JP4075459B2 - 高周波スイッチ回路 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば超短波帯から準マイクロ波帯までの高周波信号の断続または切り替えを行う高周波スイッチ回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、SPDT(Single Pole Dual Through)形式の高周波スイッチ回路として、▲1▼特開平8−204530、▲2▼特開平9−8501、▲3▼特開平9−23101が開示されている。
【0003】
携帯電話等の移動体通信における送受信の切り替えには、スイッチ回路として半導体スイッチ素子を用いた高周波スイッチ回路が用いられている。上記公報に示されている高周波スイッチ回路は、アイソレーション特性を改善するように回路を構成している。
【0004】
ここで、従来のSPDT形式の高周波スイッチ回路の基本的な例を図11に示す。図11において、21,22はそれぞれスイッチ素子、31,32はスイッチ素子21,22にそれぞれ並列接続したインダクタである。このスイッチ素子21とインダクタ31との並列接続により第1の回路1を構成し、スイッチ素子22とインダクタ32との並列接続回路が第2の回路2を構成している。11は第1の入出力端子、12は第2の入出力端子、13は第3の入出力端子、14は接続点である。第1の入出力端子11と接続点14との間の第1の信号経路に第1の回路1を直列接続し、第2の入出力端子12と接続点14との間の第2の信号経路に第2の回路2を直列接続している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、例えば5GHz帯等、使用帯域が高周波数化するにつれ、図11に41,42,43で示したようなボンディングワイヤーやパッケージのリード等による寄生インダクタンス成分の影響が大きくなる。そのため、入出力VSWR特性の劣化につながり、結果的に挿入損失が劣化してしまうという問題があった。
【0006】
この発明の目的は、上記寄生インダクタンス成分の影響による不整合を解消してVSWR特性を改善し、挿入損失の劣化を抑えるようにした高周波スイッチ回路を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この発明は、第1・第2・第3の3つの入出力端子と、第1の入出力端子を介する第1の信号経路と第2の入出力端子を介する第2の信号経路との接続点とを備え、スイッチ素子を含む第1の回路を第1の信号経路に直列接続し、スイッチ素子を含む第2の回路を第2の信号経路に直列接続し、前記接続点を第3の入出力端子に接続したSPDT形式の高周波スイッチ回路において、
第1・第2の回路のそれぞれが、スイッチ素子とインダクタとの並列回路を含み、第1・第2の入出力端子と第1・第2の回路の入出力部との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分と、第3の入出力端子と前記接続点との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分とに応じて、入出力VSWRが小さくなるように、キャパシタンス成分と前記キャパシタンス成分に接続されるワイヤおよび/またはライン電極によるインダクタンス成分とで構成される直列共振回路からなるインピーダンス素子を前記接続点と接地との間に接続したことを特徴としている。
【0009】
また、この発明の高周波スイッチ回路は、前記SPDT形式の高周波スイッチ回路において、第1・第2の回路のそれぞれは、スイッチ素子とインダクタとの並列回路を含み、第1・第2の入出力端子と第1・第2の回路の入出力部との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分と、第3の入出力端子と前記接続点との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分とに応じて、入出力VSWRが小さくなるように、キャパシタンス成分と前記キャパシタンス成分に接続されるワイヤおよび/またはライン電極によるインダクタンス成分とで構成される直列共振回路からなるインピーダンス素子を、第1・第2の回路の入出力部と接地との間、および前記接続点と接地との間にそれぞれ接続したことを特徴としている。
これらのように構成することにより、入出力VSWRを小さくする。
【0010】
また、この発明は、前記第1または第2の回路の少なくとも一方を、複数のスイッチ素子の直列回路とインダクタとの並列回路を含むように構成する。
【0011】
また、この発明は、前記第1または第2の回路の少なくとも一方を、スイッチ素子とインダクタとの並列回路を複数組直列接続した回路を含むように構成する。
