JP4112837B2 - 数値演算装置及びこれを用いた画像診断装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、数値演算装置に関し、特に、画像診断装置計測に適用して有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来のX線CT装置では、ファン状のX線ビームを照射するX線源と、X線源に対向する位置に円弧状に一列に検出素子を並設したX線検出器とからなる撮影系を備えた、いわゆるシングルスライスX線CT装置が一般的であった。このX線CT装置を用いた計測では、被検体の周囲の少なくとも180゜から被検体の回転撮影を行い、得られたX線像を撮影系の回転角に応じて逆投影演算を行うことによって、被検体のCT像を再構成する構成となっていた。この逆投影演算では、撮影系の回転中心を基準として、撮影系の回転角毎に被検体の断層面のマトリックス上にX線像の画素毎のデータを加算する、いわゆる畳み込み演算によってCT像を再構成する構成となっていた。
【0003】
この逆投影演算では、回転撮影で撮像するX線像の枚数、撮影系を構成するX線検出器の解像度、及び断層像の解像度の増加によって、演算量が大幅に増加することとなっていた。このために、従来のX線CT装置では、逆投影演算を行うための専用の数値演算用の回路を設け、この専用回路で逆投影演算を行うことによって、回転撮影の終了から断層像の表示までの時間を短縮したリアルタイム表示を実現していた。この数値演算を行なう回路は、計測データから演算する数値を発生(生成)させる部分と、その数値を演算する部分とから構成されていた。特に、従来の数値演算を行う回路では、数値の生成間隔に比べて演算処理時間が長い場合など処理時間短縮の為に、一つの数値発生手段に対して2もしくは3の演算回路を接続する手法が用いられていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
近年、計測に要する時間を短縮し計測効率を向上させると共に、被検体への負担を低減を低減させることを目的に開発されたマルチスライスX線CT装置が普及するに至っている。このマルチスライスX線CT装置は、被検体の体軸方向への撮影範囲を広げるために検出素子を被検体の体軸方向にも配列したマルチデテクタをX線検出器として用いたX線CT装置であり、撮影系の1回転で複数スライス分のX線像を撮像するものである。
【0005】
このために、マルチスライスX線CT装置では、撮影系の1回転すなわち単位時間当たりで得られる計測データ量がシングルスライスX線CT装置の数倍となるので、リアルタイム表示を行うためにはこの膨大な計測データを高速に処理することが要望されている。
【0006】
ひとつの方法として、逆投影等の演算回路すなわち専用の数値演算用の回路を構成する演算回路数を増やすことが考えられるが、従来の逆投影等の演算回路すなわち専用の数値演算用の回路では、並列的に演算回路を接続すると共に、演算回路を選択する回路を設け、この選択回路により、数値発生手段からの数値を入力する演算回路を選択して転送する構成となっていた。このために、演算回路を多くすると物理的に数値生成手段と末端の演算回路の距離が遠くなるために、高速な信号伝達ができなくなってしまうという問題があった。
【0007】
また、数値生成手段に接続できる演算回路の数(FAN−OUT数)は、数値生成手段のドライブ能力(駆動能力)で決定され制限されていた。この制限数以上接続するにはドライブ能力の高いドライバ回路を追加する必要があった。しかしながら、一般的に動作速度が遅いために、ドライブ能力の高いドライバ回路の使用は高速な回路には適さないという問題があった。
【0008】
また、FAN−OUT数が多くなった場合、数値生成回路と演算回路とを接続する信号線の総延長も長くなり、それに伴って信号線の総延長に伴い増加する信号線自身のインピーダンスも大きくなることが知られている。このために、演算回路数を増やすことにより高速に信号を伝達することが難しくなり、数値演算回路の高速動作が難しくなってしまうという問題があった。
【0009】
このために、従来のX線CT装置では、比較的安価な演算回路を複数個用いて演算回路数を増加させ、より高速な逆投影演算を行わせることができないために、比較的高価な高速演算が可能な演算回路を用いなければならないという問題があり、装置の製造コストの上昇要因となっていた。
また、逆投影演算では加算処理や乗算処理が必要となるのみであったので、個々の演算回路の演算性能は動作クロックの速さに比例するものとなっており、高価で高速演算が可能な演算回路を用いても、数値演算用の回路の演算性能の向上は限られたものであった。
【0010】
本発明の目的は、一つの数値発生手段に対して複数個の演算回路を用いることが可能な技術を提供することにある。
本発明の他の目的は、画像診断装置の画像計測で得られる膨大な計測データを短時間で処理することが可能な技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろう。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の数値演算装置は、複数個の入力データから予め定められた手順に従って演算用データを生成する手段と、前記生成手段により生成された演算用データが入力される複数の演算手段とを有し、前記生成手段と前記複数の演算手段が直列に接続された数値演算装置において、前記生成手段は、前記複数の演算手段のいずれかを特定する情報を前記演算用データとともに出力する手段を備え、前記複数の演算手段はそれぞれ、前記演算用データを演算するか否かを前記特定情報に基づき判定する回路と、前記判定回路の判定が演算するであれば前記演算用データを演算する演算回路と、前記判定回路の判定が演算しないであれば前記演算用データと前記特定情報を後段の演算手段に伝達する回路とを備えたことを特徴とする。
また本発明の画像診断装置は、測定対象の画像情報を収集する手段と、前記画像情報から前記測定対象の再構成画像を生成する手段と、前記再構成画像を表示する表示手段とを有する画像診断装置において、前記再構成手段は前記画像情報から予め定められた手順に従って演算用データを生成する手段と、前記生成手段により生成された演算用データが入力される複数の演算手段とを備え、前記生成手段と前記複数の演算手段が直列に接続されたものであって、前記生成手段は、前記複数の演算手段のいずれかを特定する情報を前記演算用データとともに出力する手段を備え、前記複数の演算手段はそれぞれ、前記演算用データを演算するか否かを前記特定情報に基づき判定する回路と、前記判定回路の判定が演算するであれば前記演算用データを演算する演算回路と、前記判定回路の判定が演算しないであれば前記演算用データと前記特定情報を後段の演算手段に伝達する回路とを備えたことを特徴とする。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、本発明について、発明の実施の形態(実施例)とともに図面を参照して詳細に説明する。
なお、発明の実施の形態を説明するための全図において、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
【0020】
図1は本発明の実施の形態1の画像診断装置であるX線CT装置の概略構成を説明するための図であり、101はX線源、102はチャネルコリメータ、103はX線検出器、104は走査駆動手段、105は回転角センサ、106は被検体、107は寝台、108は検出素子、109はX線制御手段、110は寝台制御手段、111は回転制御手段、112は制御手段、113はデータ収集手段、114は再構成手段、115は操作卓、116は表示手段を示す。ただし、再構成手段114を除く各手段及び機構は、従来のX線CT装置と同じ構成である。従って、実施の形態1においては、従来のX線CT装置とその構成が異なる再構成手段114について、詳細に説明する。また、図中に示すX,Y,Zは、それぞれX軸,Y軸,及びZ軸を示す。
【0021】
図1において、実施の形態1の再構成手段114では、図示しない逆投影演算用の数値演算回路は数値生成手段と複数個の演算手段とから構成されており、数値生成手段で生成された演算用の数値が入力された第1の演算手段(一段目の演算手段)から後段の第2の演算手段(2段目の演算手段)に出力され、この第2の演算手段に入力された数値が後段の第3の演算手段(3段目の演算手段)に出力されるというように、数値が入力された演算手段はこの入力された数値を後段に接続される演算手段に出力する構成となっている。なお、逆投影演算用の数値演算回路の詳細については後述する。
【0022】
図1から明らかなように、実施の形態1のX線CT装置では、撮影系は周知の走査駆動手段104で支持されており、該走査駆動手段104の駆動によって、撮影系は被検体106の体軸と垂直をなす平面内に回転される。撮影系の回転制御すなわち走査駆動手段104の制御は、回転制御手段111から出力される駆動出力によって行われる。
【0023】
被検体106は、図示しない天板及び該天板を体軸方向に移動させる図示しない周知の移動機構を備えた寝台107に設定されている。被検体106の支持位置は、例えば、当該被検体106の体軸と撮影系の回転中心軸とが一致するように設定される。ただし、撮影対象部位の中心が撮影系の回転中心軸上に位置するように、寝台制御手段110が寝台107の位置を制御し被検体106の支持位置を調整することによって、チャネルコリメータ102の開口幅すなわちX線ビームの照射視野を変化させることなくX線撮影が可能なことはいうまでもない。
