JP3898833B2 - 光学的測定装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、主として放射エネルギーを用いて測定対象の温度を測定する放射温度計に用いる光学的測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
測定対象からの放射エネルギーを検出して測温する放射温度計等の光学的測定装置が知られている。この場合、測定対象のどこを測定しているのか測定部位を確認するため投光手段が用いられている。
【０００３】
例えば、レーザー光を測定対象に投光する方法があるが、これはスポット径が小さく、光の量が少なく、測定位置の確認が困難である。また、２本の光線を用い、その交点を利用する方法がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
この場合では、距離によっては、やはり、測定位置の確認が困難であり、光学系が複雑になる問題点があった。
【０００５】
この発明の目的は、以上の点に鑑み、簡易な構成で、測定対象の測定部位が確認できる光学的測定装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この発明は、測定対象からの放射エネルギーの絞りを行うための表面に非反射面を有する開孔体と、この開孔体の裏面に設けられた半透鏡と、前記非反射面を有する開孔体及び半透鏡を通過した光を検出する検出素子と、前記非反射面を有する開孔体及び半透鏡を介して測定対象に投光する光源とを備えるようにした光学的測定装置である。
【０００７】
【発明の実施の形態】
図１は、この発明の一実施例を示す放射温度計としての光学的測定装置の構成説明図である。図において、測定対象からの放射エネルギーは対物レンズ１０で集光され、この放射エネルギー光Ｌ１は、光軸に対し４５度とされた絞りを行うための中央に孔を有する開孔鏡（アパーチャミラー）のような開孔体２と、この開孔体２の裏面に重ねて設けられ赤外線を透過し可視光を反射するダイクロックミラー（分光フィルタ）のような半透鏡３に達する。また、この開孔体２の表面には光を反射しない非反射層４が設けられ、非反射面とされている。そして、この非反射層（面）４を有する開孔体２及び半透鏡３を通過した光Ｌ１は、集光レンズ１１で検出素子５に入射し、電気信号に変換され、図示しない測定処理手段で所定の演算処理を行って、温度等の測定を行うことができる。
【０００８】
また、この非反射層４を有する開孔体２及び半透鏡３の光軸に対し垂直位置にランプのような光源６が設けられ、必要時、点灯させて、この非反射層４が設けられた開孔体２及び半透鏡３を介して、測定対象に投光することができる。
【０００９】
この場合、光源６の光Ｌ２は、周囲に相当する開孔体２に設けられた非反射層４では反射されず、中央の開孔の半透鏡３の表面で反射した光が測定対象に達する。このため、ある程度の大きさと、明るさを持ったスポットが得られ、測定部位の確認が極めて容易なものとなる。なお、非反射層４は、開孔体２と一体に形成してもよく、また、別体でもよく、どのようなものでもよい。つまり、開孔体２の表面が非反射面とされていれば、この非反射面が非反射層４に相当し、非反射層４の構成が不要となる。又、開孔体２と半透鏡３を一体としてもよい。
【００１０】
【発明の効果】
以上述べたように、この発明は、測定対象からの放射エネルギーの絞りを行うための表面に非反射面を有する開孔体と、この開孔体の裏面に設けられた半透鏡と、前記非反射面を有する開孔体及び半透鏡を通過した光を検出する検出素子と、前記非反射面を有する開孔体及び半透鏡を介して測定対象に投光する光源とを備えるようにした光学的測定装置である。このため、検出素子に対しては、開孔体が絞りとなり、また、この開孔体の表面の中央の孔に相当する半透鏡の表面を反射した光のみが測定対象に達するので、簡易な構成で、スポットは大きくならず、ある程度の大きさと、明るさを持った明確なスポットが得られ、また、このスポットから、検出素子と等価な測定範囲が分かり、測定部位の確認が極めて容易で正確ななものとなる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
【符号の説明】
１０ 対物レンズ
１１ 集光レンズ
２ 開孔体
３ 半透鏡
４ 非反射層（面）
５ 検出素子
６ 光源
Claims (1)
- 測定対象からの放射エネルギーの絞りを行うための表面に非反射面を有する開孔体と、この開孔体の裏面に設けられた半透鏡と、前記非反射面を有する開孔体及び半透鏡を通過した光を検出する検出素子と、前記非反射面を有する開孔体及び半透鏡を介して測定対象に投光する光源とを備えたことを特徴とする光学的測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08809798A JP3898833B2 (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08809798A JP3898833B2 (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 光学的測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11264768A JPH11264768A (ja) | 1999-09-28 |
| JP3898833B2 true JP3898833B2 (ja) | 2007-03-28 |
Family
ID=13933375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08809798A Expired - Fee Related JP3898833B2 (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 光学的測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3898833B2 (ja) |
-
1998
- 1998-03-17 JP JP08809798A patent/JP3898833B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11264768A (ja) | 1999-09-28 |
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