JP4091041B2 - 触覚センサー及びその製造方法 - Google Patents
触覚センサー及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4091041B2 JP4091041B2 JP2004359299A JP2004359299A JP4091041B2 JP 4091041 B2 JP4091041 B2 JP 4091041B2 JP 2004359299 A JP2004359299 A JP 2004359299A JP 2004359299 A JP2004359299 A JP 2004359299A JP 4091041 B2 JP4091041 B2 JP 4091041B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- forming
- tactile sensor
- manufacturing
- oxide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/18—Measuring force or stress, in general using properties of piezo-resistive materials, i.e. materials of which the ohmic resistance varies according to changes in magnitude or direction of force applied to the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L5/00—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes
- G01L5/16—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring several components of force
- G01L5/161—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring several components of force using variations in ohmic resistance
- G01L5/162—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring several components of force using variations in ohmic resistance of piezoresistors
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/42—Piezoelectric device making
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49007—Indicating transducer
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49155—Manufacturing circuit on or in base
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
- Micromachines (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
〔非特許文献1〕
Bart J. Kane et. al., “CMOS-compatible traction stress sensor for use in high-resolution tactile imaging”, Sensors and Actuators, 1996, A54, p.511-516
〔非特許文献2〕
Tao Mei et. al., “An integrated MEMS three-dimensional tactile sensor with large force range”, Sensors and Actuators, 2000, 80, 155-162
〔非特許文献3〕
Lin Wang et. al., “A silicon-based shear force sensor: development and characterization”, Sensors and Actuators, 2000, 84, 33-44
図4aに図示されているようなシリコンウェーハ1の両面に、図4bに図示されているように酸化膜2を蒸着した後、図4cに図示されているように再度酸化膜2の上に窒化膜3を蒸着した後、図4dに図示されているように写真石版(Photolithography)工程を介してウェーハ1の下面に力センサーの支持ブロック形成用パターン4を形成する。
図4fに図示されているように、前記圧電抵抗形成用パターン5でウェーハ1の上面に露出された酸化膜2を、図4gに図示されているようにバッファリングされた酸化物エッチング液(BOE)を利用してエッチングし、前記支持ブロック形成用パターン4でウェーハ1の下面に露出された窒化膜3を、図4hに図示されているように反応性イオン蝕刻工程(RIE)によるストリップオフ工程を介して除去する。
図4nに図示されているように、前記圧電抵抗6の上部に接触ホール9を形成するために、図4lに図示されているように前記酸化膜2の上にフォトレジスト7を塗布し、支持ブロック形成用パターン4によりウェーハ1の下面に露出された酸化膜2を、バッファリングされた酸化物エッチング液(BOE)を利用してエッチングする。
図4qに図示されているように、前記接触ホール9間の電気回路的な連結がなされると同時に、ラインホール形成用パターン10によって熱センサーTの温度測定用金属線13及びヒーター14が形成されるようにするために、図4pに図示されているようにウェーハ1の上部面にE−ビーム(beam)ソースを利用した金属蒸着をすることになるのだが、この時、前記メタル層11はチタニウム(Ti)、ニッケル(Ni)、金(Au)のグループから選択されたものや、これらの合金によって成る。
図4rに図示されているように、前記メタルライン12と温度測定用金属線13及びヒーター14の上部側に、プラズマ強化化学気相蒸着(PECVD:Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)工程を利用して酸化膜15を蒸着する。
図4tに図示されているように、荷重ブロック16の形成されたウェーハ1の下面を水酸化カリウム(KOH)によってエッチングし、力センサーの支持ブロック17を形成するもので、前記荷重ブロック16が支持ブロック17の中央上部側に位置するように前記支持ブロック17を形成し、これにて荷重ブロック16と支持ブロック17とで構成される力センサーPと、温度測定用金属線13とヒーター14とで構成される熱センサーTを形成することができるのである。
T 熱センサー
1 ウェーハ
2 酸化膜
3 窒化膜
4 支持ブロック形成用パターン
5 圧電抵抗形成用パターン
6 圧電抵抗
7 フォトレジスト
8 接触ホール形成用パターン
9 接触ホール
10 ラインホール形成用パターン
11 メタル層
12 メタルライン
13 温度測定用金属線
14 ヒーター
15 酸化膜
16 荷重ブロック
17 支持ブロック
18 過荷重保護ブロック
Claims (12)
- ウェーハの下面に力センサーの支持ブロック形成用パターンを形成し、上面に力センサーの圧電抵抗形成用パターンを形成する第1段階と;
イオン注入工程を介してウェーハの上面に圧電抵抗を形成し、その上に酸化膜を蒸着する第2段階と;
前記圧電抵抗の上部に接触ホールが形成されるようにし、熱センサーの他側酸化膜の上にラインホール形成用パターンを形成する第3段階と;
前記ウェーハの上面に金属蒸着とリフトオフ工程を介して前記接触ホール間の連結線であるメタルラインと熱センサーの温度測定用金属線及びヒーターが形成されるようにする第4段階と;
前記メタルラインと温度測定用金属線及びヒーターの上部側に酸化物を蒸着し、前記酸化物の薄膜の上に蒸着とエッチングを介して荷重ブロックを形成する第5段階と;
前記荷重ブロックの形成されたウェーハの下面をエッチングして、力センサーの支持ブロックを形成する第6段階とを含むことを特徴とする触覚センサーの製造方法。 - 前記ウェーハは、シリコンウェーハであることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の触覚センサーの製造方法。
- 前記第1段階は、ウェーハの両面に酸化膜及び窒化膜を蒸着し、ウェーハの下面に支持ブロック形成用パターンを形成し、ウェーハの上面に塗布された窒化膜を除去して、酸化膜上に圧電抵抗形成用パターンが形成されるようにする工程を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の触覚センサーの製造方法。
- 前記第2段階は、前記圧電抵抗形成用パターンで上部面に露出された酸化膜をバッファリングされた酸化物エッチング液(BOE)を利用してエッチングし、前記支持ブロック形成用パターンでウェーハの下面に露出された窒化膜を除去し、これを介して上部面にイオン注入による圧電抵抗形成用パターンが形成されるようにする工程を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の触覚センサーの製造方法。
- 第3段階は、第2段階によりウェーハの上面に蒸着された酸化膜の上にフォトレジストを塗布し、ウェーハの下面に露出された酸化物をバッファリングされた酸化物エッチング液(BOE)を利用してエッチングした後、接触ホール形成用パターンが形成されるようにする工程を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の触覚センサーの製造方法。
- 前記第4段階の金属蒸着に使われる金属は、チタニウム、ニッケル、金のグループから選択されたものか、これらの合金から成ることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の触覚センサーの製造方法。
- 前記第5段階の酸化物の蒸着は、プラズマ強化化学気相蒸着(PECVD)工程を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の触覚センサーの製造方法。
- 前記第5段階の荷重ブロックは、厚いフォトレジスト(SU−8)で構成されることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の触覚センサーの製造方法。
- 前記第6段階のエッチングは、水酸化カリウム(KOH)によってなされることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の触覚センサーの製造方法。
- 前記荷重ブロックは、支持ブロックの中央上部側に位置するように形成されることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の触覚センサーの製造方法。
- 前記支持ブロックの下部側中央に、支持ブロックの下面と分離された過荷重保護ブロックが形成されるようにする段階を更に含んで成ることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の触覚センサーの製造方法。
- 第1項乃至第11項のいずれか1項に記載の方法によって製造されることを特徴とする触覚センサー。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040038357A KR100556265B1 (ko) | 2004-05-28 | 2004-05-28 | 촉각센서 및 이의 제조방법 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005338053A JP2005338053A (ja) | 2005-12-08 |
JP2005338053A5 JP2005338053A5 (ja) | 2007-10-11 |
JP4091041B2 true JP4091041B2 (ja) | 2008-05-28 |
Family
ID=35423578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004359299A Expired - Fee Related JP4091041B2 (ja) | 2004-05-28 | 2004-12-13 | 触覚センサー及びその製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7313854B2 (ja) |
JP (1) | JP4091041B2 (ja) |
KR (1) | KR100556265B1 (ja) |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100312129A1 (en) | 2005-01-26 | 2010-12-09 | Schecter Stuart O | Cardiovascular haptic handle system |
KR100703082B1 (ko) * | 2005-07-08 | 2007-04-06 | 삼성전기주식회사 | 플렉서블 촉각센서 및 그 제조방법 |
JP4951930B2 (ja) * | 2005-10-21 | 2012-06-13 | 株式会社ニコン | 半導体集積センサ |
KR100735295B1 (ko) * | 2005-10-28 | 2007-07-03 | 삼성전기주식회사 | 폴리머 필름을 이용한 플렉서블 촉각센서 제조방법 |
US7825567B2 (en) * | 2006-01-20 | 2010-11-02 | Panasonic Corporation | Three-dimensional structure and its manufacturing method |
KR100809284B1 (ko) | 2006-04-27 | 2008-03-04 | 전자부품연구원 | 촉각센서 어레이 및 그 제조방법 |
US8049591B2 (en) | 2006-08-31 | 2011-11-01 | Korea Research Institute Of Standards And Science | Tactile sensor for curved surface and manufacturing method thereof |
KR100811861B1 (ko) | 2006-08-31 | 2008-03-10 | 한국표준과학연구원 | 촉각센서의 제조 방법 |
EP1931173B1 (en) * | 2006-12-06 | 2011-07-20 | Electronics and Telecommunications Research Institute | Condenser microphone having flexure hinge diaphragm and method of manufacturing the same |
KR20090060877A (ko) * | 2007-12-10 | 2009-06-15 | 한국표준과학연구원 | 고온용 촉각센서 및 그 제조 방법 |
KR101484944B1 (ko) | 2008-10-02 | 2015-01-22 | 삼성전자 주식회사 | 전자기기 케이스 및 이의 제조방법 |
US8069735B1 (en) | 2010-11-10 | 2011-12-06 | Artann Laboratories Inc. | Tactile sensor array for soft tissue elasticity imaging |
US8942828B1 (en) | 2011-04-13 | 2015-01-27 | Stuart Schecter, LLC | Minimally invasive cardiovascular support system with true haptic coupling |
DE102011103848A1 (de) * | 2011-05-27 | 2012-11-29 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Sensoreinrichtung |
US10013082B2 (en) | 2012-06-05 | 2018-07-03 | Stuart Schecter, LLC | Operating system with haptic interface for minimally invasive, hand-held surgical instrument |
KR101971945B1 (ko) | 2012-07-06 | 2019-04-25 | 삼성전자주식회사 | 촉각 측정 장치 및 방법 |
KR102100925B1 (ko) | 2013-03-22 | 2020-04-14 | 삼성전자주식회사 | 기판 구조체, 상기 기판 구조체를 형성하는 방법, 및 이를 구비하는 전기소자 |
KR101402820B1 (ko) * | 2013-04-05 | 2014-06-27 | 한국과학기술원 | 피부 접촉 센서 |
TWI583931B (zh) * | 2016-02-02 | 2017-05-21 | Asia Pacific Microsystems Inc | Miniature piezoresistive pressure sensor |
CN108217581B (zh) | 2017-01-20 | 2021-03-16 | 迈尔森电子(天津)有限公司 | 一种mems压电传感器及其制作方法 |
CN108511409B (zh) * | 2018-04-19 | 2021-03-02 | 苏州晶方半导体科技股份有限公司 | 半导体芯片的晶圆级封装方法及其封装结构 |
CN111912462B (zh) * | 2020-08-12 | 2021-12-24 | 东南大学 | 一种具有滑动觉、压觉和温度觉的多功能柔性触觉传感器 |
CN112179410B (zh) * | 2020-09-24 | 2022-03-01 | 之江实验室 | 一种多功能柔性触觉传感器及其制备方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4856993A (en) * | 1985-03-29 | 1989-08-15 | Tekscan, Inc. | Pressure and contact sensor system for measuring dental occlusion |
US4766666A (en) * | 1985-09-30 | 1988-08-30 | Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho | Semiconductor pressure sensor and method of manufacturing the same |
US6515586B1 (en) * | 1998-12-18 | 2003-02-04 | Intel Corporation | Tactile tracking systems and methods |
US7357035B2 (en) * | 2003-06-06 | 2008-04-15 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Sensor chip and apparatus for tactile and/or flow sensing |
-
2004
- 2004-05-28 KR KR1020040038357A patent/KR100556265B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2004-12-13 JP JP2004359299A patent/JP4091041B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-28 US US11/024,316 patent/US7313854B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050262676A1 (en) | 2005-12-01 |
KR100556265B1 (ko) | 2006-03-03 |
KR20050112917A (ko) | 2005-12-01 |
US7313854B2 (en) | 2008-01-01 |
JP2005338053A (ja) | 2005-12-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4091041B2 (ja) | 触覚センサー及びその製造方法 | |
Yang et al. | Review of flexible microelectromechanical system sensors and devices | |
Eltaib et al. | Tactile sensing technology for minimal access surgery––a review | |
US7516671B2 (en) | Sensor chip and apparatus for tactile and/or flow sensing | |
US8466522B2 (en) | Element array, electromechanical conversion device, and process for producing the same | |
JP4921185B2 (ja) | 3次元構造体の製造方法 | |
JP5850650B2 (ja) | センサ、及びセンサを製造する方法 | |
JP2012002812A (ja) | センサ、及びセンサを製造する方法 | |
JP2013508705A (ja) | 面内ピエゾ抵抗検出センサ | |
KR20150115678A (ko) | 텅스텐 mems 구조물의 제조 | |
EP2387722B1 (en) | Method of forming a device with a piezoresistor and accelerometer | |
KR100703082B1 (ko) | 플렉서블 촉각센서 및 그 제조방법 | |
KR101447115B1 (ko) | 접촉힘 센서 패키지 및 이의 제조방법 | |
Fedder | CMOS-based sensors | |
JP2008049438A (ja) | 半導体装置の製造方法、半導体装置、及び感圧センサ | |
JPH11333765A (ja) | 力センサ付きマイクロマニピュレータ | |
KR100735295B1 (ko) | 폴리머 필름을 이용한 플렉서블 촉각센서 제조방법 | |
EP0696497B1 (en) | Micro gripper | |
WO2001000523A9 (en) | Micro-electromechanical devices and methods of manufacture | |
Brookhuis et al. | Three-axis force-torque sensor with fully differential capacitive readout | |
Arjun et al. | Design and analysis of MEMS-based sensors toward measuring catheter contact forces | |
Salo et al. | CMOS-sealed membrane capacitors for medical tactile sensors | |
JP2004163373A (ja) | 半導体物理量センサ | |
Feng et al. | Flexible pressure/temperature sensors with heterogeneous integration of ultra-thin silicon and polymer | |
JP2004177220A (ja) | 半導体加速度センサ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070829 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071009 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071228 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080129 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080227 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |