JP2005062134A - 試料の前処理方法および試料保持部材 - Google Patents
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Abstract
【課題】 液状の試料を再現性よく濃縮させることができる試料の前処理方法および試料保持部材を提供する。
【解決手段】 試料台1の上面に形成または載置される保持体2に、液状の試料Sを含浸させる。
【選択図】 図1
【解決手段】 試料台1の上面に形成または載置される保持体2に、液状の試料Sを含浸させる。
【選択図】 図1
Description
この発明は、試料の前処理方法および試料保持部材に関する。
例えば、試料に対してX線を照射し、このとき発生した螢光X線をX線検出器によって検出し、その検出出力を適宜処理することにより、試料中に含まれる元素の種類および量を特定する全反射螢光X線分析において、前記試料が水溶液である場合には、前処理として、試料を試料台の上に滴下し、この試料を乾燥によって濃縮させることが従来より行われている。すなわち、前記試料を濃縮する前処理を行うことによって、高感度分析が可能となり、試料中の微量元素を分析することが可能となる。
しかし、乾燥によって試料の濃縮を行う上記前処理では、液滴状の試料が、乾燥する過程で試料台上において広がりながら部分的に凝集・凝固するため、乾燥後に試料が著しく偏在することもあり、また、試料台上における試料の広がりかたも一定ではなかった。すなわち、上記前処理では、乾燥(濃縮)後の試料の状態が常に一定になるとは限らず、分析の再現性が悪いという問題があった。
この発明は上述の事柄に留意してなされたもので、その目的は、液状の試料を再現性よく濃縮させることができる試料の前処理方法および試料保持部材を提供することである。
上記目的を達成するために、この発明の試料の前処理方法は、試料台の上面に形成または載置される保持体に、液状の試料を含浸させる(請求項1)。
一方、この発明の試料保持部材は、ほぼ平滑な上面を有する試料台と、この試料台の上面に形成または載置される保持体とを備えた(請求項2)。
前記保持体は、ほぼ均一な厚みと密度とを有することが望ましい(請求項3)。
前記保持体がカーボンからなるとしてもよく(請求項4)、前記保持体が被測定金属とキレートとなる物質、例えばキレート樹脂またはイオン交換樹脂からなるとしてもよい(請求項5)。
上記の構成からなる発明では、液状の試料を再現性よく濃縮させることができる試料の前処理方法および試料保持部材を提供することができる。
詳しくは、請求項1および2に係る発明において、例えば、液状の試料をその全体にわたってムラなく均一に分布させた状態で保持することができる保持体を用意し、この保持体の全体にわたって液状の試料を含浸させた後、保持体に保持された状態となった試料を乾燥により濃縮させると、濃縮後の試料が保持体の全体にわたってムラなく均一に広がった状態となる。そのため、前記保持体を用いて液状の試料を濃縮させることにより、液状の試料を再現性よく濃縮させることができ、濃縮後の試料は、その分布する領域の全体にわたってほぼ均一な厚みと密度とを有する状態となる。さらに、濃縮後の試料の分布する領域は、保持体の形状や大きさに対応したものとなるので、保持体の形状や大きさを適宜に設定すれば、濃縮後の試料の分布領域を所望の領域に一致させることができる。
また、例えば、全反射螢光X線分析では、濃縮後の試料にX線を照射するのであり、このとき、液状の試料の分布する領域がX線の照射エリアにほぼ一致するように濃縮し、かつ、濃縮した試料に全体にわたってほぼ均一な厚みと密度とをもたせることが、分析の再現性の向上と高感度化とを図る上で重要となる。従って、濃縮後の試料に均一な厚みおよび密度をもたせることができ、かつ、濃縮後の試料の分布領域を所望の領域(例えば前記X線の照射エリア)に一致させることができる請求項1に係る試料の前処理方法および請求項2に係る試料保持部材は、全反射螢光X線分析のような分析に用いれば、その再現性の向上と高感度化とに大きく寄与するものとなる。
請求項3に係る発明では、前記保持体がほぼ均一な厚みと密度とを有するように構成するので、上記の効果をより確実に得ることができる。
請求項4に係る発明では、前記保持体をカーボンによって構成するので、安価な構成によって上記の効果を得ることができる。また、カーボンからなる保持体は連続した微細な孔を多数有する多孔質であり、液状の試料は微細な孔が有する吸着効果によって保持体内に保持される。
請求項5に係る発明では、前記保持体をイオン交換樹脂またはキレート樹脂によって構成するので、以下のような効果が得られる。すなわち、イオン交換樹脂やキレート樹脂は、液状の試料中の特定の元素等を選択的に吸着する性質を有しているので、イオン交換樹脂またはキレート樹脂からなる保持体では、保持する対象が試料中に微量のみ存在する元素であっても取り残すことなく確実に保持することができる。
以下、この発明の詳細を、図を参照しながら説明する。図1は、本発明の一実施例に係る試料の前処理方法(以下、前処理方法という)に用いられる試料保持部材Mの構成を概略的に示す説明図、図2(A)および(B)は、前記試料の前処理方法の構成を概略的に示す説明図である。
前記試料保持部材Mは、ほぼ平滑な上面を有する試料台1と、この試料台1の上面に形成または載置される多孔質の保持体2とを備えており、前記保持体2によって液状の試料Sを保持するように構成されている。
前記液状の試料Sは、河川や湖等から採取した水など、もとから液状であるものに限られず、例えば、固体状の測定対象を液体と混合して溶液(水溶液)としたもの(溶液化したもの)または懸濁液としたものや、固体状の測定対象を液体中に入れ、その測定対象中の所定成分を液体中に溶出させて得られる液またはその一部(上澄み液)などであってもよい。
なお、本実施例の液状の試料Sは、測定対象としての土壌を酸(例えば塩酸)および水とともに容器(例えば、ビーカー)3に入れて混合し、その容器3を装置を用いて所定時間(例えば約6時間程度)振り続け、前記容器3内の液に土壌中の成分(有害物質など)を溶出させた後、前記容器3内の上澄み液をピペットなどの器具4を用いて採取することで得たものである。
前記試料台1は、本実施例では、例えばガラスやアクリル樹脂、シリコン樹脂等からなる試料プレートであり、前記保持体2が形成または載置されるその上面は、平滑で水平な面となっている。
前記保持体2は、ほぼ均一な厚み(例えば、50Å程度の厚み)と密度とを有する薄膜状をしており、本実施例の保持体2は、平面視が直径7mm程度の円形状となっている。なお、保持体2の上面(表面)はできるだけ平滑となっていることが望ましい。また、保持体2の平面視は、円形状に限るものではなく、例えば、楕円形状などでもよい。
そして、保持体2は、化学変化などにより前記試料Sの性質を変化させることがなく、また、試料Sを含浸させたときに前記試料Sをその全体にわたってほぼ均一に分布させて保持することができ、さらに、前記試料Sの測定に影響を与えないという条件を満たすものであり、そのような条件を満たす材料としては、吸水/保水性がよく、試料S(重元素が多い)のスペクトルと重なることが少ないカーボンやフラーレンなどが挙げられる。なお、本実施例の保持体2はカーボンからなる。
なお、前記保持体2を、例えば、蒸着機を用いて蒸着させたり、ラッカー(スプレー)を用いて吹き付けたりあるいは塗布することなどによって前記試料台1の上面に形成してもよいし、予め形成しておいた保持体2を試料台1の上面に載置してもよい。予め形成しておいた保持体2を試料台1の上面に載置する場合には、保持体2が不意に動かないように適宜固定してもよい。
ラッカーを用いてカーボンなどの保持体2の材料を吹き付けることにより試料台1上に保持体2を形成する場合、例えば、所定の径の穴(パンチング穴)をあけた紙などのシート状体で前記試料台1を覆い、かつ、前記穴を試料台1上面における保持体2を形成しようとする位置に位置させた状態で、前記シート状体に向けてラッカーから保持体2の材料を吹き付けることにより、簡単に保持体2を試料台1上面に形成することができる。
一方、この実施例の前処理方法は、前記試料台1の上面に形成または載置される多孔質の前記保持体2に、液状の試料Sを含浸(浸透)させ、その後、乾燥させることにより前記保持体2に含浸された状態の試料Sを濃縮するのであり、前記試料保持部材Mを用いて実施することができる。
前記保持体2に液状の試料Sを含浸させるステップ(以下、含浸ステップという)は、例えば、前記液状の試料Sを、スポイド(ピペット)およびマイクロピペットやマイクロシリンジなどの器具4を用いて前記保持体2に滴下することにより行うことができる(図2(A)参照)。
試料台1の上面に保持体2を蒸着や塗布などによって形成する場合、必然的に試料台1の上面に形成された状態の保持体2に対して試料Sを含浸させることになる。また、試料台1と保持体2とを別体とし、保持体2を試料台1の上面に載置(固定)する構成を採用した場合には、例えば、試料台1の上面に載置(固定)した状態の保持体2に試料Sを含浸させる。
ここで、前記保持体2に対して液状の試料Sを滴下等によって含浸させると、保持体2は、微細な孔を多数有する多孔質であり、多数の微細な孔が吸着作用を発揮することから、所定量以下(許容量以内)の液状の試料Sを流出することなく確実に保持することができる。
また、前記保持体2に対して試料Sを含浸させたときに、試料Sが保持体2の全体にわたって含浸されるように保持体2に保持させる試料Sの量を所定量以上に設定しておくことが望ましい。
すなわち、前記保持体2に保持させる試料Sの量は一定の範囲内に設定することが望ましく、本実施例では、保持体2に保持させる試料Sの量を約10μLに設定してある。
前記含浸ステップの後、乾燥させることにより、保持体2に含浸させた試料Sを濃縮する濃縮ステップを行う(図2(B)参照)。前記乾燥は、例えば、自然乾燥でもよいし、赤外線などを用いた加熱乾燥でもよいし、真空乾燥でもよい。そして、前記乾燥により、保持体2に含浸させた試料Sは、所定領域(保持体2)内においてほぼ均一に分布した状態で濃縮することとなる。すなわち、濃縮後の試料Sの領域(径)は、前記保持体2に依存して決定されることから、保持体2の構成(大きさや形状など)を適宜設定することにより、濃縮後の試料Sの領域(径)を自在に設定することが可能となる。
図3は、前記試料保持部材Mを備え、前記前処理方法が適用される全反射螢光X線分析装置Dの構成を概略的に示す説明図である。
前記全反射螢光X線分析装置Dは、試料Sを保持する保持体2を有する前記試料保持部材Mと、X線aを発生するX線発生手段5と、このX線発生手段5が発生したX線aの中から単色の波長(特定エネルギ)のX線bを選択的に反射するモノクロメータ6と、このモノクロメータ6に反射することで単色化したX線bの照射により保持体2に保持された試料Sから発生した螢光X線cを検出する検出手段8とを備えている。
前記X線発生手段5は、例えば、X線管からなる。
図4に示すように、前記モノクロメータ6で反射し、前記試料Sを保持した保持体2に向けて照射されるX線bの照射エリアAが、保持体2の大きさとほぼ一致するか、保持体2よりも若干大きくなるように構成してある。
前記検出手段8は、例えば、X線検出器である。
上記の構成からなる全反射螢光X線分析装置Dは、保持体2に対するX線bの入射角αを所定角度以下とすることにより、保持体2に照射されるX線bを全反射させるように構成してあり、前記保持体2を透過するX線の量を最小とした上で、保持体2に保持された試料Sから発生した螢光X線cを検出することができるため、より高感度に測定することが可能となっている。なお、前記入射角αは、0.2°以下の超低角度とすることが望ましい。
上記の構成からなる全反射螢光X線分析装置Dを用いて試料Sの分析を行うには、まず、上記含浸ステップおよび濃縮ステップを行った後の試料保持部材Mが所定位置にセットされた状態とする。
続いて、前記X線発生手段5からX線aを発生させると、このX線aはモノクロメータ6に反射してX線bとなり、このX線bが、試料保持部材Mの保持体2に保持された試料Sに対して超低角度で照射されることになる。
そして、前記X線bの照射により前記試料S内の元素が励起されて螢光X線cが発生し、この螢光X線cを前記検出手段8により検出し、この検出出力を適宜処理することにより、試料S中に含まれる元素の種類および量を特定することができる。
上記の構成からなる全反射螢光X線分析装置Dでは、前記液状の試料Sは乾燥後、保持体2内にほぼ均一に分布した状態となり、従って、前記試料保持部材Mを用いることにより、液状の試料Sの乾燥後の状態(形状や大きさなど)を再現性よく所定の状態にすることができるため、前記試料Sの分析を再現性よく行うことができる。
また、前記全反射螢光X線分析装置Dでは、保持体2内にほぼ均一に分布した試料Sに対して前記X線bを照射する際に、保持体2(乾燥後の試料S)が占めるエリアの大きさと、前記X線bの照射エリアとを容易に一致させることができるため、試料Sから生じる螢光X線cの感度およびS/N比の向上を容易に図ることが可能となり、検出下限値を低くすることも可能となり、従って、試料S中に含まれる微量元素の測定や超低濃度の試料Sの測定もが可能となる。
さらに、前記全反射螢光X線分析装置Dでは、前記保持体2を軽元素であるカーボンによって構成してあり、試料Sに含まれる測定対象とする元素はほとんどが重元素(例えば、原子番号がNa以上の元素であり、一例としては原子番号がPからUまでの元素)であることから、保持体2にX線bが照射されることによって発生する螢光X線cのスペクトルのピークと、試料SにX線bが照射されることによって発生する螢光X線cのスペクトルのピークとが重なるいわゆる干渉が起こるということがなく、加えて、試料SにX線bが照射されることによって発生する螢光X線cがカーボンからなる保持体2に接触することで、吸収されたり二次励起を起こしたりするということもないため、より高感度な分析を行うことができる。
そして、上記の効果はいずれも、前記前処理方法および試料保持部材Mを全反射螢光X線分析装置Dに用いることによって得られた効果であり、換言すれば、前記前処理方法および試料保持部材Mは特に全反射螢光X線分析に非常に有効なものといえる。
ここで、前記前処理方法および試料保持部材Mの全反射螢光X線分析装置Dへの適用の有効性を確認するために、保持体2を形成せず、前記試料台1の上面に直接試料Sを滴下して濃縮した場合(以下、パターンAという)と、カーボン蒸着機を用いて試料台1の上面にカーボンを蒸着して保持体2を形成し、この保持体2に試料Sを滴下して濃縮した場合(以下、パターンBという)と、カーボンラッカーを用いて試料台1の上面にカーボンを蒸着して保持体2を形成し、この保持体2に試料Sを滴下して濃縮した場合(以下、パターンCという)との3パターンにおいて、それぞれ試料Sに前記X線bを照射することによって分析を行い、X線カウント数を調べた。
その結果、前記パターンAでは、X線カウント数が20853であったのに対し、パターンBでは51805、パターンCでは79759とパターンAのときの約4倍となった。すなわち、上記の結果は、パターンCの場合には、パターンAの場合に比して感度が約4倍となったことを示している。
上記の結果に加えて、従来の全反射螢光X線分析装置において感度を4倍にするには、X線強度を4倍にすることが考えられるが、その場合、装置が非常に大型化し、製造コストも格段に上昇してしまうという不都合が生じるが、これに対して、前記試料保持部材Mを用いた場合には上記のような不都合が生じないことからも、前記前処理方法および試料保持部材Mを全反射螢光X線分析に適用することの有効性は明らかである。
なお、前記試料Sは、上述したように、測定対象としての土壌から形成されたものであり、前記全反射螢光X線分析装置Dを用いて前記試料Sを分析し、試料S中に含まれる元素の種類や量を特定すれば、例えば、測定対象としての土壌が含む有害物質(例えば、カドミウム、鉛、水銀、砒素、クロムなどの重元素)の種類や量を特定することができ、その結果から、前記土壌を採取した地域の土壌全体の汚染の程度を知ることができる。
しかし、繰り返しになるが、前記試料Sは上記のように土壌から抽出した成分を含むように形成されたものに限られない。例えば、試料Sを、クリーンルーム中のダストから抽出した成分を含むように形成した場合には、そのクリーンルーム中の汚染度を測定することが可能となる。
この発明は、上述の実施の形態に限られるものではなく、種々に変形して実施することができる。例えば、前記保持体2として、多孔質のカーボンやフラーレンに代えて、被測定金属とキレートを生成する物質、例えばキレート樹脂やイオン交換樹脂を用いて構成してもよい。イオン交換樹脂やキレート樹脂は、液状の試料S中の特定の元素等を選択的に吸着する性質を有しているので、イオン交換樹脂またはキレート樹脂からなる保持体2では、保持する対象が試料S中に微量のみ存在する砒素などの元素であっても取り残すことなく確実に保持することができる。また、前記イオン交換樹脂やキレート樹脂も、一般的に連続した微細な孔を多数有する多孔質であり、多数の微細な孔が吸着作用を発揮するので、所定量以下(許容量以内)の液状の試料Sを流出することなく確実に保持することができる。
1 試料台
2 保持体
M 試料保持部材
S 試料
2 保持体
M 試料保持部材
S 試料
Claims (5)
- 試料台の上面に形成または載置される保持体に、液状の試料を含浸させることを特徴とする試料の前処理方法。
- ほぼ平滑な上面を有する試料台と、この試料台の上面に形成または載置される保持体とを備えたことを特徴とする試料保持部材。
- 前記保持体がほぼ均一な厚みと密度とを有する請求項2に記載の試料保持部材。
- 前記保持体がカーボンからなる請求項2または3に記載の試料保持部材。
- 前記保持体がイオン交換樹脂またはキレート樹脂からなる請求項2または3に記載の試料保持部材。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003296426A JP2005062134A (ja) | 2003-08-20 | 2003-08-20 | 試料の前処理方法および試料保持部材 |
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JP2007258154A (ja) * | 2006-02-23 | 2007-10-04 | Nec Electronics Corp | イオン注入装置 |
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DE102007039000A1 (de) * | 2007-05-21 | 2008-12-04 | Terrachem Gmbh Analysenlabor | Verfahren für die Probenpräparation flüssiger oder pastöser Stoffe zur Messung mittels Röntgenfluoreszenz und dafür geeigneter Probenkörper |
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2003
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