【0012】
このようにして、複数のスイッチ素子が直列接続された構成において入出力VSWRを小さくする。
【0013】
また、この発明の高周波スイッチ回路は、前記SPDT形式の高周波スイッチ回路において、前記第1または第2の回路の少なくとも一方が、スイッチ素子とインダクタとの並列回路を複数組直列接続した回路を含み、第1・第2の入出力端子と第1・第2の回路の入出力部との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分と、第3の入出力端子と前記接続点との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分とに応じて、入出力VSWRが小さくなるように、キャパシタンス成分を含むインピーダンス素子を各並列回路の入出力端子側と接地との間に接続したことを特徴としている。
【0014】
これにより、やはり複数のスイッチ素子が直列接続された構成において入出力VSWRを小さくする。
【0015】
【発明の実施の形態】
第1の実施形態に係る高周波スイッチ回路の構成を図1〜図4を参照して説明する。
図1は高周波スイッチ回路の回路図である。ここで、11は第1の入出力端子、12は第2の入出力端子、13は第3の入出力端子、14は接続点である。図11に示した例と同様に、スイッチ素子21とインダクタ31との並列回路によって第1の回路を構成し、スイッチ素子22とインダクタ32との並列回路によって第2の回路を構成している。これらの第1の回路1を第1の入出力端子11と接続点14との間の第1の信号経路に直列接続し、第2の回路2を第2の入出力端子12と接続点14との間の第2の信号経路に直列接続している。
【0016】
図2はスイッチ素子21とその周囲の具体的な回路について示している。このようにスイッチ素子21はFETからなり、そのドレイン−ソース間にインダクタ31を接続している。またゲートに、抵抗Rを介してゲート信号を印加するようにしている。したがってFETがオンの時には、そのドレイン−ソース間は低インピーダンスの抵抗素子と等価となり、オフ時にはドレイン−ソース間がキャパシタンス素子と等価となる。スイッチ素子22についても同様である。
【0017】
図1に戻って、41は、第1の回路1と第1の入出力端子11との間に生じるインピーダンス成分である。42は、第2の回路2と第2の入出力端子12との間に生じるインピーダンス成分である。これらのインピーダンス成分41,42は、第1・第2の入出力端子11,12と第1・第2の回路1,2との入出力部との間に介在するワイヤーやストリップライン等によるインピーダンス成分である。43は第3の入出力端子13と接続点14との間に生じるインピーダンス成分である。これは第3の入出力端子14と接続点14との間の経路になるワイヤーやストリップライン等のインピーダンス成分である。これらのインピーダンス成分41,42,43はそれぞれ主としてインダクタンス成分からなる。
【0018】
74は接続点14と接地との間に接続したインピーダンス素子である。54はそのキャパシタンス成分、64はそのインダクタンス成分である。実際には、接続点14と接地との間にキャパシタ(キャパシタンス素子)を接続する。インダクタンス成分64は、その接続のためのワイヤーやストリップラインのインダクタンス成分に相当する。
【0019】
図1に示した高周波スイッチ回路の動作は次のとおりである。
まず、第1の入出力端子11から第3の入出力端子13へ信号を通過させる場合について説明する。このとき、スイッチ素子21は単なる抵抗素子、スイッチ素子22は単なる容量素子と等価になる。第1の入出力端子11と第2の入出力端子12との間、第2の入出力端子12と第3の入出力端子13との間は、それぞれアイソレーションを確保する必要がある。そこで、スイッチ素子22に並列にインダクタ32を接続し、スイッチ素子22のオフ時の容量成分と、インダクタ32のインダクタンス成分とにより並列共振回路を構成する。この並列共振回路の共振周波数が、第1の入出力端子11から入力される信号周波数に等しくなるように、インダクタ32のインダクタンスを定めておく。このことにより、第2の入出力端子12への信号の漏れが抑えられる。
【0020】
第2の入出力端子12から第3の入出力端子13へ信号を通過させる場合も、同様にして、スイッチ素子21のオフ時の容量成分とインダクタ31のインダクタンス成分とにより並列共振回路を構成する。この並列共振回路の共振周波数が、第2の入出力端子12から入力される信号周波数に等しくなるように、インダクタ31のインダクタンスを定めておく。このことにより、第1の入出力端子11への信号の漏れが抑えられる。
【0021】
