JP4104274B2 - 復号装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク等に記録されているＦＭ信号を復調し、復調後の信号からデータを読み取る復号装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
最近、一定線速度（ＣＬＶ：Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ｌｉｎｅａｒ Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）でデータが記録された光ディスクを、一定角速度（ＣＡＶ：Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ａｎｇｕｌａｒ Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）つまり一定回転数となるようにスピンドルモータを制御して再生動作を行う復号装置が採用されるようになっている。
【０００３】
ＣＬＶ記録された光ディスクをＣＬＶ再生する場合、光ピックアップの光ディスク半径位置によって光ディスクの回転数を変えて線速度を一定に保つための複雑な制御回路が必要であり、さらに光ディスクの回転数が整定するまでデータが再生できないためアクセス動作の高速化が困難であり、その間にモータで消費される電力も無視できないという課題があった。
【０００４】
一方、ＣＬＶ記録された光ディスクをＣＡＶ再生する場合、光ディスクの回転数を一定に保持し、光ピックアップの光ディスク半径位置による線速度の変動は信号処理部で補うことにより、スピンドルモータの制御回路構成が簡略化することができ、また光ディスクの回転数を可変する必要がないためアクセス動作の高速化とモータ電力の省電力効果も得ることができるというメリットがある。
【０００５】
また、光ディスクからデータを再生する場合、再生信号からデータを読み出すタイミング信号を抽出しなければならない。このタイミング信号は抽出クロックと呼ばれている。
【０００６】
ＣＬＶ記録された光ディスクをＣＬＶ再生する場合、線速度が一定なので光ディスクから再生される信号は狭い周波数レンジに含まれているが、ＣＬＶ記録された光ディスクをＣＡＶ再生する場合は、線速度の変動により広い周波数レンジに含まれるものとなる。
【０００７】
光ディスクから再生される信号の周波数が狭いＣＬＶ再生では、一般的にＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ）を用いてクロック抽出が行われてきた。
【０００８】
ＰＬＬは入力信号と抽出クロックの位相比較を行うため、入力信号の周期が所定の設計目標値にほぼ一致していることが前提であり、通常のＰＬＬでは信号周期は設計目標値の±１０％程度の範囲に入っている必要がある。したがって、ＰＬＬを用いたクロック抽出は、ＣＬＶ再生する場合に適していた。
【０００９】
しかし、ＣＬＶ記録された光ディスクをＣＡＶ再生する場合、光ディスクの内周と外周で線速度は一般的に２倍以上変動するため信号周期も２倍以上変動し、この信号周期の変動に対して通常のＰＬＬは正常に動作できず、クロックを抽出することは困難であった。
【００１０】
このような問題点から、光ディスクからの入力信号の周波数が広い範囲で変化したとしても、抽出クロックを生成しデータを読み出すことのできる復号装置として、特願平１１−３１０５５５号にみられるように、入力信号の周期に応じたタイミングによりクロックを抽出する容易な構成の復号装置が提案されている。
【００１１】
以下に、上記従来技術による入力信号の周期に応じたタイミングによりクロックを抽出する復号装置について、図１１，図１２，図１３，図１４および図１５を用いて説明する。
【００１２】
従来技術による復号装置は、ＭＤ（Ｍｉｎｉ Ｄｉｓｃ）のＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）ディスクより再生されるＡＤＩＰ信号からアドレスデータを復調する復号装置であり、アドレスデータはバイフェーズ変調され、バイフェーズ変調されたバイフェーズ信号はさらにＦＭ変調してＡＤＩＰ信号となり、ＲＡＭディスクのグルーヴにウォブリングを施して形成されている。
【００１３】
図１１は従来の復号装置の構成を示すブロック図であり、これはＦＭ変調された信号の周期に応じたタイミングによりクロックを抽出するものである。
【００１４】
図示するように、復号装置は、２値化手段Ａ１、カウント手段２、および低域通過フィルタ３からなる復調手段９と、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、リセット手段１２および復号手段８からなる読取手段１０と、そして２値化手段Ｂ４を備えている。
【００１５】
図１２は図１１の復調手段９の動作を説明する信号波形図であり、復号装置に入力されるＡＤＩＰ信号（ａ）、２値化手段Ａ１の出力信号（ｉ）、カウント手段２の出力信号（ｊ）、低域通過フィルタ３の出力信号（ｃ）、２値化手段Ｂ４の出力信号であるバイフェーズ信号（ｄ）を示したものである。
【００１６】
２値化手段Ａ１は所定の閾値でＡＤＩＰ信号（ａ）を論理Ｈ，論理Ｌの２値の信号にコンパレートするものであり、ＡＤＩＰ信号（ａ）が所定の閾値より大きい場合は論理Ｈ、小さい場合は論理Ｌとして２値化した信号（ｉ）を出力する。
【００１７】
カウント手段２は２値化手段Ａ１が出力する２値化信号（ｉ）の立ち上がりエッジ間あるいは立ち下がりエッジ間をカウント用クロックによってカウントし、そのカウンタ値、すなわち、ＡＤＩＰ信号（ａ）の周期データを立ち上がりエッジ毎あるいは立ち下がりエッジ毎に出力する。この出力カウンタ値（ｊ）がＦＭ復調信号である。
【００１８】
低域通過フィルタ３は、カウント手段２から出力されたカウンタ値（ｊ）を入力し、そのカウンタ値（ｊ）に含まれる高域の周期ノイズを低減し、平滑した信号（ｃ）を出力する。この信号（ｃ）が復調手段９の出力信号（ｃ）となる。
【００１９】
２値化手段Ｂ４は復調手段９の出力信号（ｃ）を所定の閾値で論理Ｈ、論理Ｌにコンパレートするものであり、復調手段９の出力信号（ｃ）が所定の閾値より大きい場合は論理Ｈ、小さい場合は論理Ｌとしてバイフェーズ信号（ｄ）を出力する。
【００２０】
図１３は図１１の読取手段１０の動作を説明する信号波形図であり、平均周期検出手段５から出力されたＡＤＩＰ信号の平均周期値を４で割った信号（ｅ）、パルス生成手段６が備えているカウンタのカウンタ値１（ｆ）、カウンタ値１（ｆ）に応じて出力されるパルス信号（ｋ）、２値化手段Ｂ４から出力されるバイフェーズ信号（ｄ）、パルスカウント手段７が備えているカウンタのカウンタ値２（ｇ）およびパルスカウント手段７が出力する抽出クロック（ｈ）の波形およびデータである。
【００２１】
図１４は図１１の平均周期検出手段５の動作を説明する信号波形図であり、復調手段９からの出力信号（ｃ）である入力信号５１（入力波形）と平均周期検出手段の出力信号５２（平均周期波形）を示したものである。
【００２２】
平均周期検出手段５に入力される信号５１は低域通過フィルタ３より出力されるＡＤＩＰ信号（ａ）の周期カウントのデータであり、ＡＤＩＰ信号に含まれる周期偏差による高周波成分とＦＭキャリア周波数の変動による低周波成分を主な周波数成分として有している。
【００２３】
平均周期検出手段５は周期偏差による高周波成分よりも十分低い周波数成分を通過させる低域通過フィルタであり、入力された信号５１（ｃ）の周期偏差による高周波成分は除去され、ＦＭキャリア周波数の変動による低周波成分のみを有した出力信号５２（ｅ）を出力する。
【００２４】
よって、平均周期検出手段５はＡＤＩＰ信号の平均周期値を検出していることになる。
【００２５】
パルス生成手段６は平均周期検出手段５の出力するＡＤＩＰ信号の平均周期値を入力とし、内部にカウンタを備えており、カウンタはカウンタ用クロックによりカウントし、そのカウンタ値１（ｆ）が平均周期検出手段５の出力する平均周期値を４で割った値（ｅ）と等しくなるまでカウントし続ける。
【００２６】
ここでカウンタ用クロックはカウント手段２で用いたカウンタ用クロックと同じ周波数のものを用いる。
【００２７】
カウンタ値１（ｆ）が平均周期値を４で割った値（ｅ）と等しくなった場合、パルス信号（ｋ）を出力し、カウンタ値１（ｆ）を１にリセットして再びカウント用クロックによるカウントを繰り返す。
【００２８】
また、リセット手段１２は２値化手段Ｂ４から入力されるバイフェーズ信号（ｄ）の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジを検出した場合、パルス生成手段６にリセット信号を出力しカウンタ値１（ｆ）を値１にリセットする。
【００２９】
以上の動作によりパルス生成手段６は、ＡＤＩＰ信号（ａ）の平均周期に対して４分の１の周期を有し、その位相がバイフェーズ信号（ｄ）のエッジでリセットされるパルス信号（ｋ）を発生することができる。
【００３０】
ここでＭＤを通常の線速度で再生した場合、ＡＤＩＰ信号のＦＭキャリア周波数は２２．０５ｋＨｚ、周波数偏差は±１ｋＨｚ、バイフェーズ信号（ｄ）から抽出されるべきクロック（ｈ）の周波数は６．３ｋＨｚである。
【００３１】
つまり抽出クロック（ｈ）の周期はＦＭキャリア周期の３．５倍（＝２２．０５ｋＨｚ／６．３ｋＨｚ）であり、パルス信号（ｋ）の周期はＡＤＩＰ信号のＦＭキャリア平均周期の４分の１であるから、パルス信号（ｋ）の１４周期分（＝３．５×４）が抽出クロック（ｈ）の周期に相当する。
【００３２】
この関係は、再生を通常の線速度でない場合で行っても成立する。
【００３３】
また、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジから抽出クロック（ｈ）の１周期が１チャンネルビットのデータを示す区間であり、正確にチャンネルビットのデータを抽出クロック（ｈ）の立ち上がりエッジで読み取ろうとする場合、チャンネルビットのデータ区間の中心近傍に抽出クロック（ｈ）の立ち上がりエッジが発生するようにしなければならない。
【００３４】
パルスカウント手段７はカウンタを備えており、リセット手段１２によりバイフェーズ信号（ｄ）の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジが検出されてリセット信号が入力されると、カウンタ値２（ｇ）は値１にリセットされ、パルス生成手段６からパルス信号（ｋ）が入力されるとカウンタ値２（ｇ）は１ずつインクリメントされる。
【００３５】
そして、カウンタ値２（ｇ）が値７と等しい状態にある場合に、パルス生成手段６からパルス信号（ｋ）が入力されたときは、カウンタ値２（ｇ）を値１にリセットして抽出クロック（ｈ）を論理Ｈに設定し、その後カウンタ値２（ｇ）は再びパルス信号（ｋ）によってインクリメントし、値１４と等しい状態にある場合に、パルス生成手段６からパルス信号（ｋ）が入力される毎にカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットして抽出クロック（ｈ）を論理Ｈに設定する。
【００３６】
ただし、パルスカウント手段７は抽出クロック（ｈ）を論理Ｈに設定した場合、一定時間後に論理Ｌにリセットする。
【００３７】
これにより、抽出クロック（ｈ）はパルス信号（ｋ）の１４周期毎に論理Ｈとなり、その立ち上がりエッジはバイフェーズ信号（ｄ）のエッジからパルス信号（ｋ）の７周期（＝１４周期／２）の位相差を有することになる。
【００３８】
復号手段８はバイフェーズ信号（ｄ）と抽出クロック（ｈ）を入力し、抽出クロック（ｈ）の立ち上がりエッジを検出すると同時にバイフェーズ信号（ｄ）のデータを取り出して、そのデータ列をバイフェーズ復調することによりアドレスデータを読み出し、アドレスデータを出力する。
【００３９】
以上のように、ＦＭ復調して得られるバイフェーズ信号からＰＬＬによってクロックを抽出するのではなく、ＦＭキャリアの平均周期によって抽出クロックの周期を検出し、その位相をバイフェーズ信号でリセットすることにより、ＦＭ変調された信号の平均的な周期が大きく変動しても容易にクロックを抽出して、バイフェーズ信号からアドレスデータを読み出すことができる。
【００４０】
【発明が解決しようとする課題】
上記の従来技術による復号装置では、ＡＤＩＰ信号の平均周期より抽出クロックの周期を検出し、バイフェーズ信号のエッジで抽出クロックの位相をリセットするという特徴を利用したものである。
【００４１】
しかしながら、光ディスク表面上のほこりや指紋といった欠陥によりＡＤＩＰ信号の周期が乱れると、バイフェーズ信号に偽エッジが発生し、抽出クロックの位相が乱れてしまうといった問題点を有していた。以下、これについて図１５を用いて説明する。
【００４２】
