JP3786555B2

JP3786555B2 - 測定装置

Info

Publication number: JP3786555B2
Application number: JP2000010916A
Authority: JP
Inventors: 肇今関
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2000-01-19
Filing date: 2000-01-19
Publication date: 2006-06-14
Anticipated expiration: 2020-01-19
Also published as: JP2001201374A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、測定装置による測定を自動化するための技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、測定装置は、操作パネルの操作で指定した測定条件に基づいて測定部が測定を開始し、その測定結果を表示装置に表示しており、異なる測定項目の測定を開始させる際には、再び操作パネルの操作での測定項目の測定条件を設定している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、ＳＴＭ（同期転送モード）やＡＴＭ（非同期転送モード）等のデータ伝送システムに対して、誤り測定やジッタ測定等を含む各種の測定を行う場合、各測定項目毎に長い(例えば数時間)測定時間を必要とする場合があり、その測定時間が経過するまで待ってからその測定結果を確認し、次の測定項目の測定を開始させるという作業が必要となり、非効率的である。
【０００４】
本発明は、この問題を解決して、効率的な測定を行えるようにした測定装置を提供することを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明の測定装置は、
プラグイン式の複数の測定ユニットの装填が可能に形成され、設定された測定条件にしたがって測定を行う測定部（２１）と、該測定部の測定結果を表示するための表示装置（３０）と備えた測定装置において、
前記測定条件を記憶するための測定条件メモリ（２３）と、
前記測定部が行う複数の測定項目の測定条件を各測定項目に対応づけて前記測定条件メモリに記憶する測定条件保存手段（２２）と、
前記測定項目の実行順を記憶するための実行順メモリ（２５）と、
前記測定条件メモリに測定条件が保存されている複数の測定項目を前記表示装置に表示し、該表示した測定項目に対して任意の実行順を指定させ、指定された実行順を前記実行順メモリに記憶する実行順設定手段（２４）と、
前記測定部に対する測定ユニットの装填状態を監視し、前記測定条件メモリに記憶されている測定項目のうち実行できない測定項目を検出し、該検出結果を前記実行順設定手段に出力して、該実行順設定手段による前記実行できない測定項目に対する指定を規制する実行不能項目検出手段（４１）と、
測定開始の指示を受けたとき、前記測定条件メモリに記憶されている測定条件を、前記実行順メモリに設定されている測定項目順に読み出して前記測定部に設定する測定条件設定手段（２６）と、
前記測定部の測定結果を記憶するための測定結果メモリ（２８）と、
前記測定条件設定手段によって設定された測定条件で前記測定部が実行した測定項目の測定結果を前記測定結果メモリに測定項目毎に記憶する測定結果保存手段（２７）と、
前記測定結果メモリに記憶された各測定項目の測定結果のうち、任意の測定結果を選択して前記表示装置に表示させる測定結果選択手段（２９）とを設けたことを特徴としている。
【０００６】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施形態を説明する。図１は、本発明の実施形態の測定装置２０の構成を示している。
【０００７】
この測定装置２０の測定部２１は、ＳＴＭ（同期転送モード）やＡＴＭ（非同期転送モード）等のデータ伝送システムに対して、誤り測定やジッタ測定等を含む各種の測定を、予め設定された測定条件にしたがって行う。
【０００８】
なお、この測定部２１は、プラグイン式の複数の測定ユニットを含んでおり、測定ユニットの交換や追加等によって測定可能な項目を変更、追加できるようになっている。
【０００９】
測定条件保存手段２２は、例えばキー操作等によって測定部２１が行う可能性のある複数の測定項目についての測定条件を測定項目毎に測定条件メモリ２３に記憶する。
【００１０】
この測定条件の保存は、後述する表示装置３０の画面上で測定条件や測定項目を示す項目情報を表示させながら行うことができるようになっており、また、この測定条件メモリ２３は、装置電源が切れた場合でも記憶内容が消えないように例えばバッテリでバックアップされている。
【００１１】
実行順設定手段２４は、測定条件メモリ２３に測定条件が記憶されている測定項目を後述する表示装置３０に表示し、この表示した測定項目の実行順を例えばキー操作等によって画面上で任意に指定させ、指定された実行項目順を示すデータ（例えば測定条件メモリ２３のアドレス情報等）を実行順メモリ２５に記憶する。
【００１２】
測定条件設定手段２６は、キー操作や外部装置からの信号によって測定開始を指示する信号Ｓを受けると、実行順メモリ２５に記憶されている実行順データを読み出し、このデータで順番が最初に指定されている測定項目の測定条件を測定条件メモリ２３から読み出して測定部２１に設定し、その測定が完了したときに、次の順番に指定されている測定項目の測定条件を測定条件メモリ２３から読み出して測定部２１へ設定するという動作を、最後の測定項目まで繰り返す。
【００１３】
測定結果保存手段２７は、測定部２１で実行された測定によって得られた測定結果を、その実行された測定項目毎に測定結果メモリ２８に順次記憶する。
【００１４】
測定結果選択手段２９は、測定結果メモリ２８に記憶されている各測定項目毎の測定結果のうち、キー操作等で指定された任意の測定項目についての測定結果を読み出して表示装置３０に出力し、その測定結果を表示させる。
【００１５】
次に、この測定装置２０の動作を説明する。
例えば図２に示すように、測定条件保存手段２２によって、複数の測定項目Ｍ１、Ｍ２、…についての測定条件データＤ１、Ｄ２、…が測定条件メモリ２３の各アドレス領域Ａ１、Ａ２、…に記憶されているものとする。
【００１６】
そして、この測定条件メモリ２３に測定条件が記憶されている各測定項目のうち、例えば４つの測定項目Ｍ１、Ｍ３、Ｍ６、Ｍ８を、Ｍ８→Ｍ１→Ｍ６→Ｍ３の順で実行したい場合には、実行順設定手段２４によって、各測定項目Ｍ１、Ｍ３、Ｍ６、Ｍ８の測定条件データを記憶しているアドレス領域Ａ１、Ａ３、Ａ６、Ａ８の先頭アドレスａ１、ａ３、ａ６、ａ８を、図３に示すように、実行順メモリ２５の先頭アドレスから実行したい順ａ８→ａ１→ａ６→ａ３に記憶させる。
【００１７】
この状態で、測定開始を指示する信号Ｓが入力されると、測定条件設定手段２６は、実行順メモリ２５の先頭アドレスのデータａ８を読み出し、このデータａ８を先頭アドレスとする測定条件メモリ２３のアドレス領域Ａ８の測定条件データＤ８を読み出して測定部２１に設定する。
【００１８】
測定部２１は設定された測定条件データＤ８にしたがって測定を開始し、この測定が完了すると、その測定によって得られた測定結果データＲ８を測定結果保存手段２７に出力するとともに、測定の完了を測定条件設定手段２６に知らせる。
【００１９】
測定結果保存手段２７は、測定部２１からの測定結果データＲ８を測定結果メモリ２８に記憶する。
【００２０】
一方、測定部２１から測定の完了を知らされた測定条件設定手段２６は、実行順メモリ２５に記憶されている２番目のデータａ１を読み出して、このデータａ１を先頭アドレスとする測定条件メモリ２３のアドレス領域Ａ１の測定条件データＤ１を読み出して測定部２１に設定し、この測定条件Ｄ１による測定を開始させる。
【００２１】
そして、その測定が完了すると、前記同様に、測定結果データＲ１が測定結果メモリ２８に記憶され、次の測定条件Ｄ６が測定部２１に設定される。
【００２２】
以下、同様の動作が繰り返され、最後の測定項目Ｍ３の測定条件による測定が完了すると、測定条件設定手段２６による実行順メモリ２５のデータ読み出しが停止し、測定結果メモリ２８には、図４のように、実行した測定項目の測定結果データがその実行順に記憶されることになる。
【００２３】
これらの一連の測定が完了した後に、測定結果選択手段２９によって確認したい測定項目を指定すると、その指定された測定項目の測定結果データが測定結果メモリ２８から読み出されて表示装置３０に出力され、その測定結果が表示される。
【００２４】
このように、実施形態の測定装置２０では、予め測定条件メモリ２３に記憶されている測定項目毎の測定条件を、予め実行順メモリ２５に記憶した実行順にしたがって読み出して測定部２１に設定して順次測定を行わせ、測定項目毎の測定結果を測定結果メモリ２７に保存しておき、これらの測定結果のうち、指定された測定結果を読み出して表示装置３０に表示させている。
【００２５】
このため、各測定条件の切り換え操作や各測定項目毎の測定結果をそれぞれの測定終了毎に確認する必要がなく、効率的な測定が行える。
【００２６】
なお、前記したように、測定部２１がプラグイン式の複数の測定ユニットを有している場合、測定部２１から外された測定ユニットを用いた測定項目を誤って指定したり、あるいは測定ユニットの組合せによって測定条件に制限を受けているにも関わらず、その制限を超えている測定条件の測定項目を指定する場合がある。
【００２７】
このように実行が不可能な測定項目が指定される恐れがある場合には、例えば図５に示す測定装置４０のように、測定部２１の測定ユニットの装填状態を監視して、測定条件メモリ２３に記憶されている測定項目のうち、実行できない測定項目を検出する実行不能項目検出手段４１を設けておき、この検出結果を実行順設定手段２４に出力して、実行が不可能な測定項目の指定を規制するようにすればよい。
【００２８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の測定装置では、予め測定条件メモリに記憶されている測定項目毎の測定条件を、予め実行順メモリに記憶した実行順にしたがって読み出して測定部に設定して順次測定を行わせ、測定項目毎の測定結果を測定結果メモリに保存しておき、これらの測定結果のうち、指定されたものを選択的に読み出して表示装置に表示させるようにしている。
【００２９】
このため、各測定条件の切り換え操作や各測定項目毎の測定結果の確認を、それぞれの測定が完了する毎にする必要がなく、効率的な測定が行える。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態の構成を示すブロック図
【図２】実施形態の動作を説明するためのメモリのデータ図
【図３】実施形態の動作を説明するためのメモリのデータ図
【図４】実施形態の動作を説明するためのメモリのデータ図
【図５】実施形態の変形例を示すブロック図
【符号の説明】
２０、４０測定装置
２１測定部
２２測定条件保存手段
２３測定条件メモリ
２４実行順設定手段
２５実行順メモリ
２６測定条件設定手段
２７測定結果保存手段
２８測定結果メモリ
２９測定結果選択手段
３０表示装置
４１実行不能項目検出手段

Claims

プラグイン式の複数の測定ユニットの装填が可能に形成され、設定された測定条件にしたがって測定を行う測定部（２１）と、該測定部の測定結果を表示するための表示装置（３０）と備えた測定装置において、
前記測定条件を記憶するための測定条件メモリ（２３）と、
前記測定部が行う複数の測定項目の測定条件を各測定項目に対応づけて前記測定条件メモリに記憶する測定条件保存手段（２２）と、
前記測定項目の実行順を記憶するための実行順メモリ（２５）と、
前記測定条件メモリに測定条件が保存されている複数の測定項目を前記表示装置に表示し、該表示した測定項目に対して任意の実行順を指定させ、指定された実行順を前記実行順メモリに記憶する実行順設定手段（２４）と、
前記測定部に対する測定ユニットの装填状態を監視し、前記測定条件メモリに記憶されている測定項目のうち実行できない測定項目を検出し、該検出結果を前記実行順設定手段に出力して、該実行順設定手段による前記実行できない測定項目に対する指定を規制する実行不能項目検出手段（４１）と、
測定開始の指示を受けたとき、前記測定条件メモリに記憶されている測定条件を、前記実行順メモリに設定されている測定項目順に読み出して前記測定部に設定する測定条件設定手段（２６）と、
前記測定部の測定結果を記憶するための測定結果メモリ（２８）と、
前記測定条件設定手段によって設定された測定条件で前記測定部が実行した測定項目の測定結果を前記測定結果メモリに測定項目毎に記憶する測定結果保存手段（２７）と、
前記測定結果メモリに記憶された各測定項目の測定結果のうち、任意の測定結果を選択して前記表示装置に表示させる測定結果選択手段（２９）とを設けたことを特徴とする測定装置。