但し、入力周波数が高くなる程、インピーダンス成分41,42,43のインダクタンス成分による影響が大きくなるため、入出力VSWRが劣化し、効率良く信号が入出力されない。その結果、挿入損失が劣化することになる。そこで、この例では、接続点14と接地との間にインピーダンス素子74を接続することによりその問題を解消する。
【0022】
例えば、5.2GHzの信号を通過させる高周波スイッチ回路を構成する場合を考える。ボンディングワイヤー等によるインピーダンス成分41,42,43のそれぞれは、ここで抵抗成分0Ω、インダクタンス成分1nHとする。第1の入出力端子11から信号を入力し、第3の入出力端子13へ出力する場合、スイッチ素子21のオン時の抵抗成分を2Ω、スイッチ素子22のオフ時のキャパシタンス成分を0.3pFとする。インダクタ31,32のインダクタンスは、スイッチ素子21,22のオフ時のキャパシタンス成分0.3pFとの並列共振周波数が5.2GHzとなるような値、この場合3.2nHとする。
【0023】
これらの条件の下で、第1の入出力端子11および第3の入出力端子13からみて5.2GHzで入出力VSWRが良好となるような、インピーダンス素子74のキャパシタンス成分の値をシミュレーションにより計算する。その結果、0.56pFを得る。
【0024】
但し、このインピーダンス素子74としてのキャパシタを接続するためのボンディングワイヤーが存在する。ここで、そのインダクタンス成分64を1nHとすると、同様の計算により、第1の入出力端子11および第3の入出力端子13からみて、5.2GHzで入出力VSWRが良好になるようなキャパシタンス成分54は0.35pFとなる。
【0025】
上述の例では、第1の入出力端子11から第3の入出力端子13へ信号を通過させる場合について説明したが、この高周波スイッチ回路は対称回路であるので、第2の入出力端子12から第3の入出力端子13へ信号を通過させる場合についても同様に作用する。
【0026】
図3,図4は第1・第2の回路の構成が異なった、他の2つの高周波スイッチ回路の例を示している。入力する信号電力が1W程度と大きい場合には、この図3または図4に示すように、オフ時のスイッチ素子のドレイン−ソース間電圧を抑えて信号の歪みを生じさせない目的で、スイッチ素子を複数段直列に接続している。図3に示す例では、2つのスイッチ素子21a,21bの直列回路に対して1つのインダクタ31を並列接続して第1の回路1を構成している。同様に、2つのスイッチ素子22a,22bの直列回路に対して1つのインダクタ32を並列接続して第2の回路2を構成している。
【0027】
また、図4に示す例では、スイッチ素子21aとインダクタ31aとの並列回路に、スイッチ素子21bとインダクタ31bとの並列回路を直列接続することによって第1の回路1を構成し、同様にスイッチ素子22aとインダクタ32aとの並列回路に、スイッチ素子22bとインダクタ32bとの並列回路を直列接続することによって第2の回路2を構成している。
【0028】
次に、第2の実施形態に係る高周波スイッチ回路の構成を図5・図6を参照して説明する。
図5において、11〜13は第1〜第3の入出力端子、1,2は第1・第2の回路、41〜43はボンディングワイヤーやパッケージのリード等によるインピーダンス成分である。これらの部分の構成は図1に示したものと同じである。図5に示す例では、2つのインピーダンス素子71,72を第1・第2の回路1,2の入出力部(入出力端子側)と接地との間にそれぞれ接続している。
【0029】
ここで、インダクタ31,32、インピーダンス成分41,42,43の条件を図1に示した場合と同様とする。第1の入出力端子11から第3の入出力端子13へ信号を通過させる場合に、第1の入出力端子11および第3の入出力端子13からみて5.2GHzで入出力VSWRが良好になるような、インピーダンス素子71,72のキャパシタンス成分をシミュレーションにより計算すると、それぞれ0.55pFとなる。
【0030】
但し、これらのインピーダンス素子71,72としてのキャパシタを接続する際のボンディングワイヤーが存在する。今、そのボンディングワイヤーのインダクタンス成分61,62をそれぞれ1nHとすると、同様の計算により、第1の入出力端子11および第3の入出力端子13からみて、5.2GHzで入出力VSWRが良好になるようなキャパシタンス成分51,52の値はそれぞれ0.34pFとなる。
【0031】
上述の例では、第1の入出力端子11から第3の入出力端子13へ信号を通過させる場合について説明したが、この高周波スイッチ回路は対称回路であるので、第2の入出力端子12から第3の入出力端子13へ信号を通過させる場合についても同様に作用する。
【0032】
図6は、第1・第2の回路の構成が異なった、他の高周波スイッチ回路の例を示している。入力する信号電力が1W程度と大きい場合には、この図6に示すように、オフ時のスイッチ素子のドレイン−ソース間電圧を抑えて信号の歪みを生じさせない目的で、スイッチ素子を複数段直列に接続する。図6に示す例では、2つのスイッチ素子21a,21bの直列回路に対して1つのインダクタ31を並列接続して第1の回路1を構成している。同様に、2つのスイッチ素子22a,22bの直列回路に対して1つのインダクタ32を並列接続して第2の回路2を構成している。そして、第1・第2の回路1,2の入出力部(入出力端子側)と接地との間にインピーダンス素子71,72を接続している。このような場合にも同様の効果が得られる。
【0033】
次に、第3の実施形態に係る高周波スイッチ回路について図7・図8を参照して説明する。
図7において、11〜13は第1〜第3の入出力端子、1,2は第1・第2の回路、41〜43はボンディングワイヤーやパッケージのリード等によるインピーダンス成分である。これらの部分の構成は図1に示したものと同じである。
【0034】
図7に示す例では、2つのインピーダンス素子71,72を第1・第2の回路1,2の入出力部(入出力端子側)と接地との間にそれぞれ接続し、さらに接続点14と接地との間にインピーダンス素子74を接続している。
【0035】
ここで、インダクタ31,32、インピーダンス成分41,42,43の条件を図1に示した場合と同様とする。第1の入出力端子11から第3の入出力端子13へ信号を通過させる場合に、第1の入出力端子11および第3の入出力端子13からみて、5.2GHzで入出力VSWRが良好になるようなインピーダンス素子71,72,74のキャパシタンス成分をシミュレーションにより計算するとそれぞれ0.28pFとなる。
【0036】
但し、これらのインピーダンス素子71,72,74としてのキャパシタを接続する際のボンディングワイヤーが存在する。今、そのボンディングワイヤーのインダクタンス成分61,62,64をそれぞれ1nHとすると、同様の計算により、第1の入出力端子11および第3の入出力端子13からみて、5.2GHzで入出力VSWRが良好になるようなキャパシタンス成分51,52,54の値はそれぞれ0.21pFとなる。
【0037】
上述の例では、第1の入出力端子11から第3の入出力端子13へ信号を通過させる場合について説明したが、この高周波スイッチ回路は対称回路であるので、第2の入出力端子12から第3の入出力端子13へ信号を通過させる場合についても同様に作用する。
【0038】
図8は、入力する信号電力が1W程度と大きい場合に、スイッチ素子を複数段直列に接続した例である。この例では、2つのスイッチ素子21a,21bの直列回路に対して1つのインダクタ31を並列接続して第1の回路1を構成している。同様に、2つのスイッチ素子22a,22bの直列回路に対して1つのインダクタ32を並列接続して第2の回路2を構成している。そして、第1・第2の回路1,2の入出力部(入出力端子側)と接地との間にインピーダンス素子71,72を接続し、接続点14と接地との間にインピーダンス素子74を接続している。このような場合にも同様の効果が得られる。
【0039】
次に、第4の実施形態に係る高周波スイッチ回路について図9・図10を参照して説明する。
この第4の実施形態では、スイッチ素子とインダクタとの並列回路を複数組直列接続している。図9に示す例では、各並列回路の入出力端子側と接地との間にインピーダンス素子71a,71b,72a,72bをそれぞれ接続している。また、図10に示す例では、さらに、接続点14と接地との間にインピーダンス素子74を接続している。このような回路構成でも、各インピーダンス素子のキャパシタンス成分およびインダクタンス成分を同様にして定めることにより、入出力VSWRを改善することができる。
【0040】
【発明の効果】
この発明によれば、使用帯域が高周波数化するにつれ、ボンディングワイヤーやパッケージのリード等による寄生インダクタンス成分の影響が大きくなっても、入出力VSWR特性の劣化が改善され、その結果、挿入損失の劣化が抑えられる。
【0041】
また、複数のスイッチ素子の直列回路とインダクタとの並列回路を含む場合や、スイッチ素子とインダクタとの並列回路を複数組直列接続した回路構成の場合でも、入出力VSWR特性の劣化が改善され、その結果、挿入損失の劣化が抑えられる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施形態に係る高周波スイッチ回路の回路図
【図2】第1の回路部分の構成を示す回路図
【図3】第1の実施形態においてスイッチ素子を複数段接続した例を示す図
【図4】スイッチ素子を複数段接続した他の例を示す図
【図5】第2の実施形態に係る高周波スイッチ回路の回路図
【図6】第2の実施形態においてスイッチ素子を複数段接続した例を示す図
【図7】第3の実施形態に係る高周波スイッチ回路の構成を示す図
【図8】第3の実施形態においてスイッチ素子を複数段接続した例を示す図
【図9】第4の実施形態に係る高周波スイッチ回路の構成を示す図
【図10】第4の実施形態における別の構成例を示す図
【図11】従来の高周波スイッチ回路の基本的な構成を示す図
【符号の説明】
1−第1の回路
2−第2の回路
11−第1の入出力端子
12−第2の入出力端子
13−第3の入出力端子
14−接続点
21,22−スイッチ素子
31,32−インダクタ
41,42,43−インピーダンス成分
51,52,54−キャパシタンス成分
61,62,64−インダクタンス成分
71,72,74−インピーダンス素子
Claims (5)
- 第1・第2・第3の3つの入出力端子と、第1の入出力端子を介する第1の信号経路と第2の入出力端子を介する第2の信号経路との接続点とを備え、スイッチ素子を含む第1の回路を第1の信号経路に直列接続し、スイッチ素子を含む第2の回路を第2の信号経路に直列接続し、前記接続点を第3の入出力端子に接続したSPDT形式の高周波スイッチ回路において、
第1・第2の回路のそれぞれは、スイッチ素子とインダクタとの並列回路を含み、
第1・第2の入出力端子と第1・第2の回路の入出力部との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分と、第3の入出力端子と前記接続点との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分とに応じて、入出力VSWRが小さくなるように、キャパシタンス成分と前記キャパシタンス成分に接続されるワイヤおよび/またはストリップラインのインダクタンス成分とで構成される直列共振回路からなるインピーダンス素子を前記接続点と接地との間に接続したことを特徴とする高周波スイッチ回路。 - 第1・第2・第3の3つの入出力端子と、第1の入出力端子を介する第1の信号経路と第2の入出力端子を介する第2の信号経路との接続点とを備え、スイッチ素子を含む第1の回路を第1の信号経路に直列接続し、スイッチ素子を含む第2の回路を第2の信号経路に直列接続し、前記接続点を第3の入出力端子に接続したSPDT形式の高周波スイッチ回路において、
第1・第2の回路のそれぞれは、スイッチ素子とインダクタとの並列回路を含み、
第1・第2の入出力端子と第1・第2の回路の入出力部との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分と、第3の入出力端子と前記接続点との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分とに応じて、入出力VSWRが小さくなるように、キャパシタンス成分と前記キャパシタンス成分に接続されるワイヤおよび/またはストリップラインのインダクタンス成分とで構成される直列共振回路からなるインピーダンス素子を、第1・第2の回路の入出力部と接地との間、および前記接続点と接地との間にそれぞれ接続したことを特徴とする高周波スイッチ回路。 - 前記第1または第2の回路の少なくとも一方は、複数のスイッチ素子の直列回路とインダクタとの並列回路を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の高周波スイッチ回路。
- 前記第1または第2の回路の少なくとも一方は、スイッチ素子とインダクタとの並列回路を複数組直列接続した回路を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の高周波スイッチ回路。
- 第1・第2・第3の3つの入出力端子と、第1の入出力端子を介する第1の信号経路と第2の入出力端子を介する第2の信号経路との接続点とを備え、スイッチ素子を含む第1の回路を第1の信号経路に直列接続し、スイッチ素子を含む第2の回路を第2の信号経路に直列接続し、前記接続点を第3の入出力端子に接続したSPDT形式の高周波スイッチ回路において、
前記第1または第2の回路の少なくとも一方は、スイッチ素子とインダクタとの並列回路を複数組直列接続した回路を含み、
第1・第2の入出力端子と第1・第2の回路の入出力部との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分と、第3の入出力端子と前記接続点との間に生じるワイヤやストリップライン等によるインピーダンス成分とに応じて、入出力VSWRが小さくなるように、キャパシタンス成分と前記キャパシタンス成分に接続されるワイヤおよび/またはストリップラインのインダクタンス成分とで構成される直列共振回路からなるインピーダンス素子を各並列回路の入出力端子側と接地との間に接続したことを特徴とする高周波スイッチ回路。
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