等の要因によりしばしば変化する。このため、アブレーションレートの変化に対応させて加工対象物をアブレーションすることが重要となる。
アブレーションレートの変化に対応するために、本出願人は、特開平6−226471号において1つの方法を提案している。この方法は、既知のアブレーションレートを持つ透明平板(PMMA板)に、所期する屈折力を持つようにレーザ照射により曲面を形成し、アブレーションにより形成された透明平板曲面部分の屈折力をレンズメータ等で測定し、その測定結果に基づきアブレーションのためのデータを較正する、というものである。
このような方法により、アブレーションレートの変化に対応させて加工対象物をアブレーションすることができるようになったが、より精度良くアブレーションするためのさらなる技術も思考されている。
本発明は、アブレーション状態を容易に評価することができ、また、加工対象物を精度良くアブレーションすることができる方法、及びそれに供する装置を提供することを技術課題とする。
【発明の開示】
上記課題を解決するために、本発明は、以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) レーザビームを角膜に照射して角膜をアブレーションするレーザ照射装置の照射制御データを較正する方法は、人眼の角膜形状に似た第1の凸曲面形状を持つ較正用基準物をレーザ照射装置に配置し、第1の凸曲面形状を第2の凸曲面形状にすべく照射条件を入力してレーザビームを較正用基準物に照射する照射段階と、該照射段階で実際に形成された第3の凸曲面形状を各部分的な形状として光学的に測定する測定段階と、第1の凸曲面形状から第3の凸曲面形状と変化したアブレーション深さの分布と第1の凸曲面形状から第2の凸曲面形状へ変化させるアブレーション深さの分布とに基づいて、又は第2の凸曲面形状と第3の凸曲面形状との曲率変化の分布に基づいて、各部位の照射制御データを較正する較正段階と、を持つことを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
図1は、アブレーション装置システムの概略構成図である。
図2は、レーザ照射装置の導光光学系及び制御系の概略構成図である。
図3は、分割アパーチャ板の概略構成図である。
図4は、角膜形状測定装置の概略構成図である。
図5は、基準物のレーザ照射前の曲面形状、レーザ照射により予定される曲面形状、及びレーザ照射後の実際の曲面形状を説明する図である。
図6は、レーザ照射により予定されるアブレーション深さと実際のアブレーション深さとの関係を示す図である。
【発明を実施するための最良の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は、本発明に係る眼科用のアブレーション装置システムの概略構成図である。
200はエキシマレーザビームにより患者眼の角膜をアブレーションするレーザ照射装置である。10は凸曲面形状を持つ基準物であり、照射装置200の較正用に供する。基準物10は透明なPMMA(ポリメチルアクリルレート)から成り、その凸曲面形状は人眼の角膜形状に似た曲率を持つ。例えば、人眼の平均的な曲率半径R=7.8mmの半球面を持つ。この半球面の直径は12mmであり、10mm以上あることが好ましい。11は基準物10を支持する支持器であり、レーザ照射中に基準物10を安定して支持できればその構成は特に問わない。なお、レーザ照射により発生するカスがアブレーション面に付着してアブレーション後の形状に影響を与えるのを防ぐため、カス除去手段(ファンによるカスの吹き飛ばし、または吸引ポンプによるカスの吸引など)を支持器11または基準物10の近辺に設けることが好ましい。
100は角膜形状測定装置であり、後述するように、患者眼の角膜に多数の円環状のプラチドリングを投影してその像を検出することにより、角膜の広い範囲にわたって角膜曲率分布を得ることができ、角膜表面形状を測定することができる。なお、角膜形状測定はプラチドリングを使用した構成に限られるものでなく、例えば、スリット光により光切断した断面像を得て、これから角膜表面形状を測定する構成でもよい。この測定装置100は、角膜だけでなく基準物10の形状を測定する装置としても使用される。これにより、専用の測定装置を用意しなくても済むので、経済的に有利である。
30は解析装置であり、解析部31、モニタ32、キーボード等の入力部32、を備える。解析部31は、測定装置100で得られた角膜形状データと眼屈折力分布データとに基づき屈折矯正手術時のアブレーションデータを解析する機能を持つ。また、レーザ照射に対するアブレーションむら等を基準物10の測定結果に基づき解析する機能や、照射装置100の較正データを解析する機能等を持つ。解析装置30で得られた解析結果は、照射装置100のコンピュータ209に入力される。なお、解析装置30の機能は、測定装置100やコンピュータ209に持たせてもよい。
図2は、照射装置200の導光光学系及び制御系を説明する概略構成図である。210は193nmの波長を持つエキシマレーザビームを出射するレーザ光源である。レーザ光源210から出射されたレーザビームは、ミラー211,212により反射され、平面ミラー213でさらに反射される。ミラー213はミラー駆動部214により図における矢印方向に平行移動可能であり、レーザビームをガウシアン分布方向に平行移動(走査)する。215はイメージローテータであり、イメージローテータ駆動部216により中心光軸を中心に回転駆動され、レーザビームを中心光軸周りに回転させる。217はレーザビームの方向を変えるミラーである。
218はアブレーション領域を円形状に制限する可変円形アパーチャであり、アパーチャ駆動部219によりその開口径が変えられる。220はアブレーション領域をスリット状に制限する可変スリットアパーチャであり、アパーチャ駆動部221により開口幅とスリット開口の方向とが変えられる。222,223はレーザビームの方向を変えるミラーである。224は円形アパーチャ218およびスリットアパーチャ220を患者眼の角膜Ec上に投影するための投影レンズである。
また、スリットアパーチャ220とミラー222との間の光路には、分割アパーチャ板260が挿脱可能に配置される。分割アパーチャ板260は、分割シャッタ265との組み合わせにより、アブレーション領域をさらに制限する(スキャン領域を選択的に抽出する)。この分割アパーチャ板260及び分割シャッタ265は、角膜Ecの非対称成分をアブレーションするときに使用される。分割アパーチャ板260を光源210側から見ると、図3に示すように、同じ大きさの円形小アパーチャ261が6個並んでいる。これらの小アパーチャ261を分割シャッタ265が持つシャッタ板266によって選択的に開閉することにより、アブレーション領域をさらに制限してレーザ照射することができる。なお、各小アパーチャ261には、その開口を通過する際に起こる回折によるレーザビームの強度分布を補正する補正光学系が設けられている。分割アパーチャ板260及び分割シャッタ265は、駆動部268により、中心光軸の垂直な平面内で移動可能となっている。
225は193nmのエキシマレーザビームを反射して可視光及び赤外光を通過する特性を持つダイクロイックミラーであり、投影レンズ224を経たレーザビームはダイクロイックミラー225により反射されて角膜Ecへと導光される。ダイクロイックミラー225の上方には、固視灯226、対物レンズ227、双眼の顕微鏡部203、が配置される。
250はレーザ光源210や各駆動部214,216,219,221,268等を制御する制御部であり、コンピュータ209に接続されている。
この照射装置100におけるアブレーションは次のように行われる。一定の深さでアブレーションする場合、ミラー213を図2中の矢印方向に平行移動させ、レーザ光源210からのレーザパルスの繰返し周波数を踏まえた速度でレーザビームをガウシアン分布方向へ走査する。ミラー213はレーザパルスに同期させて移動される。すなわち、ある移動位置で1パルスまたは数パルス照射後にミラー213を次の位置に移動させ、再び1パルスまたは数パルス照射後にミラー213を移動させる。この動作をアパーチャ218の開口で制限される領域の一端から他端まで繰り返し、レーザパルスを重ね合わせる。そして、1走査毎に所定角度ずつ走査方向を変える。この重ね合わせの走査方向は、放射状に分散するようにすることが好ましい。なお、この対象物を均一にアブレーションする方法は、特開平6−114083号に詳細に記載されているので、詳しくはこれを参照されたい。
また、各走査におけるミラー213の移動速度を変化させることにより、加工対象物上でのレーザパルスの重ね合わせを変化させることができる。したがって、ミラー213の移動速度を適切に制御すれば、凸曲面に対しても略均一な深さでアブレーションすることができる。
近視矯正のための球面成分を取り除くべく角膜Ecの中央部を深くアブレーションする場合は、次のようにする。円形アパーチャ218の開口により制限された領域内を、ミラー213を順次移動させることによりレーザビームをガウシアン分布方向に走査する。そして、レーザビームが1走査されるごとにイメージローテータ215の回転によりレーザビームの走査方向を変更する(例えば、120度間隔の3方向に走査する)。これを円形アパーチャ218の開口径を順次変えるごとに行うことにより、角膜Ecの中央部を深く周辺部を浅くアブレーションすることができる。乱視成分を取り除く場合は、円形アパーチャ218の代わりにスリットアパーチャ220で同様な制御を行う。
また、部分的にアブレーションするときは、分割アパーチャ板260を使用する。分割アパーチャ板260を光路に配置し、分割アパーチャ板260が持つ小アパーチャ261の位置を制御すると共に、分割シャッタ265により小アパーチャ261を選択的に開閉する。ミラー213の移動によりレーザビームを走査することにより、開放された小アパーチャ261を通過するレーザビームのみが部分的に照射される。
図4は、測定装置100の概略構成図である。角膜形状測定光学系は、測定用指標投影光学系110と指標検出光学系120とから成る。投影光学系110は、中央部に開口を持つ円錐状のプラチド板111、LED等の複数の照明光源112、反射板113、を備える。プラチド板111には、測定光軸L1を中心にした同心円状に、多数の透光部と遮光部とを持つリングパターンが形成されている。光源112から出射された照明光は反射板113で反射され、プラチド板112を背後からほぼ均一に照明する。プラチド板112の透光部を透過したリングパターンの光は、角膜Ecに投影される。基準物10の曲面形状を測定するときは、患者眼に代えて基準物10が所定の位置に配置される。
検出光学系120は、ビームスプリッタ121、ミラー122、撮影レンズ123、CCDカメラ125、を備える。投影光学系110により投影されたリングパターンの反射光は、ビームスプリッタ121とミラー122とでそれぞれ反射された後、撮影レンズ123によりCCDカメラ125の撮像素子面上に結像する。また、この検出光学系35は観察光学系を兼ねており、図示なき前眼部照明光源によって照明された患者眼の前眼部像は、CCDカメラ125の撮像素子面上に結像し、TVモニタ126上に表示される。
ビームスプリッタ121の後方には、患者眼の眼屈折力分布を測定する屈折力測定光学系130が配置されている。この屈折力測定光学系130は、回転セクタにより走査されるスリット光を患者眼の眼底に投影する光学系と、スリット光の走査方向に対応した経線方向で角膜Ecに略共役な位置に測定光軸を挟んで対称に配置された受光素子を複数対持つ受光光学系と、を有し、スリット光と受光素子とを光軸回りに同期して回転させることにより、対となる受光素子の各々の位相差信号に基づいて各経線方向で変化する屈折力分布を広い範囲で得る。なお、この眼屈折力分布測定については、特開平10−108837号、特開平11−342152号に詳細に記載されているので、詳しくはこれを参照されたい。
CCDカメラ125の出力と屈折力測定光学系130が持つ受光素子の出力とは、演算・制御部140に接続されている。演算・制御部140は、CCDカメラ125で撮像された像を画像処理して、プラチドリング像のエッジを検出する。そして、所定の角度(例:1度)ステップ毎に角膜中心に対する各エッジ位置を得ることにより、角膜曲率を求める。基準物10の曲面形状についても同様に処理する。演算・制御部140により得られた角膜Ec及び基準物10の演算結果は、トポグラフィとしてTVモニタ126にカラー表示される。また、演算・制御部140により得られた眼屈折力分布も、カラーマップとしてTVモニタ126に表示される。
以上のようなアブレーション装置システムにおいて、アブレーション状態の評価及び較正方法について説明する。
まず、照射装置200の導光光学系に対し、基準物10を所定の位置に配置する。照射装置200のコンピュータ209により、あるレンズ分を矯正するものとして、その度数データを入力する。例えば、−3.00Dの近視矯正をすべく、+3.00Dのレンズを取り除くようなデータを入力する。また、図5(a)に示すように、基準物10の曲面形状R1のデータ(曲率=半径7.8mm)とアブレーション領域OZのサイズデータとを入力しておく。基準物10のレーザ照射(アブレーション)前の曲面形状R1が既知でない場合には、測定装置100により測定して得ることができる。コンピュータ209はこれらのデータ及び基準物10の屈折率(既知)に基づき、レーザ照射(アブレーション)後に予定される曲面形状R2を求める。そして、曲面形状R1と曲面形状R2とから、アブレーション領域OZにおけるアブレーションデータを求める。このアブレーションデータに基づき、レーザ照射条件となる各駆動部の制御データを定める。
制御部250は、前述の近視矯正の場合と同様に、制御データに基づき円形アパーチャ218の開口径とミラー213の移動とを制御することにより、基準物10をその中央部が深くなるようにアブレーションする。
レーザ照射後、実際にアブレーションした基準物10の曲面形状R3(図3(b)参照)を測定装置100により測定する。測定に際しては、基準物10を測定装置100が持つ顎台ユニットに取り付け、治具を用いて固定する。測定装置100では、角膜Ecの測定と同様に、基準物10のアブレーション面に多数の円環状のプラチドリングを投影してその像を検出することにより、レーザ照射後の実際の曲面形状R3が測定される。
アブレーション状態を評価する場合は、曲面形状R1,R2,R3等のデータを解析部31に入力する。解析部31は、曲面形状R2の形成に対して曲面形状R3を形成したときの形状変化を解析する。例えば、曲面形状R2と曲面形状R3とを比較し、その曲率分布の差分を解析する。あるいは、曲面形状R1から曲面形状R2にするときのアブレーション深さの分布と実際にアブレーションした後の曲面形状R3におけるアブレーション深さの分布とから、その差分を解析する。解析結果は、トポグラフィとしてTVモニタ126に表示される。トポグラフィはカラーマップの形式で表示すると分かり易い。曲面形状R2を一様な形状とするときには、単に曲面形状R3を屈折力値に変換したマップとしても表現することができる。これらの解析結果により、実際に角膜にレーザ照射することなく、照射装置200の現状におけるアブレーション面のむら分布やエネルギ分布等を評価することができる。また、照射装置200の調整、調整後の確認に使用することができる。その他、手術結果の予測が可能となる。
次に、照射装置200の制御を較正する方法を説明する。この方法としては、照射装置200に測定装置100で測定された曲面形状R3をフィードバックして較正する方法と、解析装置30でアブレーションデータを曲面形状R3等のデータに基づいて較正する方法と、がある。
照射装置200にフィードバックする場合は、測定装置100で測定された曲面形状R3のデータをコンピュータ209に入力する。曲面形状R2の形成に対して曲面形状R3を形成したときの形状変化は、アブレーションレートの変化として解析することができる。例えば、レーザ照射前後の曲面形状R1,曲面形状R3の曲率半径の変化と基準物10の屈折率とから、実際にアブレーションされたレンズ分の屈折力値を演算により得ることができる。これと、曲面形状R2を形成すべく決定されたレーザ照射条件の屈折力値とを比較することにより、基準物におけるアブレーションレートの変化を知ることができる。簡易的には、このアブレーションレートの変化を使用して、照射装置200の駆動制御データを較正することができる。
また、屈折力変化として捉える代わりに、レーザ照射前後の曲面形状の変化から中央部で実際にアブレーションされた深さ情報が得られるので、これと曲面形状R2を形成すべく決定されたレーザ照射条件とから、そのまま基準物におけるアブレーションレートを知ることができる。すなわち、アブレーション深さを実際に施したレーザ照射条件のショット数(スキャン数)で割り算すれば、中央部における現在のアブレーションレートを知ることができる。
さらに、任意位置でのアブレーション深さ情報が得られるので、各位置におけるショット数(スキャン数)で割り算することにより、その各位置でのアブレーションレートを知ることができる。各位置でのアブレーションレートを詳細に知ることができれば、周辺側のアブレーション不足や部分的なアブレーション面のムラを較正することができる。
なお、人眼の角膜のアブレーションレートは、PMMAのアブレーションレートに対して2倍程の値となることが経験的に得られている。従って、PMMAから成る基準物を用いた場合、人眼の角膜に対するPMMAのアブレーションレートの関係と上記の演算で求められるPMMAでのアブレーションレートとから、角膜に対する現在のアブレーションレートを得ることができる。
照射装置200の較正を説明する。アパーチャ218の開口径がアブレーション深さに対する関数として表現できるときは、現在のアブレーションレートに対するアパーチャ218の各開口径を演算し、その演算結果に基づいてアパーチャ218の開口径を変化させる。これは、アブレーション領域におけるアブレーションレートが回転対称で変動する場合にも対応することができる。また、アブレーションレートが線対称に変動するときには、スリットアパーチャ220の開口幅の制御により同様に対応することができる。
また、アパーチャ218の開口径の制御は従来のままで、レーザビームの1スキャンにおけるミラー213の移動速度を中央部と周辺部とで変化させることにより、回転対称で変動するアブレーションレートに対応することができる。すなわち、アブレーション領域の中央部に対して周辺部がアブレーション不足となる場合、中央部から周辺部にいくにしたがってミラー213の移動速度を遅くし、周辺側のショット数(レーザ照射時間)を多くする。この方法は、アパーチャ218の開口径を一定にしたまま、一定の深さをアブレーションする治療(PTK)の場合に特に有効である。
さらに、部分的にアブレーションレートが変動する場合には、部分的なアブレーションに用いる分割アパーチャ板260の制御により対応することができる。上記のアパーチャの開口制御やミラー213の移動制御で対応できない部分についは、分割アパーチャ板260の制御により小領域のレーザビームを部分的に照射する。各位置ではアブレーションレートで割ることによりショット数(レーザ照射時間)を決定する。
コンピュータ209で上記のような各駆動部の制御データの較正が終了したら、再度、新たな基準物10にレーザ照射し、アブレーションされた基準物10の曲面形状を測定装置100により測定し、較正状態を確認する。
次に、解析装置30でアブレーションデータを較正する場合を説明する。アブレーション領域OZ,曲面形状R1,曲面形状R2,曲面形状R3の各データを解析部31に入力する。解析部31は、曲面形状R2の形成に対して曲面形状R3を形成したときの形状変化を解析する。図6に示すように、レーザ照射前の曲面形状R1のデータとレーザ照射により予定される曲面形状R2のデータとから、アブレーションレートが基準値のときにアブレーションされる深さD1(予定深さ)をアブレーション領域OZの各位置で算出する。次に、レーザ照射前の曲面形状R1のデータと実際にアブレーションされた曲面形状R3のデータとから、実際にアブレーションされた深さD2をアブレーション領域OZの各位置で算出する。これから各位置でのアブレーション深さの変化率である較正常数k(r,θ)を次式により求める。
k(r,θ)=設定深さD1/実際にアブレーションされた深さD2
ここで、rは照射中心に対する距離、θは基準方向に対する角度とし、位置のパラメータを極座標系(r,θ)で表すものとする。この較正常数k(r,θ)を使用して、手術時に照射装置200に入力するアブレーションデータを較正する。
実際に患者眼のアブレーションデータを算出するときは、測定装置200により測定した術前の角膜形状データと屈折力分布データとを解析部31に入力する。また、アブレーション領域のサイズデータを入力する。解析部31は入力された各データに基づき、アブレーションレートが基準値であるときのアブレーションデータ(ショットデータ)を決定する。広い範囲にわたる屈折力分布データを使用することにより、眼の収差をも補正するアブレーションデータを得ることができる(この算出の詳細は、特開平11−20781号等を参照)。なお、このアブレーションデータの算出は測定装置200で行ってもよい。算出したアブレーションデータに対して、前述の較正常数k(r,θ)を掛けて較正後のショットデータであるアブレーションデータを決定する。
較正後のアブレーションデータを照射装置200に入力する。予めアブレーションデータを較正しておけば、照射装置200ではそのアブレーションデータに従って各駆動部214,216,219,221,268を制御すれば、目的とするアブレーションが可能となる。
以上説明した照射装置200は、アパーチャ開口制御、レーザビームの平行走査を使用する構成としたが、1.0mmほどの小スポットのレーザビームをガルバノミラー等で走査する方式であってもよい。
【産業上の利用可能性】
以上説明したように、本発明によれば、加工対象物の曲面に近似した曲面形状を持つ基準物を使用することにより、アブレーション状態を容易に評価することができる。また、加工対象物を精度良くアブレーションすることができる。さらにまた、基準物の曲面形状の測定に専用の装置を準備しなくてよいので、経済的にも有利となる。
Claims (1)
- レーザビームを角膜に照射して角膜をアブレーションするレーザ照射装置の照射制御
データを較正する方法において、
人眼の角膜形状に似た第1の凸曲面形状を持つ較正用基準物をレーザ照射装置に配置し、第1の凸曲面形状を第2の凸曲面形状にすべく照射条件を入力してレーザビームを較正用基準物に照射する照射段階と、
該照射段階で実際に形成された第3の凸曲面形状を各部分的な形状として光学的に測定する測定段階と、
第1の凸曲面形状から第3の凸曲面形状と変化したアブレーション深さの分布と第1の凸曲面形状から第2の凸曲面形状へ変化させるアブレーション深さの分布とに基づいて、又は第2の凸曲面形状と第3の凸曲面形状との曲率変化の分布に基づいて、各部位の照射制 御データを較正する較正段階と、
を持つことを特徴とするレーザ照射装置の照射制御データを較正する方法。
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