JP4146247B2 - プラズマディスプレイパネルの駆動方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プラズマディスプレイパネルに関するもので、特に、高温によるプラズマディスプレイパネルの誤放電を防止するためのプラズマディスプレイパネルの駆動方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、プラズマディスプレイパネル(PDP)は不活性混合ガス(He+Xe又はNe+Xe又はHe+Xe+Ne)の放電時に発生する紫外線によって蛍光体を発光させて文字又はグラフィックが含まれている画像を表示する装置である。
【0003】
かかるPDPは薄膜化と大型化が容易であるという長所を有しており、最近、技術開発に伴って画質が格段に向上している。
【0004】
PDPは3電極が備え、AC電圧によって駆動される形態が最も代表的である。これを交流面放電型PDPと称する。
3電極交流面放電型PDPは基板内面に誘電体と保護膜とを有し、放電時に誘電体の表面に壁電荷を蓄積するようにし、放電によって発生されるスパッタリングから電極などを保護膜で保護しているため低電圧で駆動することができ、かつ長寿命であるという長所を有している。
【0005】
従来の3電極交流面放電型のPDPの放電セルは上部基板にスキャン電極(Y)とサステイン電極(Z)とを備え、下部基板にアドレス電極(X)を備えている。アドレス電極(X)はスキャン電極(Y)及びサステイン電極(Z)と交差する方向に形成される。
スキャン電極(Y)とサステイン(Z)とが並んで形成されている上部基板にはそれらを覆うように上部誘電層と保護膜が積層される。上部誘電層にはプラズマ放電時発生された壁電荷が蓄積される。
【0006】
保護膜はプラズマ放電時に発生したスパッタリングによる上部誘電層の損傷を防止し、また、2次電子の放出効率を高める役を果たしている。保護膜としては通常酸化マグネシウム(MgO)が用いられる。
アドレス電極(X)が形成されている下部基板上には下部誘電層と隔壁が形成される。下部誘電層と隔壁の表面には蛍光体が塗布される。
隔壁はアドレス電極(X)と並んで形成され、下部基板上で隣接したセル間の光学的な又は電気的な混信を防止する。即ち、隔壁は放電によって生成された紫外線及び可視光が隣接した放電セルに漏れるのを防止する。
【0007】
蛍光体はプラズマ放電時に発生した紫外線によって励起されて赤色、緑色又は青色の何れか1つの可視光線を発生する。両基板と隔壁との間に形成されている放電空間にはガス放電のための不活性混合ガス(He+Xe又はNe+Xe又はHe+Xe+Ne)が注入されている。
【0008】
以上説明のPDPの放電セル1は図1に示すように縦横に多数マトリックス状に配置されている。
図1には電極の配置も示されている。図示のように、1つの放電セル1にスキャン電極(Y1〜Ym)とサステイン電極(Z)が平行に形成され、それらの電極と直交する方向にアドレス電極(X1〜Xm)が形成されている。すなわち、平行した両電極(Y1〜Ym)、(Z)とアドレス電極(X1〜Xm)の交差部に放電セル1が配置される。
【0009】
このような3電極交流面放電型PDPで階調を表現するために、通常1つのフレームを多数のサブフィールドに分けて駆動するようになっている。そのサブフィールド期間それぞれの間、ビデオデータの加重値に比例した回数の発光を行うことによって階調を表すようになっている。
【0010】
上記した多数のサブフィールドに分けて駆動する従来のPDP駆動方法によるフレーム構成の一例を図2に示した。即ち、図2は従来の256階調を表現できる1フレームの表示時間を示す図である。
図2に示すように、従来の3電極交流面放電型PDPは、画像の階調を表すために1つのフレームを発光回数が異なる多数のサブフィールドに時分割して駆動する。
例えば、画像を256階調で表示する場合階調を表現するためのビデオデータは8ビットあればよい。その8ビットのビデオデータを用いて256階調に画像が表される場合の各放電セルにおける1フレームの表示時間(例えば、1/60秒=約16.7msec)は図2のように8つのサブフィールド(SF1〜SF8)に時分割される。
【0011】
各サブフィールド(SF1〜SF8)は更に画面全体を初期化するためのリセット期間、セルを選択するためのアドレス期間、選択されたセルの放電を維持させるためのサステイン期間に分割される。特にリセットと期間とアドレス期間は各サブフィールド全て同一の時間加重値が与えられる。一方、各サブフィールドのサステイン期間は2(n=0,1,2,3...7)の比率で時間加重値が異なる。即ち、第1サブフィールド(SF1)から1:2:4:8:16:32:64:128の比率の時間加重値が第8サブフィールド(SF8)まで与えられている。
【0012】
図3は図2のフレームにしたがってPDPを駆動するときの駆動波形の一例を示す波形図である。
図3を参照すると、従来PDPの各サブフィールドは画面全体を初期化させるためのリセット期間、セルを選択するためのアドレス期間、選択されたセルの放電を維持して画像を表示するサステイン期間に分けられる。
リセット期間はセットアップ期間とセットダウン期間に分けられる。セットアップ期間にはスキャン電極にランプアップ波形のリセットパルスが供給され、セットダウン期間にはランプダウン波形のリセットパルスが供給される。
【0013】
リセット期間のセットアップ期間に順次電圧が上昇するランプアップ波形のリセットパルス(RP)がスキャン電極(Y)に供給される。ランプアップ波形のリセットパルス(RP)によって画面全体の放電セルでセットアップ放電が起こる。また、そのセット放電によってアドレス電極(X)とサステイン電極(Z)上の誘電体層には正極性(+)の壁電荷が蓄積され、スキャン電極(Y)上には負極性(―)の壁電荷が蓄積される。
【0014】
次いでセットダウン期間には電圧が順次低下するランプダウン波形のリセットパルス(−RP)がスキャン電極(Y)に供給される。ランプダウン波形のリセットパルス(−RP)はランプアップ波形のリセットパルス(RP)が供給された後にそのランプアップ波形のリセットパルス(RP)のピーク電圧より低い正極性の電圧から下降する波形である。
【0015】
ランプダウン波形のリセットパルス(−RP)は放電セル内に僅かな消去放電(セットダウン放電)を起こさせることによって各電極(X)、(Y)、(Z)上に過剰に形成された壁電荷の一部を消去させる。その際、アドレス放電が安定して起こる程度の壁電荷を放電セルの内に均一に残す。
【0016】
この時、ランプダウン波形のリセットパルス(−RP)は負極性のスキャン基準電圧(−Vw)まで下降せず、負極性のスキャン基準電圧よりΔVだけ高いレベルであるリセットダウン電圧(Vrd)まで下降する。
スキャン電極(Y)にランプダウン波形のリセットパルス(−RP)が供給されている間にサステイン電極間(Z)には正極性の第1直流電圧(Zdc1)が供給される。即ち、ランプダウン波形のリセットパルス(−RP)が供給される時点で同時に正極性の第1直流電圧(Zdc1)がサステイン電極(Z)に供給され始める。
この第1直流電圧はランプダウン波形のリセットパルス(−RP)が負極性のリセットダウン電圧(Vrd)に至るまで維持される。
アドレス期間には第1直流電圧(Zdc1)に続き正極性の第2直流電圧(Zdc2)がサステイン電極に供給される。この第2直流電圧は以前に供給されていた第1直流電圧より低いレベルの電圧である。アドレス期間に印加されるこの第2直流電圧はリセット期間に印加されたリセットダウン電圧によって余り高くしなくても良いからである。
【0017】
サステイン電極(Z)に第2直流電圧(Zdc2)が供給されている間に負極性(−)のスキャンパルス(SP)がスキャン電極(Y)に順次供給され、そのスキャンパルス(SP)と同期させて正極性(+)のデータパルス(DP)をアドレス電極(X)に供給する。この時負極性のスキャンパルス(SP)はセットダウン期間SDに供給されるリセッドダウンより低いスキャン基準電圧(−Vw)のレベルで供給される。
【0018】
前記のスキャンパルス(SP)とデータパルス(DP)の電圧差がリセット期間に生成されていた壁電荷による電圧に加えられ、データパルス(DP)が供給された放電セル内でアドレス放電が起こる。
そのアドレス放電によって選択された放電セルにサステイン電圧が印加されれば放電が起こる程度の壁電荷が形成される。
【0019】
アドレス放電により選択された放電セルに対して表示のためのサステイン放電を起こさせるようにサステイン期間にサステインパルス(SUSPy、SUSPz)がスキャン電極(Y)とサステイン電極(Z)に交互に供給される。
アドレス放電によって選択された放電セルは、放電セル内の壁電圧(壁電荷による電圧)によって、サステインパルスの電圧が加えられるたびにスキャン電極(Y)とサステイン電極(Z)の間にサステイン放電即ち、表示放電が起きる。
【0020】
サステインパルスはサステイン放電が安定化するようにそのパルス幅が2〜3μs程度である。サステイン放電はサステインパルスが印加された時点の後、略0.5〜1μs内で放電するが、サステインパルスは次の放電を起こさせることができる程度の壁電荷を新たに形成しなければならないために、サステイン放電が起こった降に、略2〜3μs程度そのサステイン電圧を維持しなければならないからである。
【0021】
サステイン放電が完了した後にはパルス幅が狭く、低電圧のランプ波形(図示せず)の消去パルスがサステイン電極に供給され、画面全体のセル内に残留する壁電荷を消去させる。
その消去パルスがサステイン電極に供給されると、サステイン電極とスキャン電極との間の電位差が漸進的に大きくなりサステイン電極とスキャン電極との間に弱放電が連続的に起こる。この時発生した弱放電によってサステイン放電が起きていたセル内に存在する壁電荷が消去される。
【0022】
従来技術によるPDPは上記のように動作して画像を表示するが、高温状態にあると、低い第2直流電圧(Zdc2)とデータパルスの電圧によって図4に示すように、過剰な壁電荷がスキャン電極とサステイン電極の間に形成される。
それによってアドレス期間にスキャン電極とサステイン電極との間に誤放電が発生し正しい階調表示が不可能になるという問題があった。
【0023】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記従来技術の問題点を解決するためのもので、特に高温状態でより安定した放電を起こさせることができるPDPの駆動方法を提供することが目的である。
【0024】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するための本発明によるPDP駆動方法は、初期化期間にランプアップ波形のリセットパルス(RP)と、ランプダウン波形のリセットパルス(−RP)を順次に供給する第1段階と、アドレス期間に選択する放電セル内でアドレス放電を起こさせる第2段階と、アドレス放電によって選択された放電セル内に壁電荷を補強するための所定の電圧を電極に印加する第3段階と、アドレス放電によって選択された放電セル内でサステイン放電を起こさせる第4段階とを備えることを特徴とする。
【0025】
望ましくは、前記第3段階は、アドレス期間に供給されたスキャンパルスに対して反対極性である正極性のスキャン電圧(Vw)をスキャン電極(Y)に供給する。
【0026】
望ましくは、前記第3段階は、アドレス期間に供給された直流電圧に比べて所定の電圧だけ高い直流電圧をサステイン電極(Z)に供給する。
【0027】
第3段階でサステイン電極(Z)に供給される直流電圧は、ランプダウン波形のリセットパルス(RP)が供給されている間にサステイン電極(Z)に供給された直流電圧と同じ電圧であることが望ましい。
【0028】
前記第3段階は、アドレス期間に供給されたスキャンパルスに対して反対極性の正極性のスキャン電圧(Vw)をスキャン電極(Y)に供給し、ランプダウン波形を有するリセットパルス(−RP)の供給期間にサステイン電極(Z)に供給された直流電圧と同じ電圧を正極性のスキャン電圧と同期させてサステイン電極(Z)に供給することが望ましい。
【0029】
前記第3段階は、前記アドレス期間のスキャン電圧が−80V程度に設定されることによって前記アドレス期間以降に30V程度の正極性のスキャン電圧をスキャン電極(Y)に供給することが望ましい。
【0030】
前記第3段階は、ランプダウン波形を有するリセットパルス(−RP)の供給期間にサステイン電極(Z)に供給された直流電圧の大きさを180V程度に設定し、アドレス期間に供給された直流電圧の大きさを150V程度に設定したとき、アドレス期間以降にその設定された両直流電圧150V〜180Vの間の値の電圧をサステイン電極(Z)に供給することが望ましい。
【0031】
前記第3段階は、ランプダウン波形を有するリセットパルス(−RP)の供給期間にサステイン電極(Z)に供給された直流電圧を180Vに設定し、アドレス期間以降にその設定された電圧の大きさの直流電圧をサステイン電極(Z)に供給することが望ましい。
【0032】
【発明の実施の形態】
以下、添付の図面を参照して本発明を更に詳細に説明する。
【0033】
図5は本発明のPDP駆動による駆動波形を示す波形図である。
図5を参照すると、本発明によるPDPの各サブフィールドは画面全体を初期化させるためのリセット期間、セルを選択するためのアドレス期間、サステイン期間以前にセル内に壁電荷を補強するためのアドレス補強期間、選択されたセルの放電を維持させるためのサステイン期間に分けて駆動する。すなわち、本発明はアドレス補強期間を設けたことを特徴とする。
【0034】
リセット期間は従来同様セットアップ期間とセットダウン期間とに分かれる。セットアップ期間にスキャン電極にランプアップ波形のリセットパルスが供給され、セットダウンン期間にランプダウン波形のリセットパルスが供給される。
【0035】
上記のように、リセット期間にはセットアップ期間にランプアップ波形のリセットパルス(RP)がスキャン電極(Y)に供給される。ランプアップ波形のリセットパルス(RP)により画面全体の放電セルでセットアップ放電が起こる。また、そのセットアップ放電によりアドレス電極(X)とサステイン電極(Z)上には正極性の壁電荷が蓄積され、スキャン電極(Y)上には負極性の壁電荷が蓄積される。
次にセットダウン期間にはランプダウン波形のリセットパルス(−RP)がスキャン電極(Y)に供給される。ランプダウン波形のリセットパルス(−RP)はランプアップ波形のリセットパルス(RP)が供給された後にランプアップ波形のリセットパルス(RP)のピーク電圧より低い正極性の電圧から下降する波形である。
【0036】
ランプダウン波形のリセットパルス(−RP)は放電セル内に僅かな消去放電(=セットダウン放電)を起こさせることによって、各電極(X)、(Y)、(Z)に過剰に形成された壁電荷の一部を消去させる。また、そのセットダウン電圧によって安定してアドレス放電を起こさせる程度の壁電荷を放電セル内に均一に残すようにする。
【0037】
この時、ランプダウン波形のリセットパルスは負極性のスキャン基準電圧(−Vw)まで下降せず、その基準電圧よりΔVだけ高いレベルのリセットダウン電圧(Vrd)まで下降する。
スキャン電極(Y)にランプダウン波形のリセットパルス(−RP)が供給されている間にサステイン電圧(Z)には正極性(+)の第1直流電圧(Zdc1)が供給される。即ち、そのランプダウン波形のリセットパルス(−RP)が供給される時点で正極性(+)の第1直流電圧(Zdc1)がサステイン電極(Z)に供給され始める。第1直流電圧(Zdc1)はランプダウン波形のリセットパルス(−RP)が負極性のリセットダウン電圧(Vrd)に達するまで維持される。
【0038】
正極性のスキャン基準電圧(Vw)は30V程度であり、負極性のスキャン基準電圧(−Vw)は−80V程度である。
セットダウン期間における、ランプダウン波形のリセットパルスの下降が終了する電圧であるリセットダウン電圧(Vrd)は負極性のスキャン基準電圧より15〜20V(ΔV)程度高い−65〜―60V程度に設定される。
【0039】
また、サステイン電極(Z)に印加される第1直流電圧(Zdc1)はサステイン電圧(Vs)と同一に約180V程度に設定される。
アドレス期間には第1直流電圧(Zdc1)に次いで正極性の第2直流電圧(Zdc2)がサステイン電極(Z)に供給される。この第2直流電圧(Zdc2)は前に供給された第1直流電圧(Zdc1)より低い電圧で供給される。これはアドレス期間に印加される第2直流電圧(Zdc2)はリセット期間に印加されたリセットダウン電圧によって余り高くしなくても良いからである。通常サステイン電極(Z)に印加される第2直流電圧(Zdc2)は約150V程度に設定される。
【0040】
サステイン電極(Z)に第2直流電圧(Zdc2)が供給されている間に負極性のスキャンパルスがスキャン電極に順次供給され、その負極性のスキャンパルスと同期して正極性のデータパルスがアドレス電極に供給される。この負極性のスキャンパルス(SP)はセットダウン期間に供給されるリセットダウン電圧より低いスキャン基準電圧(−Vw)のレベルで供給される。
【0041】
スキャンパルス(SP)とデータパルス(DP)との電圧差がリセット期間に生成された壁電荷による電圧に加えられて、データパルス(DP)が供給された放電セル内でアドレス放電が起こる。
そのアドレスによって選択された放電セル内にサステイン電圧が印加される時放電がおこりえる程度の壁電荷が形成される。
【0042】
次のアドレス補強期間には、本実施形態においては、所定時間の間、スキャンパルスと逆極性である正極性のスキャン電圧がスキャン電極に供給され、かつ、セットダウン期間の第1直流電圧(Zdc1)と同一(180V)の電圧の第3直流電圧(Zdc3)がサステイン電極(Z)に供給される。これはサステイン期間前に十分に安定した壁電荷を供給するためである。スキャンパルスの電圧が−80Vの場合その正極性のスキャン電圧は約30Vである。代わりに、第2直流電圧より所定の大きさだけ高い150V〜180Vの間の値の第3直流電圧(Zdc3)を供給するようにしてもよい。
【0043】
このように、スキャン電極(Y)とサステイン(Z)に所定の電圧を印加することによって、高温によって浮遊した電荷が両電極(Y)、(Z)の表面に壁電荷として導かれる。そしてアドレス放電の後に所定時間のその壁電荷形成状態が続けられる。これによって十分に、かつ安定した壁電荷が形成される。
【0044】
前記のようにPDPが高温状態で駆動すると、低い第2直流電圧(Zdc2)及びデータパルスの電圧によって図4に示すような浮遊電荷が放電セル内に形成され、その浮遊電荷が電極の表面の壁電荷と結合して誤放電を起こす。アドレス補強期間に所定の電圧を印加することでその浮遊電荷を安定した壁電荷の一部とすることができる。
【0045】
アドレス放電により選択された放電セルに対してサステイン放電が起こるように、サステイン期間にはサステインパルスがスキャン電極(Y)とサステイン電極(Z)に交互に供給される。
アドレス放電により選択された放電セルは、放電セル内の壁電圧(壁電圧による電圧)にサステインパルスによる電圧が加えられ、サステインパルスが印加される度にスキャン電極(Y)とサステイン電極(Z)との間にサステイン放電即ち、表示放電が起こる。
【0046】
サステイン放電が完了された後にはパルス幅が狭く、電圧レベルが小さいランプ波形の消去パルスがサステイン電極に供給されて画面全体のセル内に残留する壁電荷を消去させる。
その消去パルスがサステイン電極(Z)に供給されると、サステイン電極(Z)とスキャン電極(Y)との間の電位差が漸進的に大きくなりサステイン電極(Z)とスキャン電極(Y)との間に弱放電が連続的に起こる。この時に発生する弱放電によってサステイン放電が起こったセルに存在する壁電荷が消去される。
【0047】
他の例としては、アドレス補強期間に、所定時間の間正極のスキャン電圧(Vw)をスキャン電極(Y)にのみ供給するようにすることもできる。また、アドレス補強期間にセットダウン期間の第1直流電圧(Zdc1)と同一の電圧か、又は第2直流電圧(Zdc2)より所定の大きさだけ高いレベル(150〜180V)を有する第3直流電圧(Zdc3)をサスティン電極(Z)にのみ供給するようにしてもよい。
【0048】
次の図6aないし図6dは図5に示す駆動波形でアドレス期間及びアドレス補強期間の間の壁電荷の生成形態を順次に示す図である。
図6aないし図6dを参照すると、本実施形態によるPDP駆動において、リセット期間以降アドレシングされる前又はアドレシングされないセルの壁電荷は図6aに示すように形成される。
【0049】
図6aの状態において、スキャン電極(Y)に印加されたスキャンパルス(SP)とアドレス電極(X)に印加されたデータパルス(DP)の電圧差がリセット期間に生成された壁電荷による電圧に加えられて、データパルス(DP)が供給された放電セル内でアドレス放電が発生する(図6b)。
そのアドレス放電直後には図6cに示すように、スキャン電極(Y)とサステイン電極(Z)の表面に形成された壁電荷以外に浮遊電荷が放電セルの内に形成されることがある。その形成された浮遊電荷が電極の表面の壁電荷と結合して放電時に不要な放電を起こす。
【0050】
本実施形態ではアドレス期間以降アドレス補強期間に所定時間の間、正極性のスキャン電圧(Vw)がスキャン電極(Y)に供給され、セットダウン期間の第1直流電圧と同一の電圧大きさの第3直流電圧(Zdc3)がサステイン電極(Z)に供給される。
その供給された正極性のスキャン電圧と第3直流電圧(Zdc3)によって図6dに示すように、浮遊電荷が電極に誘導されてスキャン電極とサステイン電極(Z)に十分な壁電荷が形成される。
【0051】
これによって放電セル内に浮遊した壁電荷を除去させ、同時に各電極の表面上に更に壁電荷を形成させる。したがって、サステイン期間に安定したサステイン放電が円滑に行われる。
【0052】
【発明の効果】
前記のように、本発明によるPDPの駆動方法はアドレス期間とサステイン期間の間にアドレス補強期間を設け、そのアドレス補強期間の間に正極性のスキャン電圧(Vw)と第3直流電圧(Zdc3)を印加する。
【0053】
これによって放電セル内の浮遊電荷が壁電荷に誘導されてスキャン電極(Y)とサステイン電極(Z)の表面に十分な壁電荷が形成される。
結論的に高温における浮遊電荷による誤放電を防止することができる。
【0054】
以上本発明の好適な一実施形態に対して説明したが、前記実施形態のものに限定されるわけではなく、本発明の技術思想に基づいて種々の変形も可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】通常の3電極交流面放電型のPDPの電極配置構造を示す図である。
【図2】従来のPDPにおいて256階調に表される1つのフレームの表示時間を示す図である。
【図3】図2のフレームでPDP駆動による駆動波形の一例を示す波形図である。
【図4】従来のPDPが高温状態で駆動される時、アドレス期間における壁電荷生成形態を示す図である。
【図5】本発明のPDP駆動による駆動波形を示す波形図である。
【図6a】図5に示す駆動波形においてアドレス期間及びアドレス補強期間の間の壁電荷生成形態を順次に示す図である。
【図6b】図5に示す駆動波形においてアドレス期間及びアドレス補強期間の間の壁電荷生成形態を順次に示す図である。
【図6c】図5に示す駆動波形においてアドレス期間及びアドレス補強期間の間の壁電荷生成形態を順次に示す図である。
【図6d】図5に示す駆動波形においてアドレス期間及びアドレス補強期間の間の壁電荷生成形態を順次に示す図である。

Claims (5)

  1. 初期化期間にランプアップ波形のリセットパルス(RP)と、ランプダウン波形のリセットパルス(−RP)を順次に供給する第1段階と、
    アドレス期間に選択する放電セル内でアドレス放電を起こさせる第2段階と、
    前記アドレス期間に供給されたスキャンパルスに対して反対極性のスキャン電圧(Vw)をスキャン電極(Y)に供給し、前記ランプダウン波形を有するリセットパルス(−RP)の供給期間にサステイン電極(Z)に供給された直流電圧と同じサイズの直流電圧をサステイン電極(Z)に供給する第3段階と、
    前記アドレス放電によって選択された放電セル内でサステイン放電を起こさせる第4段階と
    を有し、
    前記第3段階は、前記アドレス期間に供給された直流電圧に比べて所定の大きさだけ高い直流電圧をサステイン電極(Z)に供給することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
  2. 前記第3段階で、
    前記スキャン電極(Y)に供給されるスキャン電圧は、正極であることを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
  3. 前記第3段階で、
    前記スキャン電極(Y)に供給されるスキャン電圧(Vw)及び前記サステイン電極(Z)に供給される直流電圧は、前記アドレス放電によって選択された放電セル内で高温によって浮遊した電荷をスキャン電極(Y)及びサステイン電極(Z)の表面に導くことを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
  4. 前記第3段階は、
    前記アドレス期間のスキャン電圧が−80Vに設定されることによって、アドレス期間以降に30Vの正極のスキャン電圧をスキャン電極(Y)に供給することを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
  5. 前記第3段階は、
    前記ランプダウン波形を有するリセットパルス(−RP)の供給期間に前記サステイン電極(Z)に供給された直流電圧のサイズが180Vに設定されることによって、前記アドレス期間以降にその設定された電圧サイズの直流電圧をサステイン電極(Z)に供給することを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
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