JP4042217B2 - レーザパワー制御方法および光ディスク装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、レーザパワー制御方法および光ディスク装置に関する。詳しくは、信号記録時に、レーザ光のレーザパワーを消去レベルと書込レベルで切り替えて光ディスクに照射すると共にレーザパワーが消去レベル時と書込レベル時とでの光ディスクの反射率の変化を検出し、変化量が所定の値となるように消去レベルと書込レベルを制御することで、信号記録時のレーザパワーを最適な状態に制御するものである。
【0002】
【従来の技術】
書換可能型の光ディスクでは、照射されるレーザ光のレーザパワーによって記録層の反射率が変化する光ディスク、例えば相変化型光ディスクが知られている。この相変化型光ディスク(以下「光ディスク」という)では、レーザ光を照射して記録層の温度を融点温度以上に加熱したのち急冷してアモルファス状態の部分(以下「記録マーク」という)を形成することにより信号の記録が行われる。信号を消去する場合には、照射されるレーザ光のレーザパワーを減少させて、記録マークの温度をガラス転移温度以上で融点温度以下としたのち冷却することで記録層がアモルファス状態から結晶状態に変化されて記録マークが消去される。また、このようにして信号が記録された光ディスクを再生する場合には、反射率の低い記録マークと反射率の高い他の部分との反射率の差を利用して信号の再生が行われる。
【0003】
この光ディスクでは、形成される記録マークのサイズを適正なものとするため、レーザ光のレーザパワーをパルス状に制御する、いわゆるパルストレイン記録方法が知られている。例えば図7Aに示すように、記録信号WSが「4T」(T:ビット間隔)で、時点t1から時点t6までの期間だけ信号レベルがハイレベル「H」とされたとき、レーザパワーは図7Bに示すように時点t1から時点t2までの所定期間Taだけ消去レベルLeとされる。その後、時点t2から時点t3までの所定期間Taだけ記録レベルLwとされて、記録層の温度が融点温度以上とされることにより記録マークの形成が開始される。ここで、レーザ光を照射して記録マークを形成する場合、記録マークは前側(光ディスクの回転方向側)にも成長することから、レーザパワーを時点t2で記録レベルLwとしたとき、記録マークは図7Cに示すように時点t1のタイミングに相当する位置から形成される。
【0004】
次に、レーザ光が照射された記録層の温度が高くなりすぎて記録マークが大きくならないように時点t3から時点t4までの所定期間Taだけレーザパワーが冷却レベルLcとされ、さらに記録層の温度が低くなりすぎて記録マークが小さくならないように時点t4から所定期間Taだけレーザパワーが再び記録レベルLwとされる。以下、同様にレーザパワーが記録レベルLwあるいは冷却レベルLcに切り換えられて適正サイズの記録マークが形成される。その後、時点t5から時点t6までの「1T」期間だけ冷却レベルLcとされたのち、時点t6でレーザパワーが消去レベルLeとされる。ここで、記録マークは前側だけでなく後側にも成長することから、時点t5でレーザパワーを記録レベルLwから冷却レベルLcに切り替えられて、時点t5から時点t6までの「1T」期間だけ冷却レベルLcに保持することにより、記録マークは時点t6のタイミングに相当する位置まで形成される。なお、レーザパワーが消去レベルLeに保持されているときには、光ディスクに形成されている記録マークの温度がガラス転移温度以上で融点温度以下とされるので、記録マークはアモルファス状態から結晶状態に変化されて消去される。このように、パルストレイン記録方法によって、記録信号WSに基づく「4T」期間に相当する記録マークを適正なサイズで形成することができる。
【0005】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るレーザパワー制御方法は、信号記録時に、レーザ光のレーザパワーを消去レベルと書込レベルで切り替えて光ディスクに照射すると共に、該光ディスクからの反射光に基づいてレーザパワーが消去レベルであるときの光ディスクの反射率と書込レベルであるときの光ディスクの反射率を検出し、レーザパワーを消去レベルと書込レベルで切り替えたときに生じた光ディスクの反射率の変化が所定の変化量となるようにレーザパワーの消去レベルと書込レベルを制御するものである。
【0006】
また、光ディスク装置は、レーザ光のレーザパワーが消去レベルである期間と書込レベルである期間を示す判別信号を生成する判別信号生成手段と、光ディスクからの反射光に基づいて、判別信号によって消去レベルの期間と示されたときの光ディスクの反射率と書込レベルの期間と示されたときの光ディスクの反射率を検出し、消去レベルの期間と書込レベルの期間とで切り替えが行われたときに生じた光ディスクの反射率の変化に基づき補正信号を生成する補正信号生成手段、補正信号手段で生成された補正信号に基づきレーザ光のレーザパワーを補正するレーザ出力制御手段とを有するものである。
【0007】
さらに、光ディスクに記録される信号が動画像等の映像信号であるときには記録動作を中断できないため、温度や湿度等の環境条件が変動して実際に照射されたレーザ光のレーザパワーとパワーレベル検出部によって検出されたレーザパワーにずれを生じた場合であっても、レーザパワーを適正なレベルに補正するキャリブレーション処理を行うことができない。
【0008】
そこで、この発明では、レーザ光のレーザパワーを常に最適な状態に制御することができるレーザパワー制御方法および光ディスク装置を提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るレーザパワー制御方法は、信号記録時に、レーザ光のレーザパワーを消去レベルと書込レベルで切り替えて光ディスクに照射すると共に、レーザパワーが消去レベル時と書込レベル時とでの光ディスクの反射率の変化を検出し、変化が所定の変化量となるようにレーザパワーの消去レベルと書込レベルを制御するものである。
【0010】
また、光ディスク装置は、レーザ光のレーザパワーが消去レベルである期間と書込レベルである期間を示す判別信号を生成する判別信号生成手段と、判別信号によって示された消去レベルである期間と判別信号によって示された書込レベルである期間とでの反射率の変化を検出して、検出結果に基づき補正信号を生成する補正信号生成手段と、補正信号手段で生成された補正信号に基づきレーザ光のレーザパワーを補正するレーザ出力制御手段とを有するものである。
【0011】
この発明においては、光ディスクに照射されるレーザ光のレーザパワーが検出されると共に、光ディスクからのレーザ光の反射光に基づいて読出信号が生成される。ここで、レーザ光のレーザパワーが消去レベルである期間と書込レベルである期間を示す判別信号に基づき、レーザパワーが消去レベルとされたときのパワーレベル信号や読出信号の信号レベルが平均化されると共に、レーザパワーが書込レベルとされたときのパワーレベル信号や読出信号の信号レベルが平均化される。このレーザパワーが消去レベルや書込レベルとされたときの、平均化されたパワーレベル信号や読出信号の信号レベルに基づき、消去レベル時と書込レベル時とでの光ディスクの反射率の変化が検出されて、変化量が所定の変化量となるようにレーザ光のレーザパワーが制御される。
【0012】
また、書込レベルでレーザ光を光ディスクに照射したときの光ディスクの反射率で、消去レベルのレーザ光を照射した場合の読出信号の平均レベルが、書込レベル時の読出信号から算出されて、この算出された読出信号の平均レベルと消去レベル時の読出信号の平均レベルから光ディスクの反射率の変化が検出されて、この変化量が所定の変化量となるようにレーザ光のレーザパワーが制御される。
【0013】
【発明の実施の形態】
続いて、この発明について図を参照して詳細に説明する。図1は光ディスク装置の構成を示す図である。図1において、記録データ信号Dinは、コントローラ20を介してエンコーダ部30に供給される。
【0014】
判別信号生成手段であるエンコーダ部30では、記録データ信号Dinを変調処理して記録信号が生成されると共に、この記録信号に基づいて発光パターン信号DPが生成される。この発光パターン信号DPによって、後述するレーザダイオード42から出力されるレーザ光のレーザパワーが消去レベルLe、記録レベルLw、冷却レベルLcに切り換えられて相変化型光ディスク(以下「光ディスク」という)10にパルス状に照射されて信号の記録が行われる。この発光パターン信号DPはレーザダイオード駆動部40に供給される。また、エンコーダ部30では、記録マークを形成する期間内であると共に後述する読出信号RFの信号レベルが過渡領域でないように設定された期間(以下「書込レベル検出期間」という)を示す判別信号MWと、形成されている記録マークを消去する期間内であると共に読出信号RFの信号レベルが過渡領域でないように設定された期間(以下「消去レベル検出期間」という)を示す判別信号MEが生成される。この判別信号MW,MEは後述するレーザ出力補正部70に供給される。
【0015】
レーザダイオード駆動部40では、エンコーダ部30から供給された発光パターン信号DPに基づいて駆動信号DRが生成されてレーザダイオード42に供給される。この駆動信号DRに基づいてレーザダイオード42が駆動されてレーザダイオード42から放射されるレーザ光のレーザパワーが、消去レベルLe、記録レベルLw、冷却レベルLcに切り替えられる。また、レーザダイオード駆動部40には、後述するレーザ出力制御部75から制御信号CTが供給されて、この制御信号CTによって消去レベルLeや記録レベルLwおよび冷却レベルLcのレベル値が制御される。
【0016】
レーザダイオード42から放射されたレーザ光は、例えばグレーティングレンズ44、ビームスプリッタ46、対物レンズ48等の光学部品を通して光ディスク10に照射される。また、ビームスプリッタ46によってレーザダイオード42から放射されたレーザ光の一部がパワーレベル検出部50に照射されて、レーザ光のレーザパワーが検出される。光ディスク10で反射されたレーザ光は、対物レンズ48やビームスプリッタ46を介して信号読出用光検出部60に照射される。
【0017】
パワーレベル検出手段であるパワーレベル検出部50では、照射されたレーザ光のレーザパワーが検出されて、パワーレベル信号GLが生成される。このパワーレベル信号GLは、アンプ部52を介してレーザ出力補正部70とレーザ出力制御部75に供給される。また、読出信号生成手段である信号読出用光検出部60では、光ディスク10で反射されたレーザ光に基づき読出信号RFが生成されて、アンプ部62を介してデコーダ部65とレーザ出力補正部70に供給される。
【0018】
デコーダ部65では、読出信号RFを復調処理して出力データ信号Doutが生成される。この出力データ信号Doutは、コントローラ20を介して出力される。補正信号生成手段を構成するレーザ出力補正部70では、読出信号RFとパワーレベル信号GLおよび判別信号MW,MEに基づいて、コントローラ20からレーザ出力制御部75に供給される基準値信号SRを補正するための補正信号CRが生成される。この補正信号CRはレーザ出力制御部75に供給される。なお、補正信号生成手段は、レーザ出力補正部70とパワーレベル検出部50と信号読出用光検出部60で構成される。
【0019】
図2はレーザ出力補正部70の構成を示す図である。信号読出用光出部60からアンプ部62を介して供給された読出信号RFは、スイッチ701の一方の端子701aとスイッチ711の一方の端子711aに供給される。
【0020】
スイッチ701の他方の端子701bは積分回路702に接続されており、このスイッチ701は、エンコーダ部30から供給された判別信号MEに基づき、消去レベル検出期間中だけオン状態とされて読出信号RFが積分回路702に供給される。積分回路702にはA/D変換器703が接続されており、読出信号RFは積分回路702で平均化されたのち、A/D変換器703によってディジタル信号に変換されて消去レベル平均値信号Peとして除算回路741に供給される。なお、信号の平均化は抵抗器とコンデンサを用いた積分回路に限られるものではなく、平均値算出回路等を設けるものとしても良く、以下に示す積分回路も同様である。
【0021】
スイッチ711の他方の端子711bは積分回路712に接続されており、スイッチ711は、エンコーダ部30から供給された判別信号MWに基づき、書込レベル検出期間中だけオン状態とされて読出信号RFが積分回路712に供給される。積分回路712にはA/D変換器713が接続されており、読出信号RFは積分回路712で平均化されたのち、A/D変換器713によってディジタル信号に変換されて書込レベル平均値信号Pwcとして除算回路742に供給される。
【0022】
次に、パワーレベル検出部50からアンプ部52を介して供給されたパワーレベル信号GLは、スイッチ721の一方の端子721aとスイッチ731の一方の端子731aに供給される。
【0023】
スイッチ721の他方の端子721bは積分回路722に接続される。このスイッチ721は、エンコーダ部30から供給された判別信号MEに基づき、消去レベル検出期間中だけオン状態とされてパワーレベル信号GLが積分回路722に供給される。積分回路722にはA/D変換器723が接続されており、パワーレベル信号GLは積分回路722で平均化されたのち、A/D変換器723によってディジタル信号に変換されて消去レベルモニタ平均値信号PMeとして除算回路741に供給される。
【0024】
スイッチ731の他方の端子731bは積分回路732に接続されており、スイッチ731は、エンコーダ部30から供給された判別信号MWに基づき、書込レベル検出期間中だけオン状態とされてパワーレベル信号GLが積分回路732に供給される。積分回路732にはA/D変換器733が接続されており、パワーレベル信号GLは積分回路732で平均化されたのち、A/D変換器733によってディジタル信号に変換されて書込レベルモニタ平均値信号PMwcとして除算回路742に供給される。
【0025】
ここで、消去レベル平均値信号Peは、消去レベル検出期間中の光ディスク10の反射率と消去レベルモニタ平均値信号PMeを乗算した信号に相当するものである。また、書込レベル平均値信号Pwcは、書込レベル検出期間中の光ディスク10の反射率と書込レベルモニタ平均値信号PMwcを乗算した信号に相当するものである。
【0026】
除算回路741では、A/D変換器703からの消去レベル平均値信号PeをA/D変換器723からの消去レベルモニタ平均値信号PMeで除算することにより、消去レベル検出期間中の光ディスク10の反射率Keが算出される。また、除算回路742では、A/D変換器713からの書込レベル平均値信号PwcをA/D変換器733からの書込レベルモニタ平均値信号PMwcで除算することにより、書込レベル検出期間中の光ディスク10の反射率Kwcが算出される。
【0027】
除算回路741で得られた反射率Keと除算回路742で得られた反射率Kwcは、演算回路743に供給される。演算回路743では、反射率Keから反射率Kwcが減算されて、あるいは反射率Keを反射率Kwcで除算することにより、反射率の変化が検出される。この反射率の変化は変調度Mdとしてコンパレータ745に供給される。
【0028】
コンパレータ745では、演算回路743で得られた変調度Mdと理想変調度出力回路750からの最適な変調度Mrが比較されて、比較に基づき補正信号CRが生成されてレーザ出力制御部75に供給される。
【0029】
ここで、最適な変調度Mrは、例えば光ディスク10のテストエリアに所定の信号を書き込んだときに得られる変調度Mdを一時記憶するものとし、テストエリアに書き込まれた信号を再生したときの読出信号RFのジッタやアシンメトリを確認し、良好であるときには、一時記憶された変調度Mdが最適な変調度Mrとして設定される。また、良好でないときには、コントローラ20から後述するレーザ出力制御部75に供給される基準値信号SRのレベルを変更して再度信号の書き込みを行って同様な処理を行うことにより、最適な変調度Mrが求められると共に、レーザダイオード42から照射されるレーザ光のレーザパワーを設定するためにコントローラ20からレーザ出力制御部75に供給される基準値信号SRも適正なレベルに調整される。
【0030】
レーザ出力制御手段であるレーザ出力制御部75では、コントローラ20から供給された基準値信号SRとパワーレベル検出部50からのパワーレベル信号GLに基づき制御信号CTが生成されてレーザダイオード駆動部40に供給される。レーザダイオード駆動部40では、エンコーダ部30からの発光パターン信号DPに基づいて生成される駆動信号DRの信号レベルがレーザ出力制御部75からの制御信号CTに基づいて制御されて、レーザダイオード42から照射されるレーザ光のレーザパワーが最適な状態に設定される。また、信号の記録中に変調度Mdが最適な変調度Mrと異なるときには、制御信号CTによって基準値信号SRの信号レベルが補正されて、変調度Mdが最適な変調度Mrと等しくなるように制御されるので、レーザ光のレーザパワーが最適な状態に保たれる。すなわち、レーザ光のレーザパワーが消去レベルLeが記録レベルLwの0.3〜0.4倍、例えばほぼ0.4倍であるときに最適な変調度Mrとなって良好に信号を記録できる場合、変調度Mdが最適な変調度Mrと異なるときには、補正信号CRによって、消去レベルLeと記録レベルLwが制御されて、消去レベルLeが記録レベルLwのほぼ0.4倍とされて、変調度Mdが最適な変調度Mrと等しくなるように制御される。
【0031】
次に、動作について説明する。図3Aはレーザ光のレーザパワーが適正な状態で信号の書き込みが行われているときの読出信号RFを示している。この図3Aにおいて、消去レベル平均値信号Peの信号レベルは、上述したように、エンコーダ部30からの図3Bに示す判別信号MEに基づき、消去レベル検出期間中の読出信号RFを積分回路702で平均してA/D変換器703から得られた消去レベル平均値信号Peの信号レベルを示している。また、書込レベル平均値信号Pwcの信号レベルは、エンコーダ部30からの図3Cに示す判別信号MWに基づき、消去レベル検出期間中の読出信号RF(レーザパワーが記録レベルLwと冷却レベルLcで切り換えられているときの読出信号)を積分回路712で平均してA/D変換器713から得られた書込レベル平均値信号Pwcの信号レベルを示している。
【0032】
ここで、読出信号RFは、信号読出用光検出部60の周波数特性によって帯域制限されることから、パルス状にレーザ光が照射されても読出信号RFはパルス状の波形とならずサイン波状の波形とされる。
【0033】
また、記録マークを光ディスク10に書き込む場合には、レーザ光のレーザパワーが消去レベルLeから記録レベルLwとされて、その後レーザパワーが記録レベルLwと冷却レベルLcとで繰り返されるので、記録マークの書き込み開始時には、記録マークの書き込み中よりも読出信号RFの信号レベルが高いものとされる。また、記録マークの書き込み終了時には、冷却レベルWcの期間が長いものとされているので、記録マークの書き込み中よりも読出信号RFの信号レベルが低く、冷却レベルLcを示すものとされたのち、消去レベルLeを示すものとされる。
【0034】
このため、上述したように、エンコーダ部30では、発光パターン信号DPが生成されると共に、発光パターン信号DPに基づき、記録マークの書き込み中よりも読出信号RFの信号レベルが高くなる過渡領域と低くなる過渡領域を除いた書込レベル検出期間を示す判別信号MWと、読出信号RFの信号レベルが高くなる過渡領域と低くなる過渡領域を除いた消去レベル検出期間を示す判別信号MEが生成されて、レーザ出力補正部70に供給される。
【0035】
さらに、読出信号RFは、光ディスク10からの反射光に基づく信号であるから、例えば書込レベル検出期間中の読出信号RFの信号レベルは、照射されたレーザ光のレーザパワーと記録マークの書き込み中の光ディスク10の反射率を乗算して得られたレーザパワーに基づいたものであり、消去レベル検出期間中の読出信号RFの信号レベルは、照射されたレーザ光のレーザパワーと消去期間中の光ディスク10の反射率を乗算して得られたレーザパワーに基づいたものである。
【0036】
ここで、レーザ光のレーザパワーが小さい場合には、レーザ光が照射されて融点よりも温度が高くなる領域が小さくなる。すなわち、記録マークは小さいものとされる。この記録マークが形成された領域は、他の領域よりも反射率が低いことから、反射率の低い領域が少ないものとされので、図3Dに示すように書込レベル検出期間中の信号レベルは高いものとされる。
【0037】
このような場合、図2に示す除算回路742で算出された反射率Kwcの値は大きくなり、演算回路743で反射率Keから反射率Kwcを減算し、あるいは反射率Keを反射率Kwcで除算して得た変調度Mdの値は小さくなる。コンパレータ745では、変調度Mdと最適な変調度Mrとの比較結果を示す補正信号CRが生成されて、図1に示すレーザ出力制御部75に供給される。レーザ出力制御部75では、補正信号CRによって基準信号SRの信号レベルが補正されて、レーザ光のレーザパワーを大きくするように制御信号CTが生成されてレーザダイオード駆動部40に供給される。このため、レーザダイオード駆動部40では制御信号CTに基づき駆動信号DRの信号レベルが制御されて、レーザ光のレーザパワーが小さい状態から適正な状態とされる。
【0038】
レーザ光のレーザパワーが大きい場合には、レーザ光が照射されて融点よりも温度が高くなる領域が大きくなる。すなわち、記録マークは大きいものとされて、反射率の低い領域が大きくなることから、図3Fに示すように書込レベル検出期間中の信号レベルは低いものとされる。
【0039】
このような場合、図2に示す除算回路742で算出された反射率Kwcの値は小さくなり、演算回路743で算出された変調度Mdの値は大きくなる。コンパレータ745では、変調度Mdと最適な変調度Mrとの比較結果を示す補正信号CRが生成されて、レーザ出力制御部75では、補正信号CRによって基準信号SRの信号レベルが補正されて、レーザ光のレーザパワーを小さくするように制御信号CTが生成される。このため、レーザダイオード駆動部40では制御信号CTに基づき駆動信号DRの信号レベルが制御されて、レーザ光のレーザパワーが大きい状態から適正な状態とされる。
【0040】
なお、図3は、信号の記録されていない光ディスク10に信号を記録したときの読出信号RFを示しているが、図4に示すように、信号が記録されている光ディスクに、新たな信号を上書きした場合にも、図3の場合と同様に、レーザパワーが小さい場合には、図4Bに示すように書込レベル検出期間中の信号レベルが消去レベル検出期間中の信号レベルに対して、図4Aに示すレーザパワーが適正な場合よりも高いものとされるので、上述したように処理されてレーザパワーが小さい状態から適正な状態とされる。また、レーザパワーが大きい場合には、図4Cに示すように書込レベル検出期間中の信号レベルが消去レベル検出期間中の信号レベルに対して、適正な場合よりも低いものとされるので、上述したように処理されてレーザパワーが大きい状態から適正な状態とされる。
【0041】
このように、信号の書き込み動作中に、レーザパワーが適正な状態であるか判別されると共に、レーザパワーが小さい場合や大きい場合には適正な状態に自動的に制御される。
【0042】
ところで、上述のレーザ出力補正部70では、読出信号RFとパワーレベル信号GLおよび判別信号MW,MEに基づいて補正信号CRを生成するものとしたが、パワーレベル信号GLを用いることなく補正信号CRを生成することもできる。
【0043】
このパワーレベル信号GLを用いることなく補正信号CRを生成するレーザ出力補正部では、書込レベル平均値信号Pwcとレーザ光のレーザパワーが冷却レベルLcとされたときの読出信号RFの信号レベルから書込レベル検出期間中の消去レベル平均値信号Petを換算し、このときの消去レベル平均値信号Petを用いて消去レベル平均値信号Peを除算することにより、消去レベル検出期間中の反射率Keを書込レベル検出期間中の反射率Kwcで除算して得られた演算結果と同様な演算結果を得ることができる。この演算結果を、レーザ出力補正部70と同様に最適な変調度Mrと比較することにより、補正信号CRを生成することができる。
【0044】
図5は、パワーレベル信号GLを用いることなく補正信号CRを生成するレーザ出力補正部90の構成を示す図である。なお図5において、図2と対応する部分については同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。また、図5では、レーザ出力補正部90と信号読出用光検出部60で補正信号生成手段が構成される。
【0045】
A/D変換器703からの消去レベル平均値信号Peは演算回路906に供給されると共に、A/D変換器713からの書込レベル平均値信号Pwcは演算回路905に供給される。
【0046】
また、信号読出用光検出部60からアンプ部62を介して供給された読出信号RFは、ボトムエンベロープ検出回路901に供給される。ボトムエンベロープ検出回路901では読出信号RFのボトムエンベロープを示す信号、すなわちレーザ光のレーザパワーが冷却レベルLcとされたときの信号レベルを示す冷却レベル信号Scが生成されてバッファアンプ902を介して積分回路903に供給される。この信号Scは積分回路903で平均化されたのち、A/D変換器904によってディジタル信号に変換されて冷却レベル平均値信号Pcとして演算回路905に供給される。
【0047】
演算回路905では、式(1)に示す演算処理が行われて、書込レベル検出期間中の消去レベル平均値信号Petが算出される。
((Pwc−Pc)/Vduty+Pc)×Vpr ・・・(1)
なお、式(1)において「Vduty」は、書込レベル検出期間中にレーザ光のレーザパワーが記録レベルLwとされる期間の割合を示している。すなわちレーザパワーが記録レベルLwとされた期間を「Tw」とすると共に冷却レベルLcとされた期間を「Tc」としたとき、「Vduty=Tw/(Tw+Tc)」として算出される値である。また「Vpr」は良好な特性が得られるように予め設定された書込時のレーザパワーに対する消去時のレーザパワーの比(パワーレシオ)を示しており、例えば光ディスク10では、パワーレシオは「0.3〜0.4」程度に設定される。このようにして得られた消去レベル平均値信号Petは演算回路906に供給される。
【0048】
ここで、消去レベル平均値信号Peは、消去レベルモニタ平均値信号PMeと消去レベル検出期間中の反射率Keを乗算した信号に相当するものであり、消去レベル平均値信号Petは、消去レベルモニタ平均値信号PMeと書込レベル検出期間中の反射率Kwcを乗算した信号に相当するものである。このため、演算回路906では、消去レベル平均値信号Peを消去レベル平均値信号Petで除算することにより、図2に示すレーザ出力補正部70で反射率値Keを反射率Kwcで除算して得られた演算結果と同等な演算結果を得ることができる。この演算結果を変調度Mdとしてコンパレータ745に供給し、理想変調度出力回路750からの最適な変調度Mrと比較することにより、レーザ出力補正部70と同様にして、コンパレータ745から補正信号CRを出力させることができる。
【0049】
次に動作について説明する。図6は読出信号RFを示している。なお図6において、消去レベル平均値信号Peの信号レベルと書込レベル平均値信号Pwcの信号レベルは、図3の場合と同様である。また、冷却レベル平均値信号Pcの信号レベルは、レーザパワーが冷却レベルLcとされたときの読出信号RFを平均した信号レベルを示している。
【0050】
図5に示す演算回路905では、式(2)によって、書込レベル平均値信号Pwcと冷却レベル平均値信号Pcから、レーザパワーを記録レベルLwとしたときの読出信号RFの信号レベルQpが算出される。
Qp=((Pwc−Pc)/Vduty+Pc) ・・・(2)
この信号レベルQpにパワーレシオ「Vpr」を乗算することで、信号レベルQpを書込レベル検出期間での消去レベル平均値信号Petの信号レベルに換算することができる。この消去レベル平均値信号Petは、記録マークの書き込み時の反射光、すなわち反射率の低い領域からの反射光に基づく信号であり、消去レベル平均値信号Peは、消去時の反射光、すなわち反射率の高い領域からの反射光に基づく信号である。このため、演算回路906で消去レベル平均値信号Peを消去レベル平均値信号Petで乗算することにより、図2の演算回路743で反射率Keを反射率Kwcで除算して得られた変調度と同等な変調度Mdを求めることができる。この変調度Mdが最適な変調度Mrと等しくなるようにレーザ光のレーザパワーを上述したように制御することで、パワーレベル信号GLを用いることなくレーザパワーを適正な状態に制御することができる。
【0051】
このように、上述の実施の形態によれば、レーザパワーが最適となるように自動的に制御されるので、高密度記録によってパワーマージンが狭いものとされた光ディスク装置にも適用することができる。また、光ディスク上のごみや傷、あるいは光ディスクのばらつき等で、最適なレーザパワーが変化した場合にも信号の記録動作中断することなく、良好に信号を記録することができる。さらに、温度や湿度、経時変化等の要因によって、実際に照射されたレーザ光のレーザパワーとパワーレベル検出部によって検出されたレーザパワーにずれを生じた場合や、レーザ光を光ディスクに照射して信号の記録再生を行うために用いられる光学部品が、温度や湿度あるいは経時変化等による特性変動を生じた場合であっても、レーザ光のレーザパワーを最適な状態に保つことができるので、特性変動を防止した高価な光学部品等を用いることなく安価に光ディスク装置を構成できる。また、信号の書き込み動作中、レーザパワーが適正な状態に保たれるので、動画像等の映像信号を記録する場合であっても良好に映像信号を記録することができる。
【0052】
【発明の効果】
この発明によれば、信号記録時に、消去レベル時と書込レベル時の光ディスクの反射率に基づく変調度が算出されて、変調度が所定の値となるように消去レベルと書込レベルが制御される。このため、レーザパワーのパワーマージンが狭い場合やレーザパワーのレベルあるいは光学部品等の特性が変化してもレーザパワーが常に最適な状態に制御されるので、信号を連続して良好に記録することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る光ディスク装置の構成を示す図である。
【図2】レーザ出力補正部の構成を示す図である。
【図3】レーザパワー制御方法を説明するための図である。
【図4】信号を上書きした場合の動作を説明するための図である。
【図5】他のレーザ出力補正部の構成を示す図である。
【図6】他のレーザ出力補正部を用いた場合の動作を説明するための図である。
【図7】記録マークの書き込み動作を示す図である。
【符号の説明】
10・・・光ディスク、20・・・コントローラ、30・・・エンコーダ部、40・・・レーザダイオード駆動部、42・・・レーザダイオード、50・・・パワーレベル検出部、52,62・・・アンプ部、60・・・信号読出用光検出部、70,90・・・レーザ出力補正部、75・・・レーザ出力制御部、702,712,722,732,903・・・積分回路、741,742・・・除算回路、743,905,906・・・演算回路、745・・・コンパレータ、750・・・理想変調度出力回路、901・・・ボトムエンベロープ検出回路
Claims (6)
- 信号記録時に、レーザ光のレーザパワーを消去レベルと書込レベルで切り替えて光ディスクに照射すると共に、該光ディスクからの反射光に基づいて前記レーザパワーが前記消去レベルであるときの前記光ディスクの反射率と前記書込レベルであるときの前記光ディスクの反射率を検出し、
前記レーザパワーを前記消去レベルと書込レベルで切り替えたときに生じた前記光ディスクの反射率の変化が所定の変化量となるように前記レーザパワーの消去レベルと書込レベルを制御する
ことを特徴とするレーザパワー制御方法。 - 前記消去レベルでレーザ光を前記光ディスクに照射し、前記光ディスクからの反射光に基づいて生成された読出信号を平均化して第1の信号レベルを求め、
前記書込レベルでレーザ光を前記光ディスクに照射し、前記光ディスクからの反射光に基づいて生成された読出信号を平均化して第2の信号レベルを求め、
前記消去レベルのレーザ光に基づいて生成されたパワーレベル信号を平均化して第3の信号レベルを求め、
前記書込レベルのレーザ光に基づいて生成されたパワーレベル信号を平均化して第4の信号レベルを求め、
前記第1の信号レベルと前記第3の信号レベルから、前記消去レベル時の前記光ディスクの反射率を求めると共に、前記第2の信号レベルと前記第4の信号レベルから前記書込レベル時の前記光ディスクの反射率を求める
ことを特徴とする請求項1記載のレーザパワー制御方法。 - 前記消去レベルでレーザ光を前記光ディスクに照射し、前記光ディスクからの反射光に基づいて生成された読出信号を平均化して第1の信号レベルを求め、
前記書込レベルでレーザ光を前記光ディスクに照射し、前記光ディスクからの反射光に基づいて生成された読出信号を平均化して第2の信号レベルを求め、
前記書込レベルでレーザ光を前記光ディスクに照射したときの光ディスクの反射率で、前記消去レベルのレーザ光が反射されたときの反射光に基づく読出信号を平均化した第5の信号レベルを、前記第2の信号レベルから算出し、
前記第1の信号レベルと算出された前記第5の信号レベルから消去レベル時と書込レベル時とでの前記光ディスクの反射率の変化を検出する
ことを特徴とする請求項1記載のレーザパワー制御方法。 - レーザ光を光ディスクに照射して信号の記録を行う光ディスク装置において、
レーザ光のレーザパワーが消去レベルである期間と書込レベルである期間を示す判別信号を生成する判別信号生成手段と、
前記光ディスクからの反射光に基づいて、前記判別信号によって前記消去レベルの期間と示されたときの前記光ディスクの反射率と前記書込レベルの期間と示されたときの前記光ディスクの反射率を検出し、前記消去レベルの期間と前記書込レベルの期間とで切り替えが行われたときに生じた前記光ディスクの反射率の変化に基づき補正信号を生成する補正信号生成手段と、
前記補正信号手段で生成された補正信号に基づき前記レーザ光のレーザパワーを補正するレーザ出力制御手段とを有する
ことを特徴とする光ディスク装置。 - 前記補正信号生成手段は、前記光ディスクからの反射光に基づいて読出信号を生成する読出信号生成手段を有し、
前記補正信号生成手段では、前記読出信号生成手段で生成された読出信号を用いて、前記消去レベルである期間と前記書込レベルである期間とでの前記光ディスクの反射率との変化を検出する
ことを特徴とする請求項4記載の光ディスク装置。 - 前記補正信号生成手段は、前記光ディスクからの反射光に基づいて読出信号を生成する読出信号生成手段と、
前記光ディスクに照射されるレーザ光のパワーレベルを示すパワーレベル信号を生成するパワーレベル検出手段を有し、
前記補正信号生成手段では、前記パワーレベル検出手段で生成されたパワーレベル信号と、前記読出信号生成手段で生成された読出信号とを用いて、前記消去レベルである期間と前記書込レベルである期間とでの前記光ディスクの反射率の変化を検出する
ことを特徴とする請求項4記載の光ディスク装置。
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