JP4115468B2 - 粒子線治療装置 - Google Patents
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims description 145
- 238000002560 therapeutic procedure Methods 0.000 title claims description 30
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 22
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 8
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 6
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 6
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 5
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 2
- 206010028980 Neoplasm Diseases 0.000 description 1
- 201000011510 cancer Diseases 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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また、荷電粒子ビームのエネルギーが設定値になっていることを保障するために、粒子加速器の偏向電磁石の磁場や高周波加速電磁場を監視して、荷電粒子ビームのエネルギーが設定値外にあることが推定されたときインターロックにより当該荷電粒子ビームを遮断したり、ビーム輸送系に設置した運動量分析装置を用いてエネルギーに誤差のある荷電粒子ビームを廃棄したりしている。
また、レンジシフタを移動し、荷電粒子ビームの透過する位置を変えてレンジシフタを荷電粒子ビームが透過する距離を高速に変更する場合、レンジシフタの移動に付随する騒音が発生したり、レンジシフタを機械的に移動することにともなって駆動機構の機械的な信頼性が低下したりするという問題がある。
また、荷電粒子ビームのエネルギーが設定値になっていることを保障する場合、粒子加速器の磁場や高周波加速電磁場の変動によりインターロックが掛かりシステム停止の頻度が増加したり、運動量分析の結果として廃棄される荷電粒子ビームが多くなり荷電粒子ビームの強度が大きく変動したりするという問題がある。
図1は、この発明の実施の形態1に係わる粒子線治療装置の構成図である。図2は、実施の形態1に係わるエネルギー変更装置の側面図である。
この発明の実施の形態1に係わる粒子線治療装置1は、図1に示すように、荷電粒子を加速して荷電粒子ビームを発生する粒子加速器2、荷電粒子ビームを患部27に照射する照射装置3を備える。なお、粒子加速器2は、公知の装置を用いているので説明は省略する。
実施の形態1に係わる照射装置3は、図1に示すように、荷電粒子ビームの進む方向に向かって手前から荷電粒子ビームのエネルギーを低下して所望のエネルギーに変更するエネルギー変更装置5、荷電粒子ビームの軌道を走査する走査用電磁石装置6、荷電粒子ビームのエネルギーの幅を変更するリッジフィルター7、患部27に照射される照射線量を検出する照射線量モニタ8、照射装置3全体を制御する照射制御装置9を備える。走査用電磁石装置6は、荷電粒子ビームの進行方向に垂直な面上の直交する2軸方向にそれぞれ走査する電磁石6a、6bを備える。なお、走査用電磁石装置6、リッジフィルター7、照射線量モニタ8は、公知の装置を用いているので説明は省略する。
上流側偏向電磁石対12は、軌道変更用の偏向電磁石21と軌道平行用の偏向電磁石22とからなる。軌道変更用の偏向電磁石21は、入射された荷電粒子ビームの軌道をz軸に対して所定の角度θだけ傾くように偏向する。軌道平行用の偏向電磁石22は、軌道変更用の偏向電磁石21によりz軸に対して傾けられた軌道をz軸に対して平行する軌道に偏向する。
下流側偏向電磁石対14は、軌道偏向用の偏向電磁石23と軌道平行用の偏向電磁石24とからなる。軌道変更用の偏向電磁石23は、入射された荷電粒子ビームの軌道をz軸に対して(360度−所定の角度θ)だけ傾くように偏向する。軌道平行用の偏向電磁石24は、軌道変更用の偏向電磁石23によりz軸に対して傾けられた軌道をz軸上の軌道に偏向する。
粒子加速器2からビーム輸送系26を経由してエネルギー変更装置5に導入された荷電粒子ビームは、上流側偏向電磁石対12によりz軸からx方向に所定の距離離れたz軸に平行な軌道上を進む。そして、所定の厚さのレンジシフタ11の部分を荷電粒子ビームが透過することにより、エネルギーが厚さに比例する分だけ低下されて所望のエネルギーになる。
このようにして所望のエネルギーに変更された荷電粒子ビームは、下流側偏向電磁石対14によりエネルギー変更装置5に入射されたときの元の軌道の延長線上に戻される。
また、レンジシフタ11を移動させないので、移動機構によく発生する機械的な故障の可能性がなく、高速で信頼性の高い粒子線治療装置1を提供することができる。
図3は、この発明の実施の形態2に係わるエネルギー変更装置の側面図である。
実施の形態2に係わる粒子線治療装置は、実施の形態1に係わる粒子線治療装置1とエネルギー変更装置5Bが異なっており、それ以外は同様であるので、同様な部分に同じ符号を付記して説明は省略する。
実施の形態2に係わるエネルギー変更装置5Bは、図3に示すように、実施の形態1に係わるエネルギー変更装置5にレンジシフタ11を動かすレンジシフタ駆動装置30が追加され、それにともなって変更制御装置16Bが異なっており、それ以外は同様であるので、同様な部分に同じ符号を付記して説明は省略する。
レンジシフタ11Bは、x方向に移動可能に支持されている。
そして、レンジシフタ駆動装置30は、変更制御装置16Bから送られてきたレンジシフタ移動量に基づいてレンジシフタ11Bをx方向に移動する。
図4は、この発明の実施の形態3に係わる照射装置の構成図である。
実施の形態3に係わる粒子線治療装置は、実施の形態2に係わる粒子線治療装置とスキャニング照射を行うことが異なっており、それ以外は同様であるので、同様な部分に同じ符号を付記して説明は省略する。
スキャニング照射では、患部27を複数の照射層31a〜31nに層別し、体表面32側から順番に照射を行う。照射層の変更は、照射制御装置9からエネルギー変更装置5Bの変更制御装置16Bにエネルギー指令値を与えて行う。そして、変更制御装置16Bは、荷電粒子ビームの軌道を変更することによるエネルギー変更分Δ1とレンジシフタ駆動装置30によるエネルギー変更分Δ2を設定して、それぞれを該当するところに送ることによりエネルギーを変更し、照射層31a〜31nが変更される。
図5は、この発明の実施の形態4に係わる粒子線治療装置の構成図である。図6は、実施の形態4に係わるエネルギー安定化装置の側面図である。
この発明の実施の形態4に係わる粒子線治療装置1Dは、荷電粒子を加速して荷電粒子ビームを発生する粒子加速器2、荷電粒子ビームを患部27に照射する照射装置3Dを備える。なお、粒子加速器2は、公知の装置を用いているので説明は省略する。
実施の形態4に係わる照射装置3Dは、荷電粒子ビームの進む方向に向かって手前から、荷電粒子ビームのエネルギーを安定化するエネルギー安定化装置33、荷電粒子ビームのエネルギーを低下して所望のエネルギーに変更するエネルギー変更装置5、荷電粒子ビームの軌道を走査する走査用電磁石装置6、荷電粒子ビームのエネルギーの幅を変更するリッジフィルター7、患部27に照射される照射線量を検出する照射線量モニタ8、照射装置1D全体を制御する照射制御装置9を備える。なお、走査用電磁石装置6、リッジフィルター7、照射線量モニタ8は、公知の装置を用いているので説明は省略する。また、エネルギー変更装置5は、実施の形態1乃至3において説明したエネルギー変更装置5と同様であり、説明は省略する。
そして、入射される荷電粒子ビームのエネルギーが大きいときにはレンジシフタ44を点aで透過し、入射される荷電粒子ビームのエネルギーが小さいときにはレンジシフタ44を点bで透過する。そして、点aでのレンジシフタ44の厚さが点bでのレンジシフタ44の厚さより厚いので、入射される荷電粒子ビームのエネルギーが大きいほどレンジシフタ44でのエネルギーの減衰がレンジシフタ44の厚さに比例して大きくなり、位置cでの荷電粒子ビームのエネルギーが安定化される。
また、荷電粒子ビームの運動量分析によるビーム強度の変動を小さくすることができる。
また、荷電粒子ビームのエネルギーの変更の精度を向上することができる。
また、実施の形態4において粒子線治療装置1Dは、エネルギー変更装置5も備えられているが、安定化装置33だけを備えても同様な効果が得られる。
図7は、この発明の実施の形態5に係わるエネルギー安定化装置の側面図である。
実施の形態5に係わる粒子線治療装置は、実施の形態4に係わる粒子線治療装置とエネルギー安定化装置33Eが異なっており、それ以外は同様であるので、同様な部分に同じ符号を付記して説明は省略する。
実施の形態5に係わるエネルギー安定化装置33Eは、実施の形態4に係わるエネルギー安定化装置33にさらに1つの4極電磁石51および楔型レンジシフタ52を追加したことが異なっており、それ以外は同様であるので、同様な部分に同じ符号を付記して説明は省略する。
Claims (2)
- 荷電粒子ビームを患部に照射して治療する粒子線治療装置において、
上記荷電粒子ビームが透過する方向の厚みがビーム透過方向に直交する一方向で異なり、透過する上記荷電粒子ビームのエネルギーを上記厚みに比例する分だけ低下するレンジシフタと、
上記荷電粒子ビームを上記レンジシフタの厚みの異なる部分に透過するために上記レンジシフタの上流側で上記荷電粒子ビームの軌道を上記厚みが変化する方向に平行移動させる上流側偏向電磁石対と、
上記レンジシフタを透過した上記荷電粒子ビームの軌道を上記上流側偏向電磁石対に入射したときの軌道の延長線上に平行移動させる下流側偏向電磁石対と、
上記レンジシフタを透過することにより上記荷電粒子ビームのエネルギーが所望の値までに低下する軌道を上記荷電粒子ビームが進むように上記上流側偏向電磁石対および上記下流側偏向電磁石対を制御する変更制御装置と、
を備えるエネルギー変更装置を具備することを特徴とする粒子線治療装置。 - 上記エネルギー変更装置は、上記上流側偏向電磁石対により平行移動された荷電粒子ビームが上記レンジシフタに入射する際に、上記レンジシフタの厚みが変化する方向に上記レンジシフタを移動するレンジシフタ駆動装置を備えることを特徴とする請求項1に記載する粒子線治療装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005171472A JP4115468B2 (ja) | 2005-06-10 | 2005-06-10 | 粒子線治療装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005171472A JP4115468B2 (ja) | 2005-06-10 | 2005-06-10 | 粒子線治療装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008080918A Division JP4335290B2 (ja) | 2008-03-26 | 2008-03-26 | 粒子線治療装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006341010A JP2006341010A (ja) | 2006-12-21 |
JP4115468B2 true JP4115468B2 (ja) | 2008-07-09 |
Family
ID=37638409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005171472A Expired - Fee Related JP4115468B2 (ja) | 2005-06-10 | 2005-06-10 | 粒子線治療装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4115468B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP4195883A2 (en) | 2021-12-08 | 2023-06-14 | Hitachi, Ltd. | Circular accelerator and particle therapy system |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007054919B4 (de) * | 2007-08-24 | 2009-07-30 | Gsi Helmholtzzentrum Für Schwerionenforschung Gmbh | Schnelle Regelung der Reichweite von hochenergetischen Ionenstrahlen für Präzisionsbestrahlungen von bewegten Zielvolumina |
CN103394166B (zh) * | 2008-05-13 | 2016-04-13 | 三菱电机株式会社 | 粒子射线治疗装置及粒子射线治疗方法 |
US8309939B2 (en) | 2008-05-13 | 2012-11-13 | Mitsubishi Electric Corporation | Particle beam treatment apparatus and particle beam treatment method |
JP5225200B2 (ja) | 2009-05-27 | 2013-07-03 | 三菱電機株式会社 | 粒子線治療装置 |
US8466428B2 (en) * | 2009-11-03 | 2013-06-18 | Mitsubishi Electric Corporation | Particle beam irradiation apparatus and particle beam therapy system |
JP5619462B2 (ja) * | 2010-04-02 | 2014-11-05 | 三菱電機株式会社 | 治療計画装置及び治療計画装置の治療計画を用いた粒子線治療装置 |
JP5902790B2 (ja) * | 2010-04-02 | 2016-04-13 | 三菱電機株式会社 | 粒子線照射装置及び粒子線治療装置 |
JP5646312B2 (ja) * | 2010-04-02 | 2014-12-24 | 三菱電機株式会社 | 粒子線照射装置及び粒子線治療装置 |
JP5886155B2 (ja) * | 2012-07-13 | 2016-03-16 | 住友重機械工業株式会社 | 荷電粒子線治療計画装置 |
US9962560B2 (en) * | 2013-12-20 | 2018-05-08 | Mevion Medical Systems, Inc. | Collimator and energy degrader |
US10675487B2 (en) | 2013-12-20 | 2020-06-09 | Mevion Medical Systems, Inc. | Energy degrader enabling high-speed energy switching |
JP5784808B2 (ja) * | 2014-09-17 | 2015-09-24 | 三菱電機株式会社 | 粒子線治療装置 |
US10786689B2 (en) | 2015-11-10 | 2020-09-29 | Mevion Medical Systems, Inc. | Adaptive aperture |
JP7059245B2 (ja) | 2016-07-08 | 2022-04-25 | メビオン・メディカル・システムズ・インコーポレーテッド | 治療計画の決定 |
WO2019006253A1 (en) | 2017-06-30 | 2019-01-03 | Mevion Medical Systems, Inc. | CONFIGURABLE COLLIMATOR CONTROLLED BY LINEAR MOTORS |
EP3766539B1 (en) * | 2019-07-15 | 2023-03-15 | RaySearch Laboratories AB | Computer program product and computer system for planning and delivering radiotherapy treatment and a method of planning radiotherapy treatment |
-
2005
- 2005-06-10 JP JP2005171472A patent/JP4115468B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP4195883A2 (en) | 2021-12-08 | 2023-06-14 | Hitachi, Ltd. | Circular accelerator and particle therapy system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006341010A (ja) | 2006-12-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070403 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4115468 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110425 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120425 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130425 Year of fee payment: 5 |
|
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130425 Year of fee payment: 5 |
|
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |