JP3815984B2 - 低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤ - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、原子力、火力発電及び石油精製等の各種プラントに使用される低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤに関し、特に、長時間の溶接後熱処理(以下、Post Weld Heat Treatment:PWHTという)を受けてもフェライトバンドの発生が少ないか、又は完全に抑制されることから、強度及び靭性の劣化が少ない溶接金属を得ることができる低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤに関する。
【0002】
【従来の技術】
ガスシールドアーク溶接用ワイヤには、ソリッドワイヤとフラックス入りワイヤとがある。特に、フラックス入りワイヤは、ソリッドワイヤに比較してスパッタが少ないこと、ビード外観及びビード形状が良好であること、更に立向及び上向溶接姿勢においても溶接作業性が良好であるといった種々の長所を有している。このため、低合金耐熱鋼の分野においてもフラックス入りワイヤの適用が進みつつある。一方、低合金耐熱鋼の溶接部は、残留応力及び残留水素の除去、溶接部の機械的性質の改善等を目的として、通常、何らかのPWHTが実施される。このため、低合金耐熱鋼のガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤには、高温高圧に曝される溶接構造物の使用環境に対応した諸性能と共に、PWHTに対する抵抗性が要求される。
【0003】
しかし、従来の低合金耐熱鋼のガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤは、長時間のPWHTを行うと、溶接金属中にフェライトバンドが発生して機械的性能が劣化するという問題点がある。具体的には、フェライトバンドの発生により溶接金属の強度及び靭性が劣化してしまう。
【0004】
フェライトバンドは、溶接金属の凝固偏析とPWHT中の炭素移動に起因して発生するものであり、フェライトバンドが多量に発生した場合、溶接金属の強度及び靭性に悪影響を及ぼす。このため、特開平5−77086号公報には、強力な炭化物形成元素であるNb及びVを同時に添加することにより、炭素移動を抑制してフェライトバンドの発生を抑制する技術が開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、Nb及びVはフェライトバンドの抑制に有効である反面、靭性を劣化させる元素でもあり、Nb及びVを添加することでフェライトバンドの発生は抑制できても、一方で靭性が劣化し、結果として、Nb及びVの添加は有効な対策ではない。
【0006】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、長時間のPWHTを受けてもフェライトバンドの発生が少なく、機械的性能が優れた溶接金属を得ることができる低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤは、鋼製外皮にフラックスを充填してなる低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤにおいて、フラックス中に、ワイヤ全質量あたり、スラグ形成剤を5.2乃至9.9質量%含有し、前記スラグ形成剤中に、ワイヤ全質量あたり、Na化合物(Na2O換算値)、K化合物(K2O換算値)及びLi化合物(Li2O換算値)からなる群から選択された1種又は2種以上を合計で0.05乃至1.00質量%、TiO2を4.8乃至8.2質量%、金属弗化物(F換算値)を0.03乃至0.35質量%含有し、更に鋼製外皮とフラックスの一方又は両方中に、ワイヤ全質量あたり、Cを0.015乃至0.15質量%、Siを0.10乃至1.40質量%、Mnを1.40乃至2.60質量%、Niを0.005質量%以上1.0質量%未満、Crを0.010質量%以上1.0質量%未満、Moを0.30乃至1.20質量%、Mgを0.20乃至1.50質量%含有すると共に、V:0.005乃至0.040質量%及びNb:0.005乃至0.050質量%からなる群から選択された少なくとも1種を合計で0.005乃至0.090質量%含有することを特徴する。
【0008】
本発明の低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤにおいて、更に、ワイヤ全質量あたり、Ti:0.005乃至0.50質量%及びB:0.0002乃至0.010質量%からなる群から選択された少なくとも1種を含有してもよい。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤについて詳細に説明する。
【0010】
本願発明者等は、前記課題を解決するため鋭意研究を重ねた結果、フラックス入りワイヤの組成を以下に示すものとすることによって、溶接作業性が良好となり、長時間のPWHTを受けてもフェライトバンドの発生を抑制でき、良好な機械的性能が得られることを見出した。
【0011】
即ち、本願発明者等は各種フラックス入りワイヤを使用して溶接金属を作成し、フェライトバンドと溶接作業性、具体的にはアークの安定性との関係を調査した。その結果、フェライトバンドの発生傾向とアークの安定性とは密接に関係しており、アークの安定性が優れたフラックス入りワイヤで作成した溶接金属ほど、長時間のPWHTを受けてもフェライトバンドの発生が少ない傾向にあることを見出した。これはアークの安定性が溶融金属の流動性又は撹拌挙動、ひいては溶接金属の凝固偏析に影響しているためではないかと推測される。
【0012】
しかし、アークの安定性を良化したワイヤであっても、フェライトバンドの抑制が不十分である場合があったことから、更にNb又はVを添加してフェライトバンドとの関係を調査した。その結果、本発明者等は、アークの安定性を良化したワイヤであれば、Nb及びVを夫々単独添加した場合であっても、フェライトバンドの発生を抑制できることを見出した。更に、アークの安定性を良化したワイヤは、靭性に悪影響を及ぼすNb及びVの添加量を低減できることから、靭性が改善されることも見出した。
【0013】
本発明はこのような知見に基づいてなされたものである。以下、本発明の低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤの組成限定理由について説明する。なお、本発明のフラックス入りワイヤの組成物の含有量はワイヤ全質量に対する含有量である。
【0014】
スラグ形成剤:5.2乃至9.9質量%
本発明において、スラグ形成剤とは非金属成分を指し、具体的には後述するTiO2、金属弗化物、Na化合物、K化合物及びLi化合物の他、スラグ塩基度の調整並びに融点、粘性及び流動性の微調整のために使用するAl2O3、ZrO2、SiO2、CaO及びMgO等を指す。スラグ形成剤の含有量が5.2質量%未満ではスラグ量が不足してビードの被包性が損なわれ、ビード外観が劣化する。一方、スラグ形成剤の含有量が9.9質量%を超えると、スラグ発生量が過剰となり、スラグ巻き込み・融合不良等の溶接欠陥を引き起こす。更に、スラグ形成剤は酸化物を主体としていることから、鋼製外皮と比較して融点が高く、これが過剰に含有されると、鋼製外皮が先行して溶融し、フラックスが溶けずに溶融プール内に移行することとなり、溶融金属内部での撹拌が不均一となって溶接金属の成分偏析が発生する。これにより、フェライトバンドが生じ、強度及び靭性が劣化する。このため、スラグ形成剤の含有量は5.2乃至9.9質量%とする。
【0015】
TiO 2 :4.8乃至8.2質量%
TiO2はスラグ形成剤及びアーク安定剤としてフラックスに添加する。しかし、TiO2の含有量が4.8質量%未満ではアークの安定性が著しく劣化して溶滴の移行性が損なわれ、溶接金属に成分偏析が発生してフェライトバンドが生じる。その結果、溶接金属の強度及び靭性が劣化する。一方、TiO2を8.2質量%を超えて添加すると、スラグの粘性が過度となり、スラグ巻込みの原因となるうえ、溶接金属の酸素量が増加して靭性が劣化する。従って、TiO2の含有量は4.8乃至8.2質量%とする。
【0016】
Na化合物(Na 2 O換算値)、K化合物(K 2 O換算値)及びLi化合物(Li 2 O換算値)からなる群から選択された1種又は2種以上の合計:0.05 乃至1.00質量%
Na化合物、K化合物及びLi化合物は高温アーク中でイオン化することで、アーク安定剤として作用する。その結果、溶滴移行性がスムーズになり、溶接金属の成分偏析が抑制されて、フェライトバンドの発生が抑制される。この効果はNa化合物(Na2O換算値)、K化合物(K2O換算値)及びLi化合物(Li2O換算値)からなる群から選択された1種又は2種以上の合計が0.05質量%未満では得られず、溶接作業性の面ではスパッタ発生量が増大して実用に耐えない。一方、Na化合物(Na2O換算値)、K化合物(K2O換算値)及びLi化合物(Li2O換算値)からなる群から選択された1種又は2種以上の合計が1.00質量%を超えると、アーク長が極端に長くなり、溶滴移行性が劣化することから、溶接金属の成分偏析が発生してフェライトバンドが生じ、強度及び靭性が劣化する。従って、Na化合物(Na2O換算値)、K化合物(K2O換算値)及びLi化合物(Li2O換算値)からなる群から選択された1種又は2種以上の合計は0.05乃至1.00質量%とする。なお、本発明において、Na化合物、K化合物及びLi化合物としては、酸化物の他、弗化物も含む。弗化物の場合は、1価の酸化物に換算してその量を調整する。
【0017】
金属弗化物(F換算値):0.03乃至0.35質量%
金属弗化物は、アーク安定剤として作用すると共に、更に溶融スラグの粘性を調整して被包性を安定化し、ビード形状を整える作用を有する。また、アーク中で解離しガス化した弗素ガスが溶融金属の撹拌を促進する結果、溶融金属からのスラグの浮上及び分離を促進して、溶接金属の酸素量を低減し、靭性を向上させると共に、溶接金属の成分偏析も抑えてフェライトバンドの発生を抑制する効果を有する。しかし、金属弗化物の含有量がF換算値で0.03質量%未満では、上述の効果が得られない。一方、金属弗化物をF換算値で0.35質量%を超えて添加すると、スラグの流動性が過剰となり、ビード形状が著しく劣化するうえ、アーク安定性も劣化して溶滴移行性が損なわれ、溶接金属の成分偏析が発生してフェライトバンドが生じ、強度及び靭性が劣化する。以上の理由から、金属弗化物の添加量はF換算値で0.03乃至0.35質量%とする。なお、弗化物としては、NaF、K2SiF6、CaF2及びCeF3等を使用する。
【0018】
C:0.015乃至0.15質量%
Cは溶接金属の強度と靭性を調整する目的で鋼製外皮又はフラックスのいずれか一方又は両方に添加する。しかし、Cの含有量が0.015質量%未満では強度が不足する。一方、Cの含有量が0.15質量%を超えると、溶接金属の強度が過剰となり、靭性が劣化する。従って、Cの含有量は0.015乃至0.15質量%とする。なお、Cをフラックスから添加する場合は、グラファイト、クロムカーバイト、Si−C、高C−Fe−Cr、高C−Fe−Mn等のC単体又は合金類を使用する。
【0019】
Si:0.10乃至1.40質量%
Siは溶接金属の脱酸剤として作用する。また、Siは強度と靭性の調整に有効であり、これらの目的で、鋼製外皮又はフラックスのいずれか一方又は両方にSiを添加する。しかし、Siの含有量が0.10質量%未満では十分な脱酸効果が得られず、靭性の低下とブローホールの発生を引き起こす。一方、Siの含有量が1.40質量%を超えると、強度が過剰となり靭性が劣化する。従って、Siの含有量は0.10乃至1.40質量%とする。なお、Siをフラックスから添加する場合は、Fe−Si、Fe−Si−Mn及びFe−Si−Cr等の合金類を使用する。
【0020】
Mn:1.40乃至2.60質量%
Mnは溶接金属の脱酸剤として作用すると共に、溶接金属の焼き入れ性を高めて靭性を改善させる効果を有する。しかし、Mnの含有量が1.40質量%未満では十分な脱酸効果が得られず、靭性の低下とブローホールの発生を引き起こす。一方、Mnの含有量が2.60質量%を超えると、強度が過剰となり、靭性が劣化する。従って、Mnの含有量は1.40乃至2.60質量%とする。なお、Mnをフラックスから添加する場合は、金属Mn、Fe−Mn又はFe−Si−Mn等の金属単体又は合金類を使用する。
【0021】
Ni:0.005質量%以上1.0質量%未満
Niは溶接金属の焼き入れ性を高めて靭性を改善させる効果を有する。しかし、Niの含有量が0.005質量%未満では、靭性の改善効果が得られない。一方、Niの含有量が1.0質量%以上では、強度が過剰となり、靭性が劣化するうえ、耐高温割れ性も劣化する。従って、Niの含有量は0.005質量%以上1.0質量%未満とする。なお、Niをフラックスから添加する場合は、金属Ni又はNi−Mg等の金属単体又は合金類を使用する。
【0022】
Cr:0.010質量%以上1.0質量%未満
Crは溶接金属の強度を確保する効果を有する。しかし、Crの含有量が0.010質量%未満では強度が確保できない。一方、Crを1.0質量%以上添加すると、強度が過剰となり、靭性が低下する。従って、Crの含有量は0.010質量%以上1.0質量%未満とする。なお、Crをフラックスから添加する場合は、金属Cr又はFe−Cr等の金属単体又は合金類を使用する。
【0023】
Mo:0.30乃至1.20質量%
MoはCrと同様に、溶接金属の強度を向上させる作用を有する。しかし、Moの含有量が0.30質量%未満では十分な効果は得られない。一方、Moを1.20質量%を超えて添加すると、強度が過剰となり、靭性が低下する。従って、Moの含有量は0.30乃至1.20質量%とする。なお、Moをフラックスから添加する場合は、金属Mo又はFe−Moといった金属単体又は合金類を使用する。
【0024】
Mg:0.20乃至1.50質量%
Mgは溶接金属の脱酸剤として添加され、靭性の向上に寄与する。しかし、Mgの含有量が0.20質量%未満では、十分な脱酸効果が得られず、靭性が劣化するうえ、ブローホールの発生を引き起こす。一方、Mgの含有量が1.50質量%を超えると、アークの安定性が劣化すると共に、スパッタ発生量が増加して実用に耐えない。更に、アークの安定性が劣化することから溶接金属の成分偏析が助長され、フェライトバンドが発生して強度及び靭性が劣化する。従って、Mgの含有量は0.20乃至1.50質量%とする。なお、Mgをフラックスから添加する場合は、金属Mg又はAl−Mg、Si−Mg及びNi−Mg等の合金類を使用する。
【0025】
V:0.005乃至0.040質量%及びNb:0.005乃至0.050質量%からなる群から選択された少なくとも1種の合計:0.005乃至0.090質量%
Nb及びVは強い炭化物形成元素であり、長時間の溶接後熱処理を行った際の溶接金属の強度及び靭性に悪影響を及ぼすフェライト粒の粗大化又はフェライトバンドの発生を抑制する効果を有する。また、溶接金属の強度を向上させる効果も有する。しかし、Nb若しくはVの単独添加又はNb及びVの同時添加にかかわらず、Nb及びVの合計の添加量が0.005質量%未満では、フェライトバンドを抑制する効果が得られず、十分な強度も得られない。一方、Nb量が0.050質量%を超えるか、V量が0.040質量%を超えるか、又はNb量とV量の合計で0.090質量%を超えて添加すると、溶接金属の靭性が劣化する。以上の理由から、V:0.005乃至0.040質量%及びNb:0.005乃至0.050質量%からなる群から選択された少なくとも1種を総量で0.005乃至0.090質量%添加する。なお、Nb及びVの1種又は2種の総量は、より好ましくは、0.005乃至0.080質量%である。Nb又はVをフラックスから添加する場合は、Fe−Nb又はFe−V等の合金類の他、Nb2O5又はV2O5等の酸化物の形態で添加することも可能である。
【0026】
Ti:0.005乃至0.50質量%
Tiはアーク安定剤として作用すると共に、溶接金属の脱酸剤として作用する。このため、本発明においては、必要に応じて、Tiを添加することができる。Tiを添加する場合、Tiの含有量が0.005質量%未満では十分な効果が得られない。一方、Tiを0.50質量%を超えて添加すると、強度が過剰となり、靭性が劣化する。従って、Tiの含有量は0.005乃至0.50質量%とする。なお、Tiをフラックスから添加する場合は、金属Ti又はFe−Ti等、酸化物以外の形態で添加する。
【0027】
B:0.0002乃至0.010質量%
Bは溶接金属の靭性向上のために、必要に応じて添加することができる。Bを添加する場合、Bの含有量が0.0002質量%未満では十分な効果が得られない。一方、Bを0.010質量%を超えて添加すると、強度が過剰となり靭性が劣化する。従って、Bの含有量は0.0002乃至0.010質量%とする。なお、Bをフラックスから添加する場合は、Fe−B及びFe−Si−B等の合金類の他、B2O3等、酸化物の形態でも添加することが可能である。
【0028】
シールドガス
シールドガスとしては100%CO2ガスの他、ArガスとCO2ガスとの混合ガス、ArガスとO2ガスとの混合ガス、並びにArガス、CO2ガス及びO2ガスの3種混合ガス等、いずれの組成も使用可能である。ワイヤ断面形状は特に規定されず、合わせ目があってもなくてもいずれでもよい。フラックス充填率、即ち、上述の組成のフラックスのワイヤ全質量に対する質量比は特に規定しないが、ワイヤの生産性、例えば成型及び伸線時の断線等を考慮すると、フラックスの質量比(充填率)は11.0乃至18.0質量%が好ましい。
【0029】
【実施例】
次に、本発明の特許請求の範囲に規定した範囲に入る実施例の低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤについて、本発明の範囲から外れる比較例と比較してその効果について説明する。
【0030】
下記表1及び表2に示す鋼製外皮を使用して、下記表5乃至表16に示すフラックス入りワイヤを製造した。ワイヤの直径は全て1.2mmとした。これらのフラックス入りワイヤを使用して下記表3に示す溶接条件にて溶接金属を作成して各種試験に供した。なお、使用した鋼板は、JIS SM490A(板厚20mm、45°V字開先、ルートギャップ12mm)である。この鋼板の開先面は供試ワイヤで2層バタリングされている。なお、溶接金属のみの評価を行うため、母材希釈の影響を避ける必要上、開先面に供試ワイヤにて肉盛を行う。このことをバタリングという。一般に2乃至3層のバタリングで母材希釈はキャンセルされる。下記表4は試験項目、PWHT条件及び評価基準を示す。そして、下記表17乃至表25に試験結果を示す。以下、各ワイヤについて考察する。
【0031】
なお、表1及び表2に示す「<」は「未満」であることを示す。また、表4に示す「FC」とは「炉冷」を示す。更に、表5乃至表16に示す数値はワイヤ全質量に対する値である。更にまた、表6、表10及び表14に示す「Nb+V」はNbとVとの合計を表している。また、表22及び表25の放射線透過試験結果の欄に示す「HC」は「高温割れ」を示し、「BH」は「ブローホール」を示し、「SI」は「スラグ巻込み」を示す。
【0032】
【表1】
【0033】
【表2】
【0034】
【表3】
【0035】
【表4】
【0036】
【表5】
【0037】
【表6】
【0038】
【表7】
【0039】
【表8】
【0040】
【表9】
【0041】
【表10】
【0042】
【表11】
【0043】
【表12】
【0044】
【表13】
【0045】
【表14】
【0046】
【表15】
【0047】
【表16】
【0048】
【表17】
【0049】
【表18】
【0050】
【表19】
【0051】
【表20】
【0052】
【表21】
【0053】
【表22】
【0054】
【表23】
【0055】
【表24】
【0056】
【表25】
【0057】
ワイヤNo.1乃至25は本発明の実施例である。これらのワイヤはスラグ形成剤及びTiO2の各量、Na化合物、K化合物及びLi化合物の1種又は2種以上の合計(1価の酸化物としての合計)、金属弗化物の量(F換算値)、C、Si、Mn、Ni、Cr、Mo及びMgの各量、並びにNb及びVの1種又は2種の合計が、いずれも本発明の範囲内に入っており、溶接作業性、放射線透過試験、フェライトバンドの有無、室温引張試験及び衝撃試験のいずれも良好かつ所定の性能を満足するものであった。特に、ワイヤNo.8を除く他の本発明の実施例ワイヤはNb及びVの合計がより好ましい範囲内にあったことから、衝撃性能が良好であった。更に、ワイヤNo.1乃至3、ワイヤNo.10乃至20及びワイヤNo.22乃至24は、Ti及びBの少なくともいずれかが、本発明の請求項2の範囲内にあったことから、更に衝撃性能が良好であった。
【0058】
一方、比較例ワイヤNo.26はCの含有量が本発明範囲の下限値0.015質量%を下回っており、引張性能が不良(強度不足)となった。
【0059】
比較例ワイヤNo.27はCの含有量が本発明範囲の上限値0.15質量%を超えており、引張性能及び衝撃性能が不良(強度過剰及び靭性不足)となった。また、放射線透過試験において、高温割れが確認された。
【0060】
ワイヤNo.28はSiの含有量が本発明範囲の下限値0.10質量%を下回っており、脱酸不足となり放射線透過試験においてブローホールが確認された。また、衝撃性能が不良(靭性不足)になった。
【0061】
ワイヤNo.29はSiの含有量が本発明範囲の上限値1.40質量%を超えており、引張性能及び衝撃性能が不良(強度過剰及び靭性不足)となった。
【0062】
ワイヤNo.30はMnの含有量が本発明範囲の下限値1.40質量%を下回っており、脱酸不足となり、放射線透過試験において、ブローホールが確認された。また、衝撃性能が不良(靭性不足)となった。
【0063】
ワイヤNo.31はMnの含有量が本発明範囲の上限値2.60質量%を超えており、引張性能及び衝撃性能が不良(強度過剰及び靭性不足)となった。
【0064】
ワイヤNo.32はNiの含有量が本発明範囲の下限値0.005質量%を下回っており、衝撃性能が不良(靭性不足)となった。
【0065】
ワイヤNo.33はNiの含有量が本発明範囲の上限値1.0質量%を超えており、引張性能及び衝撃性能が不良(強度過剰及び靭性不足)となった。また、放射線透過試験において、高温割れが確認された。
【0066】
ワイヤNo.34はCrの含有量が本発明範囲の下限値0.010質量%を下回っており、引張性能が不良(強度不足)となった。
【0067】
ワイヤNo.35はCrの含有量が本発明範囲の上限値1.0質量%を超えており、引張性能及び衝撃性能が不良(強度過剰及び靭性不足)となった。
【0068】
ワイヤNo.36はMoの含有量が本発明範囲の下限値0.30質量%を下回っており、引張性能が不良(強度不足)となった。
【0069】
ワイヤNo.37はMoの含有量が本発明範囲の上限値1.20質量%を超えており、引張性能及び衝撃性能が不良(強度過剰及び靭性不足)となった。
【0070】
ワイヤNo.38はNb及びV並びにその合計が本発明範囲の下限値0.005質量%を下回っており、フェライトバンドが発生した。このため、引張性能及び衝撃性能が不良(強度不足及び靭性不足)となった。
【0071】
ワイヤNo.39はNbの含有量が本発明範囲の上限値0.050質量%を超えており、衝撃性能が不良(靭性不足)となった。
【0072】
ワイヤNo.40はVの含有量が本発明範囲の上限値0.40質量%を超えており、衝撃性能が不良(靭性不足)となった。
【0073】
ワイヤNo.41はMgの含有量が本発明範囲の下限値0.20質量%を下回っており、脱酸不足となり放射線透過試験においてブローホールが確認された。また、衝撃性能が不良(靭性不足)となった。
【0074】
ワイヤNo.42はMgの含有量が本発明範囲の上限値1.50質量%を超えており、アークが不安定となり溶接作業性が不良であった。また、フェライトバンドが発生して、引張性能及び衝撃性能が不良(強度不足及び靭性不足)となった。
【0075】
ワイヤNo.43はTiO2の含有量が本発明範囲の下限値4.8質量%を下回っており、アークが不安定となり溶接作業性が不安定であった。また、フェライトバンドが発生して、引張性能及び衝撃性能が不良(強度不足及び靭性不足)となった。
【0076】
ワイヤNo.44はTiO2の含有量が本発明範囲の上限値8.2質量%を超えており、スラグの粘性が過度となり放射線透過試験においてスラグ巻込みが確認された。また、衝撃性能が不良(靭性不足)となった。
【0077】
ワイヤNo.45は金属弗化物の合計(F換算値の合計)が本発明範囲の下限値0.03質量%を下回っており、溶接作業性が不良であった。具体的には、アークが不安定となり、スラグの被包性も劣化してビード形状が不良となった。また、フェライトバンドが発生して、引張性能及び衝撃性能が不良(強度不足及び靭性不足)となった。
【0078】
ワイヤNo.46は金属弗化物の合計(F換算値の合計)が本発明範囲の上限値0.35質量%を超えており、溶接作業性が不良であった。具体的には、アークが不安定となり、スラグの被包性も劣化してビード形状が不良となった。また、フェライトバンドが発生して、引張性能及び衝撃性能が不良(強度不足及び靭性不足)となった。
【0079】
ワイヤNo.47はNa化合物、K化合物及びLi化合物の1種又は2種以上の合計(1価の酸化物換算値の合計)が本発明範囲の下限値0.05質量%を下回っており、溶接作業性が不良であった。具体的には、アークが不安定となり、スパッタの発生量が増加して実用に耐えなかった。また、フェライトバンドが発生して、引張性能及び衝撃性能が不良(強度不足及び靭性不足)となった。
【0080】
ワイヤNo.48はNa化合物、K化合物及びLi化合物の1種又は2種以上の合計(1価の酸化物換算値の合計)が本発明範囲の上限値1.00質量%を超えており、溶接作業性が不良であった。具体的には、溶滴移行性が劣化した。また、フェライトバンドが発生して、引張性能及び衝撃性能が不良(強度不足及び靭性不足)となった。
【0081】
ワイヤNo.49はスラグ形成剤の合計が本発明範囲の下限値5.2質量%を下回っており、ビード外観が著しく劣化して実用に耐えなかった。
【0082】
ワイヤNo.50はスラグ形成剤の合計が本発明範囲の上限値9.9質量%を超えており、溶接作業性が不良となった。具体的には、溶接時にワイヤ先端で鋼製外皮が先行して溶融する現象が発生して、溶滴移行性が損なわれた。また、フェライトバンドが発生した。このため、引張性能及び衝撃性能も不良(強度不足及び靭性不足)となった。
【0083】
ワイヤNo.51はMnの含有量が本発明範囲の上限値2.60質量%を超え、Crの含有量が本発明範囲の上限値1.0質量%を超えており、引張性能及び衝撃性能が不良(強度過剰及び靭性不足)となった。
【0084】
ワイヤNo.52はCの含有量が本発明範囲の上限値0.15質量%を超え、Niの含有量が本発明範囲の上限値1.0質量%を超えており、放射線透過試験において高温割れが確認された。また、引張性能及び衝撃性能が不良(強度過剰及び靭性不足)となった。
【0085】
ワイヤNo.53はMgの含有量が本発明範囲の上限値1.50質量%を超え、金属弗化物の合計(F換算値の合計)が本発明の上限値0.35質量%を超えており、溶接作業性が不良となった。具体的には、アークが不安定となり、ビード形状も劣化した。また、フェライトバンドが発生して、引張性能及び衝撃性能が不良(強度不足及び靭性不足)となった。
【0086】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明の低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤは、溶接後熱処理を受けてもフェライトバンドの発生が少ないか、又は完全に抑制でき、これにより、強度及び靭性の劣化が少ない溶接金属を得ることができる。
Claims (2)
- 鋼製外皮にフラックスを充填してなる低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤにおいて、フラックス中に、ワイヤ全質量あたり、スラグ形成剤を5.2乃至9.9質量%含有し、前記スラグ形成剤中に、ワイヤ全質量あたり、Na化合物(Na2O換算値)、K化合物(K2O換算値)及びLi化合物(Li2O換算値)からなる群から選択された1種又は2種以上を合計で0.05乃至1.00質量%、TiO2を4.8乃至8.2質量%、金属弗化物(F換算値)を0.03乃至0.35質量%含有し、更に鋼製外皮とフラックスの一方又は両方中に、ワイヤ全質量あたり、Cを0.015乃至0.15質量%、Siを0.10乃至1.40質量%、Mnを1.40乃至2.60質量%、Niを0.005質量%以上1.0質量%未満、Crを0.010質量%以上1.0質量%未満、Moを0.30乃至1.20質量%、Mgを0.20乃至1.50質量%含有すると共に、V:0.005乃至0.040質量%及びNb:0.005乃至0.050質量%からなる群から選択された少なくとも1種を合計で0.005乃至0.090質量%含有することを特徴する低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤ。
- 更に、ワイヤ全質量あたり、Ti:0.005乃至0.50質量%及びB:0.0002乃至0.010質量%からなる群から選択された少なくとも1種を含有することを特徴とする請求項1に記載の低合金耐熱鋼用ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤ。
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