JP4198764B2 - ドーピングしたシリカを光ファイバプリフォームの外側に堆積させる方法 - Google Patents

ドーピングしたシリカを光ファイバプリフォームの外側に堆積させる方法 Download PDF

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Description

本発明は光ファイバプリフォームを製造する方法に関し、この方法は、シリカを主に含み、かつシリカベースの外周部分を含むバーである1次プリフォーム上にシリカを堆積させることによって、少なくとも1つのシリカベースの外側堆積層を形成することを含む。
知られている方法では、例えばプラズマビルドアップ(plasma build−up)に関係する第1図に示すように、プリフォームの直径を拡大するために、1次プリフォーム上で外側堆積を実行する。直径の拡大により、第2図に示す光ファイバの長さが伸ばされる。光ファイバは、外側堆積の結果生じたプリフォームを熱間線引きして作成することができる。内付け化学気相成長法(Modified Chemical Vapor Deposition、MCVD)技術で作成しても、気相軸付け法(Vapor Axial Deposition、VAD)技術で作成しても、1次プリフォームは、シリカを主に含み、かつシリカをベースとする外周部分を含むバーである。前記外周部分は、通常は1次プリフォームの側壁となるシリカベースの管であり、前記バーは、外周部分の内側で、異なる屈折率を有する光クラッディングおよびコアを含む。プラズマビルドアップによって外側堆積を実行するときには、一般にシリカグレン(silica grain)の形態となるシリカを、ビルドアップ層が前記外周部分とほぼ同じ屈折率を有するように、1次プリフォームのシリカベースの外周部分の上に堆積させる。
第1図は、透明な窓2を有するエンクロージャ1と、プラズマトーチ4およびビルドアップグレンを供給するノズル5が向けられた、縦軸Xが手前向きに見えるプリフォーム3とを含むプラズマビルドアップ装置を、極めて概略的に示す図である。エンクロージャ1の外側で、窓2の後方に位置するCCDカメラ6がプリフォーム3に向けられる。これは、それが向けられた位置のプリフォームの直径の測定値を、ビルドアッププロセスを制御する装置8にリンク7を介して伝送される値の形態で与える。マルチプルリンク9を介して、装置8は、ビルドアッププロセスの条件についてのその他の指示も受信する。ビルドアッププロセスを制御する内部プログラムの作用下で、また一定のグレン送り速度で、装置8は、制御装置11に接続された出力リンク10を介して、プリフォーム3に対して相対的にノズル5を位置決めする制御値を送る。ノズル5は、プリフォーム3の縦軸Xと平行な軸に沿って変位して、それに従って位置決めされる。マルチプルリンク12を介して、装置8は、制御プロセスのその他の面を管理するその他の制御値も送る。
第1図に示す装置の要素は全て、当業者には良く知られている。その他の要素(図示せず)も良く知られている。これに該当するのは、例えばヨーロッパ特許出願第EP−A1−0440130号に記載の、プリフォーム3を回転および並進駆動できるようにしながら支持する手段、プリフォーム3の縦軸と平行に並進するように駆動されるのに適した、プラズマトーチ4およびノズル5を支持するキャリッジ、ならびにプリプォーム3の角度位置およびキャリッジの縦方向の位置を評価する手段である。従来の方法では、これらの手段は協働して、プリフォーム3が大きくなるにつれて、これをトーチ4から遠ざけるように移動させることができる。測定段階中に、カメラ6をプリフォーム3上の連続位置に向ける手段も同様に、この従来技術の一部となり、その変位が第1のキャリッジの変位に結合される第2のキャリッジで構成することができる。
プラズマビルドアップは、プラズマトーチ4およびノズル5がプリフォーム3の長さを走査する段階中に、右から左に、次いで左から右に起こる。
制御プロセス全体を最適化し、所与の並進速度で、また所与のビルドアップ層の屈折率で、堆積させたシリカの量について高い歩留りが得られるようにする。
同時に、カメラ6は測定段階を実行し、プリフォーム3の全長に沿ったその直径の連続値を提供する。状況を単純にするために、カメラ6は1段階おき、例えば右から左への段階でしか測定を実行せず、その後の段階中にはカメラ6の出力が使用できないことが好ましい。
第2図は、1次プリフォーム24、例えばMCVD法を使用して作成したプリフォームに、シリカベースの外側堆積方法を適用することによって得られたプリフォーム3を、熱間線引きして作成した光ファイバ15の概略断面図である。光ファイバ15およびプリフォーム3の各層は、尺度を無視すれば対応しているので、プリフォーム3および第2図に示す光ファイバ15の双方に対して同じ参照符号20〜24を使用する。1次プリフォーム24は、光コア20、クラッディング21、および外周部分22を含む。1次プリフォーム24は、MCVD法を使用して、管22の内側で光コア20および光クラッディング21を形成する任意にドーピングしたシリカベース層を内付け(internal deposition)し、続いてこのようにして内部を被覆された管22を、コラップスによって変形させてバーにすることによって作成される。このバーが1次プリフォーム24を構成し、その後、1次プリフォーム24上に堆積させた外側堆積層23の外側シリカベース堆積によって、最終的なプリフォーム3を作成する。
発生する問題は、熱間線引き操作中に、シリカベースの外側堆積層および1次プリフォームのシリカベースの外周部分から縮小されたその厚さ全体で一定の屈折率を有する光ファイバを得る問題である。プリフォームを熱間線引きして得られた光ファイバでは、望ましくない屈折率のステップが見つかり、前記ステップは外周部分とシリカベースの外側堆積層の間の境界面に位置する(尺度は無視する)。前記外周部分は、明らかに熱間線引き中に外側堆積層と同じ圧縮応力を受けていないことが分かる。
このために、本発明は、シリカを主に含み、かつシリカベースの外周部分を含むバーで構成された1次プリフォーム上にシリカを堆積させることによって、少なくとも1つのシリカベースの外側堆積層を形成することを含む、光ファイバプリフォームを製造する方法を提供し、この方法は、外側堆積層の大部分にわたって、CaF2、MgF2、AlF3、B23、およびAl23で形成されるグループから選択した少なくとも1つの化合物をシリカに添加することによって、外側堆積層の粘性を、1次プリフォームの外周部分の粘性とほぼ等しくなるように調節することを特徴とする。
好ましくは、CaF2、MgF2、およびAlF3で構成されたグループからドーパントを選択した場合には、ドーパントの比率は、シリカに対するフッ素化された元素(すなわちカルシウム、マグネシウム、またはアルミニウム)の重量で5ppm〜100ppm、好ましくは10ppm〜40ppmの範囲内となる。粘性に対する有意な効果を得るためには、ドーパントを十分含むことが必要である。一方、前記ドーパントの比率が高すぎる場合には、プリフォームから製造した光ファイバの直径の安定性に関して問題が生じ、公称値付近の屈折率の変動も、製造業者が設定した許容範囲に比べて大きくなりすぎる可能性がある。
好ましくは、B23およびAl23で形成されたグループからドーパントを選択した場合には、ドーパントの比率は、シリカに対する酸化された元素(すなわちホウ素またはアルミニウム)の重量で0.01%〜1%、好ましくは0.1%〜0.6%の範囲内となる。粘性に対する有意な効果を得るためには、ドーパントを十分含むことが必要である。一方、前記ドーパントの比率が高すぎる場合には、逆にドーパントによってシリカが過度に軟化するので、新しい屈折率のステップが観察される。
本発明の実施態様では、シリカは、一般に50μm〜300μmの範囲のサイズのグレンの形態である。
上述の好ましい比率でシリカにドーパントをドーピングすることにより、1次プリフォームの外周部分の粘性とほぼ等しい熱間線引き中の粘性を有する外側堆積層が形成され、それによりシリカベースの外周部分と外側堆積層がほぼ同じ応力状態となり、プリフォームを横切って延びる平面内で均一な線引きがもたらされる。その結果として、光ファイバの、ビルドアップ層およびシリカベースの外周部分から縮小された厚さは、同じ屈折率を保持する。
使用するドーパントの比率は、シリカベースの外周部分を介した光ファイバのクラッディングおよびコア中へのドーパントの拡散が、光減衰特性に悪影響を及ぼす点に関して重大でないような比率であると有利である。
ドーパントは、ビルドアップ層の屈折率を前記シリカベースの外周部分の屈折率に関連してほとんど修正することなく、ビルドアップ層および1次プリフォームの外周部分の粘性を調節することができるようなシリカに対する比率で供給されることが好ましい。
本発明のその他の特徴および利点は、第1図から第5図によって図示する、異なる2つのドーパント、すなわちアルミナおよびフッ化カルシウムの場合についての、以下の特定の実施態様の説明を読めば明らかになるであろう。
上述の第1図は、本発明の方法を実施することができるプラズマビルドアップ装置を示す概略図である。
上述の第2図は、例えばMCVD法を使用して作成した1次プリフォームから出発して本発明の方法によって得ることができる光ファイバを示す概略断面図である。
第3図は、ドーピングしていないシリカベースの外側堆積層を有する従来技術のプリフォームから熱間線引きした光ファイバの屈折率プロフィルを示す図である。
第4図は、本発明による、アルミナをドーピングしたシリカベースの外側堆積層を有するプリフォームから熱間線引きした光ファイバの屈折率プロフィルを示す図である。
第5図は、本発明による、フッ化カルシウムをドーピングしたシリカベースの外側堆積層を有するプリフォームから熱間線引きした光ファイバの屈折率プロフィルを示す図である。
以下の例では、1次プリフォームをビルドアップする方法を、上述の第1図に示す本発明の特定の実施態様で、円筒形の、それ自体の軸の周りで回転するように支持された1次プリフォーム24およびその後のビルドアップされたプリフォーム3を保持する旋盤と、プリフォームの軸Xに対して垂直な軸を有するプラズマトーチ4とを含むビルドアップベンチを用いて実行する。プラズマトーチ4は並進移動することができ、プリフォーム3に対して平行に変位して、これを予熱する。
1次プリフォーム24は、MCVDタイプの方法で作られ、上述の第2図に示す。これは、光クラッディング21を有するシリカ管の形態のシリカベースの外周部分22、およびその中に堆積させたコア20から構成される。プリフォーム3から製造される光ファイバ15の減衰特性を改善するために、超高純度シリカの管22を使用することが好ましい。
ビルドアップ層23の形成は、1次プリフォーム24のシリカ管22上に、シリカがグレンの形態で堆積したときに開始される。プラズマがある場合には、シリカグレンは単に、1次プリフォーム24に対して平行に並進移動するノズル5から構成された送りダクトから、重力によって堆積させるだけである。シリカグレンは溶融し、次いでプラズマによって摂氏約2300度(℃)の温度でガラス化される。ビルドアップ操作は、電磁気的外乱およびプラズマトーチ4から放出されたオゾンから防護するために、閉鎖されたキュービクル中で行われる。
本発明によれば、アルミナまたはフッ化カルシウムのドーパント粒子は、送りダクト5中でシリカのグレンと混合され、同時に堆積する。第1の送りダクトを介してシリカを送出し、ドーパント粒子は、シリカを供給する第1のダクト5に非常に近いプラズマトーチ4の近くに開いた第2の送りダクトを介して送出することもできる。上述のように、ドーパント粒子をビルドアップ層23中に導入することで、光ファイバ15を作成する際に使用される熱間線引き操作中に、1次プリフォームの外周部分22すなわちシリカ管とほぼ等しい粘性がこの層に与えられる。
ドーパント粒子は、シリカグレンおよび1次プリフォーム24の管22の純度によって決まる、シリカグレンに対する相対的な比率で導入される。
例1:アルミナの使用
天然シリカに対する酸化された元素すなわちアルミニウムの重量が0.1%となるアルミナAl23粒子を、超高純度シリカの管22を有する1次プリフォーム24をビルドアップするときに使用する。このような条件下では、熱間線引き中の粘性が、1次プリフォーム24の管22のそれとほぼ等しいビルドアップ層23が得られる。
通常は数十マイクロメートル(μm)である最大サイズの超高純度アルミナ粒子を使用するようになっている。50μm未満のサイズのパイロジェニック(pyrogenic)アルミナ粒子を使用し、ビルドアップ層23中に粒子がより均一に分散するようにすることが好ましい。
屈折率プロフィル、すなわちその横座標がファイバ15の中心からの距離をμm単位で表し、その縦座標が屈折率の値を表す曲線を、第3図および第4図の両方に与える。これらはそれぞれ、従来技術および本発明によってビルドアップされた1次プリフォーム3から光ファイバ15を熱間線引きした場合である。1次プリフォーム24のシリカ管22は、1200ppm(parts per million)の塩素を含み、ビルドアップ層23は、天然シリカのグレンから構成されていた。
第3図に示す第1の場合には、ビルドアップ層23は、ドーピングしていないシリカをベースにしていた。所与の光ファイバ15について、屈折率プロフィルは、光ファイバ15の中心から約20μmの所にステップを有し、これはビルドアップ層23およびシリカ管22から縮小された2つの厚み部分間の境界面に対応することが分かる。コア20およびクラッディング21による屈折率プロフィルの部分も、第3図に示す。
第3図と同様に光ファイバ15の部分20、21、22、および23の屈折率プロフィルを示す、第4図に示す第2の場合には、ビルドアップ層23の天然シリカグレンは、パイロジェニックアルミナで0.1%までドーピングされた。この屈折率プロフィルが、光ファイバ15の中心から約20μmではほぼ平坦であること、および第3図で観察された屈折率のステップがほぼ消滅していることが分かる。この結果は、ビルドアップ層23に供給されたアルミナの影響を示し、熱間線引き中に、前記ビルドアップ層23から縮小された光ファイバ15の厚み部分と1次プリフォーム24のシリカ管22から縮小された光ファイバ15の厚み部分の間で同じ屈折率を維持することに関する。
また、アルミナで約30重量%程度まで高度にドーピングされた合成シリカグレンの形態でアルミナ粒子を導入し、それにより、堆積させる前にシリカ格子中にアルミナを組み込むことができるようにし、こうしてビルドアップ層23の均一性を向上させるようになっている。
さらに、Al23、あるいはAlF3または実際にはB23の粒子をビルドアップ層23中に導入すると、光ファイバ15中に水素が存在することによる減衰損が低下するので有利である。
例えば、アルミナ粒子を使用せずにビルドアップされたプリフォーム3から作成し、標準的な水素外圧の条件下で試験した光ファイバ15は、1.55μmで、減衰が0.1dB/km(1キロメートルあたり0.1デシベル)から0.5dB/kmまで変化することを示した。上記で指定した比率で、プリフォーム3のビルドアップ層23中にアルミナ粒子が存在する場合には、光ファイバ15は、同じ波長で、水素による減衰が0.05dB/kmから0.1dB/kmまで変化することを示し、これは減衰の増加程度が小さくなっていることに対応する。
例2:フッ化カルシウムの使用
その管22が超高純度シリカで作成された1次プリフォーム24をビルドアップするために、使用したフッ化カルシウムCaF2の粒子の比率は、天然シリカに対するフッ素化された元素すなわちカルシウムの重量で、30ppmとした。このような条件下では、ビルドアップされた層23は、熱間線引き中に、1次プリフォーム24の管22のそれとほぼ等しい粘性を有した。
通常は数マイクロメートル(μm)となる最大サイズを有する超高純度フッ化カルシウム粒子を使用した。好ましくは、10μm未満のサイズのフッ化カルシウム粒子を使用し、ビルドアップ層23中に粒子がより均一に分散するようにした。
第5図は、ビルドアップされた1次プリフォーム3から光ファイバ15を熱間線引きした場合の、光ファイバ15の直径に沿った屈折率プロフィルを与える図である。1次プリフォーム24のシリカ管22は、1200ppm(百万分の1)の塩素を含み、ビルドアップ層23は天然シリカのグレンから構成された。
第3図と同様に光ファイバ15の部分20、21、22、および23の屈折率プロフィルを示す第5図に示す、この第2の例では、ビルドアップ層23中の天然シリカグレンには、30ppmまで、フッ化カルシウム粒子の形態で送出されたフッ化カルシウムがドーピングされた。この屈折率プロフィルが光ファイバ15の中心から約20μmの所ではほぼ平坦であり、第3図に見られる屈折率のステップがほぼ消滅していることが分かる。この結果は、熱間線引き中に、前記ビルドアップ層23および1次プリフォーム24のシリカ管22から縮小された光ファイバ15の厚さの間で同じ屈折率を維持することに対する、ビルドアップ層23に含まれるフッ化カルシウムの影響を示す。
また、フッ化カルシウムを高度にドーピングした合成シリカのグレンの形態でフッ化カルシウム粒子を導入し、それにより堆積させる前にシリカ格子中にフッ化カルシウムを組み込むことができるようにし、こうしてビルドアップ層23の均一性を向上させるようになっている。
本発明の方法でどのようなドーパントを使用しても、ドーパント粒子の導入は、天然シリカのグレンのフッ化処理と両立することに留意されたい。

Claims (4)

  1. シリカを主に含み、かつシリカベースの外周部分(22)を含むバーで構成された1次プリフォーム(24)上にシリカ粒子を堆積させることによって、少なくとも1つのシリカベースの外側堆積層(23)を形成するステップを含む、光ファイバプリフォーム(3)を製造する方法であって、
    外側堆積層(23)の大部分にわたって、CaF2、MgF2、AlF3、B23、およびAl23で形成されるグループから選択した少なくとも1つの化合物をシリカ粒子に添加することによって、外側堆積層(23)の粘性を、1次プリフォーム(24)の外周部分(22)の粘性とほぼ等しくなるように調節することと、1次プリフォーム(24)のシリカベースの外周部分が、超高純度シリカの管であることとを特徴とする方法。
  2. CaF2、MgF2、およびAlF3で構成されたグループからドーパントを選択した場合に、ドーパントの比率が、シリカに対するフッ素化された元素の重量で5ppm〜100ppmの範囲内となる、請求項1に記載の方法。
  3. 23およびAl23で形成されたグループからドーパントを選択した場合に、ドーパントの比率が、シリカに対する酸化された元素の重量で0.01%〜1%の範囲内となる、請求項1に記載の方法。
  4. ドーピングされたシリカ粒子が、一般に50μm〜300μmの範囲となるサイズのグレンの形態で添加される、請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。
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