JP4011139B2

JP4011139B2 - 塩素含有供給ガスからの高純度の塩素の分離方法

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Application number: JP26216296A
Authority: JP
Inventors: ヴァッツェンベルガーオットー; プフェッフィンガーヨアヒム
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Priority date: 1995-10-04
Filing date: 1996-10-02
Publication date: 2007-11-21
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Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ガスの混合物から塩素を分離するための方法および回収するための方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
有機化合物を塩素化する過程で、大量の塩化水素が形成されるということは公知である。例えば、フォームおよびコーティングのための原料塩基を形成するイソシアネートの製造は、製品１トン当たり０．５〜１０ｔの塩化水素の形成を必然的に伴っている。
【０００３】
前記プロセスガスまたは他のプロセスガスまたはフラッシングガスからの塩素の再利用は、種々の方法で意図されている。電気分解の場合、例えば塩化水素は、まず第一に水性の塩化水素酸に変換され、次に電気分解により塩素と水素とに分解され、この場合、塩素は、濃縮された形で得られる。
【０００４】
他方、電気分解よりもエネルギーの点で更に有利な方法で、塩化水素が、ディーコン法の変法の１つによって酸化され、塩素と水とになる場合には、１０〜５０容量％の塩素含量を有する塩素ガスの希薄な流れだけが得られる。次に、化学薬品の生産が９９重量％以上の高純度を有する乾燥塩素を必要とするので、この希薄な流れは後処理されなければならない。
【０００５】
従って、希薄な塩素ガス流から高純度の分離画分を生じさせることが可能であるのと同程度に大量の塩素を分離するための試みは多数行われていた。
【０００６】
例えば、塩素は、乾燥ガス流の凝縮によって分離することができる（図１、Ullmanns Encyclopaedia der techn. Chemie、Chlor [chlorine]、第A6巻（１９８６年）、第３９９〜４８１頁を参照のこと）。塩素の凝縮温度は、圧力に依存しているので（図２を参照のこと）、凝縮は、経済的な理由から、安全の理由のため５〜１０バールを上回ってはならない圧力下で実施される。
【０００７】
しかしながら、前記圧力では、塩素は、低い塩素濃度のガスから、殊に流出ガス３中の現行法定放出値が観察される場合には、低温凝縮によって経済的に凝縮することはできない。前記の場合、ガス流は、流出ガス３中で（０．１６Ｐａの部分圧に相応する）５ｍｇ／ｍ³の塩素濃度を超えることがないような程度に、−１３０℃以下に冷却されなければならない。このことは、冷却エネルギーの極めて高い投入量を用いてのみ達成することができ、従って、不経済である。従って、大規模工業的な使用のためには、凝縮は、有利に９５％を上回る極めて高い塩素含量を有する塩素ガス流からの塩素の分離のための分離法もしくは精製法だけが存在する。こうして、流出ガス３中の残留塩素は、従来技術により、例えばガス洗浄によって除去される。
【０００８】
ＮａＯＨおよび／またはＮａ₂／ＳＯ₃を用いる、残留塩素を除去するためのこの種のガス洗浄は、例えば欧州特許第０４０６６７５号明細書中に記載されている。しかしながら、化学的ガス洗浄は、塩素の再使用の可能性を排除し、更に規則的な供給により廃棄処分を必要とする塩の相応する量を生じる。もう１つの変法は、吸着法を用いる塩素の取得からなる。吸着法の場合、塩素含有供給ガス１は、適当な方法で、常法によれば充填材料（バール・サドル、ラッシヒリング等）かまたは適当なカラム・トレイを備えた吸着カラムＣ１の塔底部に送り込まれる。吸着剤、例えばＣＣｌ₄、ヘキサクロロブタジエン、種々の部分的に塩素化されたかもしくは過塩素化されたプロパンまたはＳ₂Ｃｌ₂（化学的ガス洗浄：Ｓ₂Ｃｌ₂＋Ｃｌ₂ → ２ＳＣｌ₂）は、塩素含有供給ガスへの向流中で送り込まれ、かつガス流から塩素を吸着する。吸着は、０．５〜１バールまたは加圧下で、有利に５〜１０バールで実施される。カラム塔頂部での吸着剤４の供給温度は、それぞれの吸着剤の作用として、カラム塔頂部での流出ガス２中の残留塩素含量が必要とされた限界以下であるような程度に選択されている。吸着カラムの選択された温度がより高い場合には、流出ガス２からの残留塩素の除去は、上記のように残留塩素ガス洗浄器の手段を必要とする。
【０００９】
塩素負荷された吸着剤３は、吸着カラムＣ１の塔底部１で取り出され、かつ脱着カラムＣ２の中に送り込まれる、ここで、吸着剤によって吸着された塩素が加熱および／または圧力低下によって吸着剤から排出される。塩素を含有していない吸着剤４は、脱着カラムの塔底部で取り出され、冷却され、かつ吸着カラムを通して再利用される。脱着カラムの塔頂部で取り出された塩素５の部分は、凝縮され、かつ返送流としてカラムの中に返送される。
【００１０】
脱着カラムから取り出された塩素５は、供給ガスからの凝縮不可能なガス成分の僅かな割合および更に、脱着カラムの塔頂部での圧力条件および温度条件に応じて、相対的に大量の吸着剤を含有しておらず、その結果、達成することができる純度は、大多数の使用には不十分であり、従って、取得された塩素の付加的な精製が必要とされる。
【００１１】
典型的な吸着脱着法は、米国特許第５３０８３８３号明細書中に記載されている。前記の特徴は、実験式Ｃ₇Ｆ₃Ｈ_4-nＣｌ_n（式中、ｎは、１〜３である）で示される特殊な吸着剤、例えば３，４−ジクロロベンゾトリフロリドの使用である。前記吸着剤の使用の利点は、米国特許第５３０８３８３号明細書によれば、ガス８８ｍｇ／ｋｇだけの低い吸着損失並びにＣＣｌ₄に比べてオゾン破壊能力が不足していることである。更に、米国特許第５３０８３８３号明細書には、上記吸着剤とクロロホルムとの組合せが特に適していると記載されている。しかしながら次に、クロロホルムがオゾン破壊能力を有しているので、クロロホルムの損失を制限するために、−４℃の吸着剤オーバーヘッド温度を設定することが必要である。
【００１２】
塩素の吸着は、常用の吸着剤中、例えばＣＣｌ₄中で、物理的溶解によって生じることは公知である。前記処理工程は、相対的に任意のものであるので、また、供給ガス中の他のガス成分の一定の割合が吸着される。結果として、得られた塩素は、凝縮されているけれども、他のガス成分および吸着剤で汚染されており、他の精製、例えば低温蒸留を施さなければならない。
【００１３】
図４は、下流方向での低温蒸留を用いる吸着／脱着法の系統図を示している。吸着カラムＣ１中では、適当な吸着剤４が、塩素含有供給流１からの量的な塩素のガス洗浄のために使用されている。負荷された吸着剤３は、脱着カラムＣ２中に送り込まれ、そこで、塩素は、吸着剤を加熱することによって排出され、かつ塔頂部で留去される。再生された吸着剤４は、冷却され、かつ吸着カラムＣ１のために再利用される。
【００１４】
脱着カラムＣ２の塔頂部から取り出された塩素ガス５は、既に記載されたように、低い純度であり、従って、例えば低温蒸留カラムＣ３中で抽出凝縮によって精製されなければならない。凝縮不可能なガス６は、なお少量の塩素を含有しており、従って、塩素吸着カラムＣ１の中へ返送される。
【００１５】
前記方法の欠点は、吸着剤が塔頂部で出てこないような程度に脱着カラムが操作される場合にのみ、前記吸着剤が、“高沸点溶剤”として、低温蒸留カラムの塔底部の中、従って取り出された塩素７の中に送り込まれるので、高い純度の塩素７を取り出すことができることである。
