JP4021159B2 - 測定機器 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般に、デジタル・オシロスコープの如き測定機器に関し、特に、オシロスコープなどのデジタル測定機器用の新規なアーキテクチャに関する。
【0002】
【従来の技術】
最新のデジタル・オシロスコープは、一般に、デジタル・ストレージ・オシロスコープ(DSO)又はデジタル・フォスファ・オシロスコープ(DPO)と呼ばれている。いずれの形式のオシロスコープにおいても、このアーキテクチャの主な特徴は、被試験アナログ信号を高速の一連のデジタル・サンプルに変換するA/D(アナログ・デジタル)変換器と、これらサンプルをメモリに転送するデマルチプレクサと、こららサンプルを蓄積する循環型取込みメモリ・アレイ(配列)とを用いることである。システム・マイクロプロセッサを用いて、取込みメモリから波形サンプルを読み出し、これらサンプルを表示用に処理している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
これらオシロスコープは、現在まで合理的に適切に動作してきたが、かかる構成には欠点があることが認められている。かかる欠点の1つは、上述の従来の取込みメモリの設計では、技術コストが比較的に高価あり、拡張が困難であるという傾向にある。例えば、デマルチプレクサ集積回路は、速いデータ入力レートを、現在のメモリ・チップの動作限界と両立性のある遅い書込みレートに低減できなければならない。さらに、可能な最長メモリ長は、デマルチプレクサ・チップのアドレス・ラインの数により制限された。
【0004】
第2の欠点は、従来のオシロスコープがデータ取込みを行う方法に存在する。すなわち、トリガが検出されるまで、循環形式(重ね書き形式)で、データをデータ取込みメモリに書き込んでいる。その後、ポスト・トリガ事象の検出に応答して、外部プロセッサが取込みメモリから波形データを読み出すまで、書込み処理を停止する。データを読み出した後、取込みメモリは、再び、データ受信状態にされ、次のトリガ事象に応答する。特に、この欠点は、表示のために、波形を読出し且つ処理するので、非常に大量のシステム・ソフトウェアがオーバーヘッドになる(即ち、処理時間が非常にかかる)という事実に基づく。波形サンプルを処理するのに必要な特定のアルゴリズムに応じて、被試験波形の異常が検出できないという非常に長期間の「デッド・タイム(不感時間)」が生じる。
【0005】
従来のデジタル・オシロスコープの第3の欠点は、メモリ長を容易に拡張できないことである。ある程度のメモリ拡張はできるが、各メモリ拡張は、取込みボード上でメモリ集積回路に利用できる空間量と、上述の如く、デマルチプレクサ集積回路のメモリ・アドレスの能力とで制限される。よって、取込みメモリの大幅な拡張は、著しい開発成果がなければ、不可能であった。
【0006】
したがって、本発明は、不感時間を短縮し、異常を検出できる確率を高め、メモリ長を容易に拡張できる新規なアーキテクチャを用いた測定機器及びオシロスコープを提供するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明、被測定アナログ信号をデジタル信号処理のために2進データに変換する形式の測定機器であって;アナログ信号を受け、増幅する前置増幅器モジュール(210)と;増幅されたアナログ信号を受け、2進データのストリームを発生するデジタイザ・モジュール(220)と;バス(201)に別々に結合可能な複数のモジュール(220、230、240、250、260、270、280)と;リボン・ケーブル(310)を具え;複数のモジュールには、各トリガ信号が異なるトリガ条件である1つ以上のトリガ信号を発生するトリガ用のモジュール(230、240)と、1つ以上のトリガ信号に応じて2進データのストリームを蓄積する取込みメモリ・モジュール(260)とを含み;リボン・ケーブルは、複数のモジュールの各々に2進データのストリームを順次伝送し、複数のモジュールの各々が2進データのストリームを処理し;バスは、制御パラメータを複数のモジュールに伝送し;取込みメモリ・モジュールをアクセスして、2進データ・ストリームの蓄積された一部を表示用に読出すことを特徴とする。
【0008】
本発明による「ストリーミング分配オシロスコープ」(SDO)のアーキテクチャは、前置増幅器モジュール、デジタイザ・モジュール、取込みメモリ・モジュールを有する少なくとも1チャネルを具えている。SDOは、モニタすべき波形の総ての取込みサンプルをその処理ボードの総てに供給する。多数のプロセッサ・ボードは、サンプル・データの総てをアクセスできるので、SDOは、不感時間がない状態で、連続したデータ・ストリームのほぼ総てのサンプルを測定できる。SDOは、更にメモリ・ボード(メモリ・モジュール)を単に追加することにより、メモリ長を容易に拡張できると共に、オブジェクト指向アーキテクチャによって、ユーザが再構成できる。SDO波形は、トリガ・ソース(トリガの源)及び取込みメモリにより定義される。SDOは、同じチャネルにおける同じデータ・ストリームからの異なるトリガに基づいて、多数の波形を取り込むことができる。所定チャネルのSDOタイムベースは、取込みメモリの前段のデシメータ(間引き回路)により定義される。多数のタイムベースが同じSDOチャネルに共存する。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明をオシロスコープの環境で説明するが、本発明は、その他の測定機器にも適用できることが当業者には理解できよう。
【0010】
図2は、従来から既知である典型的なデジタル・ストレージ・オシロスコープ100のアーキテクチャを示す。このオシロスコープ100は、前置増幅器110と、A/D変換器120と、デマルチプレクサ130と、取込みメモリ140と、制御器(マイクロプロセッサ、即ち、μP)150と、表示メモリ160と、表示器ユニット170とをこの順序に配置された直列配置を具えている。この種の配置は、典型的には、1個又は2個のプリント基板上で構成されており、ユーザが再構成できるものではない。
【0011】
図2に示したオシロスコープは、かかるオシロスコープの設計を実施する際に用いるカスタム・ハードウェア集積回路の細部と融合した実時間ソフトウェアを必要とすることが当業者には理解できよう。ハードウェア設計がたとえわずかであっても変更になる度に、ソフトウェア技術者は、そのソフトウェアを修正しなければならないので、これは、非常に複雑な問題である。この状況は、システム実時間ソフトウェアが、可能な異なるハードウェア構成の総てをサポートしなければならいという事実と類似している。明らかに、ハードウェア構成の数が増加するに従って、既存の製品及び以前のバージョンの製品の動作に偶然に悪影響を与えることなく、新たなバージョンの製品を作ることは、ますます困難になってきている。すなわち、新たな構成を無事に作るためには、総ての以前の構成の履歴の知識が設計技術者に必要となる。以下に説明する本発明によるSDOアーキテクチャは、これらの問題を解決する。
【0012】
図1は、本発明によるストリーミング分配オシロスコープ(SDO)200の主要部の簡略化したブロック図である。SDOアーキテクチャにおいて、オブジェクト指向アプローチを用いて、所定モジュール及びそれらのハードウェア細部の動作を分離し、各モジュールに分ける。任意の所定モジュールは、標準で、一般的で、一定の出力信号を供給するのに必要な総てのロジックを含んでおり、かかるモジュールのハードウェアを後から機能向上させることに問題はない。
【0013】
データ・ストリームにおける各種のモジュールが標準の1組のアトリビュートを具えるように、SDOアーキテクチャが設計されている。このアプローチにより、インタフェースのPC(プログラマブル・コントロール)側ソフトウェアのいかなる変更もすることなく、新たな前置増幅器を設計し、システムに組み込む(プラグインする)ことができる。メモリ・ボード自体を除いて、いかなる変更もなく、新たなメモリ・ボードを設計し、設置することができる。
【0014】
本発明のストリーミング分配オシロスコープのアーキテクチャを用いることにより、ハードウェア要素及びソフトウェア要素の両方を具えた新たなカスタム・アプリケーションを3〜6ヶ月で開発することが可能である点に留意されたい。更に顕著な本発明の特徴として、標準に利用可能なストリーミング・スコープ・モジュールのオプションや、それらのライブラリ、新たなアプリケーション構成を、数週間ではなく、わずかな時間で開発できることである。
【0015】
この点に関して、SDOアーキテクチャのモジュール方式により、任意の数のチャネルが可能である点に留意されたい。また、モジュール方式により、前置増幅器を選択的且つ相互交換可能にできる(例えば、帯域を標準で1GHzとし、差動、無線、光、オーディオ/サーボに対しては10MHzとする)。デジタイザ(デジタル化回路)モジュールは、8ビットで2GS/s(サンプル/秒)のモジュール、12ビットで100MHzのモジュール、及び16ビットで20MHzのモジュールから選択できる。また、256Mバイト、128Mバイト及び64Mバイトのメモリ・モジュールも、同じく容易に交換可能である。デジタル・アナログ(D/A)モジュールは、標準の8ビット・モジュール、12ビット・モジュール、及び16ビット・モジュールから選択可能である。実時間スペクトラム・アナライザ用のスペクトラム・アナライザ・モジュールの選択には、FFT(高速フーリエ変換)に基づくプロセッサ、又は掃引デジタル・フィルタがある。ストリーム・プロセッサ・モジュールのオプションに最も適当なのは、測定のためにデータ・ストリームを処理するフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)を基本にしたものや、測定に基づくトリガ用のものや、データ・ストリームでの事象検索用のものである。信号ソース(信号源)モジュールには、8ビットD/A、12ビットD/A、16ビットD/A、光、高電圧パルスなどのオプションがある。最後に、FPGAプロセッサにより、非常な困難を伴うことなく、種々の種類のデジタル・フィルタを実施できる点に留意されたい。従来は、上述の如き選択には、大幅なソフトウェアの変更が必要であったが、本発明によるSDOによれば、これらのいかなる選択もユーザ側でユーザ自身がSDOを再構成できることが判る。すなわち、SDOのユーザは、新たなオシロスコープ・アプリケーションを作るのに、わずかな時間で、そのシステム・ハードウェア及びそのソフトウェア・ライブラリを構成できる。
【0016】
SDOは、1チャネルのときに2GS/sのサンプリング・レートで、また、2チャネルのときに1GS/sのサンプリング・レートで動作することができる。また、SDOアーキテクチャは、データ・ストリームの多数のポイントから標準波形の捕捉(取込み)を行う。SDOアーキテクチャにより、1つのデータ・ストリームに対して同時の多数トリガ及び多数取込みメモリが可能である。これにより、1つのデータ・ストリームに対して、エッジ・トリガによる測定と、ある値でのトリガによる測定との両方を選択できる。
【0017】
SDOアーキテクチャの他の特別な利点は、SDOがサンプルを取り逃すことなく連続的にデータ・ストリームを処理できることである。すなわち、総てのサンプルに対して測定が行え、不感時間がゼロになる。処理パイプラインは、1個のA/Dボードと、望ましい数だけの他の形式のボードとで構成できる。これら付加的なボードは、パイプライン内で任意所望の処理順序に構成できる。
【0018】
上述の如く、SDOは、設定変更可能なバス・アーキテクチャを用いている。すなわち、SDOは、本質において、バス上の一連のモジュールである。図1は、ストリーミング分配オシロスコープ(SDO)200を示している。高感度前置増幅器、標準前置増幅器又は光前置増幅器でもよい前置増幅器214を含んだ前置増幅器モジュール210は、直列インタフェース・バス201の最初のモジュールである。この直列インタフェース・バス201は、好ましくは、ファイバ・チャネル光直列インタフェース・バスである。前置増幅器モジュール210は、チャネル入力接続CH1及びCH2を含んでいるが、これは、少なくとも1チャネルはある。前置増幅器モジュール210からのアナログ出力信号は、デジタイザ(デジタル化回路)モジュール220に供給され、これらアナログ出力信号をサンプリングし、一連のデジタル信号サンプルに変換する。デジタイザ・モジュール220は、8ビットのA/D変換器(デジタイザ)224を用いて、連続した2GS/s(ギガ・サンプル/秒)のデータ・ストリームを発生するか、若しくは、12ビット又は16ビットのA/D変換器を用いて、2GS/sよりも遅いレート(速度)で連続したデータ・ストリームを発生する。デジタイザ・モジュール220は、クロック回路228及びラッチ226も具えている。このクロック回路228が、デジタイザ224、ラッチ226、232、236、242、246、252、256、262、266、272、276、282、286のラッチのタイミングを制御する。
【0019】
デジタイザ・モジュール220からのデータ・ストリームは、ラッチ回路であるFIFO(先入れ先出し)回路226を介して、リボン・ケーブル(簡略化のために単に矢印で示す)により次段のボード230に供給される。プロセッサ・モジュールであるフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)ボード230、240は、FPGAパイプライン234及び244を夫々有し、データ・ストリームを1つのボードから次段のボードにパイプ接続するように、デイジー・チェーンにできる。多数のFPGAボードを追加して、多数のA/D変換器をインターリーブとして、実時間サンプリング速度を速くすることができる。
【0020】
D/A変換器ボード250は、必要に応じて、デイジー・チェーン内の任意の処理ボードの間に挿入して、アナログ出力信号を発生できる。典型的なD/A変換器ボードは、ラッチ回路である入力FIFO252と、D/A変換器回路254と、ラッチ回路である出力FIFO256とを具えており、データ・ストリームを次段のボードに順次供給する。D/A変換器ボード250を用いて、外部のオシロスコープ又は他の測定機器(図示せず)をトリガできる。また、D/A変換器ボード250を用いて、外部制御信号や、連続した測定結果を外部でモニタするための信号を供給できる。メモリ・ボード(メモリ・モジュール)260、270は、データ・ストリームの任意の位置に配置することができる。これらメモリ・ボードを用いて、例えば、DPO(デジタル・フォスファ・オシロスコープ)データベースを作ることができるし、又は表示用にデータのフレームを捕捉できる。
【0021】
取込みメモリ・ボード260は、入力データ・ストリームを受け、パイプラインの次のボードにデータ・ストリームを出力するように構成されている。前段のFPGAボード(プロセッサ・モジュール)230、240からのトリガ・ライン信号を受けると、データのフレームが捕捉され、取込みメモリ264に蓄積される。このフレームは、PCバス201で利用可能であり、表示器(図示せず)に供給される。複数のメモリ・ボード(又はモジュール)は、多数のトリガ入力を有しているので、データ・ストリームの異なる部分における異なる種類のトリガに基づいて波形を捕捉できる。なお、図1では、取込みメモリ・モジュールがメモリ・モジュール260だけであるが、夫々プロセッサ・モジュールからトリガ信号を受ける複数の取込みメモリ・モジュールを設けてもよい。
【0022】
測定トリガの動作は、最も価値のあるものの1つであり、本発明のアーキテクチャの独特な概念に関連する。FPGAモジュールは、立ち上がり時間、振幅、周期などの事象の総ての発生において、一定の測定を実行する。トリガは、任意のこれら測定に基づいたFPGAボード(プロセッサ・モジュール)からの出力信号である。このトリガ信号を任意の取込みメモリ・モジュールに供給してもよく、これらメモリ・モジュールは、処理チェーン内に分布させてもよい。アナログ・トリガ回路が必要でないかもしれないが、望むならば、アナログ・トリガを本発明のアーキテクチャの一部として実施してもよい。好ましくは、トリガ・スイッチ・マトリクス・モジュールを用いて、システム制御プロセッサ(PC)により、どのトリガがどの取込みメモリ・モジュールに行くかを制御できる。かかるトリガ・スイッチ・マトリクス・モジュールは、図11を参照して後述する。
【0023】
信号発生器や、スペクトラム・アナライザや、他の処理モジュールの如き他の種類のボード(モジュール)を必要に応じてデータ・ストリームの任意の位置に挿入してもよい。図1では、モジュール270が、メモリの他に、スペクトル処理を行うスペクトル集積回路も具えている。
【0024】
ハードディスク駆動モジュール280をデータ・ストリーム内に(例えば、FIFO276の出力端に)設けて、総ての入力サンプル(例えば、データの20ギガ・サンプル)を受け、ハードディスク・メモリ284に蓄積できることが判る。サンプル・データ速度がハードディスクの書込み速度を超さなければ、これは事実である。実際の蓄積の大きさ(容量)は、選択したディスク・ドライブの大きさのみにより制限される。
【0025】
光ファイバ・チャネル201を用いると、付加的なスレーブ・システムを接続できるので、任意所望の数の処理チャネルを短時間に接続できる。JAVA(R)などのソフトウェアでプログラムして、接続された総てのスレーブ・システム・ボードを自動的に認識できることが当業者には理解できよう。
【0026】
図3は、各コネクタ330を介して、マザーボード320に接続された4個のモジュール300A、300B、300C及び300Dの側面図を示している。好ましくは、リボン・ケーブル310を用いて、これらモジュール300A、300B、300C及び300Dの間を、高速サンプリング速度の信号が伝送するように結合している。リボン・ケーブル310を用いることにより、マザーボード上のプリント回路基板信号路(トレース)による信号伝送よりも利点がある。リボン・ケーブル310により、より多くのデータ・ストリームを追加して、インターリーブ機能を拡張することが容易になる。マザーボード上のプリント回路基板信号路によりデータ・ストリームを伝送する場合は、かかる拡張は、非常に困難であった。これは、追加のコネクタ及びバス・トレースを設けなければならないためである。回路基板上の物理的空間は、常に貴重であり、バス・トレースを追加することは、他の通信バスや電源路との間で物理空間を奪い合うことになる。
【0027】
図4は、1個のSDOモジュールからのデータ・ストリームを次のモジュールに供給するために、2個のリボン・ケーブル410を有するSDOモジュール400Aの斜視図である。図3及び図4において、同じ参照符号の素子は、同じ機能を果たす。
【0028】
図5は、SDOを制御するフロント・パネル500を示す。このフロント・パネル500のほとんどの制御は、オシロスコープ分野において周知であり、詳細な説明を省略する。簡単に説明すれば、各項目の下にある矩形は、押しボタンを示し、二重円は、回転摘みを示す。CURSORSボタンはカーソルを制御し、DISPLAYボタンは表示を制御し、CONFIGボタンはオシロスコープ構成を制御し、AUTOSETは自動設定を制御する。GENERALは一般性であり、PREAMPは前置増幅器の制御であり、WAVEFORMは、波形定義の制御であり、TRIGGERはトリガ制御であり、TIMEBASEは時間軸制御であり、DURATIONはサンプリングにおける制御であり、GATEはゲートの制御であり、SPECTRALはスペクトルの制御である。SDOは、従来のDSO(デジタル・ストレージ・オシロスコープ)と異なり、SDOシステムにおいては、多数のタイムベースの設定を同時に使用できる点に留意することが重要である。すなわち、ユーザは、1つのデータ・ストリームに対していくつかの異なるタイムベース設定を行えると共に、別のデータ・ストリームに対して異なる設定を行える。したがって、SDOにおけるタイムベース制御の全体的な構成は、従来のDSOと本質的に異なり、柔軟性がある。
【0029】
一般的に、タイムベースには、制御すべき2つの基本的なパラメータがある。これらパラメータは、取込んだ波形の記録長とサンプリング・レート(速度)である。しかし、SDOのデータ・ストリームにおいては、記録長がなく、サンプリング速度のみが関連する。さらに、上述の如く、サンプリング速度は、データ・ストリームの異なるポイントで変化してもよい。また、データ・ストリーム内に挿入される取込みメモリ・モジュールは1個より多くてもよく、取込みメモリ・モジュールは、異なるサンプリング速度や記録長で動作できる。
【0030】
SDOのサンプリング速度は、データ・ストリーム内のプロセッサ・モジュールにより決まる。SDOの記録長は、データ・ストリーム内の取込みメモリ・モジュールの大きさで決まり、このシステム内の異なるメモリ・モジュールを異なる記録長に設定できる。
【0031】
フロント・パネル水平タイムベース制御がSDOチャネルに「所属」されると(即ち、論理的に割り当てられると)、デフォルト(省略時)設定に応じて、第1デシメータがサンプリング速度を設定し、そのストリーム内の第1取込みメモリが記録長(RECORD LENGTH)を制御する。しかし、通常使用期間中は、制御されるモジュールの最後の設定が蓄積されている。
【0032】
従来のDSOでは、このDSOのフロント・パネル上の水平スケール摘みを用いてサンプリング速度の調整を行って、取込みメモリに捕捉される信号の期間を制御していた。しかし、本発明によるSDOにおいては、サンプリング速度が利用可能な信号処理帯域幅にも影響するので、このサンプリング速度の良好な制御を維持する必要がある。データ・ストリームにおける1ポイントにおけるサンプリング速度を変化させると、その後のストリームの総てに影響する。データ・ストリームにおける1個又は複数のプロセッサ・ボードがサンプリング速度を制御する。ヒューマン・インタフェースにより、ユーザは、SDOにおける特定のデータ・ストリームと、サンプリング速度制御用のストリームにおける特定のプロセッサとを選択できる。データ・ストリームにおける各取込みメモリ・モジュール用の記録長を個別に調整してもよい。ヒューマン・インタフェースにより、ユーザは、SDOにおける特定のデータ・ストリームと、記録長調整用のストリームにおける特定の取込みメモリ・モジュールとを選択できる。異なる取込みメモリ・モジュールを異なる記録長に設定できる。記録長を調整することにより、利用可能な帯域幅を変更することなく、また、以後のストリームのいかなる信号特性に影響を与えることなく、取込みメモリにおける波形の期間(DURATION)を実際に変更できる。
【0033】
密度(DENSITY)の制御は、特定の取込みメモリ・モジュールに関連している。この動作により、次に利用可能な上流のデシメータのサンプリング速度も同時に調整でき、取込みメモリ・モジュールの記録長を制御できる。これにより、取り込んだ波形の時間間隔を同じに維持するが、その期間にわたるサンプルの数を変化させる。この機能は、記録長及びサンプリング速度の両方を同時に変更する必要がある。
【0034】
図6は、SDOヒューマン・インタフェースのメニューを示す。図6のウィンドウ表示は、特定のSDOシステムのハードウェア・モジュールの構成(SDOSYSTEM CONFIGURATION MODULES)を示す。この表示は、マスタ・ユニット及び取り付け可能な総てのスレーブ・ユニットに存在する総てのチャネルを示している。任意のモジュール・ボックスをクリックすると(マウス又はタッチ・スクリーンを用いる)、モジュール構成ウィンドウ(図示せず)が生じ、ユーザは、そのモジュールの制御及びパラメータを設定できる。同様なモジュールの列に沿ってボックスをドラッグする(引きずる)と、これらモジュールが強調されて、互いにロックされる。マウスの右ボタンをクリックすると、総ての選択したモジュールの調整に対してモジュール構成ウィンドウが現れる。
【0035】
次に図6及び図7の両方を参照する。なお、図7は、本発明によるSDOマスタ・ユニット及びSDOスレーブ・ユニットの正面図である。各チャネルの識別(ID)番号は、ユニット番号−チャネル番号である。例えば、ID番号1−3は、マスタ・ユニット700の第3チャネルを表す。番号「1」は、常にマスタ・ユニット700を示す。ID番号3−1は、ID番号が3のスレーブ・ユニットの第1チャネルを示す。ユニット及びチャネル番号の上をクリックして、チャネル構成メニュー・ウィンドウを呼び出す。チャネル構成メニューの目的により、ユーザは、プロセッサのライブラリ機能と、DSP機能及びトリガ機能などを含むチャネル内の種々のモジュールのパラメータとを構成(設定)できる。チャネルはサブチャネルを含んでいるが、図6のスクリーン表示にはサブチャネルが示されていない点に留意されたい。サブチャネルは、チャネル・ビュー・メニュー(図示せず)及び図9のチャネル構成概略ウィンドウ(SDO CHANNEL CONFIGURATION SCHEMATIC)内に表示される。この概略図は、個別のサブチャネル又はインターリーブされたチャネルと、トリガ接続とを示している。
【0036】
図7では、SDOシステムが1個のマスタ・ユニット700と、任意の数のスレーブ・ユニット720、730、740とを用いて構成できることを示している。SDOマスタ・ユニット及びスレーブ・ユニットは、光ファイバ・チャネル・インタフェース・ユニット710を介して相互接続されている。
【0037】
SDOマスタ・ユニット700は、好ましくは、ウィンドウ2000又はその他のオペレーティング・システムの最新バージョンで動作するメニュー・システム・プロセッサ(図示せず)を含んでいる。また、マスタ・ユニット700は、表示器702も含んでいるし、ビデオ信号を外部モニタにも供給できる。マスタ・ユニット700は、オプションとしてのマウス又はキーボード(共に図示せず)によっても制御できる。SDOマスタ・ユニット700は、従来のオシロスコープのフロント・パネルと類似のフロント・パネル706も含んでいる。しかし、フロント・パネル706は、従来のオシロスコープのフロント・パネルと異なり、図5を参照して上述した如く、波形定義を行う特殊制御器や、スペクトル分析を実行する制御器を含んでいる点に留意されたい。
【0038】
再び図7を参照する。SDOスレーブ・ユニット720、730及び740は、電源と、信号サンプル処理チャネルと、初期化、通信及びローカル化制御機能を制御する最小のプロセッサとのみを含んでいる。マスタ・ユニット700は、接続された総てのスレーブ・ユニットを認識できると共に、その制御メニューを構成できる。マスタ・ユニット700は、スレーブ・ユニットに物理的に配置されたチャネルを含むSDOシステム内の任意のチャネルを制御するために論理的に所属する制御摘みを具えている。スレーブ・ユニット720、730、740は、小さな液晶表示器(LCD)722、732、742を含んでおり、これら液晶表示器は、特定のスレーブ・ユニットがシステムに接続された際に、マスタ・ユニット700が割り当てる構成ID番号を表示できる。SDOシステムは、インターネットを介しても制御可能にできる。すなわち、SDO測定機器は、いくつかの基本ファイルと、スクリーン・ダンプ(スクリーン表示のコピー用)ユーティリティを有し、SDO測定機器をインターネットに接続して、測定結果を出力できると共に、スレーブ・ユニットを遠隔制御できる。この特徴により、電気通信設備は、インターネットを介して、ある中央位置から、SDOシステムの多くの部分を遠隔からモニタできる。
【0039】
図8は、SDOシステム用に定義した波形を示すスクリーン表示である。SDOシステム内の各波形は、特定の取込みメモリ・モジュールに供給された特定のアクティブ・トリガにより定義される。用語「アクティブ」は、トリガ・ソースをトリガ入力端に接続して、図8のウィンドウ表示に示すように波形を定義することを意味する。「波形定義、トリガ受信器(SDO DEFINE WAVEFORMS・・TRIGGER RECEIVERS)」メニューにより、ユーザは、プロセッサのトリガ・ソースを取込みメモリ・モジュール入力トリガ端子に割り当てて、波形を定義できる。このメニューにより、ユーザは、トリガの受信器(トリガを受けるモジュール)を定義し、波形ID及び名称ラベルを特定の波形に割り当てることができる。「トリガ・ソースの定義(DEFINE TRIGGER SOURCES)」メニュー(図示せず)により、ユーザは、トリガ・ソースを定義できると共に、どの種類の事象により各トリガが生じるかを定義できる。トリガ・ソースは、外部であるか、プロセッサ・モジュールからか、又は他のメモリ・モジュールからである。
【0040】
図8のメニュー・ウィンドウ内で定義した「波形」は、図9に示すチャネル・ハードウェア構成を実際に定義する。図9に示す各ブロックは、SDOチャネル内のモジュールを示す。図9の例において、サーボ(SERVO)制御信号は、振幅変調されて、システムの遠隔部分に伝送される。この信号は、SDOのチャネル1−1(CH1−1)の入力端に供給され、波形IDであるW1とラベルRFを有する。チャネル1においてP2で示すプロセッサ・モジュールは、AM復調の機能と、低速サンプリング速度へのデシメーションの機能とを実行する。プロセッサ・モジュールP2は、パルス幅変調された信号から復調制御信号を発生する。プロセッサ・モジュールP2も設定して、制御信号のパルス幅が特定値を超えたときに、トリガ信号T1を発生する。このトリガ信号は、M1と示す取込みメモリ・モジュールに戻される。すなわち、復調した信号から発生したトリガT1に応答して、RF信号を捕捉する。このトリガ信号は、スレーブ・ユニット2内のチャネル2−1(CH2−1)にも供給される。チャネル2−1は、入力端にて、サーボ・システムからのエラー信号を受け、320Mのサンプルの非常に長い(即ち、ウルトラ・ロング)記録長として構成されている。
【0041】
図9において、所定チャネル内に配置されたハードウェア・ブロックは、システム制御器プロセッサにより感知されて、概略図がスクリーン表示上に自動的に描画される。このハードウェアの構成は、図9のウィンドウ表示内の種々のブロックを引きずり(ドラグし)、ドロップして、これらブロックを所望に接続することにより、変更できる。ユーザは、マウス又は他の描画機能手段により、トリガ接続を完了する。図9の概略図にて図形的に操作することにより、図8の波形リストが影響され、新たな構成に一致するように変更を行う。よって、図8のリストを変更すると、図9で表す概略図のチャネル内の変更も生じる。
【0042】
表示に利用可能か、システムに捕捉された各波形は、それに関連したID番号を有する。これは、W1、W2・・・WNである。なお、Nは、システム内で定義された波形の数である。再び図8を参照する。波形ID(WFM ID)列は、3つの波形W1、W2及びW3が生じたことを示している点に留意されたい。波形W3は、多数の取込みメモリ・モジュールにて取り込まれた複数波形から構成されているので、この波形は、サブセグメントを有する。これは、取込みメモリ・モジュールが、トリガ出力端を有するためであり、取込みメモリ・モジュールが取込みを完了した瞬間に、このトリガ出力端に出力トリガ信号を発生する。つぎに、トリガ出力信号T1は、データ・ストリームの次段の取込みメモリ・モジュールのトリガ入力端に供給される。この方法において、所望の数だけの取込みメモリ・モジュールM1、M2、M3、M4、M5を直列にカスケード接続して、非常に長い記録長の取込みを行う。
【0043】
ユーザは、システムにて定義された各波形にラベルを割り当てることができる。これにより、波形を収集した被試験装置の一部を各波形に関連づけるのが容易になる。波形ラベルは、好ましくは8文字又はそれ未満である。図8のウィンドウ表示のトリガ割り当て(TRIGGER ASSIGNMENTS)列は、システム波形(即ち、トリガ・ソース及びメモリ)を特定するのに必要な情報を含んでいる。CH(<a−b>)は、どのチャネルがソース(源)プロセッサを含んでいるかを示している。「a」は、チャネル番号を示し、「b」は、そのチャネル内のサブチャネル番号を示す。P<n>は、トリガ・ソースであるプロセッサ・モジュールを特定する。チャネル内のプロセッサ・モジュール「n」には、そのチャネル内のN個のモジュールに対して、1、2・・・Nというラベルが付される。M<n>は、波形を蓄積するチャネル内の取込みメモリ・モジュールを識別する。「n」の値は、1、2・・・Nの如き番号であり、Nは、そのチャネル内に含まれるメモリ・モジュールの数である。T<n>は、そのチャネルに関連したメモリ・モジュールのトリガ入力端子を識別する。「n」の値は、1、2・・・Nであり、Nは、メモリ・モジュールで利用可能なトリガ入力端子の数である。EXTを用いて、外部のトリガ・ソースを示してもよい。
【0044】
システムにおける総ての波形がトリガを有さなければならないことに留意することが重要である。たとえ、チャネルに1個の取込みメモリ・モジュールしかなくても、トリガし、メモリに捕捉するために32個までの波形を定義することが可能である。この場合に対して、取り込んだ総ての波形は、異なるタイム・スタンプを有する。同じタイム・スタンプで総てのチャネルが取り込まれた場合、各波形に対して別々の取込みメモリ・モジュールが必要である。典型的なSDO取込みメモリ・モジュールのメモリは、1個、2個又は4個の入力データ・ストリームを含み、1個、2個又は4個の波形を同時に蓄積できる。システムに含まれる各メモリ・ボードに対して、少なくとも1個のトリガ接続が必要である。
【0045】
従来のDSOアーキテクチャにおいては、ユーザは、総てのチャネルに対して1度に1つのトリガ条件に制限されていた。すなわち、DSOは、1つのトリガに基づいて、4チャネル総てを取り込んだ。これとは対照的に、SDOに構成できるトリガ・システムは、大幅に融通が利く。SDOアーキテクチャは、多数のチャネルの種々の形式の多くのトリガを同時に用いることができるので、ユニークである。異なる形式の多数のトリガを、単一のチャネルに使用できる。これは、チャネル内のタイムベースがわずか1個であっても、正しい。ここでは、単一のプロセッサ・モジュールが、異なる測定に基づいて多数のトリガ出力信号を発生できるためである。
【0046】
メモリにトリガを設定する処理は、取込み波形を定義する。この処理の第1ステップは、チャネル内のプロセッサ・ボードのトリガ出力端を、そのチャネル内のメモリ・ボードのトリガ入力端に物理的に配線する。トリガ出力端及び入力端は、SDOユニットの背面パネルでアクセス可能である。ケーブルの長さは、チャネル間のトリガがタイミングに影響する。しかし、各トリガ入力端は、それ専用の遅延カウンタ1040A、1040B・・・1040Nを具えており、全体のシステム・タイミングを適切に配列できる。ユーザは、このタイミング配列を手動でできるが、ソフトウェア・アプリケーションにより、種々のチャネルの総てに対してトリガ配列ルーチンを自動化することが好ましい。約32個のトリガ相互接続ラインがマザーボードに形成されているので、チャネル内にて、任意のトリガ出力端を任意のトリガ入力端に結合できる。別の実施例では、プラグイン・トリガ・スイッチ・マトリクス・モジュールに、トリガ供給路用のスイッチング・ロジックを設ける。かかるトリガ・スイッチ・マトリクス・モジュールを図11に示す。
【0047】
この処理の第2ステップは、波形定義メニューにアクセスし、どのようにトリガを配線するかをシステムに伝えるデータを入力する。トリガ・スイッチ・マトリクス・モジュールを用いる場合、システムは既にトリガ構成を検知しているので、情報データを入力することが不要である。トリガ用の配線がシステムに行われると、リストを作成する。システムにて定義されたトリガの各々に対して、取込み波形を定義する。単一の取込みメモリ・モジュールに入力できるトリガの最大数は、メモリ・ボードの絶対インタフェースに応じて、32である(以下でも説明する)。
【0048】
最終ステップでは、トリガ信号の発生を生じる所望形式の事象に対して、各プロセッサ・ボードで各トリガ出力を構成する。利用可能なトリガ形式は、使用するプロセッサ・ボードの種類と、利用可能な機能のライブラリとで決まる。例えば、FPGAプロセッサ・モジュールは、トリガを発生するのに利用できる測定のある組合せを有する。また、SDOシステムは、トリガ形式の独自ライブラリを有するカスタム集積回路を用いるアナログ・トリガ・モジュールを含むことができる。
【0049】
図9のスクリーン表示に示したように、システム・ソフトウェアは、バスにプラグインされたモジュールを検出し、その現在のシステム構成のブロック図を表示できる。処理ブロック図でブロックを選択することにより、構成メニューが現れ、ユーザは、特定ボードに対する制御パラメータを設定できる。選択されたブロックがプロセッサ・ボードならば、利用可能な測定又は信号処理機能が選択される。このアプローチにより、所望に応じて、システム・ハードウェアを任意の順序で構成できるし、又は、異なる種類のボードを使用できる。新たなシステムを構成するのに、新たなソフトウェア設計や、ハードウェア設計が必要ない。デフォルト設定を使用でき、ユーザは設定を変更して、システム・ソフトウェア・ライブラリで利用可能な任意の種類の処理や、測定を行うことができる。
【0050】
図10は、図1の取込みメモリ・ボード(モジュール)260のより詳細なブロック図である。取込みメモリ・モジュール1000のストリーム・スプリッタ1010は、上述で示したリボン・ケーブルを介して、任意数の16ビット・データ・ストリームからデータを受ける。これらデータ・ストリームは、最高データ速度、最低でも1GS/sで連続的に受信される。より高速の速度も可能である。メモリ・ボード260にデマルチプレクサ1020を設けて、取込みメモリ1030が利用可能な速度にまでデータ速度を遅くすることができる点に留意されたい。ストリーム・スプリッタ・ユニット1010は、入力ストリームから受信したサンプルを、そのチャネル内の次段のモジュールに出力する。この方法において、第2取込みメモリ・モジュールは、異なるトリガに応答して、同じデータから異なる波形を取り込むことができる。これは、強力な機能であり、異なる測定トリガに基づいて、データ・ストリームの異なる部分から多数の波形を収集できる。例えば、1個のメモリ・モジュールが大きな振幅変動によりトリガされた波形を収集し蓄積する一方、第2メモリ・モジュールが周期限界を外れた際の測定に基づいて波形を取り込む。
【0051】
この点に関し、データ・ストリーム内の多数のポイントに挿入された多数のボードが、異なる測定トリガに基づいて、各ポイントから波形トレースを収集することが理解できよう。「良好」なトレースを1つの表示メモリ・データベースに蓄積する一方、測定「トリガ」を用いて検出した不良なトレースを「異常」波形用のメモリ・データベースに蓄積できる。代わりに、「不良」トレースがまれにしか生じない場合、この「不良」トレースに関連したデータを個別トレースとして蓄積することもできる。または、「不良」トレースを波形FIFOバッファに蓄積し、このFIFOバッファが最後の10個(又はその程度)の波形を個別トレースとして保持することもできる。この場合、クロックによりFIFOバッファの終端が出力された総てのトレースは、単一の「不良データ」用データベースに蓄積される。
【0052】
取込みメモリ1030は、循環形式で動作する。すなわち、取込みメモリ1030がイネーブル(付勢)されると、入力ストリームからのデータは、連続的に取込みメモリに書き込まれ、所定記憶場所に総て書き込まれた後、以前に書き込まれた記憶場所のデータの上に重ね書きされる。取込みメモリ1030は、特定数のプリトリガ・サンプル(トリガの前のサンプル)を受けるまで、トリガを受けつける状態にアーミングされない(準備状態にされない)。トリガを受信し、適切な量のポスト・トリガ・サンプル(トリガの後のサンプル)を捕捉すると、書込みが停止する。すなわち、取込みメモリ1030は、連続的に波形を取込み、トリガを受信すると、サンプルの蓄積を停止する。再び、アーミングされるまで、取込みは再開されない。
【0053】
蓄積するデータは、高速サンプリング速度の単一の信号か、メモリ内でインターリーブされる多数の信号である。総てのデータ・ストリームが単一のメモリに同時に書き込まれるが、システム制御器プロセッサは、インターリーブされた多数の信号を検知しない。システム制御器プロセッサが、4個の波形の内の波形#3に関連するデータを求めるときには常に、1つずつ増分しながら連続的にアドレス指定する一方、内部メモリ・モジュール・ロジック(マイクロ制御器)1070は、適切な量で増分するアドレス指定を行い、波形#3に関連するデータを読み出す。
【0054】
取込みメモリ・モジュール1000は、少なくとも2個のトリガ入力端子1035A、1035B・・・1035Nを具えることができる。トリガ入力端子1035A、1035B・・・1035Nは、ボードの後側の縁に設けられ、測定機器の後からアクセスできる。入力トリガ・ソースが時々変更しなければならないのならば、ユーザは、これらトリガ入力端子をラックのフロント・パネルにまで広げてもよい。
【0055】
各トリガ入力端子は、入力トリガ信号を遅延カウンタ1040A、1040B・・・1040Nに供給する。これら遅延カウンタ1040A、1040B・・・1040Nにより、SDO内の種々のチャネル及びサブチャネルのデータのスキューをなくせる。すなわち、これら遅延カウンタを用いて、タイミング校正を行う。
【0056】
さらに、取込みメモリ・モジュール1000は、1個の出力トリガ端子を有しており、この端子に出力トリガ信号が発生する。この出力トリガ信号は、取込みメモリ1030が取込みを完了した瞬間に発生する。この出力トリガ信号の主な用途は、他のメモリ・モジュールにトリガ入力を供給することである。この場合、非常に長い記録長の取込みが行える。この方法で、望ましい数だけのメモリ・モジュールをカスケード接続する。トリガ出力信号の他の用途は、割り込み信号をメイン・システム・プロセッサ(又は、システム・制御PC)に供給することである。
【0057】
取込みメモリ・モジュール1000は、直列光ファイバ・チャネル・インタフェース1080を介してシステム制御器プロセッサをインタフェースする。標準PCIバスは4スロットのみに限定されるので、光ファイバ・チャネル・インタフェース1080を標準PCIバスの上位で選択する。望むならば、内部データ・バス通信のために、電子データ伝送チャネルを用いて、コストを低減できる。しかし、スレーブ・ユニットを有する外部バス・インタフェースに対して、光ファイバ・チャネルを用いて、動作距離を伸ばすことが提案されている。この点に関し、光ファイバ・チャネル・インタフェース1080により、SDOの多数のチャネルは、図7に示す如く、ラック・マウント・システムに配置された多数の物理的ボックス内で動作できる。
【0058】
取込みメモリ・モジュール1000は、タイム・スタンプ・クロックに結合された内部バス1075を更に含んでおり、生じる各トリガに関連したタイム・スタンプを記録する。取込みメモリ・モジュール1000のマイクロ制御器(マイクロコントローラ)1070は、各メモリ読出し動作の総ての状況を扱う。SDOアーキテクチャにより、システム制御器プロセッサは、取込みメモリ・モジュール1000のロジック制御に関するいかなる内部知識も必要としない。システム制御器プロセッサは、後述の標準抽象(abstract)インタフェースにより、マイクロ制御器1070を介して取込みメモリ・モジュール1000と通信をする。この機能により、取込みメモリ・モジュール1000のハードウェア設計の変更は、システム・ファームウェアのいかなる変更も必要としない。よって、時間のかかるソフトウェア設計をすることなく、ハードウェアを更新できる。
【0059】
図11は、全体的に参照符号1100で示すトリガ・スイッチ・マトリクス・モジュールの簡略化したブロック図である。この例において、トリガ・スイッチ・マトリクス・モジュール1100は、16×16トリガ・マトリクスとして設定されている。すなわち、任意の16個の入力トリガ信号を任意の16個の出力トリガ端子に接続できる。このマトリクスは、4個の8×8クロスポイント・スイッチ・モジュール1110、1120、1130及び1140で構成される。これらクロスポイント・スイッチ・モジュールは、アメリカ合衆国カリフォルニア州サンタクララのナショナル・セミコンダクタ社製のCLC018型1.4Gbpsデジタル・クロスポイント・スイッチでもよい。8×8デジタル・クロスポイント・スイッチ集積回路1110、1120、1130及び1140は、好ましくはローカル制御器(図を簡略化するために、図示せず)の制御下で、行デコーダ1150及び列デコーダ1160により制御される。クロスポイント・スイッチ集積回路1110及び1120の出力端子は、互いにワイヤード・オアされており(出力線を接続して、オア・ゲートとして機能させる)、同様に、クロスポイント・スイッチ集積回路1130及び1140の出力端子も互いにワイヤード・オアされている。集積回路1160の列制御信号がクロスポイント・スイッチ1110、1120、1130及び1140の各々のトライステート制御端子に接続されているので、これら出力端子のワイヤード・オア接続が可能である。
【0060】
図12、図13及び図14は、各SDOチャネルが多数のサブチャネルを含んでいることを示している。SDOチャネルを識別する必要がない点に留意することが重要である。実際に、異なるチャネルは、他のチャネルに用いるのと全体的に異なるサンプリング速度で、異なる帯域幅で、異なる処理要素によって、動作している。システム・ソフトウェアは、各チャネルとそれに関連したサブチャネルを認識し、それらが含んでいるモジュールを識別し、それに応じて自動的にメニューを構成する能力を有する。
【0061】
本明細書で用いる用語「SDOチャネル」は、あるモジュールから次のモジュールに直列に通過するアナログ及びデジタルのデータ・ストリームに応じて種々の動作を実施できるモジュールのグループから構成されている点に留意することが重要である。
【0062】
図12において、図示の特定のSDOチャネルは、4個のサブチャネルSC1、SC2、SC3、SC4を有する。これは、1より多い信号がチャネルを通過することを意味する。例えば、1チャネルは、4個の外部プローブから4つの入力信号を受ける。これら4つの信号の各々は、チャネルの1つのサブチャネルを伝送する。
【0063】
SDOチャネルの第1モジュール1205は、常に前置増幅器であり、測定用の外部信号を受ける。すなわち、メイン・システム・プロセッサにより、SDOに存在する各前置増幅器モジュールは、チャネルの第1要素であるとみなされる。連続したバス・スロットにて前置増幅器に続く各処理モジュールは、そのチャネルの要素である。広範囲の前置増幅器モジュールが可能である。前置増幅器の例としては、標準オシロスコープ用前置増幅器、マイクロボルト・レベルの信号まで検知できる高感度前置増幅器、広帯域前置増幅器、16又は24ビットA/D変換器と共に用いる低歪の狭帯域前置増幅器、差動前置増幅器、光電変換器用前置増幅器などがある。前置増幅器モジュール1205は、ダウン・コンバータを含んでもよい。
【0064】
以下の構成は、図12に示されていないが、任意の妥当な数のアナログ処理モジュールを前置増幅器スロットの後でデジタイザ・モジュールの前のスロットに挿入することができる点に留意されたい。特定アプリケーションの要求を満足するように、アナログ処理モジュールを選択する。かかるアナログ処理モジュールの例としては、アンチエリアシング・フィルタ、他の種類のフィルタ、復調器などがある。
【0065】
前置増幅器モジュール1205からの信号は、4個の同軸ケーブル1208a、1208b、1208c及び1208dを介してデジタイザ・モジュール1210に供給される。デジタイザ・モジュール1210の後段で任意所望の順序で種々の所望数のモジュール1220、1230、1240を用いて、チャネルを形成する。
【0066】
データ・ストリームは、好適には、システム・クロックに同期して、モジュールからモジュールに供給される点に留意されたい。よって、モジュール1230が後の信号サンプルa(n+1)、b(n+1)、c(n+1)、d(n+1)を受け、モジュール1220が更に後の信号サンプルa(n+2)、b(n+2)、c(n+2)、d(n+2)を受けると、モジュール1240は、信号サンプルa(n)、b(n)、c(n)、d(n)を受ける。
【0067】
上述の如く、サブチャネルの総数が2のn乗に等しければ、SDOチャネルは、任意所望数のサブチャネルを含んでもよい。なお、nは、{1、2、3・・・}の要素である。各サブチャネルは、そのソースとして1個のデジタイザ・モジュール1210、1310、1410を有する。サブチャネル・データは、パケット・バイト、16ビット整数、又は浮動小数点データとして構成できる。
【0068】
さらに、図13及び図14に示すように、2の倍数の係数でサブチャネルをインターリーブしてもよい。すなわち、SDOアーキテクチャは、単一のA/D変換器が可能なサンプリング速度よりも高速なサンプリング速度を達成するために、データ・ストリームをインターリーブする概念をサポートしている。図13は、4ウェイ・インターリーブを有するSDOチャネルの例である。図14は、2ウェイ・インターリーブを有するSDOチャネルの例である。4ウェイ・インターリーブが有効な場合、4入力チャネルの1つのみを用いることができる。2ウェイ・インターリーブが有効な場合、4入力チャネルの2つのみを用いることができる。インターリーブが有効でない場合、総ての入力チャネルを使用できる。
【0069】
A/D変換器ボードのサンプリング・クロックをスキューして、インターリーブを実行できることが当業者には理解できよう。しかし、A/D変換器ボードの各ストリーム出力となる出力サンプル(A/D変換器ボードへの入力サンプル)は、デスキューされている。例えば、4ウェイ・インターリーブが有効な場合、図13に示すように、4つのサンプルが正確に同時にA/D変換器ボードを通って、4つの異なるストリームになる。下流のD/A変換器が、インターリーブされたストリームをアナログ・フォーマットに戻す場合、これらサンプルはスキューされて、正確な時間位置にならなければならない。
【0070】
インターリーブの要素は、デジタイザの数及びストリームの物理的空間のみにより制限される。例えば、各々が1GS/sの16個のA/D変換器を有するデジタイザ・ボードは、全体で16GS/sになるように、パケット・バイト・データ・モードにて8つのデータ・ストリームを出力するように構成できる。しかし、ストリームを次段のプロセッサに渡す際に、各デジタイザ・ボードが各8ビットの16個のリボン・ケーブルを必要とするために、物理的空間が要求されるので、上述の構成が実際的ではない。
【0071】
デジタイザ・モジュール1210は、デジタル・データ・サンプルのストリームを発生するために、A/D変換器を含んでいる。データ・ストリームは、上述の如く、所定チャネルにおいて、リボン・ケーブル・コネクタを介して1つのモジュールから次のモジュールに渡される。プロセッサ・モジュールは、データを次のモジュールに渡す前に、フィルタ処理か、他の変換アルゴリズムを実行して、データ・ストリームを変更できる点に留意されたい。サンプリング速度のデシメーション及び補間は、データ・ストリームに対する可能な2つの動作である。
【0072】
SDOにおけるデータ・ストリームは、被測定入力信号のデジタル化されたものである。データ・ストリームは、SDO内の内部モジュールにより発生することもできる。例えば、デジタイザ・モジュールでのA/D変換器の出力は、入力信号を表す2進数のデータ・ストリームである。データ・ストリームは、A/D変換器の基本サンプリング速度で生じる入力信号のサンプルの連続したストリームである。物理的ハードウェアがサポートとする限り、下流の任意所望ポイントにおけるサンプリング速度をデシメーション又は補間することが可能である。データ・ストリームの物理的構造及び可能なデータ・フォーマットは、任意所望数のインターリーブされたチャネル用にシステムが構成され、上述の如く、多数のストリームが単一チャネルに共存できるようになっている。すなわち、SDOチャネルのデータ・ストリームは、クロック信号と一緒に、多くの16ビット・リボン・ケーブルにより伝送される。各データ・ストリームにおいて、ソースは、デジタイザ・モジュールにおける16ビット、12ビット又は8ビットのA/D変換器である。単一の16ビット・データ・ストリーム・ケーブルを介して、2つの8ビットA/D変換器出力信号を送ることも可能である。
【0073】
データ・ストリームは、チャネルのプロセッサ・モジュールの1つから構成してもよい。例えば、プロセッサ・モジュールは、出力信号を下流のモジュールに供給する任意波形発生器(AWG)として動作できる。さらに、プロセッサ・モジュールは、多数のデータ・ストリームからデータを受信し、これらデータに対して数式的処理を実行し、その結果のデータ・ストリームを出力できる。上述の如く、サンプリング・クロックは、データ・ストリームと一緒に伝送される。よって、プロセッサ・モジュールがサンプリング速度をデシメーションすると、サンプリング・クロックも適当なレートに分周され、この分周されたサンプリング・クロックが次段のボードに渡される。
【0074】
プロセッサ・モジュールは、データ・ストリームがモジュールの入力端から出力端に通過する際に、このデータ・ストリームに対して、測定を行えるか、又は、信号処理アルゴリズムを適用できる。プロセッサ・モジュールが実行した測定結果は、所定レベルと比較され、トリガとして使用できる。プロセッサ・ボードは、多数のトリガ出力を有し、プロセッサ・モジュールは、トリガ入力信号を有することができる。プロセッサ・モジュールは、これらトリガ入力信号を種々の方法で用いるが、これら方法は、特定のプロセッサが生成した機能のライブラリにより決まる。例えば、トリガ入力信号は、トリガとして作用して、プロセッサ・モジュールが測定を行うようにアーミングする。いくつかのプロセッサ・ボードは、FPGAを用いて構成でき、そのいくつかは、標準DSPチップを用いてもよい。しかし、いくつかのプロセッサ・ボードは、トリガ・ソースの専用のライブラリを有する。トリガ・ソース・ウィンドウ・メニューの目的は、プロセッサ・ボードのトリガ出力に割り当てられたトリガ形式をユーザに選択できるようにすることである。
【0075】
図15は、図10の取込みメモリ・モジュール1000のストリーム・スプリッタ1010の簡略化したブロック図である。この簡略化したブロック図において、ストリーム・スプリッタ1010は、クロックされて少なくとも1つのデータ・ストリームを受信する入力ラッチ1505と、ラッチされたデータをデマルチプレクサ回路1020に供給するバッファ配列1515と、クロックされる出力ラッチ1510と、単一又は複数のデータ・ストリームを次段のモジュールに順次渡す出力バッファ配列1520とを具えている。
【0076】
システム制御器プロセッサがメモリ・ボード用に設定及び/又は読出すパラメータのリストを次に示す。これらパラメータは、異なるボード・モジュールが異なる数の入力ストリーム又はトリガを有するか、又は総合メモリ長を有するように選択されている。
【0077】
NameString:このパラメータは、このメモリ・ボードの名称、モデル番号及びシリアル番号を含むストリングを有する。
【0078】
Trigger1Delay・・・Trigger32:秒単位での遅延単位。これは、トリガが生じた時点から、メモリ・モジュールがそのトリガを実際に認める時点までの時間である。このカウンタの分解能は、1ピコ秒であり、最大値が10秒である。上述の如く、メモリ・モジュールは、1から32までのトリガ入力のいずれかを実際には含んでいる。メモリ・モジュールは、2つのトリガ位置を認識する。T1は、入力におけるトリガ事象の実際の瞬間である。T2は、遅延されたトリガ位置である。T2は、常に、取り込んだ波形記録の中で生じる。T1は、取り込んだ波形記録の開始の前に生じるかもしれないし、生じないかもしれない。絶対時間において、T1=0で、遅延=T2である。表示スクリーンに適切な波形表示にて、T2は常に波形上にある。T2における垂直線カーソルの位置の値は、ゼロと読み取られる。垂直線カーソルは、T2に対する秒を読取る。
【0079】
Trigger1Enable・・・Trigger32Enable:この変数は、トリガがイネーブルされたかを判断する。イネーブルされると、トリガ事象の発生により、波形がメモリに取り込まれる。
【0080】
Internal trigger disables:トリガが32個のトリガ入力ラインのいずれかで受信されると、そのラインのラッチ1035A、1035B・・・1035Nがセットされる。次に、他の総ての入力トリガ・ライン上のラッチをディスエーブルする。システム制御器プロセッサは、このトリガ・レジスタを読み出して、波形取込みにどのトリガ入力が用いられているかを判断できる。
【0081】
PreTrigger:サンプルにおけるパラメータ。このパラメータは、トリガ事象の前にどの位のサンプルを取り込むかを決める。オシロスコープ・メニューにおけるトリガ位置タブにより、ユーザは、記録長の百分率単位か、T2に対する秒の単位で、プリトリガ値を設定できる。
【0082】
PostTrigger:サンプルにおけるパラメータ。このパラメータは、トリガ事象の後にどのくらいのサンプルが取り込まれるかを決める。
【0083】
ResetAcquisition:このパラメータが1に等しければ、総てのメモリ制御ロジックは、リセット状態にリセットされる。これは、EnableAcqusitionが1にセットされると、メモリ・モジュールがデータの収集を開始するように準備する。
【0084】
EnableAcqusition:このパラメータが1に等しければ、メモリがイネーブルされて、データ・サンプルの収集を開始する。このパラメータがゼロにリセットされると、データ・ストリームがボードを通過しても、データがメモリに蓄積されない。
【0085】
Arm:これは、読出し専用のパラメータである。必要数のプリトリガ・サンプルが蓄積されると、内部メモリ・ボード・ロジックによって1にセットされる。ResetAcqusitionが表明されると、ゼロにセットされる。アーミングされると、メモリ・モジュールは、トリガを受信する用意が整う。トリガの検出により、循環メモリへのサンプルの取込みが開始する。必要な数のポスト・トリガ・サンプルが収集されると、EnableAcquisitionパラメータがゼロにセットされて、データ・ストリームがメモリに蓄積されるのを停止する。
【0086】
ReadWaveform:PCインタフェース・バスで波形サンプルが要求されると、これら波形サンプルは順番にメモリから読み出される。モジュール・ロジックは、非循環順序でサンプルを読み出す。
【0087】
MemorySize:これは、読出し専用パラメータである。メモリの最大長をサンプルの単位でシステムPCに伝える。これらサンプルは、浮動小数点形式でも、16ビット整数形式でもよい。
【0088】
MemoryType:このパラメータは、どの種類のデータがメモリにあるかを特定する。データの2つの一般的な種類は、整数と、浮動小数点である。
【0089】
InterleaveFactor:このパラメータは、インターリーブ・ファクタを決める。入力データ・ストリームは、インターリーブであるかないかにかかわらず、同じ順序で、メモリに蓄積される。しかし、プリトリガ数及びポスト・トリガ数は、設定しなければならない。データをインターリーブし、PC波形番号1を要求すると、1がインデックスであるアドレスを用いて、PCがそのデータを得る。メモリ・ロジックは、インターリーブ・ファクタによりアドレスを増分する。
【0090】
NumberOfInputStreams:このパラメータは、読出し専用である。その値は、どの位の16ビット入力ストリームがメモリ・ボードに届くかを特定する。つぎに、外部PCは、インターリーブ及びメモリ形式パラメータを設定することにより、どの位のデータ・ストリームが解釈されるかを決める。出力ストリームの数は、入力ストリームの数に常に等しい。
【0091】
NumberOfTrigger:このパラメータは、読出し専用である。これは、どの位のトリガ入力がメモリ・ボードに届くかを特定する。
【0092】
TimeStamp:各取込み波形は、関連したタイム・スタンプを有する。このタイム・スタンプは、トリガが生じた後にメモリ・ボードから読み出される。
【0093】
総ての前置増幅器モジュールに共通のアブストラクト(抽象)インタフェース(abstract interface)を次に説明する。このアブストラクト・インタフェースは、システム制御器プロセッサが、前置増幅器を制御する常に同じ1組の共通コマンドを有することを確実にするが、どの種類の前置増幅器がチャネルのスロット0に挿入されるかは関係ない。ここで説明する総てのパラメータは、前置増幅器モジュールに蓄積される。追加的なコマンドが必要なモジュールは、アブストラクト・インタフェースのサブクラスとして作ってもよい。
【0094】
nameString:このパラメータは、前置増幅器のモデル、シリアル及び種類を含むストリングを戻す。例えば、差動、DA101、シリアル000032となる。モジュール全体に、1つのシリアル番号が存在する。しかし、各前置増幅器チャネルは、専用の名前ストリング及びモデル番号を有する。
【0095】
numberOfChannels:これは、読出し専用のパラメータである。前置増幅器は、任意所望数のチャネルをそこに有している。このパラメータは、どの位の前置増幅器がボード上に設けてあるかを特定する。これらチャネルは、下流で、多数に分ける(multiway)インターリーブ設備と同じである。異なる形式の増幅器モジュールがSDOに存在できるが、1個より多い増幅器を有するモジュールは、同じ形式の増幅器を有する。
【0096】
PossibleBw1・・・possibleBwN:このパラメータは、各チャネルに対して可能な帯域幅設定の配列である。この配列の終わりは、ゼロで締めくくる。(総てのチャネルがモジュール・ボード上である。)
【0097】
bw1・・・bwN:このパラメータは、各増幅器に対して1つであり、そのチャネルの帯域幅を特定する。このパラメータの値は、ロジックがハードウェアを正しい設定に切り替えられるようにするパラメータである。
【0098】
possibleScale1・・・possibleScaleN:possibleScaleパラメータは、浮動小数点の読出し専用配列である。この配列は、関連した前置増幅器が得ることのできる可能な垂直スケール設定を特定する。入力単位が何であるかに関係なく、利得により、スケール・ファクタを特定する。この利得は、増幅器の電圧出力/電圧入力である。SDOは、inputRangeと呼ぶデジタイザ・ボード用パラメータを読み出し、選択した目盛り(ディビジョン)の数に応じて単位目盛り当たりの電圧を計算して、単位目盛り当たりの電圧を求める。値ゼロを配列の終わりに配置しなければならないので、外部ソフトウェアがその配列の終了を識別できる。
【0099】
scale1・・・scaleN:このパラメータは、利用可能なN個のスケール設定の1つを選択するインデックス値を受ける。これは、possibleScaleNの配列へのインデックスである。
【0100】
preampUnits1・・・preampUnitsN:前置増幅器へのこの入力は、テクトロニクス社製プローブの標準インタフェースをサポートする。preampUnitsNパラメータを読み出して、モジュールからプローブ用単位を読み出す。
【0101】
明示的に述べないが、例えば、校正又は他の用途用の他のパラメータをこのリストに加えてもよいことが当業者には理解できよう。SDO用のA/D変換器やトラック・アンド・ホールド集積回路を含むデジタイザ・モジュールに属するアブストラクト・パラメータを次に説明する。このフォーマットは、標準形式のフラッシュA/D変換器用に特定されている。
【0102】
nameString:このパラメータは、デジタイザ・ボードの名称、モデル番号、シリアル番号を含んでいる。
【0103】
BaseSampleRate:これは、デジタイザ・モジュールの基本サンプリング速度を特定する読出し専用パラメータである。モジュール上の総てのデジタイザは、同じサンプリング速度で動作する点に留意されたい。しかし、SDOは、多数のデジタイザ・モジュールを含んでもよい。望むならば、異なるデジタイザ・モジュールは、SDOシステム内で異なる基本サンプリング速度で動作できる。
【0104】
digitizer modules will receive input signals:デジタイザ・モジュールは、前置増幅器モジュール・ボードから入力信号を受信する。
【0105】
digitizer modules will have a synchronizer input:デジタイザ・モジュールは、スコープの背面からアクセス可能なモジュールの後側に同期装置(シンクロナイザ)入力端を有する。これにより、サンプリング・クロックを発生する位相ロック・ループが入力のエッジに対して同期できる。
【0106】
sampleClock:このパラメータは、サンプリング・クロック・ソースを特定する。これは、内部又は外部に設定される。
【0107】
numberOfDigitizers:このパラメータは、読み出し専用であり、いくつのA/D変換器がモジュール上にあるかを特定する。デジタイザの数は、典型的には、2のべき乗である。
【0108】
interleaveFactor:このパラメータは、多数に分ける(multiway)インターリーブに対してボードを設定する。トラック・アンド・ホールド集積回路を設定するのに適するロジックがボード上に含まれている。外部PCは、所望設定のinterleaveFactorパラメータを簡単にロードする。よって、ボードからの出力ストリームは、1、2、4、8又は16ウェイのインターリーブを表す。
【0109】
dig1Skew1Way・・・digNSkew1Way:これらパラメータは、種々の方法でのインターリーブ用にデジタイザを設定するDAC値を含んでいる。これらは、校正されなければならない。また、これらは、ユーザ選択設定で、システム制御器プロセッサからダウンロードされる。
【0110】
次のアブストラクト・インタフェースは、DPOモード・スタイルの表示を実行する。理想的には、この表示は、入力ストリーム内の総てのデータ・サンプルをビット・マップ・メモリに蓄積するように設計されている。このDPOモジュールを潜在的に定義する種々の方法がある。しかし、最初に、次の実施を仮定する。
【0111】
ビット・マップがXY連続モードで動作するとき、入力ストリームの総てのデータ・サンプルは、ビット・マップに蓄積される。トリガされたYT(振幅対時間)モードにおいて、メモリには、トリガの間に非常に短い時間が存在する。このシステムは、光アナログ・ビデオ出力信号を有するように特定される。これは、ビデオを生成するために、メモリのラスタ走査出力を同時に発生する期間中に、入力サンプルを連続的に書き込みできる程度に充分遅いサンプリング速度で動作できる。このビデオは、必要に応じて、システム表示に切り替えられる。
【0112】
ロール・モード・アブストラクト・モジュールは、システム内の他のビデオ信号に同期されたビデオ出力信号を発生できる。ストリームが生じた際に、このストリーム内の総てのサンプルを観察できるようにビデオ表示を設計する。このモードは、表示から有用な情報を得るために、人間の目にとって充分に遅いサンプリング速度のストリームを有効にする。
【0113】
ハードディスク・ドライブ・アブストラクト・インタフェースは、データ・ストリームを入力として受信でき、これらを次段のモジュールに渡すことのできるハードディスク・ドライブ・カードに対してパラメータを定義する。サンプリング速度が充分に遅ければ、トリガ入力を受けた際に、ストリームの総てのサンプルをディスク・ドライブ・ファイルに蓄積することも可能である。サンプリング速度が速くなりすぎると、データが失われ、ボード上のLEDが点灯する。システム・ソフトウェアを良好に読み出すために、このオーバーフロー信号が利用可能である。
【0114】
ディスク・ドライブ・アブストラクト・インタフェースは、次の特性を有する。これは、取込みメモリ・モジュールと類似したトリガ入力を有する。各トリガ入力は、遅延カウンタを有する。プリトリガ・サンプルは存在しない。プリトリガを可能にするために行うデータの循環バッファへの書き込みを行わない。エネーブルされた入力トリガの1つが活性化された瞬間に、ファイルへのデータ書込み動作が開始する。ディスク・ドライブ・ボードは、マイクロ制御器を具えており、システム・インタフェース・コマンドをマシン・レベルのレジスタ及びビットに変換する。これは、制御に必要である。
【0115】
選択されたチャネルは、一組になった総ての制御及びパラメータを有するので、パラメータの調整は、総ての選択されたチャネルに影響する。同じハードウェア構成のチャネルのみが互いにロックされる。種々のチャネルが、一組になった垂直制御を有することが、SDOシステムの主要な特徴である。ユーザは、任意所望の組合せ、及び任意数の組合せにおいて、制御のグループをまとめることができる。
【0116】
異なるチャネルは、サンプリング速度及び記録長において多くの設定を有するので、タイムベース・メニュー(図示せず)は、取り扱いが一層難しい。同じハードウェア構成のチャネルのみが互いにロックされる。
【0117】
タイムベースは、プロセッサ・ボード上のデシメータと、取込みメモリ・モジュールとの組合せである。これは、ストリーム内にどのようなモジュールが存在するか、それらがどのような順序で接続されているかにより決まる。例えば、取込みメモリ・モジュールの後段にデシメータがあると、これら両方のモジュールのタイムベース制御が、メニューに現れる。
【0118】
第1デシメータ、第1メモリ、第2デシメータ及び第2メモリが存在すると、2つのタイムベースが存在し、1つのチャネルを選択するための2つのタイムベース・メニュー・タブが存在する。
【0119】
デシメータの後段にメモリが存在すると、2つのタイムベース・タグが存在する。取込みメモリ・モジュール用のサンプリング速度に関連するメニュー項目がグレイ色(他と識別可能な色)になる。同様に、第2タイムベースでは、記録長に関連するメニュー項目がグレイ色になる。
【0120】
この規則は、前置増幅器モジュールから開始する下流を検索し、そのデータ・ストリームにどの位のタイムベースが存在するかを決定する。存在する各データベースに対して、メニュー・タブを作る。
【0121】
同じチャネルのみが、選択されたチャネル・メニューと一組になる。ユーザがあるタブから別のタブに切り替えると、これら選択されたチャネル・メニューの設定が記憶される。
【0122】
インターリーブに必要な追加のチャネルがオン状態でない場合のみ、サンプリング速度を調整することにより、インターリーブが作用する。
【0123】
本発明のアーキテクチャの最も顕著な概念は、おそらく、ハードウェア要素及びソフトウェア要素の両方がオブジェクト指向なことである。これは、システムの実時間ソフトウェアが、新たな挙動(behavior)がサブクラスに追加されない限り変化しないハードウェア・インタフェースを「調べる」オブジェクトで構成されているということである。なお、インタフェース上のハードウェア・オブジェクトの構成のみが変化する。
【0124】
SDOソフトウェア・アーキテクチャは、厳密にオブジェクト指向である。ソフトウェア・オブジェクトは、このシステム全体に振り分け(分布)られている。例えば、各モジュールは、そのモジュールにローカルなアブストラクト・ソフトウェア・インタフェースを実現できるローカル・マイクロ制御器を具えている。この振り分けられたアプローチにより、ボードSWのその部分で、新たなボードを設計でき、ボード・ロジック設計又は構成を変更できる。このメイン・システム・プロセッサは、その形式の総てのボードに対して有効な標準アブストラクト・インタフェースを介して、ボードと依然会話をできる。(ボードの形式は、デジタイザ、前置増幅器、メモリ、D/A変換器などである。)ボードが新たな機能をインタフェースに負荷する必要がなければ、サブクラス・オブジェクトが生成される。これは、元のアブストラクト・クラス挙動を受け継ぎ、新たな挙動を追加する。この場合、最小のメイン・システム・ファームウェアの変更が必要になる。例えば、デジタイザ・モジュールは、固定アブストラクト・インタフェースを有するので、2個のデジタイザを有するボード又は16個のデジタイザを有するボードをプラグインすることが可能であり、システム制御器プロセッサ用ソフトウェアは、これらボードとの通信にいかなる困難も見つからない。ボードの現在のバージョンは、アブストラクト・インタフェースに質問することにより、他のバージョンのボードよりも、多くの資源又は少ない資源を具えていることが判る。
【0125】
ソフトウェア・クライエントのオブジェクトをシステム全体に分布させた最終目的は、各時点で、新たなシステム・モジュールを設計することであり、ソフトウェアの作用は非常に小さな作用であり、モジュール自体にローカル化されている。この結果、SDOシステムの一部を更新又は変更するのに、設計期間を短くできる。これにより、市場に出す時間を短くでき、開発コストも低減できる。これにより、システム全体を維持するのが容易になる。これは、少ない技術者で、モジュールのボード上のソフトウェアの変更をローカルにできるためである。なお、メイン・システムのソフトウェア・アーキテクチャを変更するには、多くの技術者が必要となる。
【0126】
SDOシステムは、カストマの試験及び測定システムにも埋め込めることが理解できよう。SDOは、実時間信号処理及びアナログ信号発生もできる。かかる信号は、ユーザの入力信号から得ることができるし、また、例えば、任意波形発生器(AWG)により内部的に発生することもできる。
【0127】
【発明の効果】
上述の如く本発明の測定機器よれば、不感時間を短縮し、異常を検出できる確率を高め、メモリ長を容易に拡張できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるストリーミング分配オシロスコープ(SDO)の簡略化したブロック図である。
【図2】従来の典型的なデジタル・ストレージ・オシロスコープの簡略化したブロック図である。
【図3】図1のSDOモジュールの間の接続を示す簡略化した側面図である。
【図4】図3のリボン・ケーブル接続の簡略化した斜視図である。
【図5】本発明を実施するのに有用なSDO制御パネルを示す図である。
【図6】本発明によるスクリーン表示例を示す図である。
【図7】本発明によるSDOマスタ・ユニット及びSDOスレーブ・ユニットの正面図である。
【図8】本発明によるスクリーン表示例を示す図である。
【図9】本発明によるスクリーン表示例を示す図である。
【図10】図1のSDO取込みメモリ・モジュールの回路要素を示す簡略化したブロック図である。
【図11】本発明に用いるのに適するトリガ・マトリクス・ボード簡略化したブロック図である。
【図12】図1のSDOモジュール間の接続を示す上面図である。
【図13】図1のSDOモジュール間の接続を示す上面図である。
【図14】図1のSDOモジュール間の接続を示す上面図である。
【図15】図10の取込みメモリ・モジュールのストリーム・スプリッタの簡略化したブロック図である。
【符号の説明】
200 ストリーミング分配オシロスコープ(SDO)
201 インタフェース・バス(光ファイバ・チャネル)
210 前置増幅器モジュール
220 デジタイザ・モジュール
224 A/D変換器
230、240 FPGAボード(プロセッサ・モジュール)
250 D/A変換器ボード
260 メモリ・ボード(メモリ・モジュール)
270 メモリ・ボード
280 ハードディスク駆動モジュール
300 モジュール
310 リボン・ケーブル
330 コネクタ
400 SDOモジュール
410 リボン・ケーブル
500 フロント・パネル
700 マスタ・ユニット
702 表示器
706 フロント・パネル
710 光ファイバ・チャネル・インタフェース・ユニット
720 スレーブ・ユニット
722 液晶表示器
730 スレーブ・ユニット
732 液晶表示器
740 スレーブ・ユニット
742 液晶表示器
1000 メモリ・モジュール
1010 ストリーム・スプリッタ
1020 デマルチプレクサ
1030 取込みメモリ
1040 遅延カウンタ
1070 マイクロ制御器
1080 光ファイバ・チャネル・インタフェース
1100 トリガ・スイッチ・マトリクス・モジュール
1110、1120、1130、1140 クロスポイント・スイッチ
1150 行デコーダ
1160 列デコーダ
1205 前置増幅器モジュール
1208 同軸ケーブル
1210 デジタイザ・モジュール
1220、1230、1240 モジュール
1310、1320、1330、1340 デジタイザ・モジュール
1410、1420、1430、1440 デジタイザ・モジュール
1505 入力ラッチ
1510 出力ラッチ
1515、1520 バッファ配列

Claims (5)

  1. 被測定アナログ信号をデジタル信号処理のために2進データに変換する形式の測定機器であって、
    上記アナログ信号を受け、増幅する前置増幅器モジュールと、
    増幅された上記アナログ信号を受け、2進データのストリームを発生するデジタイザ・モジュールと、
    バスに別々に結合可能な複数のモジュールと、
    リボン・ケーブルを具え、
    上記複数のモジュールには、各トリガ信号が異なるトリガ条件である1つ以上のトリガ信号を発生するトリガ用のモジュールと、上記1つ以上のトリガ信号に応じて上記2進データのストリームを蓄積する取込みメモリ・モジュールとを含み、
    上記リボン・ケーブルは、上記複数のモジュールの各々に上記2進データのストリームを順次伝送し、上記複数のモジュールの各々が上記2進データのストリームを処理し、
    上記バスは、制御パラメータを上記複数のモジュールに伝送し、
    上記取込みメモリ・モジュールをアクセスして、上記2進データ・ストリームの蓄積された一部を表示用に読出すことを特徴とする測定機器。
  2. 上記トリガ用モジュールは複数個であり、これら複数のトリガ用モジュールの各々は、上記トリガ信号を発生するトリガ条件が異なり、上記2進データのストリームの異なる部分を上記取込みメモリ・モジュールに蓄積することを特徴とする請求項1の測定機器。
  3. 上記複数のモジュールは、上記取込みメモリ・モジュールの前段に設けられたタイムベース・モジュールを含み、該タイムベース・モジュールは、タイムベースを定義するデシメータを有することを特徴とする請求項1又は2の測定機器。
  4. 上記取込みメモリ・モジュールは複数個であり、これら複数の取込みメモリ・モジュールの各々は、上記トリガ信号の異なる1つに応答して上記2進データ・ストリームの異なる部分を蓄積することを特徴とする請求項1〜3の測定機器。
  5. 上記複数のモジュールは、信号発生器、スペクトラム・アナライザ、アナログ・デジタル変換器、ハードディスク・メモリのモジュールを含むことを特徴とする請求項1〜4の測定機器。
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Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7137048B2 (en) * 2001-02-02 2006-11-14 Rambus Inc. Method and apparatus for evaluating and optimizing a signaling system
JPS58102538A (ja) * 1981-12-14 1983-06-18 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法
EP1337909A4 (en) * 2000-11-17 2008-10-01 Lecroy Corp PROCESSING WEB EDITOR FOR DATA PROCESSING IN A DIGITAL OSCILLOSCOPE OR SIMILAR INSTRUMENT
US6697968B1 (en) * 2000-12-21 2004-02-24 Unisys Corporation System and method for high speed, low cost address and bus signal tracing
US7490275B2 (en) 2001-02-02 2009-02-10 Rambus Inc. Method and apparatus for evaluating and optimizing a signaling system
US6691050B2 (en) * 2001-03-14 2004-02-10 Agilent Technologies, Inc. Data acquisition instrument architecture with flexible data acquisition, processing and display
WO2003013035A1 (fr) * 2001-08-01 2003-02-13 Anritsu Corporation Procede et dispositif d'analyse de signal possedant une fonction permettant d'afficher des informations d'intervalle de temps
US7219174B2 (en) * 2002-02-12 2007-05-15 Tektronix, Inc. Inter-demux communication through a point to point interface
US20030218612A1 (en) * 2002-05-22 2003-11-27 Dobyns Kenneth P. True dual-timebase arrangement for an oscilloscope
US6892150B2 (en) * 2002-05-24 2005-05-10 Tektronix, Inc. Combined analog and DSP trigger system for a digital storage oscilloscope
US20030222873A1 (en) * 2002-05-28 2003-12-04 Gilles Ritter Sequence display
CA2389969A1 (en) * 2002-06-25 2003-12-25 John W. Bogdan Digital signal processing of multi-sampled phase
US7437624B2 (en) * 2002-09-30 2008-10-14 Lecroy Corporation Method and apparatus for analyzing serial data streams
US7519874B2 (en) * 2002-09-30 2009-04-14 Lecroy Corporation Method and apparatus for bit error rate analysis
US20040123018A1 (en) * 2002-09-30 2004-06-24 Martin Miller Method and apparatus for analyzing serial data streams
US6832174B2 (en) * 2002-12-17 2004-12-14 Tektronix, Inc. Method and apparatus providing interleaved data from multiple signal acquisition devices
US7076377B2 (en) * 2003-02-11 2006-07-11 Rambus Inc. Circuit, apparatus and method for capturing a representation of a waveform from a clock-data recovery (CDR) unit
US7155355B2 (en) * 2003-02-25 2006-12-26 Tektronix, Inc. Method of constraints control for oscilloscope vertical subsection and display parameters
US6915218B2 (en) * 2003-02-25 2005-07-05 Tektronix, Inc. Method of constraints control for oscilloscope timebase subsection and display parameters
US7840938B1 (en) * 2003-08-04 2010-11-23 The Mathworks, Inc. Systems for retaining state information in a dynamically typed text-based environment
DE10337913B4 (de) * 2003-08-18 2017-01-05 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Meß- oder Testgerät mit austauschbaren Funktionseinheiten
JP4385838B2 (ja) * 2004-04-16 2009-12-16 横河電機株式会社 波形測定装置
DE102004019966A1 (de) 2004-04-23 2005-11-17 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Signalverarbeitungsvorrichtung mit verbesserter Triggerung
FR2870939B1 (fr) * 2004-05-27 2006-11-03 Chauvin Arnoux Oscilloscopes numeriques multivoies
DE102004029457A1 (de) * 2004-06-18 2006-01-12 Oped Ag Handgelenkorthese
EP1612977A3 (en) * 2004-07-01 2013-08-21 Yamaha Corporation Control device for controlling audio signal processing device
US20060031032A1 (en) * 2004-08-06 2006-02-09 Cohn Robert C Method and apparatus for reducing skew effects
US7072804B2 (en) * 2004-09-28 2006-07-04 Agilent Technologies, Inc. Digital trigger filter for a real time digital oscilloscope
US7652465B2 (en) 2006-03-24 2010-01-26 Tektronix, Inc. No dead time data acquisition
US7558936B2 (en) * 2006-03-24 2009-07-07 Tektronix, Inc. Data management in long record length memory
US7352167B2 (en) * 2006-03-24 2008-04-01 Tektronix, Inc. Digital trigger
US7610178B2 (en) * 2006-08-02 2009-10-27 Tektronix, Inc. Noise reduction filter for trigger circuit
JP5089237B2 (ja) * 2007-05-08 2012-12-05 株式会社アドバンテスト テストユニット装置および試験装置
US20100153041A1 (en) * 2007-06-04 2010-06-17 Nxp B.V. Error processing in time interleaved signal processing devices
US8046183B2 (en) * 2008-03-04 2011-10-25 Tektronix, Inc. Pre-trigger and post-trigger acquisition for no dead time acquisition system
US8161497B2 (en) * 2008-03-26 2012-04-17 Tektronix, Inc. Holdoff algorithm for no dead time acquisition
US8386208B2 (en) * 2008-05-08 2013-02-26 Teledyne Lecroy, Inc. Method and apparatus for trigger scanning
US8190392B2 (en) * 2008-05-08 2012-05-29 Lecroy Corporation Method and apparatus for multiple trigger path triggering
US20090281758A1 (en) * 2008-05-08 2009-11-12 Lecroy Corporation Method and Apparatus for Triggering a Test and Measurement Instrument
US8055464B2 (en) * 2008-09-08 2011-11-08 Tektronix, Inc. Method of processing waveform data from one or more channels using a test and measurement instrument
US8521457B2 (en) * 2008-10-20 2013-08-27 Olympus Ndt User designated measurement display system and method for NDT/NDI with high rate input data
JP2011174730A (ja) * 2010-02-23 2011-09-08 Yokogawa Electric Corp 測定装置
US9297834B2 (en) * 2010-08-13 2016-03-29 Tektronix, Inc. Time-domain searching in a test and measurement instrument
US8521460B2 (en) * 2010-09-28 2013-08-27 Tektronix, Inc. Multi-domain test and measurement instrument
US8675719B2 (en) 2010-09-28 2014-03-18 Tektronix, Inc. Multi-domain test and measurement instrument
US8575950B2 (en) * 2010-10-29 2013-11-05 Ningbo University Static/dynamic resistance measuring apparatus and method
US9239343B2 (en) * 2011-06-06 2016-01-19 Tektronix, Inc. Interleaved digital down-conversion on a test and measurement instrument
US9026390B2 (en) * 2011-09-06 2015-05-05 Tektronix, Inc. Interleaved RF triggering on a test and measurement instrument
DE102011055945A1 (de) * 2011-12-01 2013-06-06 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe
US8725566B2 (en) * 2011-12-27 2014-05-13 Microsoft Corporation Predicting advertiser keyword performance indicator values based on established performance indicator values
CN103631316B (zh) * 2012-08-21 2020-06-26 是德科技股份有限公司 用于输出复杂触发信号的多级触发系统
US9390043B2 (en) 2012-12-17 2016-07-12 Analog Devices, Inc. Trigger routing unit
JP6109060B2 (ja) * 2013-12-19 2017-04-05 三菱電機株式会社 プリント基板検査装置
US10094868B2 (en) * 2014-04-11 2018-10-09 Tektronix, Inc. Test and measurement instrument having advanced triggering capability
JP2018189453A (ja) * 2017-04-30 2018-11-29 株式会社オーテックエレクトロニクス 入力信号変換装置及びその装置を用いた計測装置
US11567106B2 (en) * 2018-08-01 2023-01-31 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Measurement apparatus and measurement method
CN109458874B (zh) * 2018-12-20 2024-02-23 中国人民解放军陆军工程大学 一种检测分析仪
KR101957660B1 (ko) * 2019-01-07 2019-03-12 김창회 채널별 트리거 설정모드를 지원하는 다채널 오실로스코프 및 그 제어방법
USD947693S1 (en) 2019-09-20 2022-04-05 Tektronix, Inc. Measurement probe head assembly
CN114327571B (zh) * 2022-03-14 2022-06-14 合肥悦芯半导体科技有限公司 文件配置方法、芯片测试机及计算机可读取存储介质

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4884228A (en) * 1986-10-14 1989-11-28 Tektronix, Inc. Flexible instrument control system
US4743844A (en) * 1986-12-19 1988-05-10 Tektronix, Inc. Self-adjusting oscilloscope
US4802098A (en) * 1987-04-03 1989-01-31 Tektronix, Inc. Digital bandpass oscilloscope
SG46228A1 (en) * 1991-02-28 1998-02-20 Ass Measurement Pty Ltd Scientific instrument emulator
US5664219A (en) * 1995-06-12 1997-09-02 International Business Machines Corporation Method and system for controlling servicability of adapters connected by an I/O channel interface to a computer system
US5870668A (en) * 1995-08-18 1999-02-09 Fujitsu Limited Amplifier having distortion compensation and base station for radio communication using the same
US5949238A (en) * 1995-12-20 1999-09-07 Siemens Medical Systems, Inc. Method and apparatus for probing large pin count integrated circuits
AUPO044196A0 (en) * 1996-06-14 1996-07-11 Associative Measurement Pty Ltd A multifunctional input/output signal module for a general purpose computer
US5978742A (en) * 1997-04-04 1999-11-02 Tektronix, Inc. Method and apparatus for digital sampling of electrical waveforms
US5930745A (en) * 1997-04-09 1999-07-27 Fluke Corporation Front-end architecture for a measurement instrument

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