JP3914479B2 - Jig for measuring frequency characteristics of chip capacitors - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、チップコンデンサの周波数特性測定用治具に関し、特に、測定精度及び利便性を高めたチップコンデンサの周波数特性測定用治具に関する。
【0002】
【従来の技術】
チップコンデンサの容量や共振点等の周波特性をデシベル値で表示することが可能なネットワークアナライザが知られている。このようなネットワークアナライザを用いてコンデンサの周波特性を測定する場合には、図4に示すように、芯線5a′とグランド線5c′との間に、被測定チップコンデンサCを並列接続し、出力端子Tx5及び入力端子Rx5にそれぞれネットワークアナライザの入出力端子を接続する。そして、チップコンデンサCに対して試験信号f1を与え、これによる出力信号に基づいて、チップコンデンサの容量や共振点等の周波特性を測定するようにしている。
【0003】
ところが、ネットワークアナライザを使用してチップコンデンサの周波数特性を測定する治具は、現在販売されておらず、通常、図5に示すような方法で周波数特性が測定されていた。図5(A)は第1の従来の測定方法に係り、図5(B)は第2の従来の測定方法に係る図である。
【0004】
すなわち、図5(A)に示すように、第1の従来の測定方法においては、ネットワークアナライザの入出力端子にそれぞれ接続される同軸線5を、基板8上に形成されたグランド線パターン5c1及び信号線パターン5a1に入出力コネクタ7a、7bを介して接続する。そして、グランド線パターン5c1と信号線パターン5a1との間に、被測定チップコンデンサCを並列に半田づけP3にて接合する。なお、グランド線パターン5c1及び信号線パターン5a1の長さLは通常30mm〜50mmである。
【0005】
また、図5(B)に示すように、第2の従来の測定方法においては、同じくネットワークアナライザの入出力端子にそれぞれ接続される同軸線5のグランド線5cと芯線5aとの間に、直接、被測定チップコンデンサCを並列に半田づけP4にて接合する。なお、図中、5b及び5dはそれぞれ、同軸線5の絶縁内皮及び絶縁外皮を示す。なお、測定時における図5(A)及び図5(B)の方法の等価回路は、図4と同様になる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記第1の従来の測定方法においては、同軸線5からチップコンデンサCに至るまでのインダクタンスの影響で、コンデンサCの共振点等の周波数特性が正確に測定できなくなるという問題があった。また、連続して異なるコンデンサCを測定する場合には、半田づけ及び半田はずしを繰り返さなければならず、その過程で、基板8、パターン5a1、5c1、コンデンサCが、破損する可能性が高かった。
【0007】
上記第2の従来の測定方法においては、同軸線5からチップコンデンサCに至るまでのインダクタンスの影響は軽減されるものの、チップコンデンサCとグランド線5c、芯線5aとの細かい半田づけ作業のために、技術的難易度が高く、熟練が求められていた。また、測定するまでのセッティングに多くの時間を要することになっていた。更に、第1の従来の測定方法と同様、連続して異なるコンデンサCを測定する場合には、半田づけ及び半田はずしを繰り返さなければならず、その過程で、同軸線5及びコンデンサCが、破損する可能性が高かった。
【0008】
よって本発明は、上述した現状に鑑み、低インダクタンス化を促進して測定精度を高めつつ、被測定コンデンサや測定治具等を破損させることなく、周波数測定の利便性を高めた周波数特性測定用治具を提供することを課題としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するためになされた請求項1記載の周波数特性測定用治具は、チップコンデンサの周波数特性を測定可能なアナライザの入出力端子にそれぞれ接続される線材に含まれるグランド線同士が接合されて形成された、前記チップコンデンサの一端に電気的に接触するグランド線側接触部と、前記線材に含まれる芯線が接合された固定導体板と、前記固定導体板に形成された貫通孔と、前記固定導体板と摺接する可動導体板と、前記可動導体板の一部であり、前記チップコンデンサの他端に電気的に接触する芯線側接触部と、前記可動導体板に形成されたスライド孔と、前記グランド線側接触部と前記芯線側接触部との間に前記チップコンデンサを挟持すべく、前記貫通孔及び前記スライド孔を利用して前記可動導体板を前記固定導体板に固定可能な固定部材と、を含むことを特徴とする。
【0010】
請求項1記載の発明によれば、可動導体板をスライドさせて、グランド線側接触部と芯線側接触部との間にチップコンデンサを配置した後、固定部材によりチップコンデンサを挟持することができる。したがって、測定毎にチップコンデンサを半田づけする必要がなくなる。また、測定までのセッティングに熟練が求められることもない。
【0011】
上記課題を解決するためになされた請求項2記載の周波数特性測定用治具は、請求項1記載の周波数特性測定用治具において、前記線材における、前記ネットワークアナライザに接続される側とは反対の端部側は、互いに併行に密着されており、この端部側から剥き出された前記グランド線同士は、互いに半田づけされている、ことを特徴とする。
【0012】
請求項2記載の発明によれば、線材のネットワークアナライザに接続される側とは反対の端部側は互いに併行に密着されており、この端部側から剥き出されたグランド線同士は互いに半田づけされてグランド線側接触部が形成されているので、基板パターンによるインダクタンスが発生することがない。
【0013】
上記課題を解決するためになされた請求項3記載の周波数特性測定用治具は、請求項2記載の周波数特性測定用治具において、前記グランド線側接触部には、前記チップコンデンサの一端に電気的に接触する小片状の接点板も半田づけされている、ことを特徴とする。
【0014】
請求項3記載の発明によれば、小片状の接点板によりグランド線側接触部においてコンデンサとの接触面積が広くなるため、この分インダクタンスを減少させることができる。したがって、より正確にコンデンサの周波数特性を測定することが可能になる。
【0015】
上記課題を解決するためになされた請求項4記載の周波数特性測定用治具は、請求項1〜3のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、前記芯線は、略直角に折り曲げられて前記固定導体板に半田づけされている、ことを特徴とする。
【0016】
請求項4記載の発明によれば、芯線は略直角に折り曲げられて固定導体板に半田づけされているので、最短距離で芯線を固定導体板に接合することができる。
【0017】
上記課題を解決するためになされた請求項5記載の周波数特性測定用治具は、請求項1〜4のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、前記芯線側接触部は、前記チップコンデンサの他端に電気的に接触する突起部132bから構成される、ことを特徴とする。
【0018】
請求項5記載の発明によれば、芯線側接触部はチップコンデンサの他端に電気的に接触する突起部132bから構成されているので、コンデンサのセッティングが容易であるうえ、コンデンサを安定的に挟持することができる。
【0019】
上記課題を解決するためになされた請求項6記載の周波数特性測定用治具は、請求項1〜5のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、前記固定導体板及び前記可動導体板は共に、摺接方向に垂直な略同幅の辺を有する四角形状をしている、ことを特徴とする。
【0020】
請求項6記載の発明によれば、固定導体板及び可動導体板は共に、摺接方向に垂直な略同幅の辺を有する四角形状をしているので、必要以上に装置が大型化することなく固定導体板と可動導体板との接触面積を広げることができる。
【0021】
上記課題を解決するためになされた請求項7記載の周波数特性測定用治具は、請求項1〜6のいずれか一項に記載の周波数特性測定用治具において、前記固定導体板が、上面側に取り付けられ、この固定導体板を安定的に支持するための専用台、を更に含むことを特徴とする。
【0022】
請求項7記載の発明によれば、この固定導体板を安定的に支持するための専用台を備えているので、測定精度を非常に安定させることができる。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1(A)及び図1(B)はそれぞれ、本発明の周波数特性測定用治具の一実施形態を示す平面図及び側面図である。図1(A)及び図1(B)に示すように、本周波数特性測定用治具1は、チップコンデンサの周波数特性を測定可能なネットワークアナライザの入出力端子に、コネクタ6を介して、その一端が接続される同軸線5の他端が接続されている。周波数特性測定用治具1は、箱型の専用台を構成する基台2及び支持台3上に固定されている。この専用台により、周波数特性測定用治具1が確実に支持されて、測定精度をより安定させることができる。なお、周波数特性測定用治具1を支持台3上に取り付ける際には、コ字状のガイドリブ4が利用される。
【0024】
同軸線5は、芯線5a、絶縁内皮5b、編組線5c及び絶縁内皮5bから構成される公知の線材である。但し、高周波特性を安定させるためには、芯線5aができるだけ太いものを選択することが好ましい。同軸線5は、その絶縁外皮5dが剥きとられ、編組線5c同士が半田づけにて接合され、更に、小片状の導体の接点板11も同時にここに半田づけされている。また、絶縁内皮5bからは芯線5aがそれぞれ剥きだされて、銅板123に半田づけP1にて接合されている。
【0025】
また、支持台3上に固定された周波数特性測定用治具1は、基本的に、固定部12及びスライド部13とから構成されている。更に、固定部12は、固定部基板121及びこの固定部基板121に重積された銅板122、銅板123から構成され、スライド部13は、スライド部基板131及び銅板132から構成される。
【0026】
固定部12及びスライド部13は、固定部12に穿設された貫通孔12a(ここでは不図示)及びスライド部13に穿設されたスライド孔13aにネジ141が貫通された後ナット142が締め付られて固定される。詳しくは、スライド部13は、スライド孔13aの長さ分だけ、固定部12の銅板123上を矢印で示す方向に摺接又はスライド可能であり、被測定チップコンデンサCをグランド線側(例えば接点板11)と芯線側(例えば突起部132b)との間に挟持するような位置でナット142が締め付られると、両者の位置関係は固定される。これら固定部12及びスライド部13の構成は、以下に図2及び図3を用いて説明する。
【0027】
図2(A)は同軸線を取り付ける前の固定部の状態を示す平面図であり、図2(B)は同軸線が取り付けられた固定部の状態を示す平面図であり、図2(C)は図2(B)のXX線断面図である。図3(A)、図3(B)及び図3(C)はそれぞれ、スライド部13の平面図、背面図及び側面図である。
【0028】
まず、図2(A)に示すように、ネットワークアナライザに接続される同軸線5の端部近傍は互いに併行に密着されている。同軸線5は、その絶縁外皮5dが剥きとられ、グランド線としての編組線5c同士が半田づけにて接合されている。したがって、従来のような基板パターンによるインダクタンスが発生することなく、正確にコンデンサの周波数特性を測定することが可能になる。更に、ここには、小片状の接点板11も同時に半田づけされている。この接点板11により、コンデンサとの接触面積が広くなるため、この分、インダクタンスを減少させることができる。また、絶縁内皮5bからは芯線5aがそれぞれ剥きだされている。
【0029】
このような同軸線5の編組線5cは、図2(B)及び図2(C)に示すように、固定部12を構成する固定部基板121上に重積された四角形の銅板122に半田づけP2にて固定されている。また、同軸線5の芯線5aはそれぞれ、固定部基板121上に重積された凹字形の銅板123に半田づけP1にて接合されている。詳しくは、芯線5aは、略直角に折り曲げられて銅板123に半田づけされている。すなわち、最短距離で芯線5aが銅板123に接合されているので、芯線5aからコンデンサCに至るまでのインダクタンスを更に減少させることができる。これら銅板122及び銅板123は電気的に絶縁されている。
【0030】
一方、図3(A)〜図3(C)に示すように、スライド部13を構成するスライド部基板131上には、この基板131を略覆うように、銅板132が重積されている。詳しくは、このスライド部基板131には、図中、上辺に相当する部位に突起部131bが形成されており、銅板132もこの突起部131bに対応する突起部132bを有している。これら突起部131b、132bにより、コンデンサCのセッティングが容易になるうえ、コンデンサCをより安定的に挟持することができる。また、銅板13は突起部131b、132bの両側部分がコ字状に折り曲げられて、スライド部基板131に固定されている。スライド部基板131及び銅板132の略中央部には共に、上記スライドを可能にするための細長いスライド孔13aが穿設されている。この銅板132は、上記固定部12の銅板123と略同幅の辺を有する略四角形状をしているので、必要以上に装置が大型化することなく、銅板123との接触面積を広げることができる。したがって、コンパクトでありながら、インダクタンス増加を抑えることができる。
【0031】
このような構成の周波数特性測定用治具1において、チップコンデンサCの周波数特性を測定する際には、まず、チップコンデンサCの長さより大きい間隙が接点板11と突起部131bとの間に形成されるように、スライド部13を図1の下方にスライドさせる。次に、被測定チップコンデンサCを接点板11と突起部131b、132bとの間に位置決めする。次に、スライド部13を図1の上方にスライドさせて、チップコンデンサCの両端が、接点板11と突起部132bとに電気的に接触するようにする。そして、この位置で、ナット142を締め付けてスライド部13を固定する。これにより、チップコンデンサCは、接点板11と突起部131b、132bとに挟持される。このとき、チップコンデンサCの一端は同軸線5のグランド線側に接続され、コンデンサCの他端はスライド部13の銅板132、固定部12の銅板123を経由して同軸線5の芯線側に電気的に接続される。すなわち、その等価回路は図4と同様になる。この後は、公知の方法でネットワークアナライザを用いて、現在セッティングされているチップコンデンサCの周波数特性を測定することができる。
【0032】
また、測定終了時には、ナット142を緩めた後、上記と逆方向にスライド部13をスライドさせて現在セッティングされているチップコンデンサCを取り外す。そして、次のチップコンデンサCを上記と同様の手順でセッティングして、同様に、ネットワークアナライザを用いて、このチップコンデンサCの周波数特性を測定することができる。測定にはネットワークアナライザが使用可能なので、チップコンデンサCの周波数特性をデシベル値で取得することができる。
【0033】
このように本実施形態によれば、低インダクタンス化を促進して測定精度を高めつつ、コンデンサや測定治具等を破損することなく、周波数測定の利便性を高めた周波数特性測定用治具を得ることができる。なお、本発明は上記実施形態に限定されず、その主旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
【0034】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1記載の発明によれば、可動導体板をスライドさせて、グランド線側接触部と芯線側接触部との間にチップコンデンサを配置した後、固定部材によりチップコンデンサを挟持することができる。したがって、従来のように測定毎にチップコンデンサを半田づけする必要がなくなり、チップコンデンサや測定ジグの破損を防止することができる。また、従来のように測定までのセッティングに熟練が求められることもないので、測定時間も短縮される。
【0035】
請求項2記載の発明によれば、線材のネットワークアナライザに接続される側とは反対の端部側は互いに併行に密着されており、この端部側から剥き出されたグランド線同士は互いに半田づけされてグランド線側接触部が形成されているので、従来のような基板パターンによるインダクタンスが発生することなく、正確にコンデンサの周波数特性を測定することが可能になる。
【0036】
請求項3記載の発明によれば、小片状の接点板によりグランド線側接触部においてコンデンサとの接触面積が広くなるため、この分インダクタンスを減少させることができる。したがって、より正確にコンデンサの周波数特性を測定することが可能になる。
【0037】
請求項4記載の発明によれば、芯線は略直角に折り曲げられて固定導体板に半田づけされているので、最短距離で芯線を固定導体板に接合することができる。したがって、芯線からコンデンサに至るまでのインダクタンスを更に減少させることができ、更に正確にコンデンサの周波数特性を測定することが可能になる。
【0038】
請求項5記載の発明によれば、芯線側接触部はチップコンデンサの他端に電気的に接触する突起部132bから構成されているので、コンデンサのセッティングが容易であるうえ、コンデンサを安定的に挟持することができる。
【0039】
請求項6記載の発明によれば、固定導体板及び可動導体板は共に、摺接方向に垂直な略同幅の辺を有する四角形状をしているので、必要以上に装置が大型化することなく固定導体板と可動導体板との接触面積を広げることができる。したがって、コンパクトでありながら、インダクタンス増加を抑えることができる。
【0040】
請求項7記載の発明によれば、この固定導体板を安定的に支持するための専用台を備えているので、測定精度を非常に安定させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(A)及び図1(B)はそれぞれ、本発明の周波数特性測定用治具の一実施形態を示す平面図及び側面図である。
【図2】図2(A)は同軸線を取り付ける前の固定部の状態を示す平面図であり、図2(B)は同軸線が取り付けられた固定部の状態を示す平面図であり、図2(C)は図2(B)のXX線断面図である。
【図3】図3(A)、図3(B)及び図3(C)はそれぞれ、スライド部の平面図、背面図及び側面図である。
【図4】この種の周波数特性測定に係る基本回路構成を示す図である。
【図5】図5(A)は第1の従来の測定方法に係り、図5(B)は第2の従来の測定方法に係る図である。
【符号の説明】
1 周波数特性測定用治具
2 基台(専用台)
3 支持台(専用台)
4 ガイドリブ
5 同軸線(線材)
5a 芯線
5c 編組線(グランド線側接触部)
11 接点板(グランド線側接触部)
12 固定部
13 スライド部
121 固定部基板
123 銅板(固定導体板)
131 スライド部基板
132 銅板(可動導体板)
132b 突起部(芯線側接触部)
141 ネジ(固定部材)
142 ナット(固定部材)[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a jig for measuring frequency characteristics of a chip capacitor, and more particularly to a jig for measuring frequency characteristics of a chip capacitor with improved measurement accuracy and convenience.
[0002]
[Prior art]
There is known a network analyzer capable of displaying frequency characteristics such as a capacitance of a chip capacitor and a resonance point with a decibel value. When measuring the frequency characteristics of the capacitor using such a network analyzer, as shown in FIG. 4, a chip capacitor C to be measured is connected in parallel between the
[0003]
However, a jig for measuring the frequency characteristic of a chip capacitor using a network analyzer is not currently sold, and the frequency characteristic is usually measured by a method as shown in FIG. FIG. 5A relates to a first conventional measurement method, and FIG. 5B relates to a second conventional measurement method.
[0004]
That is, as shown in FIG. 5A, in the first conventional measurement method, the
[0005]
Further, as shown in FIG. 5B, in the second conventional measurement method, a direct connection between the
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, the first conventional measuring method has a problem that the frequency characteristics such as the resonance point of the capacitor C cannot be accurately measured due to the inductance from the
[0007]
In the second conventional measuring method, although the influence of the inductance from the
[0008]
Therefore, in view of the present situation described above, the present invention is for frequency characteristic measurement that enhances the convenience of frequency measurement without damaging the capacitor to be measured or the measurement jig while promoting the reduction of inductance and improving the measurement accuracy. The problem is to provide a jig.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The frequency characteristic measuring jig according to
[0010]
According to the first aspect of the present invention, after the movable conductor plate is slid and the chip capacitor is disposed between the ground wire side contact portion and the core wire side contact portion, the chip capacitor can be held by the fixing member. . Therefore, it is not necessary to solder the chip capacitor for each measurement. Also, skill is not required for setting up to measurement.
[0011]
The frequency characteristic measuring jig according to
[0012]
According to the second aspect of the present invention, the end of the wire opposite to the side connected to the network analyzer is in close contact with each other, and the ground wires exposed from the end are soldered to each other. In addition, since the ground line side contact portion is formed, inductance due to the substrate pattern does not occur.
[0013]
The frequency characteristic measuring jig according to
[0014]
According to the third aspect of the present invention, the contact area with the capacitor is widened at the contact portion on the ground line side by the small piece contact plate, so that the inductance can be reduced accordingly. Therefore, the frequency characteristic of the capacitor can be measured more accurately.
[0015]
The frequency characteristic measuring jig according to
[0016]
According to the fourth aspect of the invention, since the core wire is bent at a substantially right angle and soldered to the fixed conductor plate, the core wire can be joined to the fixed conductor plate at the shortest distance.
[0017]
The frequency characteristic measuring jig according to
[0018]
According to the fifth aspect of the present invention, since the core wire side contact portion is composed of the
[0019]
The frequency characteristic measuring jig according to
[0020]
According to the invention described in
[0021]
The frequency characteristic measuring jig according to claim 7, which has been made to solve the above-described problem, is the frequency characteristic measuring jig according to
[0022]
According to the seventh aspect of the invention, since the dedicated base for stably supporting the fixed conductor plate is provided, the measurement accuracy can be extremely stabilized.
[0023]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1A and FIG. 1B are a plan view and a side view, respectively, showing an embodiment of the frequency characteristic measuring jig of the present invention. As shown in FIGS. 1A and 1B, the frequency
[0024]
The
[0025]
The frequency
[0026]
The fixing
[0027]
2A is a plan view showing a state of the fixing portion before the coaxial line is attached, and FIG. 2B is a plan view showing a state of the fixing portion to which the coaxial line is attached. FIG. ) Is a cross-sectional view taken along line XX of FIG. 3A, 3B, and 3C are a plan view, a rear view, and a side view of the
[0028]
First, as shown in FIG. 2A, the vicinity of the end of the
[0029]
As shown in FIGS. 2B and 2C, the
[0030]
On the other hand, as shown in FIGS. 3A to 3C, a
[0031]
In the frequency
[0032]
At the end of measurement, after loosening the
[0033]
As described above, according to the present embodiment, the frequency characteristic measurement jig that enhances the convenience of frequency measurement without damaging the capacitor, the measurement jig, or the like while promoting the reduction of inductance and increasing the measurement accuracy. Obtainable. In addition, this invention is not limited to the said embodiment, In the range which does not deviate from the main point, it can change suitably.
[0034]
【The invention's effect】
As described above, according to the first aspect of the invention, after the movable conductor plate is slid and the chip capacitor is disposed between the ground wire side contact portion and the core wire side contact portion, the chip capacitor is fixed by the fixing member. Can be pinched. Therefore, it is not necessary to solder the chip capacitor for each measurement as in the prior art, and damage to the chip capacitor and the measurement jig can be prevented. Further, since no skill is required for setting up to the measurement as in the prior art, the measurement time is shortened.
[0035]
According to the second aspect of the present invention, the end of the wire opposite to the side connected to the network analyzer is in close contact with each other, and the ground wires exposed from the end are soldered to each other. In addition, since the contact portion on the ground line side is formed, it is possible to accurately measure the frequency characteristics of the capacitor without generating the inductance due to the substrate pattern as in the prior art.
[0036]
According to the third aspect of the present invention, the contact area with the capacitor is widened at the contact portion on the ground line side by the small piece contact plate, so that the inductance can be reduced accordingly. Therefore, the frequency characteristic of the capacitor can be measured more accurately.
[0037]
According to the fourth aspect of the invention, since the core wire is bent at a substantially right angle and soldered to the fixed conductor plate, the core wire can be joined to the fixed conductor plate at the shortest distance. Therefore, the inductance from the core wire to the capacitor can be further reduced, and the frequency characteristic of the capacitor can be measured more accurately.
[0038]
According to the fifth aspect of the present invention, since the core wire side contact portion is composed of the
[0039]
According to the invention described in
[0040]
According to the seventh aspect of the invention, since the dedicated base for stably supporting the fixed conductor plate is provided, the measurement accuracy can be extremely stabilized.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1A and FIG. 1B are a plan view and a side view, respectively, showing an embodiment of a frequency characteristic measuring jig of the present invention.
FIG. 2 (A) is a plan view showing a state of a fixing portion before attaching a coaxial line, and FIG. 2 (B) is a plan view showing a state of the fixing portion to which the coaxial line is attached; FIG. 2C is a cross-sectional view taken along the line XX of FIG.
FIGS. 3A, 3B, and 3C are a plan view, a rear view, and a side view of a slide portion, respectively.
FIG. 4 is a diagram showing a basic circuit configuration relating to this type of frequency characteristic measurement.
5A is a diagram related to a first conventional measurement method, and FIG. 5B is a diagram related to a second conventional measurement method.
[Explanation of symbols]
1 Frequency
3 Support stand (dedicated stand)
4
11 Contact plate (ground wire side contact part)
12 fixed
131
132b Protruding part (core wire side contact part)
141 Screw (fixing member)
142 Nut (fixing member)
Claims (7)
前記線材に含まれる芯線が接合された固定導体板と、
前記固定導体板に形成された貫通孔と、
前記固定導体板と摺接する可動導体板と、
前記可動導体板の一部であり、前記チップコンデンサの他端に電気的に接触する芯線側接触部と、
前記可動導体板に形成されたスライド孔と、
前記グランド線側接触部と前記芯線側接触部との間に前記チップコンデンサを挟持すべく、前記貫通孔及び前記スライド孔を利用して前記可動導体板を前記固定導体板に固定可能な固定部材と、
を含むことを特徴とする周波数特性測定用治具。A ground line side contact portion that is formed by bonding ground wires included in wires connected to input / output terminals of an analyzer capable of measuring the frequency characteristics of the chip capacitor, and that is in electrical contact with one end of the chip capacitor. When,
A fixed conductor plate to which core wires contained in the wire are joined;
A through hole formed in the fixed conductor plate;
A movable conductor plate in sliding contact with the fixed conductor plate;
A core wire side contact portion that is a part of the movable conductor plate and is in electrical contact with the other end of the chip capacitor;
A slide hole formed in the movable conductor plate;
A fixing member capable of fixing the movable conductor plate to the fixed conductor plate using the through hole and the slide hole so as to hold the chip capacitor between the ground wire side contact portion and the core wire side contact portion. When,
A jig for measuring frequency characteristics, comprising:
前記線材における、前記ネットワークアナライザに接続される側とは反対の端部側は、互いに併行に密着されており、
この端部側から剥き出された前記グランド線同士は、互いに半田づけされている、
ことを特徴とする周波数特性測定用治具。In the jig for measuring frequency characteristics according to claim 1,
The end of the wire opposite to the side connected to the network analyzer is in close contact with each other,
The ground wires exposed from the end side are soldered to each other.
A jig for measuring frequency characteristics.
前記グランド線側接触部には、前記チップコンデンサの一端に電気的に接触する小片状の接点板も半田づけされている、
ことを特徴とする周波数特性測定用治具。The jig for measuring frequency characteristics according to claim 2,
The ground wire side contact portion is also soldered with a small contact plate that is in electrical contact with one end of the chip capacitor.
A jig for measuring frequency characteristics.
前記芯線は、略直角に折り曲げられて前記固定導体板に半田づけされている、
ことを特徴とする周波数特性測定用治具。In the frequency characteristic measuring jig according to any one of claims 1 to 3,
The core wire is bent at a substantially right angle and soldered to the fixed conductor plate,
A jig for measuring frequency characteristics.
前記芯線側接触部は、前記チップコンデンサの他端に電気的に接触する突起部から構成される、
ことを特徴とする周波数特性測定用治具。In the frequency characteristic measuring jig according to any one of claims 1 to 4,
The core wire side contact portion is composed of a protrusion that is in electrical contact with the other end of the chip capacitor.
A jig for measuring frequency characteristics.
前記固定導体板及び前記可動導体板は共に、摺接方向に垂直な略同幅の辺を有する四角形状をしている、
ことを特徴とする周波数特性測定用治具。In the frequency characteristic measuring jig according to any one of claims 1 to 5,
Both the fixed conductor plate and the movable conductor plate have a quadrangular shape having sides of substantially the same width perpendicular to the sliding direction.
A jig for measuring frequency characteristics.
前記固定導体板が、上面側に取り付けられ、この固定導体板を安定的に支持するための専用台、
を更に含むことを特徴とする周波数特性測定用治具。In the frequency characteristic measuring jig according to any one of claims 1 to 6,
The fixed conductor plate is attached to the upper surface side, and a dedicated stand for stably supporting the fixed conductor plate,
A jig for measuring frequency characteristics, further comprising:
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