【００１６】
ＨＣｌ酸化のためのシェル−ディーコン法によれば（The Chemical Engineer,（１９６３年）第２２４〜２３２頁）、塩素は、吸着剤としてのＣＣｌ₄を使用する吸着／脱着法によって分離される。Ｎ₂、Ｏ₂およびＣＯ₂（主要量）中で２７〜４８％の塩素含量を有する供給ガスから、塩素は、約１．５バールおよび約１１℃のオーバーヘッド温度で吸着カラム中でガス洗浄される。吸着液からの塩素の遊離は、脱着カラム中、約６５．５℃のオーバーヘッド温度、約１１バールの圧力下で行われる。遊離された塩素は、加圧下に塔頂部に取り付けられた水コンデンサー中で部分的な凝縮によって精製される。該水コンデンサー中になお存在する凝縮されなかった塩素および他のガス成分は、吸着カラムに返送されている。１つの同様の変法は、米国特許第４３９４３６７号明細書中に記載されている。
【００１７】
米国特許第２２２７１０５６号明細書には、ＣＣｌ₄の放出を防ぐために、吸着カラムの上方部分での活性炭の層の設置が提案されている。欠点は、活性炭には、限られた吸着能力しかなく、後に交換されなければならないということである。
【００１８】
吸着および引き続く脱着によって塩素を分離するための代替え案は、欧州特許第０３２９３８５号明細書中に記載されており、かつ図５中に示されている。前記の変法の場合、約１０〜３０重量％の塩素濃度を有する最初の塩素含有供給ガス１は、該供給ガスに塩素脱着段階からの塩素２（塩素約９０重量％）が添加されている。これは、塩素の濃度を供給流３の中で、明らかに５０重量％を上回るよう増大させる。前記ガス流３は、５〜９バールに圧縮され、次に、１つまたはそれ以上の段階で冷却され、その結果、存在する塩素の大部分が凝縮されている。凝縮された塩素は、溶解された異質のガスを分離するために、低温蒸留カラムＣ１に送り込まれる。精製されかつ前記のようにして分離された塩素９は、再使用することができる。低温蒸留カラムＣ１からの凝縮不可能なガス７は、なお塩素を含有しており、従って、前記の凝縮物６からの凝縮不可能なガス流と組み合わされ、かつ脱着カラムＣ２の中に送り込まれ、この中で、塩素は、凝縮不可能なガス成分から吸着によって分離される。負荷された吸着剤１１は、塩素を抽出するための沸騰によって、脱着カラムＣ３中で再生される。前記の段階で脱着された塩素２は、低い純度（塩素約９０重量％）である。該塩素２は、同様に吸着在中に溶解していた凝縮不可能なガスの相対的に多くの量を含有している。この塩素流２は、塩素含有供給ガス１に添加される。
【００１９】
この方法は、その他の点では、不経済な大量の塩素が、連続的に、吸着段階／脱着段階および凝縮段階の間を循環しなければならないので、明らかに１０容量％を上回る塩素含量を有する塩素含有ガス流１から塩素を回収するためにのみ有利に使用することができる。
【００２０】
もう１つの欠点は、脱着カラムＣ３からの塩素の豊富なガス混合物２が少量の吸着剤を含有しているので、この方法が、高純度の塩素を得るのに適していないことである。供給ガス１へのガス混合物の添加は、吸着剤が凝縮区間の中へ送り込まれ、この区間を介して、低温蒸留段階へ送り込まれ、ここで、該吸着剤が、高沸点成分として、塩素と一緒にカラムの塔底部から取り出されることを意味する。更に、前記変法のエネルギーの損失は、凝縮不可能な全ガス成分が、低い塩素凝縮温度に冷却されなければならないということである。
【００２１】
欧州特許出願公開第０５１８５５３号明細書には、塩素を分離するための低温蒸留とそれに続く真空圧力変動吸着（vacuum pressure swing adsorption）が記載されている。
【００２２】
供給ガス１は、圧縮され、図６に示されているように、まず第一に、塩素不含の流出ガス３で冷却され、次に、凝縮または低温蒸留Ｃ１に送り込まれ、ここで、存在する塩素の２の部分が純粋な液体の形で塔底部で取り出される。残留する塩素含有ガス４は、塔頂部を介してカラムＣ１を離れ、かつ真空圧力変動吸着（VPSA）コンテナＣ２の中に送り込まれる。吸着コンテナＣ２ａ〜Ｃ２ｃ中では、残留ガスからの塩素の吸着分離が、約４〜１１バールおよび０〜１５０℃、有利に周囲温度で交互に行われている。１〜６０ｋＰａの減圧で真空を引き続き使用することによって、交互に、吸着、高度に濃縮された塩素５は、吸着体塔から得られる。吸着された塩素の脱着に続いて、吸着コンテナは、新たな充填のために再使用可能である。採用することができる吸着剤は、合成もしくは天然のゼオライト（Ｘ、Ｙ、Ｌ、ＺＳＭ）または非ゼオライト多孔質酸化物および有利に炭素を基礎とする吸着剤、例えば活性炭および炭素モレキュラーシーブである。
【００２３】
しかしながら、前記の方法は、吸着コンテナ中になお存在するガス相が、ガス流４の全てのガス状成分を含有しており、塩素だけでなくガスの他の成分も、同様に部分的に吸着されているので、供給ガスから高純度の形での塩素の全てを得るには不適当である。真空が使用される場合、前記の成分は、脱着する塩素と一緒に、吸着コンテナから出てくる塩素流５の中へ送り込まれる。
【００２４】
凝縮／低温分離段階からの塩素２だけが、純粋な形で得られる。しかしながら、技術的および経済的に制限された冷却温度のために、この塩素２は、流入ガスの塩素濃度に左右されて制限された割合だけが存在する。
【００２５】
VPSAから純粋な形で全ての塩素を得るためには、分離された塩素５は、他の精製段階を施されなければならない。
【００２６】
更に、VPSAの前に凝縮／低温蒸留を行うことには、得られた全ての塩素含有供給ガス流が高い塩素凝縮圧（５〜２０バール）に圧縮されかつ相応する塩素凝縮温度に冷却されなければならないという欠点がある。
【００２７】
【発明が解決しようとする課題】
従って、本発明の課題は、塩素含有ガス流から塩素を分離するための方法を見出すことであり、この方法を用いて、塩素を、徹底的かつ高純度の形で分離することができ、かつこの方法は、エネルギー的に最適化されており、最小限の装置を用いて実施することができ、この方法の場合に、塩素分離装置を後にする流出ガスは、吸着剤を含有せず、かつ塩素をほとんど含有していない。
【００２８】
【課題を解決するための手段】
前記課題は、不活性吸着剤を用いる塩素の吸着および吸着剤／塩素混合物を脱着蒸留カラムに供給することにより吸着段階から取り出された吸着剤／塩素混合物からの塩素の下流方向への脱着によって、塩素含有供給ガスから高純度の塩素を分離するための方法により解決されることが見出され、この方法は、塩素分離カラムの塔頂部と脱着蒸留カラムの上部および脱着蒸留カラムの下部と塩素分離カラムの塔底部とがガスおよび液体の双方の側で互いに接続しているようにして塩素分離カラムに接続されている脱着蒸留カラム中で脱着蒸留を実施することからなり、この場合、吸着剤／塩素混合物は、専ら、脱着蒸留カラムに供給され、かつ高純度の塩素は、塩素分離カラムの中央部から取り出されている。
【００２９】
【発明の実施の形態】
本発明の好ましい実施態様が以下に記載されており、かつ図面により説明されている。
【００３０】
図１は、塩素分離単位装置の系統図を示し；
図２は、塩素の露点曲線を示し；
図３は、塩素回収のための吸着／脱着装置を示し；
図４は、図３の場合に塩素の精製蒸留を用いる装置としての系統図を示し；
図５は、全体の処理の系統図を示し；
図６は、圧力変動吸着を用いる塩素回収装置の系統図を示し；
図７は、塩素側カラムを有する塩素回収装置の系統図を示し；
図８は、分割カラムを有する塩素回収装置の系統図を示し；
図９は、図８に相応する流出ガス処理単位装置の系統図を示し；
図１０は、圧力変動吸着の下流方向での低温蒸留を用いる塩素回収装置の系統図を示す。
【００３１】
本発明の有利な実施態様の場合、脱着蒸留は、塩素分離カラムとしての側カラムを有する脱着蒸留カラム中で実施される。
【００３２】
本発明による方法のもう１つの有利な実施態様の場合、脱着蒸留カラムおよび塩素分離カラムは、１つのカラムに結合され、該カラムの一部には、分割装置、例えば隔壁があり、該隔壁は、縦方向に作用し、かつ該隔壁は、カラムの交差部を供給部および取り出し部に分割し、この場合、塩素／吸着剤混合物は、供給部に入れられ、かつ液体塩素は、取り出し部から取り出される。
【００３３】
本発明による方法の特に有利な実施態様の場合、室温で、１０ミリバール未満、有利に１ミリバール未満の蒸気圧である、有利な不活性洗浄液を用いて吸着段階から出てくるガス流のガス洗浄と、蒸留カラム中で０．１〜５バール、有利に１〜２バールの圧力で再生のための負荷された洗浄液の蒸留とによって、塩素吸着剤は、塩素吸着段階から出てくる流出ガスから分離され、この場合、洗浄液は、塔底部で取り出され、かつ有利にガス洗浄段階に返送され、かつ塔頂部を離れる排ガスは、塩素吸着段階に送り込まれる。本発明によれば、適当な吸着法（例えば、活性炭上での塩素およびＣＣｌ₄の吸着）を用いて、吸着カラムの流出ガスから残留塩素および／または残留吸着剤の除去を実施することも可能である。
【００３４】
塩素含有ガス流から塩素を分離するためのもう１つの本発明の解決策は、圧力変動吸着を用いてガス流から塩素を徹底的にかまたはほぼ完全に分離し、圧力変動吸着からの高度に塩素を含有するガスを１〜２０バール、有利に５〜１０バールの圧力に圧縮し、次に、有利に低温蒸留を施し、純粋な形での塩素を、蒸留カラムの塔底部生成物として分離し、かつ蒸留カラムの塔頂部生成物を、圧力変動吸着の供給ガスに返送することからなる。
【００３５】
本発明による方法は、以下の利点を得られるようにする：
− 最小限の装置およびエネルギー投入量を用いる、塩素含有ガス流からの塩素の徹底的な分離。このことは、特に、ディーコン法による酸素を用いるＨＣｌの酸化の場合に製造されているものとしての高度に希釈された塩素ガス流からの塩素の回収に使用されている。
【００３６】
− 分離された塩素は、高純度であり、かつこの製造法に再利用することができる。
【００３７】
− 例えば、塩素は、イソシアネート製造の場合に必要とされているホスゲンの製造のために再使用することができる。
【００３８】
− 塩素吸着剤は、真空圧力変動吸着の場合には全く必要とされないかまたは処理の際に、環境への損失なしに残留する。
【００３９】
高純度の塩素を得るための本発明による方法の有利な形態は、図７中に示されている。供給ガス１は、適当な方法で、常法によれば充填材料（バール・サドル、ラッシヒリング等）かまたは適当なカラム・トレイを備えた吸着カラムＣ１の底部に送り込まれる。吸着剤４は、向流中で、塩素含有供給ガスに送り込まれ、かつガス流の塩素を吸着し、該ガス流は、引き続き、吸着カラムの塔頂部を介して流出ガス２として装置から出ていく。塩素負荷された吸着剤３は、脱着蒸留カラムＣ２の中に送り込まれ、該脱着蒸留カラム中で、塩素は再度留去され、かつ塩素を含有しない吸着剤４は、脱着蒸留カラムの塔底部で取り出され、冷却され、かつ吸着カラムに再利用される。脱着蒸留カラムＣ２の下部から、上記は取り出され、かつ側カラム、塩素分離カラムＣ３の塔底部の中に送り込まれている。脱着蒸留カラムＣ２の上部から、液体が取り出され、かつ側カラムＣ３の塔頂部に送られている。側カラムＣ３から取り出された上記は、液体の取り出し部の位置で、脱着蒸留カラムＣ２の中に返送され、一方で、側カラムの塔底部で取り出された材料は、上記の取り出し位置で、脱着蒸留カラムの中に返送されている。高純度の形での液体塩素６は、残留ガスおよび吸着剤を含有しておらず、側カラムの中間の部分から取り出すことができる。負荷された吸着剤３中に同時に溶解した残留ガス成分は、少量の塩素とともに、塔頂部５を介して脱着蒸留カラムを離れ、かつ吸着カラムＣ１の中に返送されている。
【００４０】
高純度の塩素を得るための本発明による方法の特に有利な実施態様は、図８中に示されている。塩素は、図７中で示されているように、吸着カラムＣ１を用いて、供給ガスから分離され、かつ脱着蒸留カラムＣ２中で、吸着剤から再度留去されている。脱着蒸留カラムは、分割されたカラムとして形成されている。これは、原理的には、脱着蒸留カラムの中への、図７中に記載された側カラム、塩素分離カラムの結合に相応している。隔壁によって分離されたカラムの領域では、濃度特性曲線は、側カラム中のものと同様に設定されている。高純度の液体塩素６が取り出すことができるような最適の高さは、負荷された吸着剤の組成およびカラムの配置による関数である。隔壁の高さは、５個以上の理論段でなければならないが、しかし、全体の高さ、脱着蒸留カラムの作用部分の有利に１０〜９０％、特に有利に６０〜７０％の高さを上回ってはならない。このことは、塩素分離カラムが側カラムの形であったとしても適用される。隔壁の上および下で、２個のカラムは、互いにガス側および液体側で接続されている。側カラムの代わりに分割されたカラムを使用することによって、分離装置は、１個の単位装置を減らされ、かつエネルギーの点で相当の節約が可能である。
【００４１】
図８により分離された高純度の塩素ばかりでなく、吸着カラムからの流出ガス２が、なお存在する限り、任意の吸着剤から除去される本発明による方法の他の特に有利な実施態様は、図９中に示されている。
【００４２】
吸着カラムＣ１の塔頂部から導かれている流出ガス２は、なお若干の塩素吸着剤、例えばＣＣｌ₄を含有しいてもよく、該塩素吸着剤は、適当な洗浄液９、例えばシスデカリンもしくはトランスデカリンまたは他の適当な高沸点物質を用いて、吸着カラムＣ３中で完全にガス洗浄される。吸着カラムＣ３からの清浄なガス７は、環境に放出することができ、かつＯ₂を用いるＨＣｌの酸化のための処理に返送することができる。下流方向の脱着カラムＣ４中では、塩素吸着剤は、負荷された洗浄液８から再度留去され、洗浄液は、塔底部生成物９として取り出され、冷却され、かつ吸着段階Ｃ３に返送される。得られた塔頂部生成物１０は、ガス混合物であり、該ガス混合物は、吸着カラムＣ１に、例えば流れ５と一緒に送り込まれる。
【００４３】
高純度の塩素の回収のためのもう１つの本発明方法によれば、真空圧力変動（V-PSA）は、図１０中に示されているように、塩素含有流入ガスから塩素を分離するために使用されている。供給ガス１は、第一に圧縮される。残留ガスからの塩素の分離は、コンテナＣ２ａからＣ２ｃ中で吸着によって周期的に行われる。真空の非周期的使用によって、高度に濃縮された塩素５は、吸着塔から得られる。付着している塩素の脱着後に、吸着塔は、新たな充填のために再度使用可能である。吸着コンテナ中のガス相は、なお流入ガスのガス状成分を含有している。真空が使用される場合には、前記の成分は、脱着された塩素と一緒に、吸着コンテナから出てくる塩素流５の中に送り込まれ、該塩素流は圧縮され、次に冷却後に、低温蒸留段階Ｃ３に送り込まれる。この段階で、なお存在している望ましくないガス状成分は、留去される。高純度の塩素６は、カラムの塔底部から、液体の形で取り出すことができる。塔頂部で取り出された残留ガス２は、なお塩素を含有しており、かつV-PSA段階に返送されている。しかしながら、この残留ガス流は、極少量である。
【００４４】
【実施例】
比較例Ｃ１：
吸着−脱着（図３による方法）
７００ｋＰａの圧力および０℃の温度で、Ｃｌ₂１７．１重量％、ＨＣｌ０．５重量％およびＮ₂＋Ｏ₂８２．４重量％の組成を有する塩素含有ガス流を、１００ｌ／ｈの容量流量（＝ガス１．１ｋｇ／ｈ；＝Ｃｌ₂０．２ｋｇ／ｈ）で、吸着カラムに供給した。吸着カラムは、４０ｍｍの内径および１．３ｍの全体の高さであった。使用されたカラム内部構造物は、１．０ｍの床高さで５×５ｍｍのポールリングであった。液体ＣＣｌ₄を、カラムの塔頂部で、−２０℃の温度および２．７ｋｇ／ｈの速度で供給した。塩素負荷された吸着剤を、４０ｍｍの内径、１．５ｍの全体の高さおよびパールリング（５×５ｍｍ）の１．３ｍの床を有する脱着カラムに送り込んだ。７００ｋＰａの圧力、１６０℃の塔底部温度および１６℃のオーバーヘッド温度で、脱着カラムから得られた塔頂部生成物は、約９２重量％の純度を有する塩素ガスであった。ガスおよび液体中の個々の成分の濃度は、表１中に示されている。
【００４５】
【表１】

【００４６】
得られた塩素ガスは、僅かに約９２重量％の純度であり、従って、もう１つの精製段階（蒸留）に送り込まなければならない。吸着カラムからの排ガスは、なお付加的に、塩素０．４重量％、ＣＣｌ₄１．０重量％を含有している。
【００４７】
例１：
側カラム中での塩素の精製蒸留を用いる吸着および脱着（図７による方法）
７００ｋＰａの圧力および０℃の温度で、Ｃｌ₂１７．１重量％、ＨＣｌ０．５重量％およびＮ₂＋Ｏ₂８２．４重量％の組成を有する塩素含有ガス流１００ｌ／ｈの容量流量（＝１．０ｋｇ／ｈ）で、脱着蒸留カラムからの返送ガス流と一緒に、吸着カラムに供給した。吸着カラムは、４０ｍｍの内径および１．３ｍの全体の高さであった。使用されたカラム内部構造物は、１．０ｍの床高さで５×５ｍｍのポールリングであった。−２０℃の温度を有する液体ＣＣｌ₄を、３．０ｋｇ／ｈの速度でカラム塔頂部に供給した。塩素負荷された吸着剤を、４０ｍｍの内径、１．５ｍの全体の高さおよびパールリング（５×５ｍｍ）の１．３ｍの床を有する脱着蒸留カラムの中間の部分に供給した。７００ｋｐａの圧力、１６０℃の塔底部温度および５℃のオーバーヘッド温度で、得られた塔頂部生成物は、約７８重量％の純度を有する塩素ガスであり、これを、吸着カラムの供給ガス流の中に返送した。蒸気を、脱着蒸留カラム０．３５ｍ（塔底部から計算した）の高さで除去し、液体を１．１５ｍ（塔底部から計算した）の高さで除去し、双方を側カラム、４０ｍｍの内径、１．０ｍの全体の高さおよび充填材料（パールリング５×５ｍｍ）の床０．８ｍ塩素分離カラムに供給した。液体の形での塩素を、前記の側カラムの中央部から取り出した。側カラムの塔底部生成物および塔頂部生成物を、特別な取り出し部トレイで、脱着蒸留カラムに供給した。ガスおよび液体中の個々の成分の濃度は、表２中に示されている。
【００４８】
【表２】

【００４９】
例２：
分割されたカラム中での吸着および脱着（図８による方法）
Ｃｌ₂１７．１重量％、ＨＣｌ０．５重量％およびＮ₂＋Ｏ₂８２．４重量％の組成を有する塩素含有ガス流を、７００ｋＰａ、０℃で、１００ｌ／ｈの容量流量（＝１．０ｋｇ／ｈ）で、脱着蒸留カラムからの返送ガス流と一緒に、吸着カラムに供給した。吸着カラムは、４０ｍｍの内径および１．３ｍの全体の高さだった。使用されたカラム内部構造物は、１．０ｍの床高さで５×５ｍｍのポールリングであった。液体ＣＣｌ₄を、カラムの塔頂部で、−２０℃の温度および３．０ｋｇ／ｈの速度で供給した。塩素負荷された吸着剤を、４０ｍｍの内径、１．５ｍの全体の高さおよびパールリング（５×５ｍｍ）の床１．３ｍを有する脱着蒸留カラムの中間の部分に供給した。前記カラムは、０．３５ｍ〜１．１５ｍ（それぞれ塔底部から計算した）の充填材高さで垂直な隔壁を有している。７００ｋＰａの圧力、１６０℃の塔底部温度および５℃のオーバーヘッド温度で、得られた塔頂部生成物波、約７８重量％の純度を有する塩素ガスであり、これを、吸着カラムの供給ガス流の中に返送した。液体の形での塩素を、脱着蒸留カラムの中間の部分から、供給部分と反対の隔壁の側で取り出した。ガスおよび液体中の個々の成分の濃度は、表３中に示されている。
【００５０】
【表３】

【００５１】
例３：
塩素吸着剤の吸着分離（図９による方法）
塩素吸着カラムからの流出ガス２を、０．８４ｋｇ／ｈの速度および−１５℃の温度で、ＣＣｌ₄２．０重量％、Ｃｌ₂０．４重量％および残留ガス（Ｎ₂＋Ｏ₂、ＨＣｌの痕跡）９８．６重量％の組成で、パールリングで充填された吸着カラムＣ３の中に送り込んだ。カラムは、３０ｍｍの内径および１．０ｍのパールリング高さであった。２０℃で冷たいシス−デカリンを、洗浄液として、カラムの塔頂部で、０．１２ｋｇ／ｈの速度で供給し、これによって、塩素吸着剤ＣＣｌ₄を、６５０ｋＰａの作業圧力でガス洗浄して、１ｐｐｍ未満の残留含量に減少させた。負荷された洗浄液を、充填材料を含有する蒸留カラムの中間の部分に送り込んだ。蒸留カラムは、５０ｍｍの内径および１．５ｍの全体の高さ（充填材量の高さ）であった。使用された充填材料は、パールリング５×５ｍｍからなるものであった。１００ｋＰａの圧力、２００℃の塔底部温度および−３５℃のオーバーヘッド温度で、得られた塔底部生成物は、９９．９重量％を上回る純度を有するシス−デカリンであり、これを、２０℃に冷却後に、ガス洗浄器に返送した。得られた塔頂部生成物は、Ｃｌ₂２．６重量％、ＣＣｌ₄９３．８重量％および残留ガス（Ｎ₂＋Ｏ₂、ＨＣｌ）３．５重量％を含有するガス流であり、これを、吸着段階に送り込んだ。ガスおよび液体中の個々の成分の濃度は、表４中に示されている。
【００５２】
【表４】

【００５３】
例４：
真空圧力変動吸着と引き続く低温分離（図１０による方法）
２５℃で加圧下（５００ｋＰａ）に、Ｃｌ₂１７重量％および不活性ガス（Ｎ₂＋Ｏ₂）８３重量％の組成を有する温かい塩素含有ガスを、ゼオライトを基礎とする吸着剤で充填された吸着体の床を導通させた。負荷（空間速度＝１２０ｈ^-1）を、出てくるガスが塩素を含有していないような程度に選択した。負荷の継続時間波、８分間だった。塩素漏出を回避するために、吸着体床を完全には負荷しなかった。負荷の終了後に、塩素含有ガス流を、第二の吸着体床に切り換えた。第一の吸着体床を、引き続き、粗製塩素の線に降下させ、次に真空ポンプを用いて放圧して２ｋＰａの圧力にした。加圧下に、貯蔵された塩素の脱着を最大にするために約５分間保持した。吸着体床から取り出された粗製塩素（８０〜９０容量％）を、８００ｋＰａに圧縮し、２５℃に冷却し、かつオーバーヘッド温度が−５０℃である塩素凝縮カラムの中に送り込んだ。９９．０重量％を上回る塩素を含有する液体塩素を、カラムの塔底部で取り出した。塩素凝縮カラムの塔頂部で取り出された残留ガスを、吸着体床の供給流に送り込む。
【図面の簡単な説明】
【図１】塩素分離単位装置を示す系統図。
【図２】塩素の露点曲線を示す線図。
【図３】塩素回収のための吸着／脱着装置を示す系統図。
【図４】図３の場合に塩素の精製蒸留を用いる装置を示す系統図。
【図５】全体の処理を示す系統図。
【図６】圧力変動吸着を用いる塩素回収装置を示す系統図。
【図７】塩素側カラムを有する塩素回収装置を示す系統図。
【図８】分割カラムを有する塩素回収装置を示す系統図。
【図９】図８に相応する流出ガス処理単位装置を示す系統図。
【図１０】圧力変動吸着の下流方向での低温蒸留を用いる塩素回収装置を示す系統図。
【符号の説明】
Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３カラム

Claims

不活性吸着剤を使用することによる塩素の吸着および吸着剤／塩素混合物を脱着蒸留カラムに供給することにより吸着段階から取り出された吸着剤／塩素混合物からの塩素の下流方向への脱着によって、塩素含有供給ガスから高純度の塩素を分離するための方法において、塩素分離カラムの塔頂部と脱着蒸留カラムの上部および脱着蒸留カラムの下部と塩素分離カラムの塔底部が、互いにガスおよび液体の双方の側で接続しているように塩素分離カラムに接続されている脱着蒸留カラム中で脱着蒸留を実施し、この場合、吸着剤／塩素混合物は、専ら、脱着蒸留カラムに供給され、かつ高純度の塩素は、塩素分離カラムの中央部から取り出されることを特徴とする、塩素含有供給ガスからの高純度の塩素の分離法。
塩素含有ガス流から純粋な塩素を分離するための方法において、塩素含有ガス流に、まず、圧力変動吸着を施し、圧力変動吸着からの塩素含有ガスを、１〜２０バール、有利に５〜１０バールの圧力に圧縮し、次に、低温蒸留を施し、この場合、塩素は、蒸留カラムの塔底部生成物として純粋な形で分離され、かつ蒸留カラムの塔頂部生成物は、圧力変動吸着の供給ガス流の中に返送されることを特徴とする、塩素含有ガス流からの純粋な塩素の分離法。