図１５は、図１１の復号装置の信号波形図であり、これは光ディスク上の欠陥によりＡＤＩＰ信号（ａ）の周期が正常時とは大きく異なる振る舞いをした場合である。復号装置に入力されるＡＤＩＰ信号（ａ）、カウント手段２の出力信号（ｃ’）、低域通過フィルタ３の出力信号（ｃ）、２値化手段Ｂ４からのバイフェーズ信号（ｄ）、平均周期検出手段５から出力されたＡＤＩＰ信号の平均周期値を４で割った信号（ｅ）、パルス生成手段６が備えているカウンタのカウンタ値１（ｆ）、カウンタ値１（ｆ）に応じて出力されるパルス信号（ｋ）、パルスカウント手段７が備えているカウンタのカウンタ値２（ｇ）およびパルスカウント手段７が出力する抽出クロック（ｈ）の波形およびデータである。
【００４３】
光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号（ａ）の周期が急激に乱れたＡＤＩＰ信号（ａ’）のとき、カウント手段２の出力信号は図１５（ｃ’）のような振る舞いをする。この出力信号（ｃ’）から復調手段（低域通過フィルタ３）９は図１５（ｃ）のような信号を出力してバイフェーズ信号（ｄ）が生成される。
【００４４】
このとき、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡとエッジＤは本来のエッジであり、エッジＢとエッジＣが欠陥により発生したエッジである。
【００４５】
しかし、リセット手段１２はバイフェーズ信号（ｄ）に含まれる全てのエッジを検出し、パルス生成手段６のカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７のカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットするので、エッジＡとエッジＤに挟まれる期間に生成されるはずの抽出クロック（ｈ）の論理Ｈの期間Ｘが生成されなくなってしまう。
【００４６】
これにより、復号手段８によるバイフェーズ復調は正確に行われず、間違ったアドレスデータを出力してしまうことになる。
【００４７】
また、この抽出クロック（ｈ）は光ディスクの回転数の情報を含むものであるので、この抽出クロック（ｈ）を用いてスピンドルの制御を行っている場合では一時的にスピンドルの制御が不安定になるなどの影響もある。
【００４８】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題を解決するために、ＦＭ変調された信号をＦＭ復調してデータを読み取る復号装置であって、前記ＦＭ変調された信号をＦＭ復調する復調手段と、前記復調手段の出力を閾値と比較して２値化したバイフェーズ信号を出力する２値化手段と、前記ＦＭ変調された信号の欠陥を検出して欠陥検出信号を出力する欠陥検出手段と、前記２値化手段が出力する前記バイフェーズ信号のエッジを検出してエッジ検出信号を出力するリセット手段と、前記リセット手段から入力される前記エッジ検出信号をリセット信号として出力し、前記欠陥検出手段から前記欠陥検出信号が入力された場合に前記リセット信号の出力を休止するリセット休止手段と、前記復調手段の出力からＦＭキャリア周波数の変動による低周波成分の信号、すなわちＦＭ変調された信号の平均周期を抽出して出力する平均周期検出手段と、前記平均周期検出手段が出力する信号の周期と前記リセット休止手段が出力する前記リセット信号に応じたパルス信号を生成するパルス生成手段と、前記パルス生成手段から入力される前記パルス信号を検出する毎にカウントアップするカウンタを有し、前記リセット休止手段から入力される前記リセット信号を検出した場合に前記カウンタを初期値に戻し、前記カウンタが所定の値に到達した場合に前記カウンタを初期値に戻して抽出クロックを出力するパルスカウント手段と、前記パルスカウント手段から入力した抽出クロックを用いて前記２値化手段が出力する前記バイフェーズ信号からデータを読み取る復号手段を具備することを特徴とするものである。
【００４９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の各実施の形態における復号装置について、図１ないし図１０を用いて説明する。
【００５０】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１における復号装置の構成を示すブロック図である。
【００５１】
図示するように、２値化手段Ａ１、カウント手段２、および低域通過フィルタ３からなる復調手段９と、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、リセット手段１２、リセット休止手段１３および復号手段８からなる読取手段１０と、２値化手段Ｂ４および欠陥検出手段１１を備えている。つまり、本実施の形態１では従来の復号装置（図１１）に欠陥検出手段１１及び読取手段１０にリセット休止手段１３を付加した構成である。
【００５２】
図２は図１のカウント手段２と欠陥検出手段１１の構成を示すブロック図（１）とその動作を示す信号波形およびデータ（２）である。
【００５３】
図３は本発明の実施の形態１における復号装置の動作を説明する信号波形図であり、復号装置に入力されるＡＤＩＰ信号（ａ）、欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）、カウント手段２の出力信号（ｃ’）、復調手段（低域通過フィルタ３）９の出力信号（ｃ）、２値化手段Ｂ４から出力されるバイフェーズ信号（ｄ）、平均周期検出手段５から出力されたＡＤＩＰ信号の平均周期データを４で割った信号（ｅ）、パルス生成手段６が備えているカウンタのカウンタ値１（ｆ）、パルスカウント手段７が備えているカウンタのカウンタ値２（ｇ）およびパルスカウント手段７が出力する抽出クロック（ｈ）の信号波形およびデータである。
【００５４】
２値化手段Ａ１、低域通過フィルタ３、２値化手段Ｂ４、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、復号手段８およびリセット手段１２については、従来の技術による図１１で説明した復号装置と同様な動作を行うものであり、ここでの説明は省略する。
【００５５】
よって、ここではカウント手段２、欠陥検出手段１１およびリセット休止手段１３についてその動作を詳しく説明する。
【００５６】
図２において、カウント手段２は２段構成のＤフリップフロップ群２１，２２と、アンド回路２３と、そしてカウンタ２４からなる構成である。まず、２値化手段Ａ１により２値化されたＡＤＩＰ信号Ａ（図１，図３のＡＤＩＰ信号ａと同じ信号）はカウント手段２に入力される。入力されたＡＤＩＰ信号Ａはその立ち上がりエッジを検出するために２段構成のＤフリップフロップ群２１，２２に入力される。このＤフリップフロップ群はＡＤＩＰ信号の周期よりも十分短い周期を有するマスタクロックＣＬＫで動作する。
【００５７】
ＡＤＩＰ信号Ａは１段目のＤフリップフロップ２１の入力Ｄ端子に入力され、非反転出力端子Ｑの出力は２段目のＤフリップフロップ２２の入力Ｄ端子に入力される。１段目の非反転出力端子Ｑの出力と２段目の
【外１】
【００５８】
の出力とがアンド回路２３に入力されて、立ち上がりエッジの検出パルス信号Ｂが出力される。
【００５９】
カウンタ２４は所定のカウンタ用クロックでカウントアップするカウンタである。また、カウンタ２４は立ち上がりエッジの検出パルス信号Ｂが入力されると、そのときのカウンタ値を出力用レジスタＣ（以下、出力用レジスタＣはカウンタ値を意味する）に格納して、カウンタ値を初期値である値１にリセットし、再びカウンタ用クロックでカウンタ値を値１からカウントアップするという動作を繰り返す。出力用レジスタＣに格納された値をカウント手段２は出力、保持する。
【００６０】
欠陥検出手段１１は２段構成のＤフリップフロップ群１１１，１１２と、減算器１１３、そして比較器１１４からなる構成であり、カウント手段２の出力信号である立ち上がりエッジの検出パルス信号Ｂと出力用レジスタＣ（カウンタ値）を入力とする。
【００６１】
入力された出力用レジスタＣ（カウンタ値）は１段目のＤフリップフロップ１１１の入力Ｄ端子に入力され、非反転出力端子は２段目のＤフリップフロップ１１２の入力Ｄ端子に入力される。また、この２つのＤフリップフロップ群１１１，１１２は立ち上がりエッジの検出パルス信号Ｂによって動作する。
【００６２】
ここで、Ｄフリップフロップ群に入力されるカウンタ値は複数ビットで構成されるデータであり、１段目のＤフリップフロップ１１１の構成はそのビット数に等しいＤフリップフロップが並列に配されているものであり、１段目と２段目のＤフリップフロップ群内におけるＤフリップフロップの順列は同じものである。そして、１段目の非反転出力端子から出力される出力用レジスタ（カウンタ値）Ｄと２段目の非反転出力端子から出力される出力用レジスタ（カウンタ値）Ｅが減算器１１３に入力され、入力される２つのカウンタ値の減算値の絶対値を出力する。
【００６３】
減算器１１３の出力は比較器１１４に入力され、ある比較値αと比較される。図２（２）に示すように減算器１１３の出力（｜Ｄ−Ｅ｜）がある比較値αよりも大きい場合は比較器１１４の出力Ｆが論理Ｈとなり、減算器１１３の出力（｜Ｄ−Ｅ｜）がある比較値αよりも小さい場合は比較器の出力Ｆが論理Ｌとなる。
【００６４】
以上の動作により、欠陥検出手段１１はカウント手段２の出力用レジスタ（カウンタ値）Ｃの差分値を計算し、その結果をある比較値αと比較することにより、図３に示すＡＤＩＰ信号（ａ）が急激に乱れた場合（ａ’）、カウント手段２は、急激な出力用レジスタ（カウンタ値）Ｃの変化ｃ’を検出することができる。すなわち、光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号（ａ）の周期が急激に変動することによりカウント手段２の出力レジスタ（カウンタ値）Ｃが急激に変化したことを欠陥検出手段１１は検出する。
【００６５】
図１の欠陥検出手段１１の出力する図２に示す信号Ｆを欠陥検出信号（後記図３のｂに相当）と呼ぶことにする。
【００６６】
図２の欠陥検出信号Ｆは図１のリセット手段１２の出力信号とともにリセット休止手段１３に入力される。リセット休止手段１３は欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号Ｆが論理Ｌであれば、リセット信号が入力された場合、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ…図３）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ…図３）を値１にリセットする。
【００６７】
しかし、リセット休止手段１３は欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号Ｆが論理Ｈであれば、リセット信号が入力されてもこれをマスクするので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【００６８】
次に図３を用いて詳細な動作を説明する。
【００６９】
光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号が図３（ａ）の（ａ’）のように乱れたとすると、カウント手段２によるＡＤＩＰ信号（ａ）の周期カウンタ値（ｃ’）が急激に変動し、その急激な変動が欠陥検出回路１１により検出され欠陥検出信号（ｂ）が期間Ａで論理Ｈとなる。
【００７０】
復調手段９から出力される信号（ｃ）はカウント手段２の出力を低域通過フィルタ３に通したものであり、光ディスク表面上の欠陥の影響により変動する。この復調手段９の出力信号（ｃ）を２値化手段Ｂ４で２値化すると（ｄ）のようなバイフェーズ信号が得られる。
【００７１】
このバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡ，エッジＤは本来のエッジであるが、エッジＢとエッジＣは光ディスク表面上の欠陥により発生したエッジであり、本来のエッジではない。
【００７２】
リセット休止手段１３は、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡを検出したとき欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌであるので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【００７３】
次に、光ディスクの欠陥により発生したバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＢおよびエッジＣを検出するが、リセット休止手段１３は欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈであるので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【００７４】
以上のように、欠陥検出手段１１とリセット休止手段１３を備えることにより、光ディスク表面上にほこりや指紋などの欠陥が存在しても、バイフェーズ信号（ｄ）の偽エッジによる影響を受けないので安定した抽出クロックを生成し、アドレスデータを読み出すことができる。
【００７５】
また、この抽出クロックを用いてスピンドルの制御を行っている場合では、安定したスピンドルの制御ができる。
【００７６】
なお、欠陥検出手段はカウント手段の出力信号の差分値からＡＤＩＰ信号の欠陥を検出するとしたが、他の欠陥検出方法を用いても同様な効果が得られる。
【００７７】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２における復号装置について、図４，図５を用いて説明する。
【００７８】
図４は本発明の実施の形態２における復号装置の構成を示したブロック図である。
【００７９】
図示するように、本発明の実施の形態２における復号装置は、２値化手段Ａ１、カウント手段２および低域通過フィルタ３からなる復調手段９と、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、リセット手段１２、リセット休止手段１３および復号手段８からなる読取手段１０と、２値化手段Ｂ４および欠陥検出手段１１を備えている。本実施の形態２においては、リセット休止手段１３に遅延部１３１を備えることを特徴とする。
【００８０】
図５は本発明の実施の形態２における復号装置の動作を説明する信号波形図であり、復号装置に入力されるＡＤＩＰ信号（ａ）、欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）、カウント手段２の出力信号（ｃ’）、復調手段（低域通過フィルタ３）９の出力信号（ｃ）、２値化手段Ｂ４から出力されるバイフェーズ信号（ｄ）、平均周期検出手段５から出力されたＡＤＩＰ信号の平均周期値を４で割った信号（ｅ）、パルス生成手段６が備えているカウンタのカウンタ値１（ｆ）、パルスカウント手段７が備えているカウンタのカウンタ値２（ｇ）およびパルスカウント手段７が出力する抽出クロック（ｈ）の信号波形およびデータである。
【００８１】
２値化手段Ａ１、カウント手段２、低域通過フィルタ３、２値化手段Ｂ４、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、復号手段８、欠陥検出手段１１およびリセット手段１２については、本発明の実施の形態１による図１の復号装置と同様な動作を行うものであり、ここでの説明は省略する。
【００８２】
よって、ここではリセット休止手段１３について説明する。
【００８３】
欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）はリセット手段１２のリセット信号とともにリセット休止手段１３に入力される。
【００８４】
しかし、リセット休止手段１３は欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈの期間と欠陥検出信号が論理Ｈから論理Ｌに変化した直後の一定期間では、リセット信号が入力されてもこれをマスクするので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。一定期間は欠陥検出信号（ｂ）の論理Ｈ期間を遅延部１３１により一定期間だけ引き延ばすことにより得られる。
【００８５】
次に図５を用いて詳細な動作を説明する。
【００８６】
光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号（ａ）の周期が急激に乱れ（ａ’）、変動すると、カウント手段２によるＡＤＩＰ信号（ａ）のカウント手段２の出力信号である周期カウント値（ｃ’）が急激に変動し、その急激な変動が欠陥検出回路１１により検出され欠陥検出信号（ｂ）が期間Ａで論理Ｈとなる。
【００８７】
復調手段９から出力される信号（ｃ）はカウント手段２の出力（ｃ’）を低域通過フィルタ３に通したものであり、光ディスク表面上の欠陥の影響により変動する。この復調手段９の出力信号（ｃ）を２値化手段Ｂ４で２値化すると（ｄ）のようなバイフェーズ信号が得られる。
【００８８】
このバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡ，エッジＦは本来のエッジであるが、エッジＢ，エッジＣ，エッジＤ、そしてエッジＥは光ディスク表面上の欠陥により発生したエッジであり、本来のエッジではない。
【００８９】
リセット休止手段１３は、リセット手段１２によりバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡが検出されたとき、欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌであるので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【００９０】
次に、光ディスクの欠陥によるバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＢ，エッジＣが検出されるが、検出されたエッジＢとエッジＣは欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈである期間Ａに含まれているので、リセット休止手段１３はパルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【００９１】
続いて、光ディスクの欠陥によるバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＤ，エッジＥが検出されるが、検出されたエッジＤとエッジＥは欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈから論理Ｌに変化した直後の一定期間である期間Ｂに含まれているので、リセット休止手段１３はパルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【００９２】
その後、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジＦが検出されると、リセット休止手段１３は欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌであるので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【００９３】
これにより、抽出クロック（ｈ）の周期と位相はそれぞれＡＤＩＰ信号（ａ）の平均周期とバイフェーズ信号（ｄ）のエッジに応じたものとなり、ＡＤＩＰ信号の欠陥により抽出クロック（ｈ）の位相が乱れることはない。
【００９４】
ところで、前記実施の形態１における復号装置の場合、ＡＤＩＰ信号の周期をカウントするカウント手段の出力値の差分値がある閾値よりも大きい場合に欠陥を検出したものと判断する。
【００９５】
しかし、その後に差分値がある閾値よりも小さくなり、欠陥である期間が終了したと判断しても、ＡＤＩＰ信号が正規の信号になるまでの過渡的な状態が続いており、その期間にカウント手段によって検出されるＡＤＩＰ信号の周期データも過渡的な値であり、信頼性には欠けるものがある。
【００９６】
その結果、欠陥検出信号が論理Ｈから論理Ｌに変化した直後において、バイフェーズ信号に偽のエッジが発生してしまい、パルス生成手段およびパルスカウント手段のカウンタ値がリセットされ、間違った抽出クロックが生成されてしまう可能性がある。
【００９７】
これらの要因により、本発明の実施の形態１における復号装置では、復号手段において正確なアドレスを読み取れなくなる可能性があるとともに、抽出クロックの周期に大きなジッタが発生してしまい、抽出クロックを用いたスピンドル制御も正確に行えなくなる可能性がある。
【００９８】
しかし、本発明の実施の形態２における復号装置の場合、欠陥検出手段がＡＤＩＰ信号の欠陥を検出した期間だけでなく、その直後の一定期間に発生するバイフェーズ信号のエッジをマスクすることで、ＡＤＩＰ信号の欠陥に強い安定した抽出クロックを生成することができる。
【００９９】
以上のように、欠陥検出手段１１と欠陥信号ｂに対する遅延部１３１を有するリセット休止手段１３を備えることにより、光ディスク表面上にほこりや指紋などの欠陥が存在しても、欠陥検出中および検出後の一定期間はバイフェーズ信号の偽エッジによる影響を受けないので、安定した抽出クロックを生成し、アドレスデータを読み出すことができる。
【０１００】
また、この抽出クロックを用いてスピンドルの制御を行なっている場合では、安定したスピンドルの制御ができる。
【０１０１】
なお、リセット休止手段１３が生成する一定時間はマイコン等の外部から設定するとしてもよい。
【０１０２】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３における復号装置について、図６，図７を用いて説明する。
【０１０３】
図６は本発明の実施の形態３における復号装置の構成を示したブロック図である。
【０１０４】
図示するように、本発明の実施の形態３における復号装置は、２値化手段Ａ１、カウント手段２および低域通過フィルタ３からなる復調手段９と、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、リセット手段１２、復号手段８およびリセット休止手段１３からなる読取手段１０と、２値化手段Ｂ４および欠陥検出手段１１を備えている。本実施の形態３においては、リセット休止手段１３の遅延部１３１には欠陥検出手段１１の欠陥検出信号（ｂ）のほか、平均周期検出手段５のＡＤＩＰ信号の平均周期データを４で割った信号（ｅ）が入力される構成である。
【０１０５】
図７は本発明の実施の形態３の動作を説明する信号波形図であり、復号装置に入力されるＡＤＩＰ信号（ａ）、欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）、カウント手段２の出力信号である周期カウンタ値（ｃ’）、復調手段（低域通過フィルタ３）９の出力信号（ｃ）、２値化手段Ｂ４から出力されるバイフェーズ信号（ｄ）、平均周期検出手段５から出力されたＡＤＩＰ信号の平均周期データを４で割った信号（ｅ）、パルス生成手段６が備えているカウンタのカウンタ値１（ｆ）、パルスカウント手段７が備えているカウンタのカウンタ値２（ｇ）およびパルスカウント手段７が出力する抽出クロック（ｈ）の信号波形およびデータである。
【０１０６】
２値化手段Ａ１、カウント手段２、低域通過フィルタ３、２値化手段Ｂ４、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、復号手段８、欠陥検出手段１１およびリセット手段１２については、本発明の実施の形態２における復号装置と同様な動作を行うものであり、ここでの説明は省略する。
【０１０７】
よって、ここではリセット休止手段１３について説明する。
【０１０８】
リセット休止手段１３には、欠陥検出手段１１から欠陥検出信号（ｂ）、リセット手段１２からはリセット信号、そして平均周期検出手段５からはＡＤＩＰ信号の平均周期値（ｅ）が入力される。
【０１０９】
リセット休止手段１３はリセット手段１２からリセット信号を入力された場合、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【０１１０】
しかし、リセット信号を入力した場合でも、欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈの期間と、欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈから論理Ｌに変化した直後であって入力されるＡＤＩＰ信号の平均周期値に比例した期間では、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。平均周期値に比例した期間は、欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈの期間を遅延部１３１により平均周期値に比例した期間だけ引き延ばすことにより得られる。
【０１１１】
次に図７を用いて詳細な動作を説明する。
【０１１２】
光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号（ａ）の周期が急激に乱れ（ａ’）、変動すると、カウント手段２によるＡＤＩＰ信号（ａ）のカウント手段２の出力信号である周期カウンタ値（ｃ’）が急激に変動し、その急激な変動が欠陥検出回路１１により検出され欠陥検出信号（ｂ）が期間Ａで論理Ｈとなる。
【０１１３】
復調手段９から出力される信号（ｃ）はカウント手段２の出力信号である周期カウンタ値（ｃ’）を低域通過フィルタ３に通したものであり、光ディスク表面上の欠陥の影響により変動する。この復調手段９の出力信号（ｃ）を２値化手段Ｂ４で２値化すると（ｄ）のようなバイフェーズ信号が得られる。
【０１１４】
このバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡ，エッジＤ，エッジＧは本来のエッジであるが、エッジＢ，エッジＣ，エッジＥそしてエッジＦは光ディスク表面上の欠陥により発生したエッジであり、本来のエッジではない。
【０１１５】
リセット休止手段１３は、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡが検出されたとき欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌであるので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【０１１６】
次に、光ディスクの欠陥によるバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＢ，エッジＣが検出されるが、検出されたエッジＢとエッジＣは欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈである期間Ａに含まれているので、リセット休止手段１３はパルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【０１１７】
続いて、本来のエッジＤと光ディスクの欠陥によるエッジＥ，エッジＦが検出されるが、検出されたエッジＤ，エッジＥ，エッジＦは欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌである期間ではあるが、欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈから論理Ｌに変化した直後のＡＤＩＰ信号（ａ）の平均周期値に比例した期間Ｃに含まれるので、リセット休止手段１３はパルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【０１１８】
その後、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジＧが検出されると、リセット休止手段１３は欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌであり、期間Ｃが終了しているので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【０１１９】
これにより、抽出クロック（ｈ）の周期と位相はそれぞれＡＤＩＰ信号（ａ）の平均周期とバイフェーズ信号（ｄ）のエッジに応じたものとなり、ＡＤＩＰ信号の欠陥により抽出クロック（ｈ）の位相が乱れることはない。
【０１２０】
ところで、前記実施の形態２における復号装置の場合、ＡＤＩＰ信号の欠陥を検出する欠陥検出手段１１が判断する期間だけでなく、その直後の一定期間に発生するバイフェーズ信号のエッジをマスクすることで、ＡＤＩＰ信号の欠陥に強い安定した抽出クロックを生成する。
【０１２１】
しかし、欠陥検出手段１１がＡＤＩＰ信号の欠陥を検出した期間が終了したと判断してから、ＡＤＩＰ信号が正規の信号になるまでの過渡的な状態の期間は一定ではなく、入力されるＡＤＩＰ信号の平均周期に比例した期間であると考えられるため、ＡＤＩＰ信号の平均周期が所望の周期よりも長い場合、その過渡的な状態の期間は比較的長いものとなる。
【０１２２】
そのため、本発明の実施の形態２における復号装置の場合、ＡＤＩＰ信号の実際の過渡状態が想定している一定期間を超えてしまった場合は、その一定期間後バイフェーズ信号に偽のエッジが発生してしまい、パルス生成手段およびパルスカウント手段のカウンタ値がリセットされ、間違った抽出クロックが生成されてしまう可能性がある。
【０１２３】
これらの要因により、本発明の実施の形態２による復号装置では、復号手段において正確なアドレスを読み取れなくなる可能性があるとともに、抽出クロックの周期に大きなジッタが発生してしまい、抽出クロックを用いたスピンドル制御も正確に行えなくなる可能性がある。
【０１２４】
しかし、本発明の実施の形態３における復号装置の場合、リセット休止手段は欠陥検出手段がＡＤＩＰ信号の欠陥を検出した期間だけでなく、その直後のＡＤＩＰ信号の平均周期値に比例した期間において発生するバイフェーズ信号のエッジをマスクすることで、ＡＤＩＰ信号の欠陥に強い安定した抽出クロックを生成することができる。
【０１２５】
以上のように、欠陥検出手段１１と遅延部を有するリセット休止手段１３を備えることにより、光ディスク表面上にほこりや指紋などの欠陥が存在しても、欠陥検出中および検出後のＡＤＩＰ信号の平均周期に比例した期間はバイフェーズ信号の偽エッジによる影響を受けないので、光ディスクの回転数に依存せず安定した抽出クロックを生成し、アドレスデータを読み出すことができる。
【０１２６】
また、この抽出クロックを用いてスピンドルの制御を行っている場合では、安定したスピンドルの制御ができる。
【０１２７】
なお、リセット休止手段１３は欠陥検出信号の論理Ｈ期間を遅延部により平均周期値に比例した期間だけ引き延ばすことにより生成するとしたが、論理Ｈ期間後に生成される１つめ以降の抽出クロックの立ち上がりエッジあるいは立ち下がりエッジまで引き延ばすとしても同様の効果が得られる。
【０１２８】
（実施の形態４）
本発明の実施の形態４における復号装置について、図８，図９および図１０を用いて説明する。
【０１２９】
図８は本発明の実施の形態４における復号装置の構成を示すブロック図である。
【０１３０】
図示するように、本発明の実施の形態４における復号装置は、２値化手段Ａ１、カウント手段２および低域通過フィルタ３からなる復調手段９と、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、リセット手段１２、復号手段８およびリセット休止手段１３からなる読取手段１０と、２値化手段Ｂ４および欠陥検出手段１１を備えている。本実施の形態４においては、平均周期検出手段５のＡＤＩＰ信号の平均周期データを４で割った信号（ｅ）が、欠陥検出手段１１およびリセット休止手段１３の遅延部１３１へ入力される構成となっている。
【０１３１】
図９はカウント手段２と欠陥検出手段１１の構成を示すブロック図である。
【０１３２】
２値化手段Ａ１、カウント手段２、低域通過フィルタ３、２値化手段Ｂ４、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、復号手段８、リセット手段１２およびリセット休止手段１３については、本発明の実施の形態３における復号装置と同様な動作を行うものであり、ここでの説明は省略する。
【０１３３】
よって、ここでは欠陥検出手段１１について説明する。
【０１３４】
図９において、本発明の実施の形態３における欠陥検出手段１１と構成が異なるのは、欠陥検出手段１１の比較器１１４に入力される値が一定の比較値ではなく、平均周期検出手段５の出力であるＡＤＩＰ信号の平均周期値（ｅ）を定数倍した値であることである。
【０１３５】
欠陥検出手段１１は、減算器の出力が平均周期値（ｅ）の定数倍よりも大きい場合は比較器１１４の出力を論理Ｈとし、減算器１１３の出力が平均周期値（ｅ）の定数倍よりも小さい場合は比較器１１４の出力は論理Ｌとする。
【０１３６】
以上の動作により、欠陥検出手段１１はカウント手段２のカウンタ値の差分値を計算し、その結果をＡＤＩＰ信号の平均周期値の定数倍と比較することにより、急激なカウンタ値の変化を検出することができる。すなわち、光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号の周期が急激に変動することによりカウント手段２の出力であるカウンタ値が急激に変化したことを欠陥検出手段１１は検出する。
【０１３７】
図１０は本発明の実施の形態４の動作を説明する信号波形図であり、図９に示す２値化手段Ａ１の出力信号である立ち上がりエッジを検出するパルス信号Ｂと、パルス信号が入力されたときのカウンタが出力する値を離散的に表した図である。
【０１３８】
図１０のようにＡＤＩＰ信号の平均周期値が値Ｒ１，値Ｒ２と大きく異なる状況において、光ディスク表面上の同じ欠陥によるカウント手段２の出力値と平均周期検出手段５の平均周期値（ｅ）との差分値を比較器１１４で比較すると、平均周期値が大きい値Ｒ１のときの差分値は値Ｄ１であり、平均周期値（ｅ）が値Ｒ１に比べて約半分である値Ｒ２のときの差分値は約半分の値Ｄ２である。
【０１３９】
これは、光ディスクの回転数が変化するとＡＤＩＰ信号の平均周期も同様に変化し、カウント手段２が出力する周期値と平均周期検出手段５が出力する平均周期値（ｅ）も変化する。すなわち、光ディスク表面上の欠陥による異常な周期カウンタ値は、ＡＤＩＰ信号の平均周期が半分になるとその異常な周期カウンタ値も半分になり、平均周期値との差分値は見かけ上小さくなる。
【０１４０】
しかし、欠陥の程度は光ディスクの回転数には依存しない普遍的なものであるので、光ディスクの回転数に応じた欠陥検出のための閾値が必要となる。
【０１４１】
回転数に依存しない一定の比較値を用いた本発明の実施の形態３による復号装置では、設計時の所望の回転数よりも早い回転数で光ディスクを回転させた場合、欠陥検出手段の検出感度が低下してしまい、安定した抽出クロックおよび正確なアドレスデータを生成することは困難となる。
【０１４２】
しかし、本発明の実施の形態４における復号装置の場合、平均周期検出手段５によるＡＤＩＰ信号の平均周期値に応じた値を欠陥検出手段１１の比較器１１４に入力するため、光ディスクの回転数に依存しない安定した欠陥検出信号が得られる。
【０１４３】
以上のように、欠陥検出手段１１を備えることにより、光ディスク表面上にほこりや指紋などの欠陥が存在しても、線速度の変動に対して欠陥検出の感動を低下させることなく欠陥を検出して保護するので、安定した抽出クロックを生成し、アドレスデータを読み出すことができる。
【０１４４】
また、この抽出クロックを用いてスピンドルの制御を行っている場合では、安定したスピンドルの制御ができることとなる。
【０１４５】
【発明の効果】
以上のように本発明の復号装置によれば、ＦＭ変調された信号をＦＭ復調する復調手段と、復調手段の出力を閾値と比較して２値化する２値化手段と、ＦＭ変調された信号の周期に応じたタイミングでＦＭ復調後の出力からデータを読み取り、かつその読み取りタイミングを２値化手段の出力に応じてリセットする読取手段と、ＦＭ変調された信号の欠陥を検出する欠陥検出手段を備え、読取手段は、欠陥検出手段で欠陥が検出された場合に、読み取りタイミングのリセットを休止することにより、光ディスク表面上に欠陥が存在してもＡＤＩＰ信号の周期値より欠陥を検出し安定した抽出クロックおよびアドレスデータを生成することができる。
【０１４６】
また、この抽出クロックを用いてスピンドルの制御を行なっている場合では、安定したスピンドルの制御ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１における復号装置の構成を示すブロック図
【図２】図１のカウント手段と欠陥検出手段の構成を示すブロック図（１）とその動作を示す信号波形およびデータ（２）を示す図
【図３】本発明の実施の形態１における復号装置の動作を説明する信号波形図
【図４】本発明の実施の形態２における復号装置の構成を示すブロック図
【図５】本発明の実施の形態２における復号装置の動作を説明する信号波形図
【図６】本発明の実施の形態３における復号装置の構成を示すブロック図
【図７】本発明の実施の形態３における復号装置の動作を説明する信号波形図
【図８】本発明の実施の形態４における復号装置の構成を示すブロック図
【図９】本発明の実施の形態４における欠陥検出手段の構成を示すブロック図
【図１０】本発明の実施の形態４における欠陥検出手段を説明する信号波形図
【図１１】従来の復号装置の構成を示すブロック図
【図１２】図１１の復号装置の復調手段の動作を説明する信号波形図
【図１３】図１１の復号装置の読取手段の動作を説明する信号波形図
【図１４】図１１の復号装置の平均周期検出手段を説明する信号波形図
【図１５】図１１の復号装置の信号波形図
【符号の説明】
１ ２値化手段Ａ
２ カウント手段
３ 低域通過フィルタ
４ ２値化手段Ｂ
５ 平均周期検出手段
６ パルス生成手段
７ パルスカウント手段
８ 復号手段
９ 復調手段
１０ 読取手段
１１ 欠陥検出手段
１２ リセット手段
１３ リセット休止手段
１３１ 遅延部
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク等に記録されているＦＭ信号を復調し、復調後の信号からデータを読み取る復号装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
最近、一定線速度（ＣＬＶ：Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ｌｉｎｅａｒ Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）でデータが記録された光ディスクを、一定角速度（ＣＡＶ：Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ａｎｇｕｌａｒ Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）つまり一定回転数となるようにスピンドルモータを制御して再生動作を行う復号装置が採用されるようになっている。
【０００３】
ＣＬＶ記録された光ディスクをＣＬＶ再生する場合、光ピックアップの光ディスク半径位置によって光ディスクの回転数を変えて線速度を一定に保つための複雑な制御回路が必要であり、さらに光ディスクの回転数が整定するまでデータが再生できないためアクセス動作の高速化が困難であり、その間にモータで消費される電力も無視できないという課題があった。
【０００４】
一方、ＣＬＶ記録された光ディスクをＣＡＶ再生する場合、光ディスクの回転数を一定に保持し、光ピックアップの光ディスク半径位置による線速度の変動は信号処理部で補うことにより、スピンドルモータの制御回路構成が簡略化することができ、また光ディスクの回転数を可変する必要がないためアクセス動作の高速化とモータ電力の省電力効果も得ることができるというメリットがある。
【０００５】
また、光ディスクからデータを再生する場合、再生信号からデータを読み出すタイミング信号を抽出しなければならない。このタイミング信号は抽出クロックと呼ばれている。
【０００６】
ＣＬＶ記録された光ディスクをＣＬＶ再生する場合、線速度が一定なので光ディスクから再生される信号は狭い周波数レンジに含まれているが、ＣＬＶ記録された光ディスクをＣＡＶ再生する場合は、線速度の変動により広い周波数レンジに含まれるものとなる。
【０００７】
光ディスクから再生される信号の周波数が狭いＣＬＶ再生では、一般的にＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ）を用いてクロック抽出が行われてきた。
【０００８】
ＰＬＬは入力信号と抽出クロックの位相比較を行うため、入力信号の周期が所定の設計目標値にほぼ一致していることが前提であり、通常のＰＬＬでは信号周期は設計目標値の±１０％程度の範囲に入っている必要がある。したがって、ＰＬＬを用いたクロック抽出は、ＣＬＶ再生する場合に適していた。
【０００９】
しかし、ＣＬＶ記録された光ディスクをＣＡＶ再生する場合、光ディスクの内周と外周で線速度は一般的に２倍以上変動するため信号周期も２倍以上変動し、この信号周期の変動に対して通常のＰＬＬは正常に動作できず、クロックを抽出することは困難であった。
【００１０】
このような問題点から、光ディスクからの入力信号の周波数が広い範囲で変化したとしても、抽出クロックを生成しデータを読み出すことのできる復号装置として、特願平１１−３１０５５５号にみられるように、入力信号の周期に応じたタイミングによりクロックを抽出する容易な構成の復号装置が提案されている。
【００１１】
以下に、上記従来技術による入力信号の周期に応じたタイミングによりクロックを抽出する復号装置について、図１１，図１２，図１３，図１４および図１５を用いて説明する。
【００１２】
従来技術による復号装置は、ＭＤ（Ｍｉｎｉ Ｄｉｓｃ）のＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）ディスクより再生されるＡＤＩＰ信号からアドレスデータを復調する復号装置であり、アドレスデータはバイフェーズ変調され、バイフェーズ変調されたバイフェーズ信号はさらにＦＭ変調してＡＤＩＰ信号となり、ＲＡＭディスクのグルーヴにウォブリングを施して形成されている。
【００１３】
図１１は従来の復号装置の構成を示すブロック図であり、これはＦＭ変調された信号の周期に応じたタイミングによりクロックを抽出するものである。
【００１４】
図示するように、復号装置は、２値化手段Ａ１、カウント手段２、および低域通過フィルタ３からなる復調手段９と、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、リセット手段１２および復号手段８からなる読取手段１０と、そして２値化手段Ｂ４を備えている。
【００１５】
図１２は図１１の復調手段９の動作を説明する信号波形図であり、復号装置に入力されるＡＤＩＰ信号（ａ）、２値化手段Ａ１の出力信号（ｉ）、カウント手段２の出力信号（ｊ）、低域通過フィルタ３の出力信号（ｃ）、２値化手段Ｂ４の出力信号であるバイフェーズ信号（ｄ）を示したものである。
【００１６】
２値化手段Ａ１は所定の閾値でＡＤＩＰ信号（ａ）を論理Ｈ，論理Ｌの２値の信号にコンパレートするものであり、ＡＤＩＰ信号（ａ）が所定の閾値より大きい場合は論理Ｈ、小さい場合は論理Ｌとして２値化した信号（ｉ）を出力する。
【００１７】
カウント手段２は２値化手段Ａ１が出力する２値化信号（ｉ）の立ち上がりエッジ間あるいは立ち下がりエッジ間をカウント用クロックによってカウントし、そのカウンタ値、すなわち、ＡＤＩＰ信号（ａ）の周期データを立ち上がりエッジ毎あるいは立ち下がりエッジ毎に出力する。この出力カウンタ値（ｊ）がＦＭ復調信号である。
【００１８】
低域通過フィルタ３は、カウント手段２から出力されたカウンタ値（ｊ）を入力し、そのカウンタ値（ｊ）に含まれる高域の周期ノイズを低減し、平滑した信号（ｃ）を出力する。この信号（ｃ）が復調手段９の出力信号（ｃ）となる。
【００１９】
２値化手段Ｂ４は復調手段９の出力信号（ｃ）を所定の閾値で論理Ｈ、論理Ｌにコンパレートするものであり、復調手段９の出力信号（ｃ）が所定の閾値より大きい場合は論理Ｈ、小さい場合は論理Ｌとしてバイフェーズ信号（ｄ）を出力する。
【００２０】
図１３は図１１の読取手段１０の動作を説明する信号波形図であり、平均周期検出手段５から出力されたＡＤＩＰ信号の平均周期値を４で割った信号（ｅ）、パルス生成手段６が備えているカウンタのカウンタ値１（ｆ）、カウンタ値１（ｆ）に応じて出力されるパルス信号（ｋ）、２値化手段Ｂ４から出力されるバイフェーズ信号（ｄ）、パルスカウント手段７が備えているカウンタのカウンタ値２（ｇ）およびパルスカウント手段７が出力する抽出クロック（ｈ）の波形およびデータである。
【００２１】
図１４は図１１の平均周期検出手段５の動作を説明する信号波形図であり、復調手段９からの出力信号（ｃ）である入力信号５１（入力波形）と平均周期検出手段の出力信号５２（平均周期波形）を示したものである。
【００２２】
平均周期検出手段５に入力される信号５１は低域通過フィルタ３より出力されるＡＤＩＰ信号（ａ）の周期カウントのデータであり、ＡＤＩＰ信号に含まれる周期偏差による高周波成分とＦＭキャリア周波数の変動による低周波成分を主な周波数成分として有している。
【００２３】
平均周期検出手段５は周期偏差による高周波成分よりも十分低い周波数成分を通過させる低域通過フィルタであり、入力された信号５１（ｃ）の周期偏差による高周波成分は除去され、ＦＭキャリア周波数の変動による低周波成分のみを有した出力信号５２（ｅ）を出力する。
【００２４】
よって、平均周期検出手段５はＡＤＩＰ信号の平均周期値を検出していることになる。
【００２５】
パルス生成手段６は平均周期検出手段５の出力するＡＤＩＰ信号の平均周期値を入力とし、内部にカウンタを備えており、カウンタはカウンタ用クロックによりカウントし、そのカウンタ値１（ｆ）が平均周期検出手段５の出力する平均周期値を４で割った値（ｅ）と等しくなるまでカウントし続ける。
【００２６】
ここでカウンタ用クロックはカウント手段２で用いたカウンタ用クロックと同じ周波数のものを用いる。
【００２７】
カウンタ値１（ｆ）が平均周期値を４で割った値（ｅ）と等しくなった場合、パルス信号（ｋ）を出力し、カウンタ値１（ｆ）を１にリセットして再びカウント用クロックによるカウントを繰り返す。
【００２８】
また、リセット手段１２は２値化手段Ｂ４から入力されるバイフェーズ信号（ｄ）の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジを検出した場合、パルス生成手段６にリセット信号を出力しカウンタ値１（ｆ）を値１にリセットする。
【００２９】
以上の動作によりパルス生成手段６は、ＡＤＩＰ信号（ａ）の平均周期に対して４分の１の周期を有し、その位相がバイフェーズ信号（ｄ）のエッジでリセットされるパルス信号（ｋ）を発生することができる。
【００３０】
ここでＭＤを通常の線速度で再生した場合、ＡＤＩＰ信号のＦＭキャリア周波数は２２．０５ｋＨｚ、周波数偏差は±１ｋＨｚ、バイフェーズ信号（ｄ）から抽出されるべきクロック（ｈ）の周波数は６．３ｋＨｚである。
【００３１】
つまり抽出クロック（ｈ）の周期はＦＭキャリア周期の３．５倍（＝２２．０５ｋＨｚ／６．３ｋＨｚ）であり、パルス信号（ｋ）の周期はＡＤＩＰ信号のＦＭキャリア平均周期の４分の１であるから、パルス信号（ｋ）の１４周期分（＝３．５×４）が抽出クロック（ｈ）の周期に相当する。
【００３２】
この関係は、再生を通常の線速度でない場合で行っても成立する。
【００３３】
また、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジから抽出クロック（ｈ）の１周期が１チャンネルビットのデータを示す区間であり、正確にチャンネルビットのデータを抽出クロック（ｈ）の立ち上がりエッジで読み取ろうとする場合、チャンネルビットのデータ区間の中心近傍に抽出クロック（ｈ）の立ち上がりエッジが発生するようにしなければならない。
【００３４】
パルスカウント手段７はカウンタを備えており、リセット手段１２によりバイフェーズ信号（ｄ）の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジが検出されてリセット信号が入力されると、カウンタ値２（ｇ）は値１にリセットされ、パルス生成手段６からパルス信号（ｋ）が入力されるとカウンタ値２（ｇ）は１ずつインクリメントされる。
【００３５】
そして、カウンタ値２（ｇ）が値７と等しい状態にある場合に、パルス生成手段６からパルス信号（ｋ）が入力されたときは、カウンタ値２（ｇ）を値１にリセットして抽出クロック（ｈ）を論理Ｈに設定し、その後カウンタ値２（ｇ）は再びパルス信号（ｋ）によってインクリメントし、値１４と等しい状態にある場合に、パルス生成手段６からパルス信号（ｋ）が入力される毎にカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットして抽出クロック（ｈ）を論理Ｈに設定する。
【００３６】
ただし、パルスカウント手段７は抽出クロック（ｈ）を論理Ｈに設定した場合、一定時間後に論理Ｌにリセットする。
【００３７】
これにより、抽出クロック（ｈ）はパルス信号（ｋ）の１４周期毎に論理Ｈとなり、その立ち上がりエッジはバイフェーズ信号（ｄ）のエッジからパルス信号（ｋ）の７周期（＝１４周期／２）の位相差を有することになる。
【００３８】
復号手段８はバイフェーズ信号（ｄ）と抽出クロック（ｈ）を入力し、抽出クロック（ｈ）の立ち上がりエッジを検出すると同時にバイフェーズ信号（ｄ）のデータを取り出して、そのデータ列をバイフェーズ復調することによりアドレスデータを読み出し、アドレスデータを出力する。
【００３９】
以上のように、ＦＭ復調して得られるバイフェーズ信号からＰＬＬによってクロックを抽出するのではなく、ＦＭキャリアの平均周期によって抽出クロックの周期を検出し、その位相をバイフェーズ信号でリセットすることにより、ＦＭ変調された信号の平均的な周期が大きく変動しても容易にクロックを抽出して、バイフェーズ信号からアドレスデータを読み出すことができる。
【００４０】
【発明が解決しようとする課題】
上記の従来技術による復号装置では、ＡＤＩＰ信号の平均周期より抽出クロックの周期を検出し、バイフェーズ信号のエッジで抽出クロックの位相をリセットするという特徴を利用したものである。
【００４１】
しかしながら、光ディスク表面上のほこりや指紋といった欠陥によりＡＤＩＰ信号の周期が乱れると、バイフェーズ信号に偽エッジが発生し、抽出クロックの位相が乱れてしまうといった問題点を有していた。以下、これについて図１５を用いて説明する。
【００４２】
図１５は、図１１の復号装置の信号波形図であり、これは光ディスク上の欠陥によりＡＤＩＰ信号（ａ）の周期が正常時とは大きく異なる振る舞いをした場合である。復号装置に入力されるＡＤＩＰ信号（ａ）、カウント手段２の出力信号（ｃ’）、低域通過フィルタ３の出力信号（ｃ）、２値化手段Ｂ４からのバイフェーズ信号（ｄ）、平均周期検出手段５から出力されたＡＤＩＰ信号の平均周期値を４で割った信号（ｅ）、パルス生成手段６が備えているカウンタのカウンタ値１（ｆ）、カウンタ値１（ｆ）に応じて出力されるパルス信号（ｋ）、パルスカウント手段７が備えているカウンタのカウンタ値２（ｇ）およびパルスカウント手段７が出力する抽出クロック（ｈ）の波形およびデータである。
【００４３】
光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号（ａ）の周期が急激に乱れたＡＤＩＰ信号（ａ’）のとき、カウント手段２の出力信号は図１５（ｃ’）のような振る舞いをする。この出力信号（ｃ’）から復調手段（低域通過フィルタ３）９は図１５（ｃ）のような信号を出力してバイフェーズ信号（ｄ）が生成される。
【００４４】
このとき、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡとエッジＤは本来のエッジであり、エッジＢとエッジＣが欠陥により発生したエッジである。
【００４５】
しかし、リセット手段１２はバイフェーズ信号（ｄ）に含まれる全てのエッジを検出し、パルス生成手段６のカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７のカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットするので、エッジＡとエッジＤに挟まれる期間に生成されるはずの抽出クロック（ｈ）の論理Ｈの期間Ｘが生成されなくなってしまう。
【００４６】
これにより、復号手段８によるバイフェーズ復調は正確に行われず、間違ったアドレスデータを出力してしまうことになる。
【００４７】
また、この抽出クロック（ｈ）は光ディスクの回転数の情報を含むものであるので、この抽出クロック（ｈ）を用いてスピンドルの制御を行っている場合では一時的にスピンドルの制御が不安定になるなどの影響もある。
【００４８】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題を解決するために、ＦＭ変調された信号をＦＭ復調してデータを読み取る復号装置であって、前記ＦＭ変調された信号をＦＭ復調する復調手段と、前記復調手段の出力を閾値と比較して２値化したバイフェーズ信号を出力する２値化手段と、前記ＦＭ変調された信号の欠陥を検出して欠陥検出信号を出力する欠陥検出手段と、前記２値化手段が出力する前記バイフェーズ信号のエッジを検出してエッジ検出信号を出力するリセット手段と、前記リセット手段から入力される前記エッジ検出信号をリセット信号として出力し、前記欠陥検出手段から前記欠陥検出信号が入力された場合に前記リセット信号の出力を休止するリセット休止手段と、前記復調手段の出力からＦＭキャリア周波数の変動による低周波成分の信号、すなわちＦＭ変調された信号の平均周期を抽出して出力する平均周期検出手段と、前記平均周期検出手段が出力する信号の周期と前記リセット休止手段が出力する前記リセット信号に応じたパルス信号を生成するパルス生成手段と、前記パルス生成手段から入力される前記パルス信号を検出する毎にカウントアップするカウンタを有し、前記リセット休止手段から入力される前記リセット信号を検出した場合に前記カウンタを初期値に戻し、前記カウンタが所定の値に到達した場合に前記カウンタを初期値に戻して抽出クロックを出力するパルスカウント手段と、前記パルスカウント手段から入力した抽出クロックを用いて前記２値化手段が出力する前記バイフェーズ信号からデータを読み取る復号手段を具備することを特徴とするものである。
【００４９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の各実施の形態における復号装置について、図１ないし図１０を用いて説明する。
【００５０】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１における復号装置の構成を示すブロック図である。
【００５１】
図示するように、２値化手段Ａ１、カウント手段２、および低域通過フィルタ３からなる復調手段９と、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、リセット手段１２、リセット休止手段１３および復号手段８からなる読取手段１０と、２値化手段Ｂ４および欠陥検出手段１１を備えている。つまり、本実施の形態１では従来の復号装置（図１１）に欠陥検出手段１１及び読取手段１０にリセット休止手段１３を付加した構成である。
【００５２】
図２は図１のカウント手段２と欠陥検出手段１１の構成を示すブロック図（１）とその動作を示す信号波形およびデータ（２）である。
【００５３】
図３は本発明の実施の形態１における復号装置の動作を説明する信号波形図であり、復号装置に入力されるＡＤＩＰ信号（ａ）、欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）、カウント手段２の出力信号（ｃ’）、復調手段（低域通過フィルタ３）９の出力信号（ｃ）、２値化手段Ｂ４から出力されるバイフェーズ信号（ｄ）、平均周期検出手段５から出力されたＡＤＩＰ信号の平均周期データを４で割った信号（ｅ）、パルス生成手段６が備えているカウンタのカウンタ値１（ｆ）、パルスカウント手段７が備えているカウンタのカウンタ値２（ｇ）およびパルスカウント手段７が出力する抽出クロック（ｈ）の信号波形およびデータである。
【００５４】
２値化手段Ａ１、低域通過フィルタ３、２値化手段Ｂ４、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、復号手段８およびリセット手段１２については、従来の技術による図１１で説明した復号装置と同様な動作を行うものであり、ここでの説明は省略する。
【００５５】
よって、ここではカウント手段２、欠陥検出手段１１およびリセット休止手段１３についてその動作を詳しく説明する。
【００５６】
図２において、カウント手段２は２段構成のＤフリップフロップ群２１，２２と、アンド回路２３と、そしてカウンタ２４からなる構成である。まず、２値化手段Ａ１により２値化されたＡＤＩＰ信号Ａ（図１，図３のＡＤＩＰ信号ａと同じ信号）はカウント手段２に入力される。入力されたＡＤＩＰ信号Ａはその立ち上がりエッジを検出するために２段構成のＤフリップフロップ群２１，２２に入力される。このＤフリップフロップ群はＡＤＩＰ信号の周期よりも十分短い周期を有するマスタクロックＣＬＫで動作する。
【００５７】
ＡＤＩＰ信号Ａは１段目のＤフリップフロップ２１の入力Ｄ端子に入力され、非反転出力端子Ｑの出力は２段目のＤフリップフロップ２２の入力Ｄ端子に入力される。１段目の非反転出力端子Ｑの出力と２段目の
【外１】
の出力とがアンド回路２３に入力されて、立ち上がりエッジの検出パルス信号Ｂが出力される。
【００５９】
カウンタ２４は所定のカウンタ用クロックでカウントアップするカウンタである。また、カウンタ２４は立ち上がりエッジの検出パルス信号Ｂが入力されると、そのときのカウンタ値を出力用レジスタＣ（以下、出力用レジスタＣはカウンタ値を意味する）に格納して、カウンタ値を初期値である値１にリセットし、再びカウンタ用クロックでカウンタ値を値１からカウントアップするという動作を繰り返す。出力用レジスタＣに格納された値をカウント手段２は出力、保持する。
【００６０】
欠陥検出手段１１は２段構成のＤフリップフロップ群１１１，１１２と、減算器１１３、そして比較器１１４からなる構成であり、カウント手段２の出力信号である立ち上がりエッジの検出パルス信号Ｂと出力用レジスタＣ（カウンタ値）を入力とする。
【００６１】
入力された出力用レジスタＣ（カウンタ値）は１段目のＤフリップフロップ１１１の入力Ｄ端子に入力され、非反転出力端子は２段目のＤフリップフロップ１１２の入力Ｄ端子に入力される。また、この２つのＤフリップフロップ群１１１，１１２は立ち上がりエッジの検出パルス信号Ｂによって動作する。
【００６２】
ここで、Ｄフリップフロップ群に入力されるカウンタ値は複数ビットで構成されるデータであり、１段目のＤフリップフロップ１１１の構成はそのビット数に等しいＤフリップフロップが並列に配されているものであり、１段目と２段目のＤフリップフロップ群内におけるＤフリップフロップの順列は同じものである。そして、１段目の非反転出力端子から出力される出力用レジスタ（カウンタ値）Ｄと２段目の非反転出力端子から出力される出力用レジスタ（カウンタ値）Ｅが減算器１１３に入力され、入力される２つのカウンタ値の減算値の絶対値を出力する。
【００６３】
減算器１１３の出力は比較器１１４に入力され、ある比較値αと比較される。図２（２）に示すように減算器１１３の出力（｜Ｄ−Ｅ｜）がある比較値αよりも大きい場合は比較器１１４の出力Ｆが論理Ｈとなり、減算器１１３の出力（｜Ｄ−Ｅ｜）がある比較値αよりも小さい場合は比較器の出力Ｆが論理Ｌとなる。
【００６４】
以上の動作により、欠陥検出手段１１はカウント手段２の出力用レジスタ（カウンタ値）Ｃの差分値を計算し、その結果をある比較値αと比較することにより、図３に示すＡＤＩＰ信号（ａ）が急激に乱れた場合（ａ’）、カウント手段２は、急激な出力用レジスタ（カウンタ値）Ｃの変化ｃ’を検出することができる。すなわち、光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号（ａ）の周期が急激に変動することによりカウント手段２の出力レジスタ（カウンタ値）Ｃが急激に変化したことを欠陥検出手段１１は検出する。
【００６５】
図１の欠陥検出手段１１の出力する図２に示す信号Ｆを欠陥検出信号（後記図３のｂに相当）と呼ぶことにする。
【００６６】
図２の欠陥検出信号Ｆは図１のリセット手段１２の出力信号とともにリセット休止手段１３に入力される。リセット休止手段１３は欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号Ｆが論理Ｌであれば、リセット信号が入力された場合、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ…図３）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ…図３）を値１にリセットする。
【００６７】
しかし、リセット休止手段１３は欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号Ｆが論理Ｈであれば、リセット信号が入力されてもこれをマスクするので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【００６８】
次に図３を用いて詳細な動作を説明する。
【００６９】
光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号が図３（ａ）の（ａ’）のように乱れたとすると、カウント手段２によるＡＤＩＰ信号（ａ）の周期カウンタ値（ｃ’）が急激に変動し、その急激な変動が欠陥検出回路１１により検出され欠陥検出信号（ｂ）が期間Ａで論理Ｈとなる。
【００７０】
復調手段９から出力される信号（ｃ）はカウント手段２の出力を低域通過フィルタ３に通したものであり、光ディスク表面上の欠陥の影響により変動する。この復調手段９の出力信号（ｃ）を２値化手段Ｂ４で２値化すると（ｄ）のようなバイフェーズ信号が得られる。
【００７１】
このバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡ，エッジＤは本来のエッジであるが、エッジＢとエッジＣは光ディスク表面上の欠陥により発生したエッジであり、本来のエッジではない。
【００７２】
リセット休止手段１３は、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡを検出したとき欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌであるので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【００７３】
次に、光ディスクの欠陥により発生したバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＢおよびエッジＣを検出するが、リセット休止手段１３は欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈであるので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【００７４】
以上のように、欠陥検出手段１１とリセット休止手段１３を備えることにより、光ディスク表面上にほこりや指紋などの欠陥が存在しても、バイフェーズ信号（ｄ）の偽エッジによる影響を受けないので安定した抽出クロックを生成し、アドレスデータを読み出すことができる。
【００７５】
また、この抽出クロックを用いてスピンドルの制御を行っている場合では、安定したスピンドルの制御ができる。
【００７６】
なお、欠陥検出手段はカウント手段の出力信号の差分値からＡＤＩＰ信号の欠陥を検出するとしたが、他の欠陥検出方法を用いても同様な効果が得られる。
【００７７】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２における復号装置について、図４，図５を用いて説明する。
【００７８】
図４は本発明の実施の形態２における復号装置の構成を示したブロック図である。
【００７９】
図示するように、本発明の実施の形態２における復号装置は、２値化手段Ａ１、カウント手段２および低域通過フィルタ３からなる復調手段９と、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、リセット手段１２、リセット休止手段１３および復号手段８からなる読取手段１０と、２値化手段Ｂ４および欠陥検出手段１１を備えている。本実施の形態２においては、リセット休止手段１３に遅延部１３１を備えることを特徴とする。
【００８０】
図５は本発明の実施の形態２における復号装置の動作を説明する信号波形図であり、復号装置に入力されるＡＤＩＰ信号（ａ）、欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）、カウント手段２の出力信号（ｃ’）、復調手段（低域通過フィルタ３）９の出力信号（ｃ）、２値化手段Ｂ４から出力されるバイフェーズ信号（ｄ）、平均周期検出手段５から出力されたＡＤＩＰ信号の平均周期値を４で割った信号（ｅ）、パルス生成手段６が備えているカウンタのカウンタ値１（ｆ）、パルスカウント手段７が備えているカウンタのカウンタ値２（ｇ）およびパルスカウント手段７が出力する抽出クロック（ｈ）の信号波形およびデータである。
【００８１】
２値化手段Ａ１、カウント手段２、低域通過フィルタ３、２値化手段Ｂ４、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、復号手段８、欠陥検出手段１１およびリセット手段１２については、本発明の実施の形態１による図１の復号装置と同様な動作を行うものであり、ここでの説明は省略する。
【００８２】
よって、ここではリセット休止手段１３について説明する。
【００８３】
欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）はリセット手段１２のリセット信号とともにリセット休止手段１３に入力される。
【００８４】
しかし、リセット休止手段１３は欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈの期間と欠陥検出信号が論理Ｈから論理Ｌに変化した直後の一定期間では、リセット信号が入力されてもこれをマスクするので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。一定期間は欠陥検出信号（ｂ）の論理Ｈ期間を遅延部１３１により一定期間だけ引き延ばすことにより得られる。
【００８５】
次に図５を用いて詳細な動作を説明する。
【００８６】
光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号（ａ）の周期が急激に乱れ（ａ’）、変動すると、カウント手段２によるＡＤＩＰ信号（ａ）のカウント手段２の出力信号である周期カウント値（ｃ’）が急激に変動し、その急激な変動が欠陥検出回路１１により検出され欠陥検出信号（ｂ）が期間Ａで論理Ｈとなる。
【００８７】
復調手段９から出力される信号（ｃ）はカウント手段２の出力（ｃ’）を低域通過フィルタ３に通したものであり、光ディスク表面上の欠陥の影響により変動する。この復調手段９の出力信号（ｃ）を２値化手段Ｂ４で２値化すると（ｄ）のようなバイフェーズ信号が得られる。
【００８８】
このバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡ，エッジＦは本来のエッジであるが、エッジＢ，エッジＣ，エッジＤ、そしてエッジＥは光ディスク表面上の欠陥により発生したエッジであり、本来のエッジではない。
【００８９】
リセット休止手段１３は、リセット手段１２によりバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡが検出されたとき、欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌであるので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【００９０】
次に、光ディスクの欠陥によるバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＢ，エッジＣが検出されるが、検出されたエッジＢとエッジＣは欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈである期間Ａに含まれているので、リセット休止手段１３はパルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【００９１】
続いて、光ディスクの欠陥によるバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＤ，エッジＥが検出されるが、検出されたエッジＤとエッジＥは欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈから論理Ｌに変化した直後の一定期間である期間Ｂに含まれているので、リセット休止手段１３はパルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【００９２】
その後、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジＦが検出されると、リセット休止手段１３は欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌであるので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【００９３】
これにより、抽出クロック（ｈ）の周期と位相はそれぞれＡＤＩＰ信号（ａ）の平均周期とバイフェーズ信号（ｄ）のエッジに応じたものとなり、ＡＤＩＰ信号の欠陥により抽出クロック（ｈ）の位相が乱れることはない。
【００９４】
ところで、前記実施の形態１における復号装置の場合、ＡＤＩＰ信号の周期をカウントするカウント手段の出力値の差分値がある閾値よりも大きい場合に欠陥を検出したものと判断する。
【００９５】
しかし、その後に差分値がある閾値よりも小さくなり、欠陥である期間が終了したと判断しても、ＡＤＩＰ信号が正規の信号になるまでの過渡的な状態が続いており、その期間にカウント手段によって検出されるＡＤＩＰ信号の周期データも過渡的な値であり、信頼性には欠けるものがある。
【００９６】
その結果、欠陥検出信号が論理Ｈから論理Ｌに変化した直後において、バイフェーズ信号に偽のエッジが発生してしまい、パルス生成手段およびパルスカウント手段のカウンタ値がリセットされ、間違った抽出クロックが生成されてしまう可能性がある。
【００９７】
これらの要因により、本発明の実施の形態１における復号装置では、復号手段において正確なアドレスを読み取れなくなる可能性があるとともに、抽出クロックの周期に大きなジッタが発生してしまい、抽出クロックを用いたスピンドル制御も正確に行えなくなる可能性がある。
【００９８】
しかし、本発明の実施の形態２における復号装置の場合、欠陥検出手段がＡＤＩＰ信号の欠陥を検出した期間だけでなく、その直後の一定期間に発生するバイフェーズ信号のエッジをマスクすることで、ＡＤＩＰ信号の欠陥に強い安定した抽出クロックを生成することができる。
【００９９】
以上のように、欠陥検出手段１１と欠陥信号ｂに対する遅延部１３１を有するリセット休止手段１３を備えることにより、光ディスク表面上にほこりや指紋などの欠陥が存在しても、欠陥検出中および検出後の一定期間はバイフェーズ信号の偽エッジによる影響を受けないので、安定した抽出クロックを生成し、アドレスデータを読み出すことができる。
【０１００】
また、この抽出クロックを用いてスピンドルの制御を行なっている場合では、安定したスピンドルの制御ができる。
【０１０１】
なお、リセット休止手段１３が生成する一定時間はマイコン等の外部から設定するとしてもよい。
【０１０２】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３における復号装置について、図６，図７を用いて説明する。
【０１０３】
図６は本発明の実施の形態３における復号装置の構成を示したブロック図である。
【０１０４】
図示するように、本発明の実施の形態３における復号装置は、２値化手段Ａ１、カウント手段２および低域通過フィルタ３からなる復調手段９と、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、リセット手段１２、復号手段８およびリセット休止手段１３からなる読取手段１０と、２値化手段Ｂ４および欠陥検出手段１１を備えている。本実施の形態３においては、リセット休止手段１３の遅延部１３１には欠陥検出手段１１の欠陥検出信号（ｂ）のほか、平均周期検出手段５のＡＤＩＰ信号の平均周期データを４で割った信号（ｅ）が入力される構成である。
【０１０５】
図７は本発明の実施の形態３の動作を説明する信号波形図であり、復号装置に入力されるＡＤＩＰ信号（ａ）、欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）、カウント手段２の出力信号である周期カウンタ値（ｃ’）、復調手段（低域通過フィルタ３）９の出力信号（ｃ）、２値化手段Ｂ４から出力されるバイフェーズ信号（ｄ）、平均周期検出手段５から出力されたＡＤＩＰ信号の平均周期データを４で割った信号（ｅ）、パルス生成手段６が備えているカウンタのカウンタ値１（ｆ）、パルスカウント手段７が備えているカウンタのカウンタ値２（ｇ）およびパルスカウント手段７が出力する抽出クロック（ｈ）の信号波形およびデータである。
【０１０６】
２値化手段Ａ１、カウント手段２、低域通過フィルタ３、２値化手段Ｂ４、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、復号手段８、欠陥検出手段１１およびリセット手段１２については、本発明の実施の形態２における復号装置と同様な動作を行うものであり、ここでの説明は省略する。
【０１０７】
よって、ここではリセット休止手段１３について説明する。
【０１０８】
リセット休止手段１３には、欠陥検出手段１１から欠陥検出信号（ｂ）、リセット手段１２からはリセット信号、そして平均周期検出手段５からはＡＤＩＰ信号の平均周期値（ｅ）が入力される。
【０１０９】
リセット休止手段１３はリセット手段１２からリセット信号を入力された場合、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【０１１０】
しかし、リセット信号を入力した場合でも、欠陥検出手段１１が出力する欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈの期間と、欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈから論理Ｌに変化した直後であって入力されるＡＤＩＰ信号の平均周期値に比例した期間では、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。平均周期値に比例した期間は、欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈの期間を遅延部１３１により平均周期値に比例した期間だけ引き延ばすことにより得られる。
【０１１１】
次に図７を用いて詳細な動作を説明する。
【０１１２】
光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号（ａ）の周期が急激に乱れ（ａ’）、変動すると、カウント手段２によるＡＤＩＰ信号（ａ）のカウント手段２の出力信号である周期カウンタ値（ｃ’）が急激に変動し、その急激な変動が欠陥検出回路１１により検出され欠陥検出信号（ｂ）が期間Ａで論理Ｈとなる。
【０１１３】
復調手段９から出力される信号（ｃ）はカウント手段２の出力信号である周期カウンタ値（ｃ’）を低域通過フィルタ３に通したものであり、光ディスク表面上の欠陥の影響により変動する。この復調手段９の出力信号（ｃ）を２値化手段Ｂ４で２値化すると（ｄ）のようなバイフェーズ信号が得られる。
【０１１４】
このバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡ，エッジＤ，エッジＧは本来のエッジであるが、エッジＢ，エッジＣ，エッジＥそしてエッジＦは光ディスク表面上の欠陥により発生したエッジであり、本来のエッジではない。
【０１１５】
リセット休止手段１３は、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジＡが検出されたとき欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌであるので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【０１１６】
次に、光ディスクの欠陥によるバイフェーズ信号（ｄ）のエッジＢ，エッジＣが検出されるが、検出されたエッジＢとエッジＣは欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈである期間Ａに含まれているので、リセット休止手段１３はパルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【０１１７】
続いて、本来のエッジＤと光ディスクの欠陥によるエッジＥ，エッジＦが検出されるが、検出されたエッジＤ，エッジＥ，エッジＦは欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌである期間ではあるが、欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｈから論理Ｌに変化した直後のＡＤＩＰ信号（ａ）の平均周期値に比例した期間Ｃに含まれるので、リセット休止手段１３はパルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットしない。
