JP3823156B2 - 蛍光x線分析用液体試料の調整方法 - Google Patents

蛍光x線分析用液体試料の調整方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3823156B2
JP3823156B2 JP2003371655A JP2003371655A JP3823156B2 JP 3823156 B2 JP3823156 B2 JP 3823156B2 JP 2003371655 A JP2003371655 A JP 2003371655A JP 2003371655 A JP2003371655 A JP 2003371655A JP 3823156 B2 JP3823156 B2 JP 3823156B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid sample
liquid
sample
solution
liquid absorbent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003371655A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005134277A (ja
Inventor
孝男 森山
苗子 東馬
Original Assignee
理学電機工業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 理学電機工業株式会社 filed Critical 理学電機工業株式会社
Priority to JP2003371655A priority Critical patent/JP3823156B2/ja
Publication of JP2005134277A publication Critical patent/JP2005134277A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3823156B2 publication Critical patent/JP3823156B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

本発明は、河川水などの環境分析に係る液体試料に含まれる分析対象元素(含有成分)を蛍光X線分析するときに使用される、点滴法による蛍光X線分析用液体試料の調整方法に関するものである。
従来から、液体試料を前処理して含有成分を蛍光X線分析するための技術として、ろ紙に液体試料を滴下して乾燥させることにより含有成分を濃縮し、かつ保持させる点滴法が知られている。
ところで、液体試料に含まれる分析対象元素が揮散しやすいもの、例えば、HCl(塩酸)溶液中の塩素やHSO(硫酸)溶液中の硫黄の場合には、ろ紙への点滴後に乾燥させてから蛍光X線強度を測定するときに、前記塩素や硫黄が揮散してしまい、正確な分析が困難なことから、ろ紙に点滴される塩素や硫黄に反応して不揮発性生成物を作る安定化剤をろ紙に点滴させることが知られている(例えば、特許文献1)。
特開平7−311131号公報
しかし、例えば河川水などの環境分析に係る液体試料に含まれる分析対象元素が、乾燥時に揮散しやすい+イオンの重金属のヒ素(As)などや−イオンのフッ素(F)である場合に、現状では、点滴法による蛍光X線分析用液体試料の安定な調整方法は実現されていない。
他方、液体試料が飛散するのを防止するために、試料室内などをHe置換することも知られているが、分析の度にHe置換する必要があり、分析作業が煩雑になる。
本発明は、前記の問題点を解決して、乾燥時に揮散しやすい+イオンの重金属のヒ素などや−イオンのフッ素であっても、点滴法により蛍光X線分析できる蛍光X線分析用液体試料の調整方法を提供することを目的としている。
前記目的を達成するために、本発明の一構成は、液体試料を試料保持具に保持された液体吸収材に点滴し乾燥させて含有成分を蛍光X線分析するための蛍光X線分析用液体試料を調整する方法であって、前記試料保持具は、輪状の台座と、その台座に保持される周辺部およびX線を透過させるための透過部を有する厚さ10μm未満の疎水性フィルムと、その疎水性フィルムの透過部に貼付された厚さ1μm以上100μm以下のシート状の液体吸収材とを備え、その液体吸収材に前記液体試料および溶液が滴下されて乾燥されることにより、前記含有成分を保持してなるものであり、乾燥時に揮散しやすい+イオンの重金属のヒ素(As)、鉛(Pb)またはクロム(Cr)の溶液である液体試料を前記液体吸収材に点滴すると同時に、硝酸溶液を滴下して、溶液乾燥時に前記+イオンの重金属の揮散を防止するものである。
この構成によれば、点滴された重金属を含んでいる溶液に対して、強い酸化作用のある濃硝酸を滴下することにより、重金属の+イオンの価数をより大きな価数にすることができる。この反応により、液体吸収材上で乾燥時に揮散しにくい+イオンを生成させる。したがって、点適法では問題であった乾燥時の揮散を防ぎ、蛍光X線により重元素の分析を安定に行うことができる。しかも、1次X線が照射される疎水性フィルムおよび液体吸収材はいずれも十分に薄いので、散乱線を減少させてバックグラウンドを抑制できる一方、疎水性フィルムに貼付された適切な厚さの液体吸収材で、十分な量の液体試料を保持して均一に凝縮できるので、より大きい強度の蛍光X線を均一に発生させることができる。これにより、液体試料中の含有成分が微量であっても検出感度を十分に向上できる。
本発明の他の構成は、液体試料を試料保持具に保持された液体吸収材に点滴し乾燥させて含有成分を蛍光X線分析するための蛍光X線分析用液体試料を調整する方法であって、前記試料保持具は、輪状の台座と、その台座に保持される周辺部およびX線を透過させるための透過部を有する厚さ10μm未満の疎水性フィルムと、その疎水性フィルムの透過部に貼付された厚さ1μm以上100μm以下のシート状の液体吸収材とを備え、その液体吸収材に前記液体試料および溶液が滴下されて乾燥されることにより、前記含有成分を保持してなるものであり、乾燥時に揮散しやすい−イオンのフッ素(F)の溶液である液体試料を前記液体吸収材に点滴すると同時に、水酸化ナトリウム溶液を滴下して、溶液乾燥時に前記−イオンのフッ素の揮散を防止するものである。
この構成によれば、点滴された溶液中のフッ素(F)と水酸化ナトリウム(NaOH)とが化学反応して不揮発性生成物であるNaFをつくるので、フッ素を固定化させてその揮散を防止することができるから、乾燥時に揮散しやすいフッ素を点滴法により蛍光X線分析できる。しかも、上記と同様に、1次X線が照射される疎水性フィルムおよび液体吸収材はいずれも十分に薄いので、散乱線を減少させてバックグラウンドを抑制できる一方、疎水性フィルムに貼付された適切な厚さの液体吸収材で、十分な量の液体試料を保持して均一に凝縮できるので、より大きい強度の蛍光X線を均一に発生させることができる。これにより、液体試料中の含有成分が微量であっても検出感度を十分に向上できる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係る蛍光X線分析用液体試料の調整方法を示す構成図である。この蛍光X線分析用液体試料の調整方法は、河川水の環境分析に係る液体試料1を試料保持具7に設けられた液体吸収材4に点滴し乾燥させて含有成分を蛍光X線分析するために用いられるものである。
液体試料1は、乾燥時に揮散しやすい3価のヒ素(As3+)のような+イオンをもつ重金属の溶液(例えば、As溶液)である。図1に示すように、この調整方法は、例えば500μlの液体試料1を液体吸収材4に点滴するのと同時に、例えば30μlの硝酸溶液5を滴下する。液体試料1と硝酸溶液5を滴下することにより、液体吸収材4上で混合液体試料10となる。混合液体試料10の硝酸濃度は例えば5〜10wt%である。
点滴された混合液体試料10中でヒ素と硝酸とが混合し、硝酸の酸化作用により3価のヒ素(As3+)をより大きな価数の5価のヒ素(As5+)にすることができる。そうすると、液体吸収材4に対してヒ素が安定し固定化するので、点滴後の溶液乾燥時にヒ素の揮散を防止することができる。
図3は、本調整方法でなされたヒ素(1ppm含有)の試料について蛍光X線分析したときの定性スペクトルを示すもので、本調整方法によるヒ素溶液と硝酸溶液を同時に滴下した場合が図示αである。図示βはヒ素溶液のみを滴下した場合、図示γは原子吸光用標準溶液であって当初から揮散しないように処理したものを滴下した場合である。図示αの定性スペクトルは図示βの定性スペクトルとほぼ同一であり、ヒ素の揮散が防止されていることがわかる。
このように、ヒ素と硝酸による酸化反応により、ヒ素を安定させ固定化させてその揮散を防止することができるから、乾燥時に揮散しやすいヒ素を点滴法により蛍光X線分析できる。
この実施形態では、+イオンの重金属としてヒ素(As)を用いているが、鉛(Pb)、クロム(Cr)等であってもよい。
この調整方法は図1に示す試料保持具7を用いて行われる。この試料保持具7は、疎水性フィルムを安定に保持するための例えばポリエチレン、ポリスチレンなどの樹脂材料からなる輪状の台座2と、その台座2に保持される周辺部3aおよびX線を透過させるための透過部3bを有する厚さ10μm未満の疎水性フィルム3と、その疎水性フィルムの透過部3bに貼付された厚さ1μm以上100μm以下のシート状の液体吸収材4とを備え、その液体吸収材4に液体試料1と硝酸溶液5が滴下されて乾燥されることにより、液体試料1の含有成分Asを濃縮し、保持する。
図2に図1の縦断面図を示すが、ここでは、疎水性フィルム3は、厚さ1.5μmのポリエチレンテレフタレートからなり、直径が台座2の外径とほぼ同径の円形(図示と理解の容易のため、図では小さめに表している)で、周辺部3aが台座2に密着して保持されている。周辺部3aを除いた部分は、X線を透過させるための透過部3bである。図1では、台座2の内周は、疎水性フィルム3の下に隠れるので破線で示しているが、実際には透けて見える。また、ここでは、液体吸収材4は、あぶらとり紙のようにタルクを含有する厚さ数μmの紙からなり、直径1.8cmの円形で、例えばスプレーのり(成分はアクリルゴム(10%)、有機溶剤(54%)およびイソヘキサンガス(36%)で、噴射用高圧ガスはジメチルエーテル)を液体吸収材4の裏に吹き付けて、疎水性フィルム3の中央部に貼付する。貼付に用いる接着剤は、このスプレーのりに限らず、分析の障害とならないものであればよい。
図1のように液体吸収材4に液体試料1と硝酸溶液5を滴下すると、液体吸収材4の下および周囲には、疎水性フィルム3があるので、液体試料1と硝酸溶液5が混合された混合液体試料10は、液体吸収材4から下方や周囲に染み出すことがなく、かつ表面張力を利用して200μl以上600μl程度まで滴下することができる。そして、液体試料1と硝酸溶液5を滴下した試料保持具7を乾燥させることにより、液体試料1の含有成分Asを液体吸収材4に吸着させて保持させる。この状態の試料保持具7を、従来のろ紙と同様に試料ホルダ(従来用いられているAl またはTi 製の中空カップで、下地からの散乱線の影響がないもの)に装着し、液体吸収材4の部位に1次X線を照射して蛍光X線分析を行う。
このように、この試料保持具7を用いることにより、1次X線が照射される疎水性フィルム3および液体吸収材4がいずれも十分に薄いので、散乱線を減少させてバックグラウンドを抑制できる。一方、疎水性フィルム3に貼付された適切な厚さの液体吸収材4で、十分な量の液体試料1を保持して均一に凝縮できるので、より大きい強度の蛍光X線を均一に発生させることができる。したがって、液体試料1中の含有成分Asが微量であっても検出感度を十分に向上できる。
なお、液体吸収材4は、疎水性フィルム3に貼り付けられることにより常に一定のテンションがかかっているので、例えば含有成分がきわめて微量である場合に、滴下、乾燥を繰り返して含有成分を多く凝縮させても、均一かつ安定に保持できる。また、従来の小面積の蒸着膜では、結晶化などにより十分均一に含有成分を凝縮させることは容易でないが、この試料保持具7では、適切な厚さ、面積のシート状の液体吸収材4により、含有成分を十分均一に凝縮させることができるので、後述するフッ素(F)のような軽元素についても十分安定した定量分析が可能である。
次に、第2実施形態に係る蛍光X線分析用液体試料の調整方法について説明する。この蛍光X線分析用液体試料を調整する方法は、第1実施形態と異なり、乾燥時に揮散しやすい−イオンのフッ素(F)の溶液(例えば、HF溶液等)である液体試料の例えば500μlを液体吸収材4に点滴するのと同時に、例えば30μlの1wt%の水酸化ナトリウム(NaOH)溶液を滴下して、溶液乾燥時に前記−イオンのフッ素の揮散を防止する。その他の構成は第1実施形態と同様である。
点滴された溶液中のフッ素(F)と水酸化ナトリウム(NaOH)とは、NaOH+HF→NaF+HOのように化学反応して、不揮発性生成物であるNaFをつくり、液体吸収材4上に沈殿する。この際、水酸化ナトリウムをやや過多に入れることにより反応がより促進する。その後、乾燥されて蛍光X線分析用の試料となる。
図4は、本調整方法でなされたフッ素の試料についてフッ素0〜100ppm含有における定性スペクトルの各ピークをプロットしたときの検量線を示す。図4のように、定量分析に十分に使用できる検量線を作成できたことから、フッ素の揮散が防止されていることがわかる。
このように、フッ素と水酸化ナトリウムとの化学反応により、フッ素を安定させ固定化させてその揮散を防止することができるから、乾燥時に揮散しやすいフッ素を点滴法により蛍光X線分析できる。
本発明の第1実施形態に係る蛍光X線分析用液体試料の調整方法を示す構成図である。 図1の一部縦断面図である。 第1実施形態の調整方法でなされた分析による定性スペクトルを示す特性図である。 第2実施形態の調整方法でなされた試料を用いた検量線を示す特性図である。
符号の説明
1:液体試料
4:液体吸収材
5:硝酸溶液
7:試料保持具

Claims (2)

  1. 液体試料を試料保持具に保持された液体吸収材に点滴し乾燥させて含有成分を蛍光X線分析するための蛍光X線分析用液体試料を調整する方法であって、
    前記試料保持具は、輪状の台座と、その台座に保持される周辺部およびX線を透過させるための透過部を有する厚さ10μm未満の疎水性フィルムと、その疎水性フィルムの透過部に貼付された厚さ1μm以上100μm以下のシート状の液体吸収材とを備え、その液体吸収材に前記液体試料および溶液が滴下されて乾燥されることにより、前記含有成分を保持してなるものであり、
    乾燥時に揮散しやすい+イオンの重金属のヒ素(As)、鉛(Pb)またはクロム(Cr)の溶液である液体試料を前記液体吸収材に点滴すると同時に、硝酸溶液を滴下して、溶液乾燥時に前記+イオンの重金属の揮散を防止する蛍光X線分析用液体試料の調整方法。
  2. 液体試料を試料保持具に保持された液体吸収材に点滴し乾燥させて含有成分を蛍光X線分析するための蛍光X線分析用液体試料を調整する方法であって、
    前記試料保持具は、輪状の台座と、その台座に保持される周辺部およびX線を透過させるための透過部を有する厚さ10μm未満の疎水性フィルムと、その疎水性フィルムの透過部に貼付された厚さ1μm以上100μm以下のシート状の液体吸収材とを備え、その液体吸収材に前記液体試料および溶液が滴下されて乾燥されることにより、前記含有成分を保持してなるものであり、
    乾燥時に揮散しやすい−イオンのフッ素(F)の溶液である液体試料を前記液体吸収材に点滴すると同時に、水酸化ナトリウム溶液を滴下して、溶液乾燥時に前記−イオンのフッ素の揮散を防止する蛍光X線分析用液体試料の調整方法。
JP2003371655A 2003-10-31 2003-10-31 蛍光x線分析用液体試料の調整方法 Expired - Fee Related JP3823156B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003371655A JP3823156B2 (ja) 2003-10-31 2003-10-31 蛍光x線分析用液体試料の調整方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003371655A JP3823156B2 (ja) 2003-10-31 2003-10-31 蛍光x線分析用液体試料の調整方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005134277A JP2005134277A (ja) 2005-05-26
JP3823156B2 true JP3823156B2 (ja) 2006-09-20

Family

ID=34648243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003371655A Expired - Fee Related JP3823156B2 (ja) 2003-10-31 2003-10-31 蛍光x線分析用液体試料の調整方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3823156B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4537367B2 (ja) * 2006-11-09 2010-09-01 株式会社リガク 全反射蛍光x線分析用試料点滴基板および全反射蛍光x線分析装置ならびに全反射蛍光x線分析方法
DE102019101389B4 (de) 2019-01-21 2020-08-06 Bruker Daltonik Gmbh Verfahren zur Probenaufbereitung auf einem spektrometrischen Probenträger

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005134277A (ja) 2005-05-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4522739B2 (ja) 液体試料の濃縮方法及び濃縮用保持台とそれを用いた微量元素分析方法
Gelaude et al. Direct determination of methylmercury and inorganic mercury in biological materials by solid sampling-electrothermal vaporization-inductively coupled plasma-isotope dilution-mass spectrometry
JP3793829B2 (ja) 蛍光x線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光x線分析方法および装置
Hesse et al. Investigation by surface-enhanced Raman spectroscopy of the effect of oxygen and hydrogen plasmas on adsorbate-covered gold and silver island films
JP3823156B2 (ja) 蛍光x線分析用液体試料の調整方法
Jiang et al. Improved anodic stripping voltammetric detection of arsenic (III) using nanoporous gold microelectrode
Du et al. MnO2-induced oxidation of iodide in frozen solution
Farahi et al. Electrochemical determination of paraquat in tomato at Ag/NP-modified graphite electrode using square wave voltammetry
Rattonetti Determination of soluble cadmium, lead, silver, and indium in rain water and stream water with the use of flameless atomic absorption
Vandenhecke et al. A stripping chronopotentiometric (SCP) method with a gold film electrode for determining inorganic arsenic species in seawater
CN111094975B (zh) 使用非苛刻试剂的氯化物测量
JP2005283252A (ja) 金属材料の簡易成分分析法および簡易成分分析用組成物
Caporali et al. Determination of gold in alloys via potentiometric titration; an alternative to the fire assay
KR101942784B1 (ko) 과산화수소 농도의 검출방법 및 검출키트.
Burylin et al. Determination of mercury in sediments by slurry sampling electrothermal atomic absorption spectrometry
JP2635664B2 (ja) 脱硝触媒の評価方法
Riss et al. Determination of low levels of chromium in biological samples by ICP-MS using hydrogen as a reaction gas
Nishikiori et al. Phase transition and crystal growth of a titania layer on a titanium metal plate
JP2005062134A (ja) 試料の前処理方法および試料保持部材
JP2007163360A (ja) 蛍光x線による溶液中元素の高精度分析方法
JP3569711B2 (ja) X線分析方法
Muñoz et al. Evaluation of nitric-induced teflon degradation by spectrochemical fluoride analysis and scanning microscopy
US11371956B2 (en) Methods for stabilizing palladium films
Bolotokov et al. Possibilities of micro X-ray fluorescence spectrometry of solutions with preconcentration
Ivanova et al. Environmental modeling of uranium interstitial compositions of non-stoichiometric oxides: experimental and theoretical analysis

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060329

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060530

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060601

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3823156

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090707

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090707

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100707

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100707

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110707

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110707

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120707

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130707

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140707

Year of fee payment: 8

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees