JP4146815B2 - 光通信用半導体装置の製造方法 - Google Patents

光通信用半導体装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4146815B2
JP4146815B2 JP2004091768A JP2004091768A JP4146815B2 JP 4146815 B2 JP4146815 B2 JP 4146815B2 JP 2004091768 A JP2004091768 A JP 2004091768A JP 2004091768 A JP2004091768 A JP 2004091768A JP 4146815 B2 JP4146815 B2 JP 4146815B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
light receiving
sealing
sealing portion
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004091768A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005277296A (ja
Inventor
聡郎 藤本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2004091768A priority Critical patent/JP4146815B2/ja
Priority to CNA2005100591093A priority patent/CN1674775A/zh
Priority to US11/087,860 priority patent/US20050212100A1/en
Publication of JP2005277296A publication Critical patent/JP2005277296A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4146815B2 publication Critical patent/JP4146815B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14618Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0203Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L31/02325Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements not being integrated nor being directly associated with the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48257Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a die pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • H01L2924/1815Shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Selective Calling Equipment (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)

Description

この発明は、受光素子と信号処理部を有する光通信用半導体装置を製造する光通信用半導体装置の製造方法に関する。この光通信用半導体装置としては、例えばTV(テレビ受像機),VTR(ビデオテープレコーダ),オーディオ用コンポーネント,エアコンディショナ等の電子機器に取り付けられ、送信機からの赤外線信号を受信して各電子機器の動作を制御する制御信号を発生するリモコン受光ユニットが挙げられる。
一般的なリモコン受光ユニットは、リードフレームに搭載された受光チップおよび信号処理用IC(集積回路)チップを透光性樹脂で封止して構成されている。リードフレームの一部からなる信号入出力端子は上記透光性樹脂の外へ突出しており、実装基板に電気的に接続されるようになっている。この種のリモコン受光ユニットは、動作時には送信機から赤外線で送られてくる各種電子機器の制御信号を受信する。この赤外線で送られてくる信号は非常に微小であるので、信号処理用ICチップには高ゲインのアンプが内蔵されており、このアンプで上記赤外線による光信号を増幅し、光信号をデジタル信号に変換して出力している。したがって、リモコン受光ユニットは、電磁ノイズには非常に敏感である。
この電磁ノイズ対策のため、上記透光性樹脂を金属製のシールドケースでカバーして、上記シールドケースの端部が実装基板のグランド(接地)端子に電気的に接続されるようにしたものが知られている。しかしながら、上記シールドケースを取り付けるための工数やシールドケース自体のコストがかかる、シールドケースの形状によっては基板への実装自由度が制約を受ける等の問題があった。