【０１１８】
その後、バイフェーズ信号（ｄ）のエッジＧが検出されると、リセット休止手段１３は欠陥検出信号（ｂ）が論理Ｌであり、期間Ｃが終了しているので、パルス生成手段６の内部カウンタのカウンタ値１（ｆ）とパルスカウント手段７の内部カウンタのカウンタ値２（ｇ）を値１にリセットする。
【０１１９】
これにより、抽出クロック（ｈ）の周期と位相はそれぞれＡＤＩＰ信号（ａ）の平均周期とバイフェーズ信号（ｄ）のエッジに応じたものとなり、ＡＤＩＰ信号の欠陥により抽出クロック（ｈ）の位相が乱れることはない。
【０１２０】
ところで、前記実施の形態２における復号装置の場合、ＡＤＩＰ信号の欠陥を検出する欠陥検出手段１１が判断する期間だけでなく、その直後の一定期間に発生するバイフェーズ信号のエッジをマスクすることで、ＡＤＩＰ信号の欠陥に強い安定した抽出クロックを生成する。
【０１２１】
しかし、欠陥検出手段１１がＡＤＩＰ信号の欠陥を検出した期間が終了したと判断してから、ＡＤＩＰ信号が正規の信号になるまでの過渡的な状態の期間は一定ではなく、入力されるＡＤＩＰ信号の平均周期に比例した期間であると考えられるため、ＡＤＩＰ信号の平均周期が所望の周期よりも長い場合、その過渡的な状態の期間は比較的長いものとなる。
【０１２２】
そのため、本発明の実施の形態２における復号装置の場合、ＡＤＩＰ信号の実際の過渡状態が想定している一定期間を超えてしまった場合は、その一定期間後バイフェーズ信号に偽のエッジが発生してしまい、パルス生成手段およびパルスカウント手段のカウンタ値がリセットされ、間違った抽出クロックが生成されてしまう可能性がある。
【０１２３】
これらの要因により、本発明の実施の形態２による復号装置では、復号手段において正確なアドレスを読み取れなくなる可能性があるとともに、抽出クロックの周期に大きなジッタが発生してしまい、抽出クロックを用いたスピンドル制御も正確に行えなくなる可能性がある。
【０１２４】
しかし、本発明の実施の形態３における復号装置の場合、リセット休止手段は欠陥検出手段がＡＤＩＰ信号の欠陥を検出した期間だけでなく、その直後のＡＤＩＰ信号の平均周期値に比例した期間において発生するバイフェーズ信号のエッジをマスクすることで、ＡＤＩＰ信号の欠陥に強い安定した抽出クロックを生成することができる。
【０１２５】
以上のように、欠陥検出手段１１と遅延部を有するリセット休止手段１３を備えることにより、光ディスク表面上にほこりや指紋などの欠陥が存在しても、欠陥検出中および検出後のＡＤＩＰ信号の平均周期に比例した期間はバイフェーズ信号の偽エッジによる影響を受けないので、光ディスクの回転数に依存せず安定した抽出クロックを生成し、アドレスデータを読み出すことができる。
【０１２６】
また、この抽出クロックを用いてスピンドルの制御を行っている場合では、安定したスピンドルの制御ができる。
【０１２７】
なお、リセット休止手段１３は欠陥検出信号の論理Ｈ期間を遅延部により平均周期値に比例した期間だけ引き延ばすことにより生成するとしたが、論理Ｈ期間後に生成される１つめ以降の抽出クロックの立ち上がりエッジあるいは立ち下がりエッジまで引き延ばすとしても同様の効果が得られる。
【０１２８】
（実施の形態４）
本発明の実施の形態４における復号装置について、図８，図９および図１０を用いて説明する。
【０１２９】
図８は本発明の実施の形態４における復号装置の構成を示すブロック図である。
【０１３０】
図示するように、本発明の実施の形態４における復号装置は、２値化手段Ａ１、カウント手段２および低域通過フィルタ３からなる復調手段９と、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、リセット手段１２、復号手段８およびリセット休止手段１３からなる読取手段１０と、２値化手段Ｂ４および欠陥検出手段１１を備えている。本実施の形態４においては、平均周期検出手段５のＡＤＩＰ信号の平均周期データを４で割った信号（ｅ）が、欠陥検出手段１１およびリセット休止手段１３の遅延部１３１へ入力される構成となっている。
【０１３１】
図９はカウント手段２と欠陥検出手段１１の構成を示すブロック図である。
【０１３２】
２値化手段Ａ１、カウント手段２、低域通過フィルタ３、２値化手段Ｂ４、平均周期検出手段５、パルス生成手段６、パルスカウント手段７、復号手段８、リセット手段１２およびリセット休止手段１３については、本発明の実施の形態３における復号装置と同様な動作を行うものであり、ここでの説明は省略する。
【０１３３】
よって、ここでは欠陥検出手段１１について説明する。
【０１３４】
図９において、本発明の実施の形態３における欠陥検出手段１１と構成が異なるのは、欠陥検出手段１１の比較器１１４に入力される値が一定の比較値ではなく、平均周期検出手段５の出力であるＡＤＩＰ信号の平均周期値（ｅ）を定数倍した値であることである。
【０１３５】
欠陥検出手段１１は、減算器の出力が平均周期値（ｅ）の定数倍よりも大きい場合は比較器１１４の出力を論理Ｈとし、減算器１１３の出力が平均周期値（ｅ）の定数倍よりも小さい場合は比較器１１４の出力は論理Ｌとする。
【０１３６】
以上の動作により、欠陥検出手段１１はカウント手段２のカウンタ値の差分値を計算し、その結果をＡＤＩＰ信号の平均周期値の定数倍と比較することにより、急激なカウンタ値の変化を検出することができる。すなわち、光ディスク表面上の欠陥によりＡＤＩＰ信号の周期が急激に変動することによりカウント手段２の出力であるカウンタ値が急激に変化したことを欠陥検出手段１１は検出する。
【０１３７】
図１０は本発明の実施の形態４の動作を説明する信号波形図であり、図９に示す２値化手段Ａ１の出力信号である立ち上がりエッジを検出するパルス信号Ｂと、パルス信号が入力されたときのカウンタが出力する値を離散的に表した図である。
【０１３８】
図１０のようにＡＤＩＰ信号の平均周期値が値Ｒ１，値Ｒ２と大きく異なる状況において、光ディスク表面上の同じ欠陥によるカウント手段２の出力値と平均周期検出手段５の平均周期値（ｅ）との差分値を比較器１１４で比較すると、平均周期値が大きい値Ｒ１のときの差分値は値Ｄ１であり、平均周期値（ｅ）が値Ｒ１に比べて約半分である値Ｒ２のときの差分値は約半分の値Ｄ２である。
【０１３９】
これは、光ディスクの回転数が変化するとＡＤＩＰ信号の平均周期も同様に変化し、カウント手段２が出力する周期値と平均周期検出手段５が出力する平均周期値（ｅ）も変化する。すなわち、光ディスク表面上の欠陥による異常な周期カウンタ値は、ＡＤＩＰ信号の平均周期が半分になるとその異常な周期カウンタ値も半分になり、平均周期値との差分値は見かけ上小さくなる。
【０１４０】
しかし、欠陥の程度は光ディスクの回転数には依存しない普遍的なものであるので、光ディスクの回転数に応じた欠陥検出のための閾値が必要となる。
【０１４１】
回転数に依存しない一定の比較値を用いた本発明の実施の形態３による復号装置では、設計時の所望の回転数よりも早い回転数で光ディスクを回転させた場合、欠陥検出手段の検出感度が低下してしまい、安定した抽出クロックおよび正確なアドレスデータを生成することは困難となる。
【０１４２】
しかし、本発明の実施の形態４における復号装置の場合、平均周期検出手段５によるＡＤＩＰ信号の平均周期値に応じた値を欠陥検出手段１１の比較器１１４に入力するため、光ディスクの回転数に依存しない安定した欠陥検出信号が得られる。
【０１４３】
以上のように、欠陥検出手段１１を備えることにより、光ディスク表面上にほこりや指紋などの欠陥が存在しても、線速度の変動に対して欠陥検出の感動を低下させることなく欠陥を検出して保護するので、安定した抽出クロックを生成し、アドレスデータを読み出すことができる。
【０１４４】
また、この抽出クロックを用いてスピンドルの制御を行っている場合では、安定したスピンドルの制御ができることとなる。
【０１４５】
【発明の効果】
以上のように本発明の復号装置によれば、ＦＭ変調された信号をＦＭ復調する復調手段と、復調手段の出力を閾値と比較して２値化する２値化手段と、ＦＭ変調された信号の周期に応じたタイミングでＦＭ復調後の出力からデータを読み取り、かつその読み取りタイミングを２値化手段の出力に応じてリセットする読取手段と、ＦＭ変調された信号の欠陥を検出する欠陥検出手段を備え、読取手段は、欠陥検出手段で欠陥が検出された場合に、読み取りタイミングのリセットを休止することにより、光ディスク表面上に欠陥が存在してもＡＤＩＰ信号の周期値より欠陥を検出し安定した抽出クロックおよびアドレスデータを生成することができる。
【０１４６】
また、この抽出クロックを用いてスピンドルの制御を行なっている場合では、安定したスピンドルの制御ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１における復号装置の構成を示すブロック図
【図２】図１のカウント手段と欠陥検出手段の構成を示すブロック図（１）とその動作を示す信号波形およびデータ（２）を示す図
【図３】本発明の実施の形態１における復号装置の動作を説明する信号波形図
【図４】本発明の実施の形態２における復号装置の構成を示すブロック図
【図５】本発明の実施の形態２における復号装置の動作を説明する信号波形図
【図６】本発明の実施の形態３における復号装置の構成を示すブロック図
【図７】本発明の実施の形態３における復号装置の動作を説明する信号波形図
【図８】本発明の実施の形態４における復号装置の構成を示すブロック図
【図９】本発明の実施の形態４における欠陥検出手段の構成を示すブロック図
【図１０】本発明の実施の形態４における欠陥検出手段を説明する信号波形図
【図１１】従来の復号装置の構成を示すブロック図
【図１２】図１１の復号装置の復調手段の動作を説明する信号波形図
【図１３】図１１の復号装置の読取手段の動作を説明する信号波形図
【図１４】図１１の復号装置の平均周期検出手段を説明する信号波形図
【図１５】図１１の復号装置の信号波形図
【符号の説明】
１ ２値化手段Ａ
２ カウント手段
３ 低域通過フィルタ
４ ２値化手段Ｂ
５ 平均周期検出手段
６ パルス生成手段
７ パルスカウント手段
８ 復号手段
９ 復調手段
１０ 読取手段
１１ 欠陥検出手段
１２ リセット手段
１３ リセット休止手段
１３１ 遅延部
Claims (6)
- ＦＭ変調された信号をＦＭ復調してデータを読み取る復号装置であって、前記ＦＭ変調された信号をＦＭ復調する復調手段と、前記復調手段の出力を閾値と比較して２値化したバイフェーズ信号を出力する２値化手段と、前記ＦＭ変調された信号の欠陥を検出して欠陥検出信号を出力する欠陥検出手段と、前記２値化手段が出力する前記バイフェーズ信号のエッジを検出してエッジ検出信号を出力するリセット手段と、前記リセット手段から入力される前記エッジ検出信号をリセット信号として出力し、前記欠陥検出手段から前記欠陥検出信号が入力された場合に前記リセット信号の出力を休止するリセット休止手段と、前記復調手段の出力からＦＭキャリア周波数の変動による低周波成分の信号、すなわちＦＭ変調された信号の平均周期を抽出して出力する平均周期検出手段と、前記平均周期検出手段が出力する信号の周期と前記リセット休止手段が出力する前記リセット信号に応じたパルス信号を生成するパルス生成手段と、前記パルス生成手段から入力される前記パルス信号を検出する毎にカウントアップするカウンタを有し、前記リセット休止手段から入力される前記リセット信号を検出した場合に前記カウンタを初期値に戻し、前記カウンタが所定の値に到達した場合に前記カウンタを初期値に戻して抽出クロックを出力するパルスカウント手段と、前記パルスカウント手段から入力した抽出クロックを用いて前記２値化手段が出力する前記バイフェーズ信号からデータを読み取る復号手段を具備することを特徴とする復号装置。
- 前記リセット休止手段は、前記欠陥検出手段から前記欠陥検出信号が入力された場合に、一定の期間リセット信号の出力を休止することを特徴とする請求項１記載の復号装置。
- 前記リセット休止手段は、前記欠陥検出手段から前記欠陥検出信号が入力された場合に、前記平均周期検出手段から入力される前記ＦＭ変調された信号の平均周期に応じた期間前記リセット信号の出力を休止することを特徴とする請求項１記載の復号装置。
- 前記欠陥検出手段は、ＦＭ変調された信号の周期をある期間毎に差分し、その差分値がある閾値よりも大きい場合に欠陥を検出することを特徴とする請求項１，２または３記載の復号装置。
- 前記欠陥検出手段は、ＦＭ変調された信号の平均周期に応じた閾値を用いて欠陥を検出することを特徴とする請求項４記載の復号装置。
- ＦＭ変調された信号は、所定の変調方式で変調されたディジタルデータをＦＭ変調した信号であることを特徴とする請求項１，２，３，４または５記載の復号装置。
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