JP3942467B2 - X線透視検査装置 - Google Patents

X線透視検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3942467B2
JP3942467B2 JP2002084223A JP2002084223A JP3942467B2 JP 3942467 B2 JP3942467 B2 JP 3942467B2 JP 2002084223 A JP2002084223 A JP 2002084223A JP 2002084223 A JP2002084223 A JP 2002084223A JP 3942467 B2 JP3942467 B2 JP 3942467B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
subject
fluoroscopic
rotating
present
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2002084223A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003279502A (ja
Inventor
利行 長峰
清英 玉木
英行 富沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba IT and Control Systems Corp
Original Assignee
Toshiba IT and Control Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba IT and Control Systems Corp filed Critical Toshiba IT and Control Systems Corp
Priority to JP2002084223A priority Critical patent/JP3942467B2/ja
Publication of JP2003279502A publication Critical patent/JP2003279502A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3942467B2 publication Critical patent/JP3942467B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、X線を用いて被検体を透視し、被検体の内部を非破壊で検査するX線透視検査装置に係り、特にどのような被検体に対しても、良好に透視方向を変えられるようにしたX線透視検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来から、X線透視による内部検査は、色々な分野でさまざまな被検体について行なわれてきている。
【0003】
例えば、自動車分野のアルミホイール、鉄・アルミ鋳物、タイヤ等、セラミックス分野、スポーツ用品、半導体、電子・電気機器、電池、溶接部品、食品等で使用されている。
【0004】
また、その検査内容についても、例えば異物混入、製造過程での自然欠陥、形状検査、寸法管理(製品性能上の仕様確保)、部品の欠落、充填材料の量検査等、さまざまである。
【0005】
さらに、検査方法についても、オフラインの目視検査からインライン検査での欠陥の自動判定まで行なわれている。
【0006】
このようなX線透視による被検体の内部検査では、(被検体限定の場合を除いて)1つの装置で、さまざまな形状の被検体に対応できるようにすることが好ましい。
【0007】
汎用型のX線透視検査装置では、被検体の透過像を見ながら電動で透視方向を変更できるような機構部が付属しており、ある変更範囲内で透視方向を変更することができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、被検体によって、好ましい透視方向の変更範囲が異なるため、従来のX線透視検査装置では、どのような被検体に対しても、良好に透視方向を変えることのできる機構部を持ったものが無いのが実状である。
【0009】
本発明の目的は、どのような被検体に対しても、良好に透視方向を変えることが可能なX線透視検査装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するめにために本発明は、X線を用いて被検体を透視し、当該被検体の内部を非破壊で検査するX線透視検査装置において、被検体を載置する回転テーブルと、回転テーブルを回転させる回転手段と、この回転手段の下部に設けられ、回転テーブルを水平方向からその回転軸と共に傾斜させる傾斜手段と、回転テーブルに載置された被検体に対してX線ビームを放射するX線源と、このX線源から放射されて被検体を透過したX線ビームを検出するX線検出手段と、前記X線源と前記X線検出手段とを支持するフレームと、前記X線検出手段からの出力を被検体の透過像として表示する表示手段と、被検体の型形状に応じて、X線ビームの方向がほぼ水平方向とほぼ垂直方向の2方向をとるように、前記フレームを介して前記X線源と前記X線検出手段の配置を切換える透視方向切換え手段とを備えている。
【0011】
従って、本発明のX線透視検査装置においては、X線ビームの方向をほぼ水平方向に切換えた場合、回転テーブル上の被検体を回転および傾斜させることにより、「水平範囲」で透視方向を変えて良好な透視方向を選ぶことができる。
また、X線ビームの方向をほぼ垂直方向に切換えた場合、回転テーブル上の被検体を回転および傾斜させることにより、「垂直範囲」で透視方向を変えて良好な透視方向を選ぶことができる。
以上により、「長型」の被検体に対しても、「平型」の被検体に対しても、良好に透視方向を変えることが可能となる。
【0012】
【発明の実施の形態】
まず、本発明の考え方の前提となる概念について説明する。
【0013】
本発明者等が、X線透視の被検体の形状について考察を重ねた結果、多種多様である被検体も、X線透視の観点からは、形状は大別して2種類に分けられることがわかった。
【0014】
すなわち、被検体の3軸に沿った長さを、長い方からa,b,cとすると、bがcに近いかaに近いかによって、前者を細長いもの、つまり「長型」と名づけ、後者を平たいもの、つまり「平型」と名づける。
【0015】
図5は、「長型」被検体100の透視方向を説明するための概念図である。
【0016】
X線透視は、透過長が短かい方向から行なうのが、良好な透過画像が得られるので、通常、「長型」は図5に斜線で示した透視方向から透視する。
【0017】
この方向を、「水平範囲」101と名づける。
【0018】
「長型」に対しては、この「水平範囲」101で透視方向を変更できる機構部を持ったX線透視検査装置が好ましい。
【0019】
これにより、透過画像を見ながら、「水平範囲」101で透視方向を変えて、良好な透視方向を選ぶことができる。
【0020】
図6は、「平型被検体」102の透視方向を説明するための概念図である。
【0021】
同様に、X線透視は、透過長が短かい方向から行なうのが、良好な透過画像が得られるので、通常、「平型」は図6に斜線で示した透視方向から透視する。
【0022】
この方向を、「垂直範囲」103と名づける。
【0023】
「平型」に対しては、この「垂直範囲」103で透視方向を変更できる機構部を持ったX線透視検査装置が好ましい。
【0024】
これにより、透過画像を見ながら、「垂直範囲」103で透視方向を変えて、良好な透視方向を選ぶことができる。
【0025】
本発明は、このような被検体の分類と、それぞれの好ましい透視方向の範囲に着目してなされたものである。
【0026】
以下、上記のような考え方に基づく本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【0027】
(第1の実施の形態)
図1は、本実施の形態によるX線透視検査装置の構成例を示す概要図である。
【0028】
図1において、被検体4を載置する回転テーブル6と、当該回転テーブル6を回転させる回転機構7の全体は、回転軸12と共に傾斜機構8で傾斜させるようにしている。
【0029】
回転テーブル6の上面は、水平方向から傾斜軸13を中心として左右に十数度傾斜できるようにしている。
【0030】
回転テーブル6(および回転機構7と傾斜機構8)は、XY機構9で水平面内で2方向に移動させると共に、Z機構10で垂直方向に移動させるようにしている。
【0031】
X線管1は、被検体4に向けてX線ビーム2を放射するようにフレーム5上に配置し、X線検出器3はX線管1から放射されて被検体4を透過したX線ビーム2を検出するようにフレーム5上に配置している。
【0032】
フレーム5は、図示しない旋回機構により支持されており、また傾斜軸13にほぼ平行で水平方向である旋回軸11を中心に旋回できるようにしている。
【0033】
この旋回により、X線ビーム2の方向が、回転軸12が傾斜する面内で水平方向と垂直方向とに切換えられるようにしている。
【0034】
ここで、X線検出器3としては、例えばX線I.I.とテレビカメラとからなるものを用いることができる。
【0035】
また、図示は省略しているが、この他に構成要素として、筐体(X線を遮蔽する遮蔽箱)、X線管1に電力を供給する高電圧発生器、管電圧・管電流を制御するX線制御器、X線検出器3の出力を透過画像として表示する表示部、機構を制御する機構制御部、機構を操作する操作パネル等がある。
【0036】
次に、以上のように構成した本実施の形態によるX線透視検査装置の作用について説明する。
【0037】
図1において、まず、「長型」の被検体の場合には、図1に示すように、フレーム5を水平方向に旋回させて、X線ビーム2を水平に切換える。
【0038】
そして、この状態で回転φと傾斜θを動かすことで、「長型」の被検体4に対し、「水平範囲」101で透視方向を変えて、良好な透視方向を選ぶことができる。
【0039】
さらに、X、Y、Z方向に動かすことで、透視位置や拡大率を変更することができる。
【0040】
一方、「平型」の被検体の場合には、図2に示すように、フレーム5を垂直方向に旋回させて、X線ビーム2を垂直方向に切換える。
【0041】
そして、この状態で回転φと傾斜θを動かすことで、「平型」の被検体16に対し、「垂直範囲」103で透視方向を変えて、良好な透視方向を選ぶことができる。
【0042】
さらに、X、Y、Z方向に動かすことで、透視位置や拡大率を変更することができる。
【0043】
以上のようにして、「長型」の被検体4に対しても、「平型」の被検体16に対しても、良好に透視方向を変えることができる。
【0044】
また、回転テーブル6の水平方向からの傾斜角度は少ないので、被検体4、16の固定は、粘着テープ等を用いて簡便に行なうことができる。
【0045】
上述したように、本実施の形態によるX線透視検査装置では、どのような被検体4、16に対しても、良好に透視方向を変えることが可能となる。
【0046】
(変形例)
前述した第1の実施の形態において、フレーム5は水平方向と垂直方向が切換えられればよいので、精度良く旋回させる必要はない。
【0047】
また、電動でなく手動で切換えるようにしてもよい。
【0048】
さらに、旋回でなく、ネジ止めを付け替えるだけとするようにしてもよい。
【0049】
一方、X線管1とX線検出器3を一体で切り換える必要もなく、片方ずつ切り換えてもよい。
【0050】
また、X線検出器はX線I.I.とテレビカメラとからなるものに限られることもない。
【0051】
(第2の実施の形態)
図3は、本実施の形態によるX線透視検査装置の構成例を示す概要図であり、図1と同一部分には同一符号を付してその説明を省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べる。
【0052】
すなわち、図3に示すように、本実施の形態によるX線透視検査装置が、前述した第1の実施の形態と異なるのは、フレーム5とその旋回機構を省略している点、および筐体(X線遮蔽)に2つのX線検出器取付け部21、22と2つのX線管取付け部23、24(請求項の「透視方向切換え手段」に対応)とを設けている点である。
【0053】
すなわち、本実施の形態では、X線検出器3とX線管1の取付けを変更することで、X線ビーム2の方向を、回転軸12が傾斜する面内で水平方向と垂直方向に切換えることができるようにしている。
【0054】
次に、以上のように構成した本実施の形態によるX線透視検査装置の作用について説明する。
【0055】
図3は、X線ビーム2が水平方向に切換えられた状態である。
【0056】
X線検出器3は、X線検出器取付け部21に取付けられ、外にはみ出した部分は遮蔽カバー25で覆われている。
【0057】
X線管1は、X線管取付け部23に取付けられ、外にはみ出した部分は遮蔽カバー27で覆われている。
【0058】
X線検出器取付け部22の開口部は、遮蔽カバー26で覆われている。
【0059】
図3に示すような状態で、前述した第1の実施の形態と同様に、「長型」の被検体4に対し、「水平範囲」101で透視方向を変えて、良好な透視方向を選ぶことができる。
【0060】
図4は、X線ビーム2が垂直方向に切換えられた状態である。
【0061】
X線検出器3は、X線検出器取付け部22に取付けられ、外にはみ出した部分は遮蔽カバー25で覆われている。
【0062】
X線管1は、X線管取付け部24に取付けられている。
【0063】
X線検出器取付け部21とX線管取付け部23の開口部は、それぞれ遮蔽カバー26、28で覆われている。
【0064】
図4に示すような状態で、前述した第1の実施の形態と同様に、「平型」の被検体16に対し、「垂直範囲」103で透視方向を変えて、良好な透視方向を選ぶことができる。
【0065】
以上のようにして、前述した第1の実施の形態と同様に、「長型」の被検体4に対しても、「平型」の被検体16に対しても、良好に透視方向を変えることができ、また被検体の固定も簡便に行なうことができるのに加えて、さらに本実施の形態では、ビーム切換え機構が簡単で安価で小型軽量にすることができるという利点がある。
【0066】
特に、本実施の形態は、被検体の形状が比較的一定しており、長期的には変化があるようなユーザに都合がよい。
【0067】
さらに、本実施の形態では、装置の標準化を図ることができるという利点がある。すなわち、装置の製造は、「長型」に対しても「平型」に対しても共通で、出荷時に切換えるだけで対応することができる。
【0068】
上述したように、本実施の形態によるX線透視検査装置でも、どのような被検体4、16に対しても、良好に透視方向を変えることが可能となる。
【0069】
(その他の実施の形態)
尚、本発明は、上記各実施の形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で、種々に変形して実施することが可能である。
また、各実施の形態は可能な限り適宜組み合わせて実施してもよく、その場合には組み合わせた作用効果を得ることができる。
さらに、上記各実施の形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより、種々の発明を抽出することができる。
例えば、実施の形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題(の少なくとも一つ)が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果(の少なくとも一つ)が得られる場合には、この構成要件が削除された構成を発明として抽出することができる。
【0070】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のX線透視検査装置によれば、X線ビームの方向を切換える場合に、回転テーブル上の被検体を回転および傾斜させるようにしているので、どのような被検体に対しても、良好に透視方向を変えることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるX線透視検査装置の第1の実施の形態を示す概要構成図。
【図2】同第1の実施の形態のX線透視検査装置における作用を説明するための概要図。
【図3】本発明によるX線透視検査装置の第2の実施の形態を示す概要構成図。
【図4】同第2の実施の形態のX線透視検査装置における作用を説明するための概要図。
【図5】本発明の考え方の前提となる「長型」被検体の透視方向を説明するための概念図。
【図6】本発明の考え方の前提となる「平型」被検体の透視方向を説明するための概念図。
【符号の説明】
1…X線管
2…X線ビーム
3…X線検出器
4…被検体
5…フレーム
6…回転テーブル
7…回転機構
8…傾斜機構
9…XY機構
10…Z機構
11…旋回軸
12…回転軸
13…傾斜軸
16…被検体
21…X線検出器取付け部
22…X線検出器取付け部
23…X線管取付け部
24…X線管取付け部
25…遮蔽カバー
26…遮蔽カバー
27…遮蔽カバー
28…遮蔽カバー。

Claims (1)

  1. X線を用いて被検体を透視し、当該被検体の内部を非破壊で検査するX線透視検査装置において、
    前記被検体を載置する回転テーブルと、
    前記回転テーブルを回転させる回転手段と、
    前記回転手段の下部に設けられ、前記回転テーブルを水平方向からその回転軸と共に傾斜させる傾斜手段と、
    前記回転テーブルに載置された被検体に対してX線ビームを放射するX線源と、
    前記X線源から放射されて前記被検体を透過したX線ビームを検出するX線検出手段と、
    前記X線源と前記X線検出手段とを支持するフレームと、
    前記X線検出手段からの出力を前記被検体の透過像として表示する表示手段と、
    前記被検体の型形状に応じて、前記X線ビームの方向がほぼ水平方向とほぼ垂直方向との2方向をとるように、前記フレームを介して前記X線源と前記X線検出手段の配置を切換える透視方向切換え手段と
    を備えて成ることを特徴とするX線透視検査装置。
JP2002084223A 2002-03-25 2002-03-25 X線透視検査装置 Expired - Lifetime JP3942467B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002084223A JP3942467B2 (ja) 2002-03-25 2002-03-25 X線透視検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002084223A JP3942467B2 (ja) 2002-03-25 2002-03-25 X線透視検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003279502A JP2003279502A (ja) 2003-10-02
JP3942467B2 true JP3942467B2 (ja) 2007-07-11

Family

ID=29231669

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002084223A Expired - Lifetime JP3942467B2 (ja) 2002-03-25 2002-03-25 X線透視検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3942467B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006090793A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Shimadzu Corp X線透視装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4143859B2 (ja) 2004-09-22 2008-09-03 株式会社島津製作所 X線透視装置
JP2006189349A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Kawasaki Heavy Ind Ltd 非破壊欠陥検査システム
JP4739803B2 (ja) * 2005-01-14 2011-08-03 株式会社ビームセンス X線ステレオ透視装置及びそれを用いたステレオ観察方法
KR102283451B1 (ko) * 2018-05-16 2021-07-30 삼성중공업(주) 방사선 시편 검사 장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006090793A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Shimadzu Corp X線透視装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003279502A (ja) 2003-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7099432B2 (en) X-ray inspection apparatus and X-ray inspection method
US7680242B2 (en) X-ray examination method and X-ray examination apparatus
JP4097934B2 (ja) 局部的なデジタル式放射線探傷検査のための方法及び装置
US6411674B1 (en) Radiation tomography device and subject examination apparatus using the same
US4379348A (en) X-Ray security screening system having magnification
US9759818B2 (en) Digital flat panel detector with squircle shape
JP4386812B2 (ja) X線検査装置
JP3942467B2 (ja) X線透視検査装置
JP5201515B2 (ja) X線非破壊検査装置
JP3916385B2 (ja) コンピュータ断層撮影装置
US4890313A (en) Bi-directional x-ray imager
CN219594645U (zh) 信息提示装置、系统及超声扫描设备
JP2004257914A (ja) X線透視装置
JP4460139B2 (ja) X線異物検出装置
JP5881006B2 (ja) 断層撮影装置
JP3693318B2 (ja) エックス線可変斜視角透視装置
JP2004294287A (ja) 非破壊検査装置
JP2000116640A (ja) X線ct装置
KR100948649B1 (ko) 투과형 및 반사형 겸용 엑스-레이 발생장치 및 그것을구비한 엑스레이 검사시스템
JP3254805B2 (ja) 内部検査装置
CN217820093U (zh) 一种可以实现显微ct的x-ray检测设备
TW201905471A (zh) 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置
JPH08297103A (ja) X線断層撮影方法及びその装置
JP2011067335A (ja) 放射線検出器の位置表示装置及び臥位撮影台、並びに放射線画像撮影システム
JP2000111500A (ja) 横置きx線透視装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050315

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061109

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061121

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070213

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070221

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070313

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070403

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3942467

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110413

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110413

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120413

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130413

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140413

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term