JP4100398B2 - 情報記録媒体 - Google Patents
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Description
例えば、特開2001―344807号に記載されている通り、これら相変化光ディスクの場合の基本構成は基板上に保護層、GeSbTe系等の記録膜、保護層、反射層という構成からなる。
本発明の構成は、具体的には、以下のとおりである。
(1)基板上に、第1の電極、エレクトロクロミック材料、第2の電極が設けられ、第1の領域ではエレクトロクロミック材料層が発色し、第2の領域ではエレクトロクロミック材料層が発色しない構成とする。ここで、第1の領域はランド部、第2の領域はグルーブ部に相当し、第1または第2の領域だけに光吸収することから、記録されやすい範囲が特定される。従って、光スポットの位置や集光度が多少変わっても同じように記録され、AF,トラッキングのズレに寛容で、高速記録が可能となる。さらに、高密度記録を達成できる。
従来の媒体では、実効的記録密度(実効的面密度)を高めるには多層化が望ましいが、3層以上では各層の透過率と記録感度とがトレードオフの関係にあり、再生信号品質か記録感度か、どちらかが犠牲にならざるを得なかった。透明有機材料に厚さ方向も含めて3次元記録するものも知られているが、2光子吸収を利用するものでは記録感度が非常に悪く、光重合を利用するものでは保存安定性と記録感度が悪い。
また、従来より大幅に多層化可能であり、実効的記録密度を上げ、記録媒体1枚あたりの記録容量を大幅に大容量化できる。
図4と図5は、この発明の第1実施例のディスク状情報記録媒体の構造を示す図である。図4はディスクの1/4の構造図を示し、図5は、さらにその1部分の拡大図を示す。図4の上部の放射状透明電極は、同じ形状のものがディスク面を埋め尽くすように多数有るが、そのうち2本だけを描いている。記録・再生光は上方から基板を通して入射するが、図では最上部の基板は省略している。図5にはディスクの一部の拡大図を示す。図5でも、わかりやすくするために最上部の基板と絶縁物層を省略して描いている。図5中、符号45は反射型電極、符号43は記録層、符号44は絶縁層、符号42は光導電体層、符号41は透明電極である。なお、符号46と50は光スポット、47はグルーブ部、48はランド部である。通常は光スポットから見て凸の、グルーブと呼ばれる部分に記録・再生する場合が多いが、本実施例ではランド部に記録する場合を示す。図5の手前に見えている切り口は、図4のA−A’ 断面の1部であり、図5の上部の電極の切れ目は、図4の放射状電極の間の隙間に対応している。A−A’ 断面の全体は、既に示した図3のようになっている。
ただし、分離した方が電極間容量が小さくなるので、電圧の立上り、立下りが早くなって好ましい。発色、消色に要する時間と電流が実用的な範囲であるために電極間容量は0.1F以下が特に望ましいが、素子の特性が良好であるためには、0.01F以上となる構造とするのが良い。透明電極は複数の扇形電極に分離せず、金属電極の方を分離してもよい。また、上下の両電極を分離してもよい。
この場合、上下の電極の切れ目の位置は一致していても良いが、一致していなくてもよい。
前記のようにして製作したディスクの相変化記録層には次のようにして初期結晶化を行った。ディスクを回転させ、スポット形状が媒体の半径方向に長い長円形の半導体レーザ(波長約810nm)のレーザ光パワーを800mWにして基板28を通して記録層24に照射した。スポットの移動は、媒体の半径方向のスポット長の1/4ずつずらした。こうして、初期結晶化を行った。この初期結晶化は1回でもよいが2回繰り返すと初期結晶化によるノイズ上昇を少し低減できた。
上記記録媒体に対して、情報の記録再生を行った。以下に、図9を用いて、本情報記録再生の動作を説明する。まず、記録再生を行う際のモーター制御方法としては、記録再生を行うゾーン毎にディスクの回転数を変化させるZCAV(Zoned Constant Linear Ve1ocity)方式を採用したものについて述べる。
また、本記録装置はグルーブとランドのうちランドに情報を記録する方式(いわゆるイングルーブ記録方式の変則版)に対応している。
以上の条件でマークエッジ記録を行った場合、最短マークである3Tマークのマーク長は約0.20μm、最長マークである14Tマークのマーク長は約1.96μmとなる。記録信号には、情報信号の始端部、終端部に4Tマークと4Tスペースの繰り返しのダミーデータが含まれている。始端部にはVFOも含まれている。
DVD−RAMおよびDVD−RWには高密度記録が実現できるマークエッジ記録方式が採用されている。マークエッジ記録とは、記録膜に形成する記録マークの両端の位置をディジタルデータの1に対応させるもので、これにより、最短記録マークの長さを基準クロック1個でなく2〜3個分に対応させて高密度化することもできる。DVD−RAMでは8−16変調方式を採用しており、基準クロック3個分に対応させている。マークエッジ記録方式は、円形記録マークの中心位置をディジタルデータの1に対応させるマークポジション記録に比べると、記録マークを極端に小さくしなくても高密度記録できるという長所がある。ただし、記録マークの形状歪みが小さいことが記録媒体に要求される。
相変化記録媒体では、記録波形を変えない場合、良好な記録再生特性を得るのに結晶化速度に対応した最適線速度で記録するのが望ましい。しかし、ディスク上の半径の異なる記録トラック間をアクセスする時、線速度を同じにするために回転数を変えるのには時間がかかる。そこでDVD−RAMでは、アクセス速度が小さくならないようにディスクの半径方向を24のゾーンに分け、ゾーン内では一定回転数とし、別のゾーンにアクセスしなければならない時だけ回転数を変えるZCLV(Zoned Constant Linear Velocity)方式を採用している。この方式では、ゾーン内の1番内周のトラックと一番外周のトラックで線速度が少し異なるので記録密度も少し異なるが、ディスク全域にわたってほぼ最大の密度で記録することができる。
(トラッキング余裕)
本実施例では、ランド部では上部電極と記録膜が直接接しており、グルーブ部では間に絶縁層であるSiO2層が入っているので、ランド部とグルーブ部の電極間距離の比は60:180、すなわち1:3である。通常はディスクの内径、外径の偏心によりトラッキングオフセットが発生し、回転数を上げるほどオフセットが大きくなるが、本発明の場合、ランド領域だけで電極・記録膜が接するか、発色が起き、発熱が大きくなる構造であるから、記録のオフセットは縮小された。電極との間に界面層を設ける場合は、例えば界面層の厚さを5nmとすると、ランド部とグルーブ部の電極間距離の比は、65:145である。距離の比と、トラッキングオフセットが通常の上限値を越えてトラックピッチの1/10のとき、隣接トラックの既記録領域が部分的に消去されて信号レベルが低下してしまうクロスイレーズとの関係は、図10に示したように以下の通りである。
電極間距離の比 信号レベル低下量
1:3 −0.1dB
1:1.5 −0.5dB
1:1.4 −1dB
1:1.3 −2dB
1:1.1 −3dB
1:1.05 −4dB
上記から、距離の比は1:1.1以上であるのが好ましく、1:1.4以上であればさらに好ましい。また、電圧印加を行わず高パワーの光照射だけで記録する場合も同様な効果が有った。
記録層材料としては、Ge2Sb2Te5,Ge4Sb2Te7、Ge5Sb70Te25などの組成のGe−Sb−Te系材料や、Ag4In6Sb65Te25などの組成のAg−In−Sb−Te系材料など、光ディスクで知られている各種材料が、要求される記録速度や他の特性に応じて使用可能である。記録メカニズムは、相変化のほか、多数回書換え可能ではなくなるが、記録層(エレクトロクロミック材料層や相変化材料層など)自身の穴形成や、発色能の破壊、色の変化、隣接する光導電体層や基板の変化・変形でも良い。
光導電体層としては、上記のAs−Se系材料のほか、高温熱処理が必要なため基板材質が制約されるがCdTe,CdS,CdSeなどの既知の無機光導電性材料、実施例2で詳しく述べるポリチオフェンなどの既知の各種有機導電性材料も、着色した状態で光導電材料として使用することができる。
(界面層)
結晶核形成速度と結晶成長速度を増大させ、結晶化速度を速くさせるために、好ましくは、記録膜と電極との間に、界面層を設ける。界面層の材料としては,下記より成るグループ、すなわち、Ta2O5などのTa酸化物、Cr2O3などのCr酸化物、Al2O3などのAl酸化物,SiO2などのSi酸化物,GeO2などのGe酸化物,SnO2などのSn酸化物,ZrO2などのZr酸化物,Co,Niの酸化物、Cr,Ge,Ti,Al,Si,Ta,Zr,B,Hfの窒化物うちの、単独、または2者以上の混合物,が好ましい。この中で、Cr2O3は多数回書き換え時の反射率レベルの変動を5%以下に押さえられ、ジッターを減少でき、より好ましい。CoO,Cr2O,NiOは初期結晶化時の結晶粒径が均一になり、書き換え初期のジッター上昇が小さくより好ましい。また,A1N,TaN,TiN,ZrN,BN,CrN,Cr2N,GeN,HfN,あるいはSi3N4、A1−Si−N系材料(例えばA1SiN2)、Al−Ti−N系材料,Si−Ti−N系材料,Si−O−N系材料や、これら窒化物の混合物も接着カが大きくなり、外部衝撃による情報記録媒体の劣化が小さく、より好ましい。また、Cr80Ge20などのCr−Ge系材料や、CrとGeの酸化物あるいは窒化物が60mo1%以上含まれていると保存寿命が向上し、高温高湿の環境におかれても高性能の記録媒体を維持できる。
電極材料として好ましいものは、用途によって異なる。多数回書換えを要求される場合は、タングステン、またはモリブデン、あるいはその少なくともいずれかを含み、チタンなどの他の金属元素を50原子%未満含むものが好ましい。
反射率と熱伝導率が高い金属層は,AlあるいはAl合金の場合,Cr,Tiなどの添加元素が4原子%以下の高熱伝導率材料であるのが,基板表面の温度上昇を防止する効果があって好ましい。次いで,Au,Ag,Cu,Ni,Fe,Co,Cr,Ti,Pd,Pt,W,Ta,Mo,Sb,Bi,Dy,Cd,Mn,Mg,Vの元素単体、またはAu合金,Ag合金,Cu合金,Pd合金,Pt合金,Sb−Bi,SUS,Ni−Cr,などこれらを主成分とする合金、あるいはこれら同志の合金よりなる層を用いてもよい。このように、電極兼反射層は、金属元素、半金属元素、これらの合金、混合物、からなる。この中で、Cu,Ag,Au単体あるいはCu合金、Ag合金、特にPd,Cuなどの添加元素が8原子%以下のもの、Au合金等のように熱伝導率が大きいものは、有機材料の熱劣化を抑制する。透明電極の材料としては、(In2O3)x(SnO2)1−xの組成で、xが5%から99%の範囲の材料、抵抗値の面でより好ましくは、xが90%から98%の範囲の材料、これにモル%で50%以下のSiO2を添加したもの、SnO2にモル%で2から5%のSb2O3などの他の酸化物を添加したもの、などの既知の透明電極材料、および実施例2で詳しく述べるポリチオフェン、ポリアセチレンなどの導電性有機材料が使用可能である。
記録層の周辺の絶縁物層の融点は600℃以上であることが好ましい。600℃より融点が低い材料を絶縁物層として用いた場合、記録時に記録層で発生した熱及び絶縁物層自体による発熱により劣化し、光学特性が変化してS/Nが低下する場合がある。前記各層の膜厚,材料についてはそれぞれ単独の好ましい範囲をとるだけでも記録・再生特性等が向上するが,それぞれの好ましい範囲を組み合わせることにより,さらに効果が上がる。絶縁物層の材料としては、SiO2,Al2O3,Cr2O3,Ta2O5,GeO2、GeN,Si3N4、これらの組成比が異なるものなど、多くの酸化物、窒化物が使用可能である。絶縁性の有機材料を用いても良い。
本実施例では、表面に直接、トラッキング用の溝を有するポリカーボネート基板77を用いているが、トラッキング用の溝を有する基板とは、基板表面全面または一部に、記録・再生波長をλとしたとき、λ/15n(nは基板材料の屈折率)以上の深さの溝を持つ基板である。溝は一周で連続的に形成されていても、途中分割されていてもよい。溝深さが約λ/12nの時、トラッキングとノイズのバランスの面で好ましいことがわかった。また、その溝幅は場所により異なっていてもよい。溝部とランド部の両方に記録・再生が行えるフォーマットを有する基板でも、どちらか一方に記録を行うフォーマットの基板でも良い。グルーブのみに記録するタイプでは、トラックピッチが波長/絞込みレンズのNAの0.7倍付近、グルーブ幅がその1/2付近のものが好ましい。
本実施例の記録媒体では、記録時に電流を流すことによって、記録媒体に低いレーザーパワーで記録できる。例えば、記録線速度15m/s以上の条件では、通常の記録媒体では記録レーザーパワーが10mWを越えるが、記録レーザーパワーを0.2mW以上2mW以下に設定することができる。最適記録パワーは、流す電流の値によって異なる。
一方、本発明では、レーザーのパワーには余裕が有り、記録密度を高めても良好な再生信号S/Nを得たい場合には読出し時に読出しレーザパワーを高くしてレーザーノイズやシステムノイズの影響を受けにくくすることもできる。本実施例の記録媒体では、記録時に電流を流すことによって、記録層の光吸収が少ない、あるいは熱拡散が大きくて低い記録感度の記録媒体に記録できるので、読出し時に読出しレーザパワーを高くしても記録状態の読出し破壊が起きにくいためである。例えば、記録レーザーパワー2mWで読出しレーザーパワーを3mWにすることもできる。
(実施例2)
発色、消色に要する時間を短くすることができる。同一グループ内では上記のように光入射側から遠い層の方の光吸収率が高くなるように電圧や、エレクトロクロミック材料のアクリル系ポリマーなどでの希釈程度を調整すると、より良好な記録特性が得られる。
これら有機物を用いる場合も、ディスクの他の部分は上記実施例と同様とした。
(実施例3)
2: UV樹脂レプリカ層
3: 保護層
4: 記録層
5: 保護層
6: 電極
7: 基板
8: 絞込みレンズ
9: レーザー光
10:DC電源
11:保護層
12:透明電極層(電極1)
13:エレクトロクロミック材料層
14:電極1
15:紫外線硬化樹脂層
16:張り合せ基板
17:基板
18:グルーブ部
19:ランド部
20:入射レーザー光
21:保護層
22:透明電極
23:光導電体層
24:記録層
25:絶縁体層
26:第1の電極
27:張り合せ基板
28:基板
29:グルーブ部
30:ランド部
31:張り合せ基板
32:積層膜
33,34:透明電極
35,36:透明電極からの引出し電極
37:ディスク中心
38:電極間スペース
39,40:細い金属電極
41:透明電極
42:光導電体層
43:記録層
44:絶縁体層
45:第1の電極
46:光スポット
47:グルーブ部
48:ランド部
49:電極間スペース
50:マルチビーム記録の場合の第2の光スポット
51:絶縁体層
52:透明電極
53:光導電体層
54:記録層
55:絶縁体層
56:塗布有機材料層
57:基板
58:ランド部の塗布が薄い部分
59:ランド部
60:グルーブ部
61:回転軸
62:第1のスリップリング
63:第2のスリップリング
64:第3のスリップリング
65:第1の接触電極
66:第2の接触電極
67:第3の接触電極
68:ディスク受け部品
69:絶縁体
70:位置決め用凸部
61:回転軸
62:第1のスリップリング
63:第2のスリップリング
64:第3のスリップリング
65:第1の接触電極
66:第2の接触電極
67:第3の接触電極
68:ディスク受け部品
69:絶縁体
70:位置決め用凸部
81:透明電極
82:薄いAg合金反射層
83:エレクトロクロミック層
84:プリアンプ回路
86:記録波形発生回路
87:レーザー駆動回路
88:8−16変調器
89:サーボ回路
90:8−16復調器
91:レーザー
92:レンズ
93:レーザービーム
94:回転ミラー
95:ミラー駆動モーター
96:列選択ミラー
97:行選択ミラー
98:Siウェハー
99:記録積層膜の断面。
Claims (4)
- 光を照射することによって、情報を記録する情報記録媒体であって、
基板と、前記基板上に形成された第1の電極と、
前記第1の電極上に形成された、貫通する開口部を有する絶縁膜と、
前記開口部から前記絶縁膜上にわたって形成された、情報を記録する記録膜と、
前記記録膜上に形成された、第2の電極とを有することを特徴とする情報記録媒体。 - 前記記録膜と前記第2の電極との間には、光導電体膜が設けられていることを特徴とする請求項1記載の情報記録媒体。
- 前記情報記録媒体は、半径方向に、ランド部とグルーブ部を有し、
前記ランド部とグルーブ部のいずれか一方は、前記開口部に前記記録膜が形成された領域であり、
他方は前記絶縁膜が設けられた領域であり、
前記開口部における前記第1の電極と前記第2の電極との距離を1としたとき、前記開口部でない部分における前記第1の電極と前記第2の電極との距離は1.1以上であることを特徴とする請求項1記載の情報記録媒体。 - 前記情報記録媒体は、半径方向に、ランド部とグルーブ部を有し、
前記ランド部とグルーブ部の一方は、前記開口部に前記記録膜が形成された領域であり、
他方は、前記絶縁膜が設けられた領域であり、
前記開口部における前記第1の電極と前記第2の電極との間の抵抗値を1としたとき、前記開口部でない部分における前記第1の電極と前記第2の電極との間の抵抗値は2以上であることを特徴とする請求項1記載の情報記録媒体。
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