そこで、上記シールドケースに代えて、特許文献1(特開平9−84162号公報)では、受光チップおよび信号処理用ICチップを透光性樹脂で一体封止した上、上記透光性樹脂のうち受光用レンズ部と信号入出力端子が突出する面とを除いた領域を導電性樹脂で覆う方式が提案されている。上記導電性樹脂を接地するために、リードフレームの一部からなる接地端子が上記透光性樹脂から突出して上記導電性樹脂に電気的に接続されている。また、上記特許文献1には、大きな電磁ノイズが存在する環境に適合させるために、上記透光性樹脂の受光用レンズ部を金属メッシュで覆う技術も開示されている。
特開平9−84162号公報
しかしながら、上記特許文献1の方式では、導電性樹脂の材料として不適切なものを用いた場合、
(a) 導電性樹脂の成形が良好に行えず、生産性が良くない、
(b) 導電性樹脂の導通性が悪く、電磁ノイズシールド効果が不十分である、
(c) 実装時、特に半田付け時に加わる熱等によって外観及び導通性が変動(劣化)する、という問題が生じる。
また、大きな電磁ノイズが存在する環境に適合させるために、特許文献1のように上記透光性樹脂の受光用レンズ部を別部材の金属メッシュで覆う構成では、コスト高となる。
そこで、この発明の課題は、受光用レンズ部を覆うメッシュ部を導電性樹脂で良好に形成できる光通信用半導体装置の製造方法を提供することにある。
上記課題を解決するため、この発明の光通信用半導体装置の製造方法は、
リードフレーム上に受光素子と信号処理部とを搭載すると共に、上記受光素子に上記信号処理部を電気的に接続する工程と、
上記受光素子と信号処理部を透光性樹脂で封止して、凸状の受光用レンズ部を有し上記透光性樹脂からなる第1封止部を作製する工程と、
成形型を用いて上記第1封止部の周りに導電性樹脂を注入して、上記受光用レンズ部の凸面を網状に覆うメッシュ部を有し上記導電性樹脂からなる第2封止部を作製する工程とを備え、
上記成形型は、上記リードフレームの一部からなる信号入出力端子が上記第1封止部の外へ突出する面とは反対の面の側で、上記受光用レンズ部に対向する樹脂注入用ゲートを有することを特徴とする。
この発明の光通信用半導体装置の製造方法では、上記成形型の樹脂注入用ゲートは上記受光用レンズ部に対して比較的近い位置で対向するので、上記第2封止部を作製する工程で上記成形型に上記ゲートを通して導電性樹脂を注入したとき、上記導電性樹脂が上記受光用レンズ部の周りに回り込み易くなる。したがって、上記メッシュ部の作製精度が良くなる。
一実施形態の光通信用半導体装置の製造方法では、上記樹脂注入用ゲートは、上記受光用レンズ部の周縁部から頂点へ向かって樹脂を注入するように前後方向に傾斜していることを特徴とする。
ここで「前後」とは、第1封止部の受光用レンズ部が設けられている側、つまり光が入射する側を「前」としたときの「前後」である。
この一実施形態の光通信用半導体装置の製造方法では、上記第2封止部を作製する工程で上記成形型に上記ゲートを通して導電性樹脂を注入したとき、上記受光用レンズ部の周縁部から頂点へ向かって導電性樹脂が注入される。したがって、上記導電性樹脂が上記受光用レンズ部の周縁部から頂点へ向かって回り込み易くなって、上記メッシュ部の作製精度がさらに良くなる。
以下、この発明を図示の実施の形態によって詳細に説明する。
図1(A),(B)に、この発明の一実施形態の製造方法によって製造すべき光通信用半導体装置の断面構成を示す。図1(A)は、図1(B)におけるA−A’線断面図である。
この光通信用半導体装置は、信号用の第1リード1a,電源用の第2リード1b,グランド接続用の第3リード1cを含むリードフレーム1と、グランド接続用の第3リード1cが有する搭載部2に搭載された受光素子である受光チップ3および信号処理部である制御用ICチップ5を備える。上記受光チップ3はフォトダイオードもしくはフォトトランジスタ等で構成される。また、上記制御用ICチップ5は高ゲインのアンプを内蔵している。
上記制御用ICチップ5と受光チップ3は導電性ワイヤ6aで接続され、受光チップ3は導電性ワイヤ6bで第3リード1cに接続されている。また、上記制御用ICチップ5は、導電性ワイヤ6cで第1リード1aに接続され、導電性ワイヤ6dで第2リード1bに接続され、導電性ワイヤ6eで第3リード1cに接続されている。
上記リードフレーム1と上記受光チップ3および制御用ICチップ5は、透光性樹脂としての赤外透過性樹脂で作製された第1封止部7によって一体に固定され、この第1封止部7は上記受光チップ3と制御用ICチップ5を封止している。この第1封止部7は、この第1封止部7の外面のうち受光チップ3の受光面3Aに対向する部分に、信号光としての赤外光を導くための凸状の受光用レンズ部7Aを有する。この第1封止部7の外面のうち上記受光用レンズ部7A以外の前面部分7B、天面7C、側面7E,7Fおよび後面7Gは、後述する導電性樹脂で作製された第2封止部8で覆われて封止されている。なお、図1では第2封止部8のみにハッチングを施している。第2封止部8が底面7Dを覆っていない理由は、第2封止部8をなす導電性樹脂と信号用の第1リード1a,電源用の第2リード1bとが電気的に短絡するのを避けるためである。
上記リードフレーム1は、第1封止部7内から第2封止部8内に突出した略四角形状の突出部10,11を有する。つまり、この突出部10,11は第2封止部8内に埋め込まれている。この突出部10,11は、第1封止部7の面取り部12,13と第2封止部8の角部14,15との間に配置されている。この配置により、突出部10,11が存在することによる外形寸法の増大を抑制して小型化を図れる。
また、この突出部10,11は、表面10A,11Aの全体が第2封止部8に密接している。しかも、上記突出部10,11は、四角柱形状の内周面16A,17Aを有する貫通孔16,17を有している。この貫通孔16,17内には上記第2封止部8の一部(導電部)21,22が充填され、この導電部21,22は上記貫通孔16,17の内周面16A,17Aに密接している。
この構成の光通信用半導体装置では、上記第1封止部7の受光用レンズ部7Aに、赤外光からなる信号光が入射すると、この信号光は上記受光チップ3の受光面3Aに導かれる。すると、受光チップ3は上記信号光を電気信号に変換し、この電気信号を導電性ワイヤ6aを経由して制御用ICチップ5に出力する。すると、この制御用ICチップ5は上記電気信号に対して所定の信号処理を行った出力信号を導電性ワイヤ6cを経由して第1リード1aに出力する。また、この制御用ICチップ5は導電性ワイヤ6dで第2リード1bに接続されている。この第2リード1bは、実装状態では基板(図示せず)の電源に接続されて、この電源から第2リード1b,導電性ワイヤ6dを経由して制御用ICチップ5に電力が供給される。また、この制御用ICチップ5は導電性ワイヤ6eで第3リード1cに接続されている。この第3リード1cは上記基板のグランド(GND)端子に接続される。
赤外透過性樹脂で作製された第1封止部7を覆う第2封止部8が導電性樹脂で作製され、この第2封止部8はリードフレーム1の第3リード1cの突出部10,11の表面10A,11Bの全体に密接して電気的に接続されている。したがって、この光通信用半導体装置を上記基板に実装し上記第3リード1cを上記GND端子に接続すれば、上記第2封止部8は第1封止部7で封止された受光チップ3および制御用ICチップ5に対する電磁波ノイズシールドの役割を果たす。また、この第2封止部8の導電部21,22はリードフレーム1の突出部10,11が有する貫通孔16,17に充填され、この貫通孔16,17の周面16A,17Aに密接しているので、突出部10,11と第2封止部8との接触面積の増大を図れ、突出部10,11と第2封止部8との電気的接続の導電性を向上して、電磁ノイズシールド効果の向上を図れる。
このように突出部10,11と第2封止部8とを接触させて導通させれば、記第2封止部8を接地するために別部材を設ける必要がない。したがって、この光通信用半導体装置を低コストで作製できるとともに、基板への実装自由度を高めることができる。
この光通信用半導体装置は、基本的に次の製造工程i)〜iv)によって製造される。すなわち、
i) リードフレーム1(第3リード1c)の搭載部2上に受光チップ3および制御用ICチップ5を搭載するダイボンド工程と、
ii) 導電性ワイヤ6a〜6eを既述のように配線して受光チップ3および制御用ICチップ5等を電気的に接続するワイヤボンド工程と、
iii) 金型を用いて受光チップ3および制御用ICチップ5の周りに赤外透過性樹脂を注入して、赤外透過性樹脂からなる第1封止部7作製する第1封止工程と、
iv) 金型を用いて第1封止部7の周りに導電性樹脂を注入して、導電性樹脂からなる第2封止部8を作製する第2封止工程と
で製造される。
図4は、生産性、電磁ノイズシールド効果および信頼性(耐熱性を含む。以下同様。)の改善を課題として、第2封止部8をなす導電性樹脂の材料について、本発明者が実験を重ねた結果を示している。
図4中の「樹脂の内容」欄に示すように、本発明者は、第2封止部8をなす導電性樹脂がベース樹脂と導電性添加剤とからなるものとし、ベース樹脂と導電性添加剤とを様々に変えたサンプル(試料1〜試料12)を作製した。ベース樹脂については、ポリカーボネート、ナイロン、ABS樹脂(Acrylonitrile Butadiene Styrene Plastics)、ポリアセタール、ポリカ・ABS混合品(ポリカーボネートとABS樹脂との混合品)を採用した。また、導電性添加剤はカーボンファイバとし、その含有率を5%、10%、15%、20%というように5ポイント刻みで変化させた。
各試料の評価の仕方は、「評価の状況」欄に示すように、初期抵抗値(つまり、試料作製直後の導通性)と、信頼性試験(65℃95%、温度サイクル、高温放置)および衝撃試験(1400G)の結果とに基づいて行った。評価結果が良好なものを○印で、不良なものを×印でそれぞれ表している。
この評価結果から分かるように、ベース樹脂がABS樹脂、ポリアセタール、ポリカ・ABS混合品である試料3、4、5、6、9については、信頼性試験結果が不良(×)となっている。なお、ベース樹脂がABS樹脂である試料9については、成形性、導通性ともに問題がなかったがはんだ耐熱(300℃15秒)にて樹脂の膨れが発生した。ベース樹脂がポリアセタールある試料4、5、8は、リードフレーム1と第2封止部8(導電性樹脂)との間の導通が悪かった。
これに対して、ベース樹脂がポリカーボネート、ナイロンである試料1、2、10、11、12については、信頼性試験結果が良好となっている。しかし、ベース樹脂がナイロンである試料2については、成形性不良、具体的には第2封止工程で受光用レンズ部7Aが注入された樹脂で覆われてしまうものが発生した。
また、ベース樹脂がポリカーボネートである試料であっても、カーボンファイバ含有量が10%以下のもの(試料10)については、初期抵抗値が不良(×)であった。
この評価結果から、第2封止部8をなす導電性樹脂については、ベース樹脂をポリカーボネートとし、導電性添加剤をカーボンファイバとし、その含有率を15%以上に設定すれば、
(a) 導電性樹脂の成形が良好に行えて、生産性が良い、
(b) 導電性樹脂の導通性が良く、電磁ノイズシールド効果が十分である、
(c) 実装時、特に半田付け時に加わる熱等によって外観及び導通性が変動(劣化)しない、
という優れたものが得られることが分かった。また、金属シールドケースを用いてシールドを行う場合に比して、小型,低コストで基板への実装自由度を高めることができる。
なお、導電性添加剤としてのカーボンファイバの含有率は、第2封止部8の成形性を良好にする観点から、30%以下であるのが好ましい。
なお、導電性添加剤としてはカーボンファイバ以外に、カーボンブラック、ステンレスを検討したが、カーボンファイバ以外の添加剤では本形状での導通性が悪かった。
図2は上記光通信用半導体装置の変形例を前方(光が入射する側)から見たところ示している。この変形例では、第2封止部8は、受光用レンズ部7Aの凸面を網状に覆うメッシュ部31を有している。この例では、メッシュ部31は、受光用レンズ部7Aの周縁部から延びて頂点で集結した4本のエレメント32,33,34,35からなっている。4本のエレメント32,33,34,35は、電磁ノイズシールドが良好に行えるように、等角度間隔に配置されている。
この光通信用半導体装置では、第2封止部8のメッシュ部31が受光用レンズ部7Aの凸面を網状に覆っているので、メッシュ部31の隙間(網目)、受光用レンズ部7Aを通して受光チップ3に光(赤外線など)を入射させることができる一方、上記導電性樹脂からなるメッシュ部31によって電磁ノイズをシールドできる。したがって、この光通信用半導体装置を大きな電磁ノイズが存在する環境に適合させることができる。しかも、第2封止部8の一部がそのメッシュ部31を構成しているので、金属メッシュのような別部材を用いる場合に比して、この光通信用半導体装置は低コストで製造される。
なお、メッシュ部31のエレメント数は、さらに多くてもよいが、隙間(網目)が狭くなって開口率が低くなりすぎない程度にとどめる必要がある。
図2の光通信用半導体装置は、基本的に図1の光通信用半導体装置の製造工程i)〜iv)と同じ工程によって製造される。
ただし、上記メッシュ部31の形状は網状で細く、かつ受光用レンズ部7Aの凸面に沿って湾曲しているため、一般的に言って、樹脂成形で作製するのは困難である。第2封止工程で成形型としての金型に樹脂を注入したとき、金型が有する上記メッシュ部に対応した網状の溝内に気泡が残って、樹脂が入り込み難い傾向があるからである。
そこで、この実施形態では、図3に示すように、第2封止工程で用いる金型41に工夫を施している。すなわち、
まず、この金型41は、上記受光用レンズ部7Aの頂点7Pに対応する部位に入れ子42を有する。これにより、上記第2封止工程でこの金型41に導電性樹脂を注入したとき、金型本体41と入れ子42との間の僅かな隙間から空気が逃げる。したがって、上記導電性樹脂が受光用レンズ部7Aの周りに首尾良く回り込んで、上記メッシュ部31が精度良く形成される。
また、この金型41は、第1封止部7の天面7Cの側で、受光用レンズ部7Aに対向する樹脂注入用ゲート43を有し、この樹脂注入用ゲート43は、受光用レンズ部7Aの周縁部7Rから頂点7Pへ向かって樹脂を注入するように前後方向に傾斜している。このような構成にした場合、樹脂注入用ゲート43は、リードフレーム1の一部からなる信号入出力端子1c等が突出する底面7Dとは反対の側で、受光用レンズ部7Aに対して比較的近い位置で対向する。したがって、上記第2封止工程でこの金型41に導電性樹脂を注入したとき、上記導電性樹脂が受光用レンズ部7Aの周りに回り込み易くなる。したがって、上記メッシュ部31の作製精度が良くなる。
このように、第2封止工程で用いる金型41に工夫を施すことにより、図2に示した光通信用半導体装置を精度良く製造することができる。
図1(A)はこの発明の一実施形態の製造方法によって製造すべき光通信用半導体装置の断面を模式的に示す図であり、図1(B)はもう1つの断面を模式的に示す図である。 上記光通信用半導体装置の変形例を前方から見たところを示す図である。 図2の光通信用半導体装置を製造するための金型を用いる第2封止工程を説明する図である。 第2封止部をなす導電性樹脂についての実験結果を示す図である。
符号の説明
1 リードフレーム
1a 第1リード
1b 第2リード
1c 第3リード
2 搭載部
3 受光チップ
5 制御用ICチップ
7 第1封止部
8 第2封止部
31 メッシュ部

Claims (2)

  1. リードフレーム上に受光素子と信号処理部とを搭載すると共に、上記受光素子に上記信号処理部を電気的に接続する工程と、
    上記受光素子と信号処理部を透光性樹脂で封止して、凸状の受光用レンズ部を有し上記透光性樹脂からなる第1封止部を作製する工程と、
    成形型を用いて上記第1封止部の周りに導電性樹脂を注入して、上記受光用レンズ部の凸面を網状に覆うメッシュ部を有し上記導電性樹脂からなる第2封止部を作製する工程とを備え、
    上記成形型は、上記リードフレームの一部からなる信号入出力端子が上記第1封止部の外へ突出する面とは反対の面の側で、上記受光用レンズ部に対向する樹脂注入用ゲートを有することを特徴とする光通信用半導体装置の製造方法。
  2. 請求項に記載の半導体製造方法において、
    上記樹脂注入用ゲートは、上記受光用レンズ部の周縁部から頂点へ向かって樹脂を注入するように前後方向に傾斜していることを特徴とする光通信用半導体装置の製造方法。
JP2004091768A 2004-03-26 2004-03-26 光通信用半導体装置の製造方法 Expired - Fee Related JP4146815B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004091768A JP4146815B2 (ja) 2004-03-26 2004-03-26 光通信用半導体装置の製造方法
CNA2005100591093A CN1674775A (zh) 2004-03-26 2005-03-22 光通信半导体装置及其制造方法
US11/087,860 US20050212100A1 (en) 2004-03-26 2005-03-24 Semiconductor device for optical communication and manufacturing method therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004091768A JP4146815B2 (ja) 2004-03-26 2004-03-26 光通信用半導体装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005277296A JP2005277296A (ja) 2005-10-06
JP4146815B2 true JP4146815B2 (ja) 2008-09-10

