JP2914836B2 - レ−ザビ−ムによるアブレ−ション装置 - Google Patents
レ−ザビ−ムによるアブレ−ション装置Info
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Description
ブレ−ション装置、殊にビ−ム断面の一方向が均一でそ
れと直交する方向がガウス分布等の不均一な強度分布を
もったレ−ザビ−ム(代表的にはエキシマレ−ザ)によ
り角膜等の対象物の特定面積をアブレ−ションする装置
に好適な装置に関する。
表面をアブレ−ションし、その曲率を変化させて眼球の
屈折異常を矯正する手法においては、レ−ザビ−ムでア
ブレ−ションする深さが均一になるように制御すること
が必要である。そこで、本出願人は特願平2−4167
67号(発明の名称「レ−ザビ−ムによるアブレ−ショ
ン装置」)や特願平4−61211号(発明の名称「レ
−ザビ−ムによるアブレ−ション装置」)において、ビ
−ム断面の一方向が均一でそれと直交する方向がガウス
分布等の不均一な強度分布をもったレ−ザビ−ムを、不
均一な強度分布の方向に並進スキャンさせることにより
均一な深さのアブレ−ションを行う方法を提案した。
法はレ−ザビ−ム断面の一方向がほぼ均一になっていな
いとアブレ−ション後の深さが均一にならないという欠
点があった。即ち、レ−ザの共振器のアライメント不良
等により、レ−ザ光源から出射されるレ−ザビ−ムの均
一性には個々のレ−ザ発振器によりバラ付きが生じてい
る。このように均一であるべき方向の強度分布が無視で
きない程度に均一でない場合には(図3参照)、並進ス
キャンを行っている方向には均一な深さになるが、それ
と直交するスキャンしない方向にはレ−ザビ−ムの不均
一な分布がそのまま残ってしまい、アブレ−ション領域
全体が均一な深さにならないという欠点がある。また、
アブレ−ションする対象物へ導光する光学系に何等かの
不具合があるために、アブレ−ション面上で不均一にな
っているときにも、同様なことが生じる。本発明の目的
は上記問題点に鑑み、レ−ザビ−ムを並進スキャンして
アブレ−ションする装置において、レ−ザビ−ム断面の
本来均一であるべき方向の強度分布が均一で無かった場
合にも均一な深さのアブレ−ションが行える装置を提供
することにある。
ような特徴を持つ。 (1) レーザビームの照射により対象物の所定の領域
をアブレーションするレーザビームによるアブレーショ
ン装置において、不均一な強度分布をもったレーザビー
ムを一定の方向にスキャンすることにより所定の領域を
ほぼ均一にアブレーションするためのビームスキャン手
段と、レーザビームの断面の方向を光軸回りに回転させ
る光学系であって、該ビームスキャン手段よりも対象物
側に配置されたビーム回転光学手段と、前記ビームスキ
ャン手段により所定の領域をアブレーションした後スキ
ャン方向を変えるように,該ビーム回転光学手段の回転
を制御する制御手段と、を備え、スキャン方向を変えて
アブレーションの重ね合わせを行なうようにしたことを
特徴とする。
それと直交する方向がガウス分布等の不均一な強度分布
をもったレ−ザビ−ムを、不均一な強度分布を持つ方向
に並進スキャンすることにより均一なアブレ−ションを
行うレ−ザビ−ムによるアブレ−ション装置において、
ビ−ム断面の方向を光軸回りに回転させる光学手段と、
前記所定の並進スキャンごとに該光学手段の回転を制御
する制御手段とを有することを特徴とする。
明する。図1は実施例の光学系の配置図である。1はエ
キシマレ−ザ光源であり、そのレ−ザ光源から出射され
るレ−ザビ−ムの断面形状は、図2に示すように、ビ−
ムの水平方向(X軸方向)の強度分布がほぼ均一な分布
F(W)で、垂直方向(Y軸方向)の強度分布がガウシ
アン分布(ガウス分布)F(H)となっている。2,
3,7は平面ミラ−でレ−ザビ−ムを90度偏向するた
めのものであり、レ−ザ光源1より水平方向に出射され
たレ−ザビ−ムは平面ミラ−2により上方へ90度偏向
され、平面ミラ−3で再び水平方向に偏向される。平面
ミラ−3はZ軸方向(矢印方向)に平行移動し、不均一
な強度分布の方向に並進スキャンする。4はイメ−ジロ
−テ−タで、レ−ザビ−ムを光軸回りに回転する。5は
アブレ−ション領域を限定するアパ−チャであり、アパ
−チャ5は開口の径を変えることができる。6はアパ−
チャ5を眼球角膜8の上に投影する投影レンズである。
投影レンズ6に対してアパ−チャ5と眼球角膜8は共役
な位置関係になっており、投影レンズ6によりアパ−チ
ャ5で限定した領域が眼球角膜8の上に結像し、アブレ
−ション領域を限定する。投影レンズ6を通ったレ−ザ
ビ−ムは、平面ミラ−7で下方に偏向されて眼球角膜8
へ到達する。眼球角膜8は、図示しない観察系で観察さ
れ、装置に対して所定の位置関係に位置決めされ、固定
される(位置決め手段については図示せず)。
均一な深さのアブレ−ションのためのスキャンについて
説明する。なお、平面ミラ−3を平行移動しての並進ス
キャンについては、特願平2−416767号(発明の
名称「レ−ザビ−ムによるアブレ−ション装置」)又は
特願平4−61211号(発明の名称「レ−ザビ−ムに
よるアブレ−ション装置」)に詳しく記載されているの
で参照されたい。図3に示したように、レ−ザビ−ムの
X軸方向の強度分布F(W)が均一でなく、例えば図3
のF´(W)のように片側のほうが強いような場合、並
進スキャンでアブレ−ションを行うと、図4のように、
並進スキャンを行った方向(Y軸方向)はほぼ均一な深
さになるが、並進スキャンを行わなかった方向(X軸方
向)は強度分布F´(W)の偏りの通りに、光強度の強
いほうが深く、弱いほうが浅く、偏った深さ分布にな
る。これを何スキャンも重ねると浅い側と深い側との差
が非常に大きくなってしまう。そこで、イメ−ジロ−テ
−タ4により、1スキャンごとに並進スキャンする方向
を回転させ、深さの偏る方向を変えることによって、片
側が極度に深く偏ったアブレ−ションされることがなく
なる。発明者の実験結果によれば、スキャン方向は12
0度間隔の3方向に設定し、スキャンごとに順次スキャ
ン方向を変えることにより角膜手術には十分な結果が得
られた。この回転角度の設定は、要求される均一さの程
度、スキャンの重ね合わせの回数や強度分布の偏りの程
度等を考慮して決定される。このように、並進スキャン
のみでアブレ−ションするのに対して、並進スキャンす
る方向を回転させることによってレ−ザ発振器等の個体
差による強度分布の偏りを補正して、均一な深さのアブ
レ−ションが行うことができる。
等により入力された矯正デ−タに基づいて、マイクロコ
ンピュ−タが行なう。なお、本実施例の説明中の方向を
示す語は、レ−ザのエネルギ分布方向との関係を特定す
るために使用したもので、それ以上の格別な意味はな
い。また、本実施例はアパ−チャ5を投影レンズ6で眼
球角膜8に投影してアブレ−ション領域を限定している
が、図5のように眼球角膜8の直前にアパ−チャ5をお
いてアブレ−ション領域を限定しても良い。また、均一
な光量分布を得る方式としては、上記の並進スキャン方
式以外でも、一定の吸収特性を持つフィルタを光路に挿
入する方式も提案されているが、レ−ザ発振器の個体差
を取り除くことはできないので、光束を光軸回りに回転
させて本発明を利用することができる。以上の実施例は
角膜のいわゆるワイドアブレ−ションを念頭においた説
明を行ったが、本発明の技術思想を越えることなく、他
の加工に利用できることは明らかである。
て一定領域をアブレ−ションする装置において、レ−ザ
ビ−ムの強度分布の個体差等を補正して均一なアブレ−
ションが可能とする。
示す説明図である。
度分布の例を示す説明図である。
のアブレ−ションの様子を示す説明図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 レーザビームの照射により対象物の所定
の領域をアブレーションするレーザビームによるアブレ
ーション装置において、不均一な強度分布をもったレー
ザビームを一定の方向にスキャンすることにより所定の
領域をほぼ均一にアブレーションするためのビームスキ
ャン手段と、レーザビームの断面の方向を光軸回りに回
転させる光学系であって、該ビームスキャン手段よりも
対象物側に配置されたビーム回転光学手段と、前記ビー
ムスキャン手段により所定の領域をアブレーションした
後スキャン方向を変えるように,該ビーム回転光学手段
の回転を制御する制御手段と、を備え、スキャン方向を
変えてアブレーションの重ね合わせを行なうようにした
ことを特徴とするレーザビームによるアブレーション装
置。 - 【請求項2】 ビーム断面の一方向がほぼ均一でそれと
直交する方向がガウス分布等の不均一な強度分布をもっ
たレーザビームを、不均一な強度分布を持つ方向に並進
スキャンすることにより均一なアブレーションを行うレ
ーザビームによるアブレーション装置において、ビーム
断面の方向を光軸回りに回転させる光学手段と、前記所
定の並進スキャンごとに該光学手段の回転を制御する制
御手段とを有することを特徴とするレーザビームによる
アブレーション装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4286999A JP2914836B2 (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | レ−ザビ−ムによるアブレ−ション装置 |
US08/219,412 US5637109A (en) | 1992-02-14 | 1994-03-29 | Apparatus for operation on a cornea using laser-beam |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4286999A JP2914836B2 (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | レ−ザビ−ムによるアブレ−ション装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06114083A JPH06114083A (ja) | 1994-04-26 |
JP2914836B2 true JP2914836B2 (ja) | 1999-07-05 |
Family
ID=17711715
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4286999A Expired - Fee Related JP2914836B2 (ja) | 1992-02-14 | 1992-09-30 | レ−ザビ−ムによるアブレ−ション装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2914836B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3709335B2 (ja) * | 2000-09-28 | 2005-10-26 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
WO2003092565A1 (fr) | 2002-04-30 | 2003-11-13 | Nidek Co., Ltd. | Procede d'ablation utilisant un faisceau laser, et dispositif d'ablation |
-
1992
- 1992-09-30 JP JP4286999A patent/JP2914836B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06114083A (ja) | 1994-04-26 |
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