【0024】
X線検出器103で撮像されたX線像(以下、「透過X線強度像」と記す)、すなわち複数個の検出素子108で検出された透過X線強度は、順次、データ収集手段113に出力され、撮影系の回転角毎にそれぞれ格納される。この後に、データ収集手段113に格納された透過X線強度像は再構成手段114により順次読み出され、周知のフィルタ処理の後に逆投影演算によりCT像が形成され、再構成手段114はCT像のCT値を予め設定された画素値に変換し、操作卓115に接続される表示手段116に断層像として表示する。
【0025】
次に、操作卓115からCT計測となる撮影の開始が指示されると、制御手段112からX線制御手段109、及び回転制御手段111に撮影のための動作条件が出力され、連続撮影が行われる。
【0026】
CT計測では、回転制御手段111が寝台107に設定された被検体106の周囲に撮影系を連続して回転させる。このとき、X線制御手段109は、回転角センサ105からの回転角情報に基づいて、所定の回転角毎にX線ビームを発生させるための駆動信号をX線源101に出力する。
【0027】
X線源101からはチャネルコリメータ102で制限される照射視野で被検体106にX線ビームが照射され、被検体を透過したX線がX線検出器103を構成する検出素子108で透過X線強度像の電気信号に変換される。X線検出器103で撮像された透過X線強度像は、透過X線強度は、順次、データ収集手段113に出力され、撮影系の回転角毎にそれぞれ格納される。
【0028】
ここで、操作卓115が備える釦の操作により断層像のリアルタイム撮影が指定されている場合には、データ収集手段113に格納された透過X線強度像は、直ちに再構成手段114により読み出される。再構成手段114を構成する図示しないフィルタ処理手段は、読み出された透過X線強度像に対して周知のフィルタ処理(画像処理)を行い、この処理後の透過X線強度像を図示しない数値演算回路に出力する。再構成手段114を構成する数値演算回路は、まず数値生成手段が入力された透過X線強度像から演算用の数値を生成し、この生成された数値を当該数値生成手段に直接接続される演算手段(1段目の演算手段)に出力する。このとき、数値生成手段は生成された数値と共に、複数個の演算手段の内のどの演算手段で演算を行わせるかを示す情報として、例えば演算手段と一対一で対応するID番号を出力する。
【0029】
1段目の演算手段に入力された数値とID番号とは、この1段目の演算手段の出力から後段に接続される演算手段(2段目の演算手段)の入力端子に出力されるように、順次最終段の演算手段にまで数値とID番号とが伝達される。すなわち、本実施の形態の数値演算回路では、従来では実現が困難であった3個以上の演算手段によって、CT像を得るための逆投影演算がなされる構成となっているので、逆投影演算に要する時間を大幅に短縮することができる。
この数値演算回路で得られたCT像は、再構成手段114を構成する変換手段により、関心部位等に適した濃淡情報の断層像に変換され、表示手段116に画像表示される。
【0030】
このように、本実施の形態の画像診断装置であるX線CT装置では、断層像の再構成する際に膨大な演算量が必要となる再構成手段114での逆投影演算を3個以上の演算手段でそれぞれ実行することが可能となるので、透過X線強度像の計測(CT計測の開始)から所望の断層像が得られるまでの時間を大幅に短縮することができる。
【0031】
図2は本実施の形態の数値演算回路における演算手段の接続構成を説明するための図であり、図3は本実施の数値演算回路の詳細構成を説明するための図である。
【0032】
図2及び図3において、201は数値生成手段、202は第1の演算手段、203は第2の演算手段、204は第3の演算手段、205は第4の演算手段、301はクロック発生器、302はID用のラッチ、303は数値用のラッチ、304はID比較回路、305は演算回路を示す。ただし、以下の説明では、演算手段が2個もしくは3個の場合について説明するが、4個以上でもよいことはいうまでもない。
【0033】
図2に示すように、本実施の形態の数値演算回路では、数値生成手段201は各演算手段に分配する数値を透過X線強度像データすなわち計測データから生成すると共に、どの演算手段に生成した数値を分配するかを示すID信号(選択信号)を生成する構成となっている。
【0034】
また、第1〜第3の演算手段202〜204の入力端子は、それぞれ前段に配置される演算手段の出力端子に接続される構成となっている。ただし、前述するように、数値生成手段201の出力端子には、第1の演算手段202の入力端子が接続される構成となっている。
【0035】
すなわち、本実施の形態の数値演算装置は、例えば1つの数値生成手段201と、第1〜第3の演算手段202〜204とから構成されており、数値生成手段201の数値及びID信号の各出力端子には第1の演算手段202の数値及びID信号の各入力端子が接続される構成となっている。また、この第1の演算手段202の数値及びID信号の各出力端子には、第2の演算手段203の数値及びID信号の各入力端子が接続される構成となっている。さらには、この第2の演算手段203の数値及びID信号の各出力端子には、第3の演算手段204の数値及びID信号の各入力端子が接続されるように、各演算手段202〜204が直列に接続される構成となっている。
【0036】
次に、図3に基づいて、本実施の形態の演算手段の詳細構成及び動作を説明する。ただし、前述するように、図3では説明を簡単にするために、演算手段が2個の場合を示している。
【0037】
図3から明らかなように、第1及び第2の演算手段202,203は、数値の入力端子から入力される数値をラッチ(保持)するための数値用のラッチ303と、ID信号の入力端子から入力されるID信号をラッチ(保持)するためのID用のラッチ302とを備える構成となっている。すなわち、本実施の形態の第1及び第2の演算手段202,203では、第1の演算手段に入力された数値とID信号とは、それぞれ数値用のラッチ302とID用のラッチ303とにラッチされた後に、後段の演算手段である第2の演算手段203に出力される構成となっている。
【0038】
また、第1及び第2の演算手段202,203は、ID信号の入力端子から入力されるID信号を取り込み、入力されたID信号が第1の演算手段202に設定されたIDであるかを判定するID比較回路304を有する構成となっている。さらには、第1及び第2の演算手段202,203は数値の入力端子から入力される数値を取り込み、この取り込んだ数値に対する所定の演算を行う周知の演算回路305を有する構成となっている。ただし、本実施の形態の演算回路305は、ID比較回路304での比較結果に基づいて、数値の取り込み及び取り込んだ数値の演算を行う構成となっている。
【0039】
さらには、本実施の形態の数値生成手段201並びに第1及び第2の演算手段202,203には、周知のクロック発生器301から出力される基準クロックが入力される構成となっており、数値生成手段201並びに第1及び第2の演算手段202,203は基準クロックに同期して動作する構成となっている。
【0040】
次に、図3に基づいて、本実施の形態の数値演算回路における逆投影演算時の動作を説明する。
まず、数値生成手段201に透過X線強度像すなわちフィルタ補正後の透過X線強度像データ(計測データ)が入力されると、数値生成手段201が予め設定された手順に基づいて、第1の演算手段202に出力する数値(演算用のデータ)と、第2の演算手段203に出力する数値(演算用のデータ)とを生成し、生成された数値が順次数値の出力端子から出力される。このとき、本実施の形態では、数値の出力端子から出力する数値のタイミングで、数値生成手段201からID信号が出力される。
【0041】
数値生成手段201から出力された数値とID信号とは、予め設定されたタイミングで第1の演算手段202が有する数値用のラッチ303とID用のラッチ302とによってラッチされ、このラッチのタイミングで後段の演算手段である第2の演算手段203に出力される。
【0042】
一方、第1の演算手段202では、ID比較回路304が数値生成手段201からのID信号を取り込み、この取り込まれたID信号が第1の演算手段202に対応するIDであるか、すなわち第1の演算手段202に予め設定されたIDと取り込まれたID信号とが一致するかを比較する。ここで、比較結果が一致しない場合には、このID信号と数値との組み合わせに対する第1の演算手段202による処理は終了となり、第1の演算手段202(ID比較回路304)は次のID信号と数値との入力待ちとなる。一方、比較結果が一致する場合には、ID比較回路304は同じ第1の演算手段202を構成する演算回路305に対して、数値の取り込みとこの取り込んだ数値を用いた演算とを指示する。このID比較回路304からの指示に基づいて、演算回路305は図示しない数値の入力端子から入力される数値を取り込み、その数値を使用した演算を行い、得られた結果を予め設定された周知の半導体メモリ等で構成される図示しないメモリ手段に格納することによって、このID信号と数値との組み合わせに対する第1の演算手段202による処理は終了となる。
【0043】
このとき、本実施の形態の数値演算回路では、前述するように、数値生成手段201から出力された数値とID信号とは、予め設定されたタイミングで第1の演算手段202が有する数値用のラッチ303とID用のラッチ302とによってラッチされ、このラッチのタイミングで後段の演算手段である第2の演算手段203に出力される構成となっている。すなわち、第2の演算手段203には第1の演算手段202のID比較回路304の比較結果に係わらず、第1の演算手段202が有するID用及び数値用のラッチ302,303を介して、数値とID信号とが入力される構成となっている。
【0044】
従って、第2の演算手段203においても、前述した第1の演算手段202と同様にして、第2の演算手段203が有するID比較回路304によるID信号の取り込み及び比較、並びに比較結果に基づいた演算回路305による数値の取り込み及び数値演算がそれぞれなされるようになっている。ただし、ID信号が各演算手段と一対一で対応するように設定されているので、本実施の形態では、それぞれの演算手段で重複した演算は行われない。このように、第1の演算手段202と第2の演算手段203とはそれぞれ独立して動作を行うことが可能な構成となっているので、容易に複数の演算手段を配置あるいは追加することが可能である。
【0045】
また、ID比較回路304による比較結果に係わらず、ID番号と生成された数値とを後段の演算手段に出力する構成となっているので、ID番号と数値との入力から後段の演算手段へのID番号と数値との出力するまでに要する時間を小さくできる。しかしながら、比較結果が一致する演算手段がID番号と生成された数値とを後段に接続される演算手段に出力しない構成でもよいことはいうまでもない。
【0046】
また、数値生成手段201から出力される数値及びID信号は、クロック発生器301から出力される基準クロックに同期して出力される構成となっているので、異なる端子から出力される構成であっても、数値とID信号とはそれぞれ一対一に対応した関係を維持できる。また、数値生成手段201並びに第1及び第2の演算手段202,203へのIDの設定は、例えば数値生成手段201並びに第1及び第2の演算手段202,203のそれぞれに外部書き込みが可能なメモリ素子や外部設定が可能なスイッチ等を設けておき、このメモリ素子やスイッチによって所定のIDを設定することによって、演算手段の追加等に容易に対応することができる。
【0047】
以上説明したように、本実施の形態の画像診断装置では、数理演算回路を構成する第1及び第2の演算手段202,203が入力端子から取り込んだ演算用データである数値及びID信号を、それぞれ一旦ラッチして出力端子に出力するID用のラッチ302及び数値用のラッチ303を備える構成となっているので、このID用のラッチ302及び数値用のラッチ303が、数値生成手段201もしくは前段の演算手段から入力される数値及びID信号をバッファリングして後段の演算手段に出力するバッファとして機能する。また、ID用のラッチ302及び数値用のラッチ303がそれぞれ直列に接続される構成となっている。
【0048】
従って、2個以上の複数個の演算手段を用いた場合であっても、数値生成手段201のID用及び数値用の出力端子に直接接続される演算手段は1つの演算手段となると共に、各演算手段の出力端子に直接接続される演算手段も1つの演算手段となり、一つの数値生成手段201から複数個の演算手段に演算用データである数値及びID信号を出力する構成としても、数値生成手段201及び演算手段202,203,204のFAN−OUT数の増加に伴う、数値生成手段201から各演算手段202,203,204への演算用データである数値及びID信号の伝達の遅延を低減できる。
その結果、より多くの演算手段202,203,204を使用することが可能となり、数値演算回路における演算能力を大幅に向上させることができる。
【0049】
従って、本実施の形態の画像診断装置であるマルチスライスX線CT装置は、画像診断装置の画像計測で得られる膨大な計測データを短時間で処理することができる。また、演算手段202,203,204に比較的高価なものを用いることなく、演算手段の数を増やすことによって演算能力が向上するので、比較的安価にリアルタイム表示が可能なマルチスライスX線CT装置を製造することが可能となる。
【0050】
なお、本実施の形態では、説明を簡単にするために数値とID信号とをそれぞれ1本の信号線で示したが、本願発明を適用した画像診断装置では、数値生成手段201から各演算手段202,203,204への数値及びID信号の伝送速度を速くするために、数値生成手段201と各演算手段202,203,204とは、複数本の信号線を用いて数値及びID情報をパラレルに伝送する、いわゆるバス接続となっている。
【0051】
また、演算回路を複数種類の演算を行なえるようにしておき、アドレス信号に演算の種類を決める信号を付加するようにしてもよい。
また、数値生成手段201は、複数ある演算手段(図では202,203)のうち数値生成手段に最も近い演算手段が始めの動作するように演算器を割り当てることによって演算が開始されるまでの時間を短縮できる。
【0052】
以上、本発明者によってなされた発明を、前記発明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は、前記発明の実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは勿論である。
【0053】
【発明の効果】
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである。
【0054】
(1)一つの数値発生手段に対して複数個の演算回路を用いることができる。
(2)画像診断装置の画像計測で得られる膨大な計測データを短時間で処理することができる。
(3)演算手段に比較的高価なものを用いることなく、リアルタイム表示が可能な画像診断装置を安価に製造することができる。
(4)数値生成手段と各演算手段とが直列に接続される構成となっているので、演算手段の追加等に容易に対応することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1の画像診断装置であるX線CT装置の概略構成を説明するための図である。
【図2】本実施の形態の数値演算回路における演算手段の接続構成を説明するための図である。
【図3】本実施の数値演算回路の詳細構成を説明するための図である。
【符号の説明】
101…X線源、102…チャネルコリメータ、103…X線検出器、104…走査駆動手段、105…回転角センサ、106…被検体、107…寝台、108…検出素子、109…X線制御手段、110…寝台制御手段、111…回転制御手段、112…制御手段、113…データ収集手段、114…再構成手段、115…操作卓、116…表示手段、201…数値生成手段、202…第1の演算手段、203…第2の演算手段、204…第3の演算手段、205…第4の演算手段、301…クロック発生器、302…ID用のラッチ、303…数値用のラッチ、304…ID比較回路、305…演算回路
Claims (4)
- 複数個の入力データから予め定められた手順に従って演算用データを生成する手段と、前記生成手段により生成された演算用データが入力される複数の演算手段とを有し、前記生成手段と前記複数の演算手段が直列に接続された数値演算装置において、
前記生成手段は、前記複数の演算手段のいずれかを特定する情報を前記演算用データとともに出力する手段を備え、
前記複数の演算手段はそれぞれ、前記演算用データを演算するか否かを前記特定情報に基づき判定する回路と、前記判定回路の判定が演算するであれば前記演算用データを演算する演算回路と、前記判定回路の判定が演算しないであれば前記演算用データと前記特定情報を後段の演算手段に伝達する回路とを備えたことを特徴とする数値演算装置。 - 測定対象の画像情報を収集する手段と、前記画像情報から前記測定対象の再構成画像を生成する手段と、前記再構成画像を表示する表示手段とを有する画像診断装置において、
前記再構成手段は前記画像情報から予め定められた手順に従って演算用データを生成する手段と、前記生成手段により生成された演算用データが入力される複数の演算手段とを備え、前記生成手段と前記複数の演算手段が直列に接続されたものであって、
前記生成手段は、前記複数の演算手段のいずれかを特定する情報を前記演算用データとともに出力する手段を備え、
前記複数の演算手段はそれぞれ、前記演算用データを演算するか否かを前記特定情報に基づき判定する回路と、前記判定回路の判定が演算するであれば前記演算用データを演算する演算回路と、前記判定回路の判定が演算しないであれば前記演算用データと前記特定情報を後段の演算手段に伝達する回路とを備えたことを特徴とする画像診断装置。 - 請求項2に記載の画像診断装置において、
前記生成手段と前記複数の演算手段に、同期信号を出力する同期信号出力手段をさらに備え、
前記伝達回路は、前記同期信号に基づいて前記演算用データと前記特定情報を後段の演算手段に伝達することを特徴とする画像診断装置。 - 請求項2に記載の画像診断装置において、
前記生成手段は、前記複数の演算手段の中から前記生成手段に最も近い演算手段が始めの動作となるように演算器を割り当てることを特徴とする画像診断装置。
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