Family

ID=34988796

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004091768A Expired - Fee Related JP4146815B2 (ja) 2004-03-26 2004-03-26 光通信用半導体装置の製造方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20050212100A1 (ja)
JP (1) JP4146815B2 (ja)
CN (1) CN1674775A (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008153356A (ja) * 2006-12-15 2008-07-03 Matsushita Electric Works Ltd 光電変換モジュール
CN102136523B (zh) * 2010-12-22 2012-11-28 木林森股份有限公司 眼珠型红外接收器的封装方法、专用模具及制造的产品
CN102789026A (zh) * 2011-05-18 2012-11-21 亚洲光学股份有限公司 光监控模块
CN106501903B (zh) * 2015-09-08 2019-07-02 许多 光电转换器及其制造方法
JP7208032B2 (ja) * 2019-01-28 2023-01-18 キヤノン株式会社 半導体装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6838319B1 (en) * 2000-08-31 2005-01-04 Micron Technology, Inc. Transfer molding and underfilling method and apparatus including orienting the active surface of a semiconductor substrate substantially vertically
US7026388B2 (en) * 2001-03-28 2006-04-11 Ube Industries, Ltd. Conductive resin composition and process for producing the same
DE60219853T2 (de) * 2001-07-18 2008-01-17 Mitsubishi Engineering-Plastics Corp. Thermoplastische Harzzusammensetzung
JP3991018B2 (ja) * 2003-09-01 2007-10-17 シャープ株式会社 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN1674775A (zh) 2005-09-28
US20050212100A1 (en) 2005-09-29
JP2005277296A (ja) 2005-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3991018B2 (ja) 半導体装置
US20060153568A1 (en) Remote-control light receiving unit and electronic apparatus using the same
KR100824154B1 (ko) 수광 모듈
KR100700188B1 (ko) 반도체 모듈
JP4146815B2 (ja) 光通信用半導体装置の製造方法
US20040182591A1 (en) Photodetection sensor
JP2007173292A (ja) リード端子導出型電子部品
CN100377338C (zh) 半导体装置及电子设备
JP2966591B2 (ja) 光半導体装置
US7476036B2 (en) Optocoupler for converting optical signals into electrical signals and vice versa
JP3745156B2 (ja) 光通信用半導体受光デバイス
JPH1074962A (ja) 赤外線リモコン受光ユニット及びその製造方法
KR20150014133A (ko) 센서 패키지 및 그 제조 방법
KR102114699B1 (ko) 광학센서 패키지
JP5268468B2 (ja) 表面実装型赤外線受光ユニット、表面実装型赤外線受光ユニット製造方法、および電子機器
JP3066236B2 (ja) 受光ユニットの製造方法
JP2009043909A (ja) リモコン受光ユニットおよびこれを搭載した電子機器
US20080298817A1 (en) Light Receiving Device
KR102142122B1 (ko) 카메라 모듈
JP3778795B2 (ja) 受光ユニットを備えた電気機器
KR101007120B1 (ko) 카메라 모듈 및 그 제조 방법
JP5121576B2 (ja) 遠隔制御用受光装置および電子機器
JP2000236102A (ja) 電子部品
KR101039308B1 (ko) 수신기의 프리앰프 구조
JPH051294U (ja) リモートコントロール信号受信用回路のシールド構造

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060125

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080108

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080222

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080603

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080620

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110627

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120627

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120627